本發(fā)明有關(guān)于半導(dǎo)體裝置的測(cè)試技術(shù)，特別有關(guān)于一種加寬輸入輸出內(nèi)存的硅穿孔測(cè)試裝置。

背景技術(shù)：

內(nèi)存芯片等半導(dǎo)體組件在封裝階段需要電性測(cè)試，以確定是否為良品以及運(yùn)算速率等級(jí)。對(duì)于內(nèi)存芯片與邏輯芯片的下一代堆棧標(biāo)準(zhǔn)來(lái)說(shuō)，硅穿孔(throughsiliconvia,tsv)技術(shù)是關(guān)鍵科技，以連接多個(gè)內(nèi)存芯片，具體可為各式包含硅穿孔結(jié)構(gòu)的已知半導(dǎo)體封裝構(gòu)造以及芯片立體堆棧體(diecube)，并應(yīng)經(jīng)過(guò)電性測(cè)試以確保微電子產(chǎn)品質(zhì)量。就加寬輸入輸出(widei/o)的規(guī)格而論，待測(cè)硅穿孔裝置包含四信道，每一信道的輸入輸出(i/o)數(shù)據(jù)是128位(bit)，因此全部信道的數(shù)據(jù)輸入輸出總共為512位。以第二代加寬輸入輸出(widei/o2)的規(guī)格來(lái)說(shuō)，其包含四信道或八信道，每一信道的數(shù)據(jù)輸入輸出是64位，所以全部信道的數(shù)據(jù)輸入輸出總共為256位或512位。

根據(jù)聯(lián)合電子裝置工程委員會(huì)(jedec)在2011年12月所制訂的聯(lián)合電子裝置工程委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)229(jedec標(biāo)準(zhǔn)229，jesd229)規(guī)格書，目前加寬輸入輸出(widei/o)規(guī)格為四信道，其單信道傳輸率(singledatarate,sdr)高達(dá)128位，且每一信道包含多個(gè)輸入輸出(i/o)腳位與多個(gè)驅(qū)動(dòng)腳位。當(dāng)動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取內(nèi)存(dynamicrandomaccessmemory,dram)在200兆赫（megahertz,mhz）的輸入輸出總線頻率(i/obusclock)下，搭配512位數(shù)據(jù)接口，傳輸速率可達(dá)100gbit/s，內(nèi)存帶寬則達(dá)到12.8gb/s。第二代加寬輸入輸出(widei/o2)規(guī)格有四信道和八信道，其單信道傳輸率為64位，內(nèi)存帶寬則為25.6gb/s和51.2gb/s。

半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)臺(tái)的能力與轉(zhuǎn)換接口的驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)(driverpin,dr)與輸入輸出腳位(i/opin)數(shù)量是固定與受限的。當(dāng)每個(gè)待測(cè)裝置(deviceundertest,dut)所需要的驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)與輸入輸出腳位愈多的話，每次可以測(cè)試的待測(cè)裝置的上板數(shù)量就愈少，即產(chǎn)出量(throughput)就會(huì)變得愈少，導(dǎo)致測(cè)試成本愈高。特別是，在基于加寬輸入輸出規(guī)格的龐大數(shù)據(jù)輸入輸出的情況下，這將會(huì)嚴(yán)重減少待測(cè)硅穿孔裝置的一次上板測(cè)試數(shù)量。

請(qǐng)參閱圖1，一種適用于第一代加寬輸入輸出(widei/o)規(guī)格的現(xiàn)有內(nèi)存測(cè)試裝置500包含一測(cè)試頭510以及一轉(zhuǎn)換接口520，用以測(cè)試至少一待測(cè)硅穿孔裝置550。該測(cè)試頭510具有多個(gè)輸入輸出接腳io與多個(gè)驅(qū)動(dòng)接腳dr并構(gòu)成于一測(cè)試機(jī)臺(tái)。該轉(zhuǎn)換接口520包含一信號(hào)傳輸板530與一插座板540。該待測(cè)硅穿孔裝置550具有四個(gè)通道，分別標(biāo)示為channel-a、channel-b、channel-c、channel-d，每一信道皆具有相同的驅(qū)動(dòng)腳位a[0:n]與資料腳位dq[0:127]。利用該信號(hào)傳輸板530的多個(gè)輸入輸出線路531，連接每一數(shù)據(jù)腳位至對(duì)應(yīng)的輸入輸出接腳io；利用該信號(hào)傳輸板530的多個(gè)驅(qū)動(dòng)線路532，連接每一驅(qū)動(dòng)腳位至對(duì)應(yīng)的驅(qū)動(dòng)接腳dr。加寬輸入輸出(widei/o)規(guī)格的單信道傳輸率(sdr)為128位并具有四個(gè)信道。當(dāng)每一通道具有128個(gè)輸入輸出腳位與(n+1)個(gè)驅(qū)動(dòng)腳位，測(cè)試每一待測(cè)硅穿孔裝置550需要占用輸入輸出接腳io的數(shù)量為512個(gè)加上占用驅(qū)動(dòng)接腳dr的數(shù)量為(n+1)×4，總共需要占用的接腳數(shù)量為512+(n+1)×4，其中n為正整數(shù)。一測(cè)試機(jī)臺(tái)的最大能力接腳數(shù)除以上述需要占用的接腳數(shù)量，即得待測(cè)硅穿孔裝置550的可能上板數(shù)量。

請(qǐng)參閱圖2，一種適用于第二代加寬輸入輸出(widei/o2)規(guī)格的現(xiàn)有四信道內(nèi)存測(cè)試裝置600包含一測(cè)試頭610以及一轉(zhuǎn)換接口620，用以測(cè)試至少一待測(cè)硅穿孔裝置650。該測(cè)試頭610具有多個(gè)輸入輸出接腳io與多個(gè)驅(qū)動(dòng)接腳dr。該轉(zhuǎn)換接口620包含一信號(hào)傳輸板630與一插座板640。該待測(cè)硅穿孔裝置650具有四個(gè)通道，分別標(biāo)示為channel-a、channel-b、channel-c、channel-d，每一信道均具有相同的驅(qū)動(dòng)腳位ca[0:n]與資料腳位dq[0:63]。利用該信號(hào)傳輸板630的多個(gè)輸入輸出線路631，連接每一數(shù)據(jù)腳位至對(duì)應(yīng)的輸入輸出接腳io；利用該信號(hào)傳輸板630的多個(gè)驅(qū)動(dòng)線路632，連接每一驅(qū)動(dòng)腳位至對(duì)應(yīng)的驅(qū)動(dòng)接腳dr。第二代加寬輸入輸出(widei/o2)規(guī)格的其中一種單通道傳輸率(sdr)為64位并具有四個(gè)信道。當(dāng)每一通道具有64個(gè)輸入輸出腳位與(n+1)個(gè)驅(qū)動(dòng)腳位，測(cè)試每一待測(cè)硅穿孔裝置650需要占用輸入輸出接腳io的數(shù)量為256個(gè)加上占用驅(qū)動(dòng)接腳dr的數(shù)量為(n+1)×4，總共需要占用的接腳數(shù)量為256+(n+1)×4。

請(qǐng)參閱圖3，一種適用于第二代加寬輸入輸出(widei/o2)規(guī)格的現(xiàn)有八信道內(nèi)存測(cè)試裝置700包含一測(cè)試頭710以及一轉(zhuǎn)換接口720，用以測(cè)試至少一待測(cè)硅穿孔裝置750。該測(cè)試頭710具有多個(gè)輸入輸出接腳io與多個(gè)驅(qū)動(dòng)接腳dr。該轉(zhuǎn)換接口720包含一信號(hào)傳輸板730與一插座板740。該待測(cè)硅穿孔裝置750具有八個(gè)通道，分別標(biāo)示為channel-a、channel-b、channel-c、channel-d、channel-e、channel-f、channel-g、channel-h，每一信道均具有相同的驅(qū)動(dòng)腳位ca[0:n]與資料腳位dq[0:63]。利用該信號(hào)傳輸板730的多個(gè)輸入輸出線路731，連接每一數(shù)據(jù)腳位至對(duì)應(yīng)的輸入輸出接腳io；利用該信號(hào)傳輸板730的多個(gè)驅(qū)動(dòng)線路732，連接每一驅(qū)動(dòng)腳位至對(duì)應(yīng)的驅(qū)動(dòng)接腳dr。第二代加寬輸入輸出(widei/o2)規(guī)格的另一種單通道傳輸率(sdr)為64位并具有八個(gè)信道。當(dāng)每一通道具有64個(gè)輸入輸出腳位與(n+1)個(gè)驅(qū)動(dòng)腳位，測(cè)試每一待測(cè)硅穿孔裝置750需要占用輸入輸出接腳io的數(shù)量為512個(gè)加上占用驅(qū)動(dòng)接腳dr的數(shù)量為(n+1)×8，總共需要占用的接腳數(shù)量為512+(n+1)×8。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為了解決上述的問(wèn)題，本發(fā)明的主要目的在于提供一種加寬輸入輸出內(nèi)存的硅穿孔測(cè)試裝置，建立待測(cè)硅穿孔裝置在測(cè)試時(shí)多信道的驅(qū)動(dòng)菊煉串聯(lián)與數(shù)據(jù)線路分支共享，減少對(duì)應(yīng)每一待測(cè)硅穿孔裝置的驅(qū)動(dòng)接腳與輸出/輸入接腳的占用數(shù)量，進(jìn)而對(duì)具有大量數(shù)據(jù)接腳溝通模式的待測(cè)硅穿孔裝置進(jìn)行測(cè)試。因此，增加測(cè)試機(jī)臺(tái)內(nèi)待測(cè)硅穿孔裝置的可上板數(shù)量，減少不必要的組件裝卸除時(shí)間浪費(fèi)，進(jìn)而降低測(cè)試成本。

本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問(wèn)題是采用以下技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn)的。本發(fā)明揭示提供一種加寬輸入輸出內(nèi)存的硅穿孔測(cè)試裝置，用以測(cè)試至少一待測(cè)硅穿孔裝置，該待測(cè)硅穿孔裝置包含多個(gè)第一通道，該硅穿孔菊煉測(cè)試裝置包含一測(cè)試頭以及一轉(zhuǎn)換接口。該測(cè)試頭具有多個(gè)輸入輸出接腳與至少一第一驅(qū)動(dòng)接腳。該轉(zhuǎn)換接口包含一信號(hào)傳輸板與一插座板，該信號(hào)傳輸板具有多個(gè)輸入輸出線路與至少一第一驅(qū)動(dòng)線路，該插座板具有多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)、多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)與至少一第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)，該插座板更還具有多個(gè)魚骨型線路組合，每一魚骨型線路組合包含一主線路、多個(gè)第一支線路以及多個(gè)第二支線路，該多個(gè)第一支線路由該主線路連接至對(duì)應(yīng)的該多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)，該多個(gè)第二支線路由該主線路連接至對(duì)應(yīng)的該多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)，并且該多個(gè)輸入輸出線路連接對(duì)應(yīng)的輸入輸出接腳與對(duì)應(yīng)的該多個(gè)魚骨型線路組合的該多個(gè)主線路，該第一驅(qū)動(dòng)線路連接對(duì)應(yīng)的該第一驅(qū)動(dòng)接腳與對(duì)應(yīng)的該第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)。其中，該插座板還更具有多個(gè)第一菊煉結(jié)構(gòu)，該多個(gè)第一菊煉結(jié)構(gòu)由該第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)對(duì)應(yīng)地?cái)嚯x，用以串接該多個(gè)第一信道的相同驅(qū)動(dòng)腳位。當(dāng)該待測(cè)硅穿孔裝置裝載于該插座板上，該多個(gè)第一信道的相同驅(qū)動(dòng)腳位依序地以該多個(gè)第一菊煉結(jié)構(gòu)串聯(lián)成組，該多個(gè)第一菊煉結(jié)構(gòu)的串聯(lián)啟始點(diǎn)包含該第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)。

本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問(wèn)題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。

在前述硅穿孔菊煉測(cè)試裝置中，該多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)與該多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)可為溝通于每一第一信道的不同數(shù)據(jù)腳位定義。

在前述硅穿孔菊煉測(cè)試裝置中，該插座板可另具有多個(gè)第一終止電阻與至少一第二終止電阻，該多個(gè)第一終止電阻可連接于對(duì)應(yīng)的該多個(gè)主線路，該第二終止電阻可連接對(duì)應(yīng)于該第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)。

在前述硅穿孔菊煉測(cè)試裝置中，該多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)與該多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)可為溝通于不同串聯(lián)信道的相同數(shù)據(jù)腳位定義，其中該待測(cè)硅穿孔裝置可另包含多個(gè)第二通道，該多個(gè)第二通道可依序地以多個(gè)第二菊煉結(jié)構(gòu)串聯(lián)成組而驅(qū)動(dòng)分離于該多個(gè)第一信道的菊煉串聯(lián)組合，該多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)可溝通于每一第一信道的對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)腳位，該多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)可溝通于每一第二信道的對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)腳位。

在前述硅穿孔菊煉測(cè)試裝置中，該測(cè)試頭可另具有至少一第二驅(qū)動(dòng)接腳，該信號(hào)傳輸板可另具有至少一第二驅(qū)動(dòng)線路，該插座板可另具有至少一第二驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)，該第二驅(qū)動(dòng)線路可連接對(duì)應(yīng)的該第二驅(qū)動(dòng)接腳與對(duì)應(yīng)的該第二驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)，該多個(gè)第二菊煉結(jié)構(gòu)的串聯(lián)啟始點(diǎn)包含該第二驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)，并且該第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)可溝通于每一第一信道的對(duì)應(yīng)驅(qū)動(dòng)腳位，該第二驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)可溝通于每一第二信道的對(duì)應(yīng)驅(qū)動(dòng)腳位。

在前述硅穿孔菊煉測(cè)試裝置中，該插座板可另具有多個(gè)第一終止電阻、多個(gè)第二終止電阻與多個(gè)第三終止電阻，該多個(gè)第一終止電阻可連接于對(duì)應(yīng)的該多個(gè)主線路，該多個(gè)第二終止電阻可連接對(duì)應(yīng)于該多個(gè)第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)，該多個(gè)第三終止電阻可連接對(duì)應(yīng)于該多個(gè)第二驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)。

在前述硅穿孔菊煉測(cè)試裝置中，該多個(gè)輸入輸出線路可數(shù)量對(duì)應(yīng)于連接同一通道的該多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)，亦可數(shù)量對(duì)應(yīng)于連接同一通道的該多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)。

借由上述的技術(shù)手段，本發(fā)明利用驅(qū)動(dòng)菊煉串聯(lián)與數(shù)據(jù)線路分支共享的測(cè)試連接模式，達(dá)到針對(duì)加寬輸入輸出規(guī)格下占用接腳數(shù)量的降低，當(dāng)每一通道的輸入輸出腳位數(shù)量為128個(gè)，驅(qū)動(dòng)腳位數(shù)量為(n+1)個(gè)，n為正整數(shù)，測(cè)試占用接腳數(shù)量共64+(n+1)個(gè)接腳，其中64為占用的輸入輸出接腳數(shù)量，(n+1)為占用的驅(qū)動(dòng)接腳數(shù)量(可對(duì)照至圖4及圖5)；針對(duì)四信道第二代加寬輸入輸出規(guī)格，當(dāng)每一信道的輸入輸出腳位數(shù)量為64個(gè)，驅(qū)動(dòng)腳位數(shù)量為(n+1)個(gè)，占用接腳數(shù)量降低至64+(n+1)，其中占用的輸入輸出接腳數(shù)量為64，占用的驅(qū)動(dòng)接腳數(shù)量為(n+1)；針對(duì)八信道第二代加寬輸入輸出規(guī)格，當(dāng)每一信道的輸入輸出腳位數(shù)量為64個(gè)，驅(qū)動(dòng)腳位數(shù)量為(n+1)個(gè)，占用接腳數(shù)量降低至64+(n+1)×2，其中占用的輸入輸出接腳數(shù)量為64，占用的驅(qū)動(dòng)接腳數(shù)量為(n+1)×2(可對(duì)照至圖6及圖7)。

附圖說(shuō)明

圖1：一種適用于加寬輸入輸出(widei/o)規(guī)格的現(xiàn)有內(nèi)存測(cè)試裝置的方塊示意圖。

圖2：一種適用于第二代加寬輸入輸出(widei/o2)規(guī)格的現(xiàn)有四信道內(nèi)存測(cè)試裝置的方塊示意圖。

圖3：一種適用于第二代加寬輸入輸出(widei/o2)規(guī)格的現(xiàn)有八信道內(nèi)存測(cè)試裝置的方塊示意圖。

圖4：依據(jù)本發(fā)明的第一具體實(shí)施例，一種加寬輸入輸出內(nèi)存的硅穿孔測(cè)試裝置的連接示意圖。

圖5：依據(jù)本發(fā)明的第二具體實(shí)施例，另一種加寬輸入輸出內(nèi)存的硅穿孔測(cè)試裝置的連接示意圖。

圖6：依據(jù)本發(fā)明的第三具體實(shí)施例，另一種加寬輸入輸出內(nèi)存的硅穿孔測(cè)試裝置的連接示意圖。

圖7：依據(jù)本發(fā)明的第四具體實(shí)施例，另一種加寬輸入輸出內(nèi)存的硅穿孔測(cè)試裝置的連接示意圖。

圖中：

a[0:n]、ca[0:n]驅(qū)動(dòng)腳位；

dq[0:127]、dq[0:63]、dq[64:127]資料腳位；

channel-a、channel-b、channel-c、channel-d、channel-e、channel-f、channel-g、channel-h通道；

io輸入輸出接腳dr、dr1第一驅(qū)動(dòng)接腳；

dr2第二驅(qū)動(dòng)接腳；

100硅穿孔菊煉測(cè)試裝置；

110測(cè)試頭；

120轉(zhuǎn)換接口；130信號(hào)傳輸板；

131輸入輸出線路；132第一驅(qū)動(dòng)線路；

140插座板；141第一資料接點(diǎn)；

142第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)；143第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)；

144魚骨型線路組合；145第一菊煉結(jié)構(gòu)；

146主線路；147a第一支線路；

147b第二支線路；

150待測(cè)硅穿孔裝置；151第一通道；

200硅穿孔菊煉測(cè)試裝置；

261第一終止電阻；262第二終止電阻；

300硅穿孔菊煉測(cè)試裝置；

333第二驅(qū)動(dòng)線路；348第二驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)；

349第二菊煉結(jié)構(gòu)；350待測(cè)硅穿孔裝置；

351第一信道；352第二通道；

400硅穿孔菊煉測(cè)試裝置；

433第二驅(qū)動(dòng)線路；448第二驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)；

449第二菊煉結(jié)構(gòu)；450待測(cè)硅穿孔裝置；

451第一信道；452第二通道；

461第一終止電阻；462第二終止電阻；

463第三終止電阻；

500硅穿孔菊煉測(cè)試裝置；

510測(cè)試頭；

520轉(zhuǎn)換接口；530信號(hào)傳輸板；

531輸入輸出線路；532驅(qū)動(dòng)線路；

540插座板；550待測(cè)硅穿孔裝置；

600硅穿孔菊煉測(cè)試裝置；

610測(cè)試頭；

620轉(zhuǎn)換接口；630信號(hào)傳輸板；

631輸入輸出線路；632驅(qū)動(dòng)線路；

640插座板650待測(cè)硅穿孔裝置；

700硅穿孔菊煉測(cè)試裝置；

710測(cè)試頭；

720轉(zhuǎn)換接口；730信號(hào)傳輸板；

731輸入輸出線路；732驅(qū)動(dòng)線路；

740插座板；750待測(cè)硅穿孔裝置。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明，以使本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以更好的理解本發(fā)明并能予以實(shí)施，但所舉實(shí)施例不作為對(duì)本發(fā)明的限定。

依據(jù)本發(fā)明的第一具體實(shí)施例，一種加寬輸入輸出內(nèi)存的硅穿孔測(cè)試裝置100舉例說(shuō)明于圖4的連接示意圖。該硅穿孔菊煉測(cè)試裝置100用以測(cè)試至少一待測(cè)硅穿孔裝置150，該待測(cè)硅穿孔裝置150包含多個(gè)第一通道151，每一第一通道151各具有相同的腳位定義，例如驅(qū)動(dòng)腳位a[0:n]、資料腳位dq[0:63]、dq[64:127]。在本實(shí)施例中，該待測(cè)硅穿孔裝置150為四信道，該多個(gè)第一通道151具體標(biāo)示為channel-a、channel-b、channel-c、channel-d。該硅穿孔菊煉測(cè)試裝置100包含一測(cè)試頭110以及一轉(zhuǎn)換接口120。

請(qǐng)參閱圖4，該測(cè)試頭110具有多個(gè)輸入輸出接腳io與至少一第一驅(qū)動(dòng)接腳dr。該測(cè)試頭110為一測(cè)試機(jī)臺(tái)對(duì)該轉(zhuǎn)換接口120的接合接口。當(dāng)該待測(cè)硅穿孔裝置150為動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取內(nèi)存(dram)類型，該轉(zhuǎn)換接口120為高精度定位板(hi-fixboard)。該轉(zhuǎn)換接口120包含一信號(hào)傳輸板130與一插座板140，該信號(hào)傳輸板130具有多個(gè)輸入輸出線路131與至少一第一驅(qū)動(dòng)線路132，該插座板140具有多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)141、多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)142與至少一第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)143，該插座板140更具有多個(gè)魚骨型線路組合144，每一魚骨型線路組合144包含一主線路146、多個(gè)第一支線路147a以及多個(gè)第二支線路147b，該多個(gè)第一支線路147a由該主線路146連接至對(duì)應(yīng)的該多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)141，該多個(gè)第二支線路147b由該主線路146連接至對(duì)應(yīng)的該多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)142。較佳地，對(duì)應(yīng)于個(gè)別第一通道151，該多個(gè)第一支線路147a與該多個(gè)第二支線路147b成對(duì)地連接于該主線路146的相同節(jié)點(diǎn)，并可具有相同線路長(zhǎng)度。并且該多個(gè)輸入輸出線路131連接對(duì)應(yīng)的輸入輸出接腳io與對(duì)應(yīng)的該多個(gè)魚骨型線路組合144的該多個(gè)主線路146，該第一驅(qū)動(dòng)線路132連接對(duì)應(yīng)的該第一驅(qū)動(dòng)接腳dr與對(duì)應(yīng)的該第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)143。

其中，該插座板140更具有多個(gè)第一菊煉結(jié)構(gòu)145，該多個(gè)第一菊煉結(jié)構(gòu)145由該第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)143對(duì)應(yīng)地?cái)嚯x，用以串接該多個(gè)第一信道151的相同驅(qū)動(dòng)腳位，例如：一指定的第一信道151的驅(qū)動(dòng)腳位a[0:n]經(jīng)由該多個(gè)第一菊煉結(jié)構(gòu)145串接下一次序第一信道151的驅(qū)動(dòng)腳位a[0:n]。具體而言，該多個(gè)第一菊煉結(jié)構(gòu)145為斷脫機(jī)路或斷離連接器，以提供特定的中繼連接短路。其中上述斷脫機(jī)路具體為在該插座板150內(nèi)的線路結(jié)構(gòu)中兩端連接至測(cè)試針的斷脫機(jī)路，上述斷離連接器具體為包含兩短路連接測(cè)試針(pogopin)以及安裝在該插座板150的結(jié)合槽內(nèi)短路連接該兩測(cè)試針(pogopin)的纜線或網(wǎng)橋。當(dāng)該待測(cè)硅穿孔裝置150裝載于該插座板140上，該多個(gè)第一信道151的相同驅(qū)動(dòng)腳位a[0:n]依序地以該多個(gè)第一菊煉結(jié)構(gòu)145串聯(lián)成組。該多個(gè)第一信道151的串聯(lián)順序?yàn)閏hannel-a、channel-b、channel-c、channel-d。并且，該多個(gè)第一菊煉結(jié)構(gòu)145的串聯(lián)啟始點(diǎn)包含該第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)143。

在本實(shí)施例中，該多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)141與該多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)142可為溝通于每一第一信道151的不同數(shù)據(jù)腳位定義，可被分辨為第一數(shù)據(jù)腳位定義(即數(shù)據(jù)腳位dq[0:63]的組合)與第二數(shù)據(jù)腳位定義(即數(shù)據(jù)腳位dq[64:127]的組合)。該多個(gè)輸入輸出線路131可數(shù)量對(duì)應(yīng)于連接同一通道的該多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)141，該多個(gè)輸入輸出線路131亦可數(shù)量對(duì)應(yīng)于連接同一通道的該多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)142，例如：連接同一信道內(nèi)數(shù)據(jù)腳位dq[0:63]的該多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)141為64個(gè)接點(diǎn)、連接同一信道內(nèi)數(shù)據(jù)腳位dq[64:127]的該多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)142為64個(gè)接點(diǎn)、該多個(gè)輸入輸出線路131為64條。

當(dāng)該待測(cè)硅穿孔裝置150具有加寬輸入輸出(widei/o)的規(guī)格與四信道，每一信道的數(shù)據(jù)腳位為128。該多個(gè)輸入輸出線路131的數(shù)量可控制為64，該第一驅(qū)動(dòng)線路132的數(shù)量可控制為n+1，測(cè)試占用接腳數(shù)量為64個(gè)輸入輸出接腳io與(n+1)個(gè)第一驅(qū)動(dòng)接腳dr的總和。

因此，該加寬輸入輸出內(nèi)存的硅穿孔測(cè)試裝置建立待測(cè)硅穿孔裝置在測(cè)試時(shí)多信道的驅(qū)動(dòng)菊煉串聯(lián)與數(shù)據(jù)線路分支共享，減少對(duì)應(yīng)每一待測(cè)硅穿孔裝置的驅(qū)動(dòng)接腳與輸出/輸入接腳的占用數(shù)量，進(jìn)而對(duì)具有大量數(shù)據(jù)接腳溝通模式的待測(cè)硅穿孔裝置進(jìn)行測(cè)試。因此，增加測(cè)試機(jī)臺(tái)內(nèi)待測(cè)硅穿孔裝置的可上板數(shù)量，減少不必要的組件裝卸除時(shí)間浪費(fèi)，進(jìn)而降低測(cè)試成本。

依據(jù)本發(fā)明的第二具體實(shí)施例，另一種加寬輸入輸出內(nèi)存的硅穿孔測(cè)試裝置200舉例說(shuō)明于圖5的連接示意圖，其中對(duì)應(yīng)于第一具體實(shí)施例相同名稱與功能的組件以第一具體實(shí)施例的組件圖號(hào)表示，并且不再贅述其細(xì)部相同結(jié)構(gòu)。該硅穿孔菊煉測(cè)試裝置200用以測(cè)試至少一待測(cè)硅穿孔裝置150，該待測(cè)硅穿孔裝置150包含多個(gè)第一通道151，每一第一通道151各具有相同的腳位定義，例如驅(qū)動(dòng)腳位a[0:n]、資料腳位dq[0:63]、dq[64:127]。本實(shí)施例大致與第一具體實(shí)施例相同，該待測(cè)硅穿孔裝置150為四信道，該多個(gè)第一通道151具體標(biāo)示為channel-a、channel-b、channel-c、channel-d。該硅穿孔菊煉測(cè)試裝置200包含一測(cè)試頭110以及一轉(zhuǎn)換接口120。

請(qǐng)參閱圖5，該測(cè)試頭110具有多個(gè)輸入輸出接腳io與至少一第一驅(qū)動(dòng)接腳dr。該轉(zhuǎn)換接口120包含一信號(hào)傳輸板130與一插座板140，該信號(hào)傳輸板130具有多個(gè)輸入輸出線路131與至少一第一驅(qū)動(dòng)線路132，該插座板140具有多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)141、多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)142與至少一第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)143，該插座板140更具有多個(gè)魚骨型線路組合144，每一魚骨型線路組合144包含一主線路146、多個(gè)第一支線路147a以及多個(gè)第二支線路147b，該多個(gè)第一支線路147a由該主線路146連接至對(duì)應(yīng)的該多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)141，該多個(gè)第二支線路147b由該主線路146連接至對(duì)應(yīng)的該多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)142。并且該多個(gè)輸入輸出線路131連接對(duì)應(yīng)的輸入輸出接腳io與對(duì)應(yīng)的該多個(gè)魚骨型線路組合144的該多個(gè)主線路146，該第一驅(qū)動(dòng)線路132連接對(duì)應(yīng)的該第一驅(qū)動(dòng)接腳dr與對(duì)應(yīng)的該第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)143。

在本實(shí)施例中，該插座板140可另具有多個(gè)第一終止電阻261與至少一第二終止電阻262，該多個(gè)第一終止電阻261可連接于對(duì)應(yīng)的該多個(gè)主線路146，該第二終止電阻262可連接對(duì)應(yīng)于該第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)143，借以作為該多個(gè)第一菊煉結(jié)構(gòu)145的串聯(lián)終止點(diǎn)。該多個(gè)第一終止電阻261與該第二終止電阻262理論上可為50歐姆(ohm)，當(dāng)信號(hào)在線路末端設(shè)有50歐姆電阻時(shí)，能夠避免測(cè)試時(shí)反彈(boundback)所造成的反射噪聲，讓測(cè)試結(jié)果更穩(wěn)定。

依據(jù)本發(fā)明的第三具體實(shí)施例，另一種加寬輸入輸出內(nèi)存的硅穿孔測(cè)試裝置300舉例說(shuō)明于圖6的連接示意圖，其中對(duì)應(yīng)于第一具體實(shí)施例相同名稱與功能的組件以第一具體實(shí)施例的組件圖號(hào)表示，并且不再贅述其細(xì)部相同結(jié)構(gòu)。該硅穿孔菊煉測(cè)試裝置300用以測(cè)試至少一待測(cè)硅穿孔裝置350，該待測(cè)硅穿孔裝置350包含多個(gè)第一通道351，每一第一通道351各具有相同的腳位定義，例如驅(qū)動(dòng)腳位ca[0:n]、資料腳位dq[0:63]。在本實(shí)施例中，該待測(cè)硅穿孔裝置350為八信道，該多個(gè)第一通道351具體標(biāo)示為channel-a、channel-b、channel-c、channel-d；該待測(cè)硅穿孔裝置350可另包含多個(gè)第二通道352，該多個(gè)第二通道352具體標(biāo)示為channel-e、channel-f、channel-g、channel-h，每一第二通道352各具有與第一通道351相同的腳位定義，例如驅(qū)動(dòng)腳位ca[0:n]、資料腳位dq[0:63]。該硅穿孔菊煉測(cè)試裝置300包含一測(cè)試頭110以及一轉(zhuǎn)換接口120。

請(qǐng)參閱圖6，該測(cè)試頭110具有多個(gè)輸入輸出接腳io與至少一第一驅(qū)動(dòng)接腳dr1，該測(cè)試頭110可另具有至少一第二驅(qū)動(dòng)接腳dr2。該轉(zhuǎn)換接口120包含一信號(hào)傳輸板130與一插座板140，該信號(hào)傳輸板130具有多個(gè)輸入輸出線路131與至少一第一驅(qū)動(dòng)線路132，在本實(shí)施例中，該信號(hào)傳輸板130可另具有至少一第二驅(qū)動(dòng)線路333。該插座板140具有多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)141、多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)142與至少一第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)143，在本實(shí)施例中，該插座板140可另具有至少一第二驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)348。該插座板140更具有多個(gè)魚骨型線路組合144，每一魚骨型線路組合144包含一主線路146、多個(gè)第一支線路147a以及多個(gè)第二支線路147b，該多個(gè)第一支線路147a由該主線路146連接至對(duì)應(yīng)的該多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)141，該多個(gè)第二支線路147b由該主線路146連接至對(duì)應(yīng)的該多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)142。較佳地，對(duì)應(yīng)于同一列的第一通道351與該第二通道352，該多個(gè)第一支線路147a與該多個(gè)第二支線路147b成對(duì)地連接于該主線路146的相同節(jié)點(diǎn)，并可具有相同線路長(zhǎng)度。并且該多個(gè)輸入輸出線路131連接對(duì)應(yīng)的輸入輸出接腳io與對(duì)應(yīng)的該多個(gè)魚骨型線路組合144的該多個(gè)主線路146，該第一驅(qū)動(dòng)線路132連接對(duì)應(yīng)的該第一驅(qū)動(dòng)接腳dr1與對(duì)應(yīng)的該第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)143。該第二驅(qū)動(dòng)線路333可連接對(duì)應(yīng)的該第二驅(qū)動(dòng)接腳dr2與對(duì)應(yīng)的該第二驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)348。

其中，該插座板140更具有多個(gè)第一菊煉結(jié)構(gòu)145，該多個(gè)第一菊煉結(jié)構(gòu)145由該第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)143對(duì)應(yīng)地?cái)嚯x，用以串接該多個(gè)第一信道351的相同驅(qū)動(dòng)腳位，例如：一指定的第一信道351的驅(qū)動(dòng)腳位ca[0:n]串接下一次序第一信道351的驅(qū)動(dòng)腳位ca[0:n]。當(dāng)該待測(cè)硅穿孔裝置350裝載于該插座板140上，該多個(gè)第一信道351的串聯(lián)順序?yàn)閏hannel-a、channel-b、channel-c、channel-d，該多個(gè)第二信道352的串聯(lián)順序?yàn)閏hannel-e、channel-f、channel-g、channel-h。并且，該多個(gè)第一菊煉結(jié)構(gòu)145的串聯(lián)啟始點(diǎn)包含該第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)143。在本實(shí)施例中，該插座板140更具有多個(gè)第二菊煉結(jié)構(gòu)349，用以串接該多個(gè)第二信道352的相同驅(qū)動(dòng)腳位ca[0:n]，該多個(gè)第二菊煉結(jié)構(gòu)349的串聯(lián)啟始點(diǎn)包含該第二驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)348。

該多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)141與該多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)142可為溝通于不同串聯(lián)信道的相同數(shù)據(jù)腳位定義，該多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)141與該多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)142均是串聯(lián)數(shù)據(jù)腳位dq[0:63]但位于不同串連組合的信道，其中該多個(gè)第二通道352可依序地以該多個(gè)第二菊煉結(jié)構(gòu)349串聯(lián)成組而驅(qū)動(dòng)分離于該多個(gè)第一信道351的菊煉串聯(lián)組合，該多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)141可溝通于每一第一信道351的對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)腳位dq[0:63]，該多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)142可溝通于每一第二信道352的對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)腳位dq[0:63]。并且該第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)143可溝通于每一第一信道351的對(duì)應(yīng)驅(qū)動(dòng)腳位ca[0:n]，該第二驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)348可溝通于每一第二信道352的對(duì)應(yīng)驅(qū)動(dòng)腳位ca[0:n]。

當(dāng)該待測(cè)硅穿孔裝置350具有第二代加寬輸入輸出(widei/o2)的規(guī)格與八信道，每一信道的數(shù)據(jù)腳位為64個(gè)。該多個(gè)輸入輸出線路131的數(shù)量可控制為64，該第一驅(qū)動(dòng)線路132的數(shù)量可控制為(n+1)，該第二驅(qū)動(dòng)線路333的數(shù)量可控制為(n+1)，測(cè)試占用接腳數(shù)量為64個(gè)輸入輸出接腳io與(n+1)×2個(gè)驅(qū)動(dòng)接腳dr1、dr2的總和。

依據(jù)本發(fā)明的第四具體實(shí)施例，另一種加寬輸入輸出內(nèi)存的硅穿孔測(cè)試裝置400舉例說(shuō)明于圖7的連接示意圖，其中對(duì)應(yīng)于第一具體實(shí)施例相同名稱與功能的組件以第一具體實(shí)施例的組件圖號(hào)表示，并且不再贅述其細(xì)部相同結(jié)構(gòu)。該硅穿孔菊煉測(cè)試裝置400用以測(cè)試至少一待測(cè)硅穿孔裝置450，該待測(cè)硅穿孔裝置450包含多個(gè)第一通道451，每一第一通道451各具有相同的腳位定義，例如驅(qū)動(dòng)腳位ca[0:n]、資料腳位dq[0:63]，在本實(shí)施例中，該待測(cè)硅穿孔裝置450為八信道，該多個(gè)第一通道451具體標(biāo)示為channel-a、channel-b、channel-c、channel-d；該待測(cè)硅穿孔裝置450可另包含多個(gè)第二通道452，該多個(gè)第二通道452具體標(biāo)示為channel-e、channel-f、channel-g、channel-h。該硅穿孔菊煉測(cè)試裝置400包含一測(cè)試頭110以及一轉(zhuǎn)換接口120。

請(qǐng)參閱圖7，該測(cè)試頭110具有多個(gè)輸入輸出接腳io與至少一第一驅(qū)動(dòng)接腳dr1，該測(cè)試頭110可另具有至少一第二驅(qū)動(dòng)接腳dr2。該轉(zhuǎn)換接口120包含一信號(hào)傳輸板130與一插座板140，該信號(hào)傳輸板130具有多個(gè)輸入輸出線路131與至少一第一驅(qū)動(dòng)線路132，在本實(shí)施例中，該信號(hào)傳輸板130可另具有至少一第二驅(qū)動(dòng)線路433。該插座板140具有多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)141、多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)142與至少一第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)143，在本實(shí)施例中，該插座板140可另具有至少一第二驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)448。該插座板140更具有多個(gè)魚骨型線路組合144，每一魚骨型線路組合144包含一主線路146、多個(gè)第一支線路147a以及多個(gè)第二支線路147b，該多個(gè)第一支線路147a由該主線路146連接至對(duì)應(yīng)的該多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)141，該多個(gè)第二支線路147b由該主線路146連接至對(duì)應(yīng)的該多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)142。并且該多個(gè)輸入輸出線路131連接對(duì)應(yīng)的輸入輸出接腳io與對(duì)應(yīng)的該多個(gè)魚骨型線路組合144的該多個(gè)主線路146，該第一驅(qū)動(dòng)線路132連接對(duì)應(yīng)的該第一驅(qū)動(dòng)接腳dr1與對(duì)應(yīng)的該第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)143。該第二驅(qū)動(dòng)線路433可連接對(duì)應(yīng)的該第二驅(qū)動(dòng)接腳dr2與對(duì)應(yīng)的該第二驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)448。

其中，該插座板140更具有多個(gè)第一菊煉結(jié)構(gòu)145，該多個(gè)第一菊煉結(jié)構(gòu)145由該第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)143對(duì)應(yīng)地?cái)嚯x，用以串接該多個(gè)第一信道451的相同驅(qū)動(dòng)腳位，例如：一指定的第一信道451的驅(qū)動(dòng)腳位ca[0:n]串接下一次序第一信道451的驅(qū)動(dòng)腳位ca[0:n]。當(dāng)該待測(cè)硅穿孔裝置450裝載于該插座板140上，該多個(gè)第一信道451的相同驅(qū)動(dòng)腳位ca[0:n]依序地以該多個(gè)第一菊煉結(jié)構(gòu)145串聯(lián)成組。該多個(gè)第一信道451的串聯(lián)順序?yàn)閏hannel-a、channel-b、channel-c、channel-d，該多個(gè)第二信道452的串聯(lián)順序?yàn)閏hannel-e、channel-f、channel-g、channel-h。并且，該多個(gè)第一菊煉結(jié)構(gòu)145的串聯(lián)啟始點(diǎn)包含該第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)143。在本實(shí)施例中，該插座板140更具有多個(gè)第二菊煉結(jié)構(gòu)449，用以串接該多個(gè)第二信道452的相同驅(qū)動(dòng)腳位ca[0:n]，該多個(gè)第二菊煉結(jié)構(gòu)449的串聯(lián)啟始點(diǎn)包含該第二驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)448。

該多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)141與該多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)142可為溝通于不同串聯(lián)信道的相同數(shù)據(jù)腳位定義，即該多個(gè)第一信道451的數(shù)據(jù)腳位dq[0:63]與該多個(gè)第二信道452的數(shù)據(jù)腳位dq[0:63]為相同，但分別連接在不相同的串聯(lián)組合，該多個(gè)第二通道452可依序地以該多個(gè)第二菊煉結(jié)構(gòu)449串聯(lián)成組而驅(qū)動(dòng)分離于該多個(gè)第一信道451的該多個(gè)第一菊煉結(jié)構(gòu)145的串聯(lián)組合，該多個(gè)第一數(shù)據(jù)接點(diǎn)141可溝通于每一第一信道451的對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)腳位dq[0:63]，該多個(gè)第二數(shù)據(jù)接點(diǎn)142可溝通于每一第二信道452的對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)腳位dq[0:63]。

在本實(shí)施例中，該插座板140可另具有多個(gè)第一終止電阻461、多個(gè)第二終止電阻462與多個(gè)第三終止電阻463，該多個(gè)第一終止電阻461可連接于對(duì)應(yīng)的該多個(gè)主線路146，該多個(gè)第二終止電阻462可連接對(duì)應(yīng)于該多個(gè)第一驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)143，該多個(gè)第三終止電阻463可連接對(duì)應(yīng)于該多個(gè)第二驅(qū)動(dòng)接點(diǎn)448，借以作為該多個(gè)第一菊煉結(jié)構(gòu)145與該多個(gè)第二菊煉結(jié)構(gòu)449的串聯(lián)終止點(diǎn)。

以上所述實(shí)施例僅是為充分說(shuō)明本發(fā)明而所舉的較佳的實(shí)施例，本發(fā)明的保護(hù)范圍不限于此。本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明基礎(chǔ)上所作的等同替代或變換，均在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。本發(fā)明的保護(hù)范圍以權(quán)利要求書為準(zhǔn)。