本實(shí)用新型涉及一種固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試裝置。

背景技術(shù)：

固態(tài)硬盤(pán)(solid state drive,SSD)在生產(chǎn)完成后，需要對(duì)SSD進(jìn)行大批量的數(shù)據(jù)寫(xiě)入及讀取來(lái)考核SSD的壽命承受能力的老化測(cè)試。現(xiàn)有技術(shù)中，SSD的測(cè)試架與測(cè)試電腦主機(jī)一般是分離的且相隔一定距離，在對(duì)SSD進(jìn)行測(cè)試時(shí)，需通過(guò)線(xiàn)纜從所述測(cè)試電腦主機(jī)內(nèi)的主板上牽出后，再電性連接于所述SSD的測(cè)試架，然而，由于SSD的測(cè)試架的體積較大，從而使所述線(xiàn)纜的長(zhǎng)度較長(zhǎng)，在對(duì)SSD進(jìn)行老化測(cè)試時(shí)，信號(hào)通過(guò)較長(zhǎng)的線(xiàn)纜后使所述信號(hào)的衰減增大，從而使測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確且容易出現(xiàn)誤測(cè)和誤判的情況。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

有鑒于此，有必要提供一種測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確的固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試裝置。

一種固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試裝置，用于測(cè)試若干固態(tài)硬盤(pán)，所述固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試裝置包括一電一種固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試裝置，用于同時(shí)測(cè)試若干固態(tài)硬盤(pán)，所述固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試裝置包括一電腦機(jī)箱、設(shè)于所述電腦機(jī)箱內(nèi)的一主機(jī)板、設(shè)于所述電腦機(jī)箱內(nèi)的一電源及一測(cè)試電路板，所述電腦機(jī)箱的外表面開(kāi)設(shè)一安裝口，所述測(cè)試電路板裝設(shè)于所述安裝口內(nèi)，所述測(cè)試電路板的外表面設(shè)有若干接口，所述測(cè)試電路板的內(nèi)表面設(shè)有一電源接口及一信號(hào)接口，這些接口分別用于插接這些固態(tài)硬盤(pán)，每一接口電性連接于所述電源接口及信號(hào)接口，所述電源接口通過(guò)一電源線(xiàn)連接于所述電源，所述信號(hào)接口通過(guò)一數(shù)據(jù)線(xiàn)連接于所述主機(jī)板，使所述主機(jī)板與這些固態(tài)硬盤(pán)電性連接。

優(yōu)選地，所述安裝口開(kāi)設(shè)于所述電腦機(jī)箱的前側(cè)板。

優(yōu)選地，所述安裝口是所述電腦機(jī)箱用于安裝光驅(qū)的開(kāi)口。

優(yōu)選地，這些接口相間隔地排成一列。

優(yōu)選地，所述測(cè)試電路板上對(duì)應(yīng)每一接口設(shè)有一電子保護(hù)開(kāi)關(guān)。

優(yōu)選地，所述測(cè)試電路板上設(shè)有一電源指示燈。

優(yōu)選地，所述電腦機(jī)箱于所述安裝口的四周設(shè)有若干安裝片,所述測(cè)試電路板固定于這些安裝片。

優(yōu)選地，每一安裝片開(kāi)設(shè)一連接孔,所述測(cè)試電路板的四周對(duì)應(yīng)這些安裝片的連接孔開(kāi)設(shè)若干通孔,若干鎖固件分別穿過(guò)所述測(cè)試電路板的通孔鎖固于對(duì)應(yīng)的連接孔內(nèi)。

優(yōu)選地，所述固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試裝置還包括顯示這些固態(tài)硬盤(pán)的測(cè)試結(jié)果的一顯示單元,所述主機(jī)板與所述顯示單元電性連接，所述主機(jī)板將這些固態(tài)硬盤(pán)的信號(hào)處理后傳輸至所述顯示單元。

優(yōu)選地，這些接口是串行高級(jí)技術(shù)附件接口,所述數(shù)據(jù)線(xiàn)是周邊裝置互連高速數(shù)據(jù)線(xiàn),所述測(cè)試電路板將這些固態(tài)硬盤(pán)的串行高級(jí)技術(shù)附件信號(hào)轉(zhuǎn)化為周邊裝置互連高速信號(hào)后再傳輸給所述主機(jī)板。

本實(shí)用新型固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試裝置的電腦機(jī)箱的外表面直接安裝有測(cè)試電路板，數(shù)據(jù)線(xiàn)在所述電腦機(jī)箱的內(nèi)部空間連接于所述主機(jī)板與所述測(cè)試電路板，因此，所述數(shù)據(jù)線(xiàn)的長(zhǎng)度較短，信號(hào)傳輸衰減比較少，且信號(hào)傳輸在電腦機(jī)箱的內(nèi)部進(jìn)行能減少外部電子干擾，從而提高測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度，防止出現(xiàn)誤測(cè)和誤判的情況。

附圖說(shuō)明

圖1是本實(shí)用新型固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試裝置的較佳實(shí)施方式的立體分解示意圖，所述固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試裝置包括一測(cè)試電路板；

圖2是圖1中測(cè)試電路板的放大圖；

圖3是本實(shí)用新型固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試裝置的使用狀態(tài)圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖及較佳實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)描述：

請(qǐng)參考圖1，本實(shí)用新型固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試裝置100的較佳實(shí)施方式用于同時(shí)測(cè)試若干固態(tài)硬盤(pán)300，所述固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試裝置100包括一電腦機(jī)箱20、設(shè)于所述電腦機(jī)箱20內(nèi)的一主機(jī)板30、設(shè)于所述電腦機(jī)箱20內(nèi)的一電源50、一測(cè)試電路板60及一顯示單元90。

所述電腦機(jī)箱20包括一底板21、自所述底板21的前端向上垂直延伸的一前側(cè)板23、自所述底板21的后端向上垂直延伸的一后側(cè)板24、連接于所述前側(cè)板23的頂端與所述后側(cè)板24的頂端的一頂板26及兩側(cè)板（圖中未示）。所述主機(jī)板30設(shè)于所述電腦機(jī)箱20內(nèi)，所述電源50固定于所述后側(cè)板24的頂端處。所述前側(cè)板23的頂端處設(shè)有一方形的安裝口231，所述前側(cè)板23于所述安裝口231的四角處分別凸設(shè)一安裝片233，每一安裝片233上開(kāi)設(shè)一連接孔235。本實(shí)施方式中，所述安裝口231是所述電腦機(jī)箱20用于安裝光驅(qū)的開(kāi)口。

所述主機(jī)板30設(shè)有一信號(hào)接口31,所述信號(hào)接口31連接于一數(shù)據(jù)線(xiàn)70，所述數(shù)據(jù)線(xiàn)70是周邊裝置互連高速（Peripheral Component Interconneet Experss,PCI-E）數(shù)據(jù)線(xiàn)，所述數(shù)據(jù)線(xiàn)70的兩端分別設(shè)有PCI-E接口連接器71。所述數(shù)據(jù)線(xiàn)70一端的PCI-E接口連接器71連接于所述主機(jī)板30的信號(hào)接口31。所述主機(jī)板30與所述顯示單元90電性連接，用于顯示這些固態(tài)硬盤(pán)300的測(cè)試結(jié)果。

所述電源50設(shè)有一電源線(xiàn)51，所述電源線(xiàn)51的末端設(shè)有一連接器53。

請(qǐng)參考圖2，所述測(cè)試電路板60概呈方形，所述測(cè)試電路板60設(shè)有一外表面61及與所述外表面61相對(duì)的一內(nèi)表面63。所述外表面61上焊接若干接口65，這些接口65相間隔地排成一列。所述外表面61上對(duì)應(yīng)每一接口65設(shè)有一電子保護(hù)開(kāi)關(guān)68,每一電子保護(hù)開(kāi)關(guān)68用于防止對(duì)應(yīng)的待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)300損壞。所述外表面61的四角處分別一通孔611。所述內(nèi)表面63設(shè)有一電源接口66及一信號(hào)接口67。這些接口65是串行高級(jí)附件（Serial Advanced Technology Attachment,SATA）接口，這此固態(tài)硬盤(pán)300可分別插接于這些接口65。每一接口65通過(guò)測(cè)試電路板60分別電性連接于所述電源接口66及所述信號(hào)接口67。所述外表面61還設(shè)有一電源指示燈69,用于顯示所述測(cè)試電路板60是否處于供電狀態(tài)。

請(qǐng)一并參考圖1及圖3，組裝所述固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試裝置100時(shí)，將所述測(cè)試電路板60置于所述安裝口231內(nèi)，使所述電源接口66及所述信號(hào)接口67朝向所述電腦機(jī)箱20內(nèi)。若干鎖固件分別穿過(guò)所述測(cè)試電路板60的通孔611鎖固于對(duì)應(yīng)的連接孔235內(nèi)，使所述測(cè)試電路板60固定于所述電腦機(jī)箱20上。將電源線(xiàn)51的連接器53插接于所述測(cè)試電路板60的電源接口66。將所述數(shù)據(jù)線(xiàn)70另一端的PCI-E接口連接器71插接于所述測(cè)試電路板60的信號(hào)接口67。將所述兩側(cè)板安裝至所述電腦機(jī)箱20相對(duì)的兩側(cè)即可。此時(shí)，每一接口65外露于所述電腦機(jī)箱20且分別電性連接于所述主機(jī)板30及所述電源50。

本實(shí)施方式中，每一連接孔235為一螺孔，每一鎖固件為一螺絲釘。

測(cè)試時(shí)，將這些固態(tài)硬盤(pán)300分別插入這些接口65，每一固態(tài)硬盤(pán)300與顯示單元90之間通過(guò)測(cè)試電路板60、信號(hào)接口67、數(shù)據(jù)線(xiàn)70、信號(hào)接口31及主機(jī)板30來(lái)傳輸信號(hào)。所述主機(jī)板30內(nèi)載有測(cè)試程序。所述測(cè)試電路板60將這些固態(tài)硬盤(pán)300的SATA信號(hào)轉(zhuǎn)化為PCI-E信號(hào)再傳輸至所述主機(jī)板30，以提高信號(hào)傳輸速度。所述主機(jī)板30將這些固態(tài)硬盤(pán)300的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行處理后輸送至所述顯示單元90,所述顯示單元90顯示測(cè)試結(jié)果。

本實(shí)施方式中，所述顯示單元90是一顯示器。

在其他實(shí)施方式中，所述顯示單元90可以是與待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)300的數(shù)量相對(duì)應(yīng)的發(fā)光二極管（Light Emitting Diode,LED）或報(bào)警器。

在其他實(shí)施方式中，所述安裝口231可以開(kāi)設(shè)于所述電腦機(jī)箱20的外表面,如后側(cè)板24、頂板26或其中一側(cè)板上。

在其他實(shí)施方式中，所述所述測(cè)試電路板60通過(guò)卡接的方式連接于所述電腦機(jī)箱20上。

本實(shí)用新型固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試裝置100的測(cè)試電路板60裝設(shè)于所述電腦機(jī)箱20的前側(cè)板23的安裝口231內(nèi)，所述數(shù)據(jù)線(xiàn)70在所述電腦機(jī)箱20的內(nèi)部空間中連接于所述主機(jī)板30與所述測(cè)試電路板60，因此，所述數(shù)據(jù)線(xiàn)70的長(zhǎng)度大大縮短，信號(hào)傳輸衰減比較少，且信號(hào)傳輸在電腦機(jī)箱的內(nèi)部空間進(jìn)行，能防止外部電子干擾，從而提高測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度，防止出現(xiàn)誤測(cè)和誤判的情況。

以上實(shí)施方式僅用以說(shuō)明本實(shí)用新型的技術(shù)方案而非限制，盡管參照以上實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行了詳細(xì)說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案進(jìn)行修改或等同替換都不應(yīng)脫離本實(shí)用新型技術(shù)方案的精神和范圍。