本發(fā)明是關(guān)于散熱結(jié)構(gòu),尤其是關(guān)于用于半導(dǎo)體裝置的散熱結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù):
半導(dǎo)體裝置于運作時會產(chǎn)生熱,故需要散熱設(shè)計以避免運作被影響。目前半導(dǎo)體裝置的散熱設(shè)計多半屬于封裝層級或印刷電路板層級,封裝層級的散熱設(shè)計通常是利用外接的散熱裝置來對已封裝的半導(dǎo)體裝置進行散熱,而印刷電路板層級的散熱設(shè)計通常是利用外接的散熱裝置來對設(shè)置有該半導(dǎo)體裝置的印刷電路板進行整體性的散熱。上述散熱設(shè)計的效果隨著半導(dǎo)體制程的演進而減退,對于先進制程(例如55奈米或55奈米以下的制程)而言,該些散熱設(shè)計逐漸地不敷使用。
鑒于上述,本領(lǐng)域需要一種能更有效地為半導(dǎo)體裝置的熱源(通常為電晶體)進行散熱的技術(shù),藉此滿足先進半導(dǎo)體制程的需求。
部分先前技術(shù)見于下列文獻:公開號為us2011/0089517a1的美國專利申請公開案。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本發(fā)明之一目的在于提出一種用于半導(dǎo)體裝置的接合線式散熱結(jié)構(gòu),以解決先前技術(shù)的問題。
本發(fā)明提出一種用于半導(dǎo)體裝置的接合線式散熱結(jié)構(gòu),其一實施例包含:一半導(dǎo)體基板;一熱源,位于該半導(dǎo)體基板或?qū)儆谠摪雽?dǎo)體基板,包含至少一熱點;至少一熱導(dǎo)層;至少一熱導(dǎo)體,用來連接該至少一熱點與該至少一熱導(dǎo)層;至少一散熱體,處于一電性浮接狀態(tài);以及至少一接合線,用來連接該至少一熱導(dǎo)層與該至少一散熱體,藉此將該熱源的熱傳導(dǎo)至該散熱體。上述實施例之一樣態(tài)中,該熱源包含一電晶體,且該至少一 熱點包含一源極、一汲極以及一閘極的至少其中之一;或者該至少一熱點包含該半導(dǎo)體基板的至少一接取點。上述實施例的另一樣態(tài)中,該至少一熱導(dǎo)層包含p個接合墊,該至少一散熱體包含s個散熱體,該至少一接合線包含n個接合線,該n個接合線用來連接該p個接合墊與該s個散熱體,該p、n、s的其中之二為正整數(shù),其余為大于1的整數(shù)。
上述接合線式散熱結(jié)構(gòu)的另一實施例包含:一半導(dǎo)體基板;一熱源,位于該半導(dǎo)體基板或?qū)儆谠摪雽?dǎo)體基板,包含至少一熱點;至少一熱導(dǎo)層;至少一熱導(dǎo)體,用來連接該至少一熱點與該至少一熱導(dǎo)層;至少一散熱體;以及復(fù)數(shù)接合線,用來連接該至少一熱導(dǎo)層與該至少一散熱體,藉此將該熱源的熱傳導(dǎo)至該散熱體,該復(fù)數(shù)接合線的數(shù)目n大于或等于2,n的較佳值為5至15之間的數(shù)值,例如為10。
有關(guān)本發(fā)明的特征、實作與功效,茲配合圖式作較佳實施例詳細(xì)說明如下。
附圖說明
圖1是本發(fā)明的接合線式散熱結(jié)構(gòu)之一實施例的示意圖;
圖2是圖1的實施例的一實施樣態(tài)的示意圖;
圖3是圖1的實施例的一實施樣態(tài)的局部頂視圖;
圖4是圖1的實施例的一實施樣態(tài)的局部頂視圖;
圖5是圖1的實施例的一實施樣態(tài)的局部頂視圖;
圖6是圖1的實施例的一實施樣態(tài)的局部頂視圖;以及
圖7是圖1的實施例的一實施樣態(tài)的局部頂視圖。
【符號說明】
100接合線式散熱結(jié)構(gòu)
110半導(dǎo)體基板
120熱源
122熱點
130熱導(dǎo)層
132第一熱導(dǎo)層
134頂部熱導(dǎo)層
140熱導(dǎo)體
142第一熱導(dǎo)體
144頂部熱導(dǎo)體
150散熱體
160接合線
310接合墊
320散熱體
330接合線
410接合墊熱導(dǎo)路徑
510散熱體熱導(dǎo)路徑
610接合墊
620散熱體
630接合線
具體實施方式
以下說明內(nèi)容的技術(shù)用語是參照本技術(shù)領(lǐng)域的習(xí)慣用語,如本說明書對部分用語有加以說明或定義,該部分用語的解釋應(yīng)以本說明書的說明或定義為準(zhǔn)。另外,在實施為可能的前提下,本說明書所描述的物件間的相對關(guān)系,涵義可包含直接或間接的關(guān)系,所謂「間接」是指物件間尚有中間物或物理空間的存在。此外,本說明書的圖標(biāo)中元件的形狀、尺寸、比例等僅為示意,是供本技術(shù)領(lǐng)域具有通常知識者了解本發(fā)明之用,非對本發(fā)明的實施范圍加以限制。
本發(fā)明包含用于半導(dǎo)體裝置的接合線式散熱結(jié)構(gòu),該散熱結(jié)構(gòu)屬于積體電路等級,能夠直接為積體電路進行散熱,有效解決先進半導(dǎo)體制程(例如55奈米或55奈米以下的制程)的散熱問題。本發(fā)明的散熱結(jié)構(gòu)可包含于已完成封裝的成品(例如已完成封裝的積體電路)或尚未完成封裝的半成品(例如尚未完成封裝的積體電路),可能包含已知元件,在不影響發(fā) 明揭露要求及可實施性的前提下,已知元件的說明或繪示將被適度節(jié)略。
請參閱圖1,其是本發(fā)明的接合線式散熱結(jié)構(gòu)之一實施例的示意圖。如圖1所示,接合線式散熱結(jié)構(gòu)100包含:一半導(dǎo)體基板110;一熱源120;至少一熱導(dǎo)層130;至少一熱導(dǎo)體140;至少一散熱體150;以及至少一接合線(bondingwire)160。所述半導(dǎo)體基板110例如是一矽基板,又例如是其它種已知或自行研發(fā)的半導(dǎo)體基板,該半導(dǎo)體基板110于本實施例中包含形成于其上的積體電路,然此并非實施限制。所述熱源120位于該半導(dǎo)體基板110上或位于該半導(dǎo)體基板110中,或?qū)儆谠摪雽?dǎo)體基板110,換言之,該熱源120可以不是也可以是該半導(dǎo)體基板110的一部分,另外,該熱源120包含至少一熱點122。舉例而言,當(dāng)該熱源120包含一電晶體,該至少一熱點122包含一源極、一汲極以及一閘極的至少其中之一,其中該電晶體例如是但不限于為尺寸符合55奈米或55奈米以下的半導(dǎo)體制程規(guī)范的電晶體。另舉例而言,該至少一熱點122包含該半導(dǎo)體基板110的至少一接取點(pickup)。
請繼續(xù)參閱圖1,所述至少一熱導(dǎo)體140用來連接該至少一熱點122與該至少一熱導(dǎo)層130,藉此傳導(dǎo)該至少一熱點122的熱至該至少一熱導(dǎo)層130,其中該至少一熱導(dǎo)層130于本例中為至少一金屬層,然而在實施為可能的前提下,該至少一熱導(dǎo)層130可為導(dǎo)熱性良好的非金屬層像是石墨層,或同時包含金屬層與非金屬層。舉例而言,如圖2所示,該至少一熱導(dǎo)層130包含一第一熱導(dǎo)層132(本例中為第一金屬層)與一頂部熱導(dǎo)層134(本例中為頂部金屬層),且可視實施或應(yīng)用需求進一步包含更多熱導(dǎo)層(未顯示于圖中)于該第一熱導(dǎo)層132與該頂部熱導(dǎo)層134之間,該至少一熱導(dǎo)體140包含至少一第一熱導(dǎo)體142以及至少一頂部熱導(dǎo)體144,且可視實施或應(yīng)用需求進一步包含更多熱導(dǎo)體(未顯示于圖中)于該至少一第一熱導(dǎo)體142與該至少一頂部熱導(dǎo)體144之間,該至少一第一熱導(dǎo)體142例如是半導(dǎo)體制程的至少一接觸體(contact),其包含一通孔與填注于該通孔中的熱導(dǎo)體(例如金、銀、銅、銅合金、鋁、鋁合金等金屬熱導(dǎo)體,或例如石墨等非金屬熱導(dǎo)體),用來連接該第一熱導(dǎo)層132與該至少一熱點122,該至少一頂部熱導(dǎo)體144像是半導(dǎo)體制程的至少一導(dǎo)通 體(via),其包含一貫孔與填注于該貫孔中的熱導(dǎo)體(例如金、銀、銅、銅合金、鋁、鋁合金等金屬熱導(dǎo)體,或例如石墨等非金屬熱導(dǎo)體),用來連接該頂部熱導(dǎo)層134與一下方熱導(dǎo)層,該下方熱導(dǎo)層包含于該至少一熱導(dǎo)層130中,且為該第一熱導(dǎo)層132或為一第k熱導(dǎo)層,該k為大于1的整數(shù)。
請繼續(xù)參閱圖1,所述至少一散熱體150可視實施需求被設(shè)計為處于一電性浮接(floating)狀態(tài)或具有一特定電位。舉例而言,當(dāng)前述熱源120包含一電晶體,該至少一散熱體150可處于一電性浮接狀態(tài)以避免影響該電晶體的正常運作,然而只要不實質(zhì)影響運作,該至少一散熱體150不一定要處于該電性浮接狀態(tài),而可具有一特定電位像是一固定電位;此外,當(dāng)前述至少一熱點122為該半導(dǎo)體基板110的至少一接取點,該至少一散熱體150可處于前述電性浮接狀態(tài)或具有一特定電位,該特定電位例如是一固定電位像是一直流高電位、一直流低電位或一接地電位。另外,該至少一散熱體150視實施者的需求可為一專為實施本發(fā)明而增設(shè)的金屬墊、一存在于既有積體電路設(shè)計中的虛設(shè)(dummy)金屬布局、一導(dǎo)線架(leadframe)以及一外露墊(exposedpad,epad)的其中之一或任意組合,當(dāng)然也可為其它適合搭配半導(dǎo)體制程且能用來散熱的元件像是石墨體、奈米碳管等等,上述金屬布局、導(dǎo)線架與外露墊等屬于本領(lǐng)域的習(xí)知技術(shù),其細(xì)節(jié)在此不予贅述。
請繼續(xù)參閱圖1,所述至少一接合線160用來連接該至少一熱導(dǎo)層130與該至少一散熱體150,藉此將該熱源120的熱傳導(dǎo)至該散熱體150,該至少一接合線160的材質(zhì)為金屬或為熱導(dǎo)性與強度良好的非金屬。舉例而言,如圖3所示,該至少一熱導(dǎo)層130包含p個接合墊310(圖3中p為1以用于舉例說明),該至少一散熱體150包含s個散熱體320(圖3中s為1以用于舉例說明),該至少一接合線160包含n個接合線330(圖3中n為3以用于舉例說明),該n個接合線330用來連接該p個接合墊310與該s個散熱體320,其中該p、n、s的其中之二為正整數(shù),其余為大于1的整數(shù);若該p為大于1的整數(shù)(如圖4所示,其中p為3),該p個接合墊310可選擇性地經(jīng)由至少一接合墊熱導(dǎo)路徑410連接在一起以幫助散 熱,該至少一接合墊熱導(dǎo)路徑410的一部或全部可位于前述頂部熱導(dǎo)層134或前述下方熱導(dǎo)層,是用來實現(xiàn)該p個接合墊310之間的熱傳導(dǎo);又若該s為大于1的整數(shù)(如圖5所示,其中s為3),該s個散熱體320亦可選擇性地經(jīng)由至少一散熱體熱導(dǎo)路徑510連接在一起,以實現(xiàn)該s個散熱體320間的熱傳導(dǎo),該散熱體熱導(dǎo)路徑510可能造成電磁干擾(electromagneticinterference,emi)方面的影響,但此不在本發(fā)明的探討范圍內(nèi),上述接合墊熱導(dǎo)路徑410與散熱體熱導(dǎo)路徑510并非本發(fā)明的實施限制。
承上所述,另舉例而言,如圖6所示,該至少一熱導(dǎo)層130包含p個接合墊610(圖6中p為3以用于舉例說明),該至少一散熱體150包含s個散熱體620(圖6中s為1以用于舉例說明),該至少一接合線160包含n個接合線630(圖6中n為3以用于舉例說明),該n個接合線630用來連接該p個接合墊610與該s個散熱體620,該p、n、s的其中之一為正整數(shù),其余為大于1的整數(shù)。再舉例而言,該至少一接合線160包含n個接合線,其中該n大于或等于2,n的較佳值為5至15之間的數(shù)值,例如為10,如圖7所示,然而只要在實施為可能的前提下,n的值無特別限制。請注意,在實施為可能的前提下,該至少一接合線160的尺寸與形狀未有特別限制,舉例來說,該至少一接合線160的線寬可較寬以幫助散熱。另請注意,該至少一接合線160的制作可經(jīng)由一封裝制程來實現(xiàn),然而只要實施為可能,該至少一接合線160的制作亦可藉由一積體電路制程來實現(xiàn)。此發(fā)明除了可以達到散熱之外,亦可提供訊號屏蔽(shielding)的效果,換言之,多數(shù)接合線會形成輻射的干擾物,使下方的輻射源不易輻射。
請再次參閱圖1,為增強散熱效果,前述熱源120與至少一散熱體150可分別設(shè)于半導(dǎo)體基板110的二側(cè)或是至少其中之一者設(shè)于矽基板的中央,或者二者間的距離大于一最小距離150微米(μm),該熱源120與該至少一散熱體150間的距離應(yīng)足供該至少一接合線160的形成。另外,為保護圖1的散熱結(jié)構(gòu)100免于外力破壞或侵蝕,散熱結(jié)構(gòu)100可被一封裝膠材覆蓋,其中該至少一散熱體150可選擇性地曝露于外而未被該封裝膠材覆蓋以加強散熱效果,然此并非實施限制。再者,本領(lǐng)域具有通常知識 者可以了解本實施例的圖標(biāo)中各元件間可能有其它元件或材質(zhì),以提供保護、支撐、絕緣、連接或其它已知或自定義的功能,舉例而言,前述至少一散熱體150與基板110間具有一結(jié)構(gòu)體(未顯示于圖中),使得該至少一散熱體150獲得支撐。
請注意,前揭各實施例包含一或復(fù)數(shù)個技術(shù)特征,于實施為可能的前提下,本技術(shù)領(lǐng)域人士可依本發(fā)明的揭露內(nèi)容及自身的需求選擇性地實施任一實施例的部分或全部技術(shù)特征,或者選擇性地實施復(fù)數(shù)個實施例的部分或全部技術(shù)特征的組合,藉此增加實施本發(fā)明的彈性。
綜上所述,本發(fā)明的用于半導(dǎo)體裝置的接合線式散熱結(jié)構(gòu)能夠直接為積體電路進行散熱,有效地解決了先進半導(dǎo)體制程(例如55奈米或55奈米以下的制程)的散熱問題。另外,本發(fā)明的散熱結(jié)構(gòu)可透過成熟、單純的制程技術(shù)(其可選擇性地包含或不包含積體電路的封裝制程技術(shù))來實現(xiàn),相較于先前技術(shù)具有散熱效果佳、成本合理等優(yōu)勢。
雖然本發(fā)明的實施例如上所述,然而該些實施例并非用來限定本發(fā)明,本技術(shù)領(lǐng)域具有通常知識者可依據(jù)本發(fā)明的明示或隱含的內(nèi)容對本發(fā)明的技術(shù)特征施以變化,凡此種種變化均可能屬于本發(fā)明所尋求的專利保護范疇,換言之,本發(fā)明的專利保護范圍須視本說明書的申請專利范圍所界定者為準(zhǔn)。