技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種使用二次離子質(zhì)譜儀分析氣體樣品的系統(tǒng)和方法，該系統(tǒng)包括：引出極、金屬板和氣體引入導(dǎo)管；所述引出極和所述金屬板位于所述二次離子質(zhì)譜儀的樣品室內(nèi)，所述引出極上設(shè)有用于通過一次離子的第一通孔、用于通過二次離子的第二通孔、以及用于穿過所述氣體引入導(dǎo)管的第三通孔；所述氣體引入導(dǎo)管穿過所述第三通孔后將所述氣體樣品引導(dǎo)至所述金屬板的表面，所述氣體樣品在所述一次離子的轟擊下形成所述二次離子；所述引出極和所述金屬板之間形成電場，以使所述二次離子通過所述第二通孔飛離所述金屬板進(jìn)入所述二次離子質(zhì)譜儀進(jìn)行質(zhì)量分析。

技術(shù)研發(fā)人員：唐國強(qiáng);趙洪;李獻(xiàn)華;李秋立;劉宇
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所
文檔號碼：201380021677
技術(shù)研發(fā)日：2013.12.13
技術(shù)公布日：2017.05.10