專利名稱：固態(tài)硬盤的測(cè)試方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)領(lǐng)域，并且特別地，涉及一種固態(tài)硬盤的測(cè)試方法和裝置。
背景技術(shù)：
固態(tài)硬盤(solid state disk，簡(jiǎn)稱為SSD)是目前非常熱門的存儲(chǔ)技術(shù)。由于 SSD相對(duì)于普通機(jī)械式硬盤有不可比擬的優(yōu)勢(shì)，隨著價(jià)格逐漸降低，在各個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域的使用逐漸變的廣泛。隨著SSD使用量和使用領(lǐng)域的不斷擴(kuò)展，對(duì)SSD的測(cè)試方法和技術(shù)提出了新的要求。通常意義上講，針對(duì)PC/筆記本/服務(wù)器領(lǐng)域測(cè)試SSD的工具絕大多數(shù)與測(cè)試硬盤所使用的工具相同。但是由于SSD的工作原理與普通硬盤完全不同，所以需要針對(duì)SSD 的固有工作特點(diǎn)來制定有針對(duì)性的測(cè)試方法和流程，才可以體現(xiàn)出SSD的區(qū)別，并對(duì)其特性進(jìn)行評(píng)估與驗(yàn)證。雖然已經(jīng)提出了一些SSD測(cè)試技術(shù)，但是，每種測(cè)試技術(shù)所執(zhí)行的測(cè)試功能并不相同，如何組合這些測(cè)試技術(shù)，從而全面、完整地測(cè)試SSD的性能、并且省略不必要的測(cè)試步驟，目前尚未提出有效的解決方案。

發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)相關(guān)技術(shù)中所提出的問題，本發(fā)明提出一種固態(tài)硬盤的測(cè)試方法和裝置，能夠?qū)虘B(tài)硬盤進(jìn)行全面的測(cè)試，并且不會(huì)增加不必要的測(cè)試過程。本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種固態(tài)硬盤SSD的測(cè)試方法。該方法包括在SSD的閃存芯片沒有數(shù)據(jù)寫入的情況下，對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試；對(duì)SSD進(jìn)行多次寫入/刪除測(cè)試，其中，寫入/刪除測(cè)試包括對(duì)SSD的所有容量寫滿數(shù)據(jù)，之后將所寫入的數(shù)據(jù)刪除；在預(yù)定的第一時(shí)間段內(nèi)持續(xù)對(duì)SSD進(jìn)行寫入操作，并在第一時(shí)間段結(jié)束后對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試；在預(yù)定的第二時(shí)間段內(nèi)將SSD置于空閑狀態(tài)，并在第二時(shí)間段期間或在第二時(shí)間段結(jié)束后，對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試；控制SSD在預(yù)定的第三時(shí)間段內(nèi)運(yùn)行指定應(yīng)用程序，并在第三時(shí)間段結(jié)束后對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試；測(cè)試SSD與硬盤控制器的兼容性；獲取并分析SSD的預(yù)定參數(shù)信息，得到測(cè)試結(jié)果。其中，對(duì)SSD進(jìn)行多次寫入/刪除測(cè)試包括統(tǒng)計(jì)SSD的空余空間減少狀況，并在每一次對(duì)SSD寫滿后進(jìn)行一次預(yù)定性能測(cè)試。此外，在第二時(shí)間段期間對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試包括在第二時(shí)間段期間，以預(yù)定周期對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試。此外，在測(cè)試SSD與硬盤控制器的兼容性之前，該方法可進(jìn)一步包括測(cè)試背板與 SSD的兼容性，其中，根據(jù)背板的供電狀態(tài)指示燈和讀寫狀態(tài)指示燈的提示情況判斷SSD是否與背板相兼容。 此外，測(cè)試SSD與硬盤控制器的兼容性包括將SSD與多種硬盤控制器連接，其中， 在SSD與每種硬盤控制器連接的情況下進(jìn)行操作系統(tǒng)的安裝，并且，在安裝之后，在SSD的閃存芯片沒有數(shù)據(jù)寫入的情況下，對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試。其中，操作系統(tǒng)可以包括以下至少之一 Windows操作系統(tǒng)、Linux操作系統(tǒng)。其中，預(yù)定性能測(cè)試包括以下至少之一根據(jù)預(yù)定的數(shù)據(jù)塊大小對(duì)SSD進(jìn)行順序?qū)懭?、順序讀取、隨機(jī)寫入、隨機(jī)讀取。其中，預(yù)定參數(shù)信息為自我監(jiān)測(cè)、分析及報(bào)告技術(shù)SMART參數(shù)信息。根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種SSD的測(cè)試裝置。該裝置可以包括第一測(cè)試模塊，用于在SSD的閃存芯片沒有數(shù)據(jù)寫入的情況下， 對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試；第二測(cè)試模塊，用于對(duì)SSD進(jìn)行多次寫入/刪除測(cè)試，其中，寫入 /刪除測(cè)試包括對(duì)SSD的所有容量寫滿數(shù)據(jù)，之后將所寫入的數(shù)據(jù)刪除；第三測(cè)試模塊，用于在預(yù)定的第一時(shí)間段內(nèi)持續(xù)對(duì)SSD進(jìn)行寫入操作，并在第一時(shí)間段結(jié)束后對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試；第四測(cè)試模塊，用于在預(yù)定的第二時(shí)間段內(nèi)將SSD置于空閑狀態(tài)，并在第二時(shí)間段期間或在第二時(shí)間段結(jié)束后，對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試；第五測(cè)試模塊，用于控制SSD 在預(yù)定的第三時(shí)間段內(nèi)運(yùn)行指定應(yīng)用程序，并在第三時(shí)間段結(jié)束后對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試；第六測(cè)試模塊，用于測(cè)試SSD與硬盤控制器的兼容性；分析模塊，用于獲取并分析SSD 的預(yù)定參數(shù)信息，得到測(cè)試結(jié)果。其中，第二測(cè)試模塊用于在對(duì)SSD進(jìn)行多次寫入/刪除測(cè)試時(shí)，統(tǒng)計(jì)SSD的空余空間減少狀況，并在每一次對(duì)SSD寫滿后進(jìn)行一次預(yù)定性能測(cè)試。本發(fā)明通過選擇不同方面的測(cè)試方法、以一定順序進(jìn)行組合，判斷出固態(tài)硬盤在各種數(shù)據(jù)碎片分布情況下以及操作系統(tǒng)下的性能，并檢測(cè)固態(tài)硬盤在各種硬盤控制器下的兼容性，對(duì)固態(tài)硬盤的穩(wěn)定性、可靠性、功能性、兼容性等多個(gè)方面進(jìn)行全面測(cè)試和評(píng)估。


圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的固態(tài)硬盤的測(cè)試方法的流程圖；圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的固態(tài)硬盤的測(cè)試裝置的框圖。
具體實(shí)施例方式根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，提供了一種固態(tài)硬盤(下文中簡(jiǎn)稱為SSD)的測(cè)試方法。如圖1所示，根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的SSD的測(cè)試方法包括步驟S101，在SSD的閃存芯片沒有數(shù)據(jù)寫入的情況下，對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試；步驟S103，對(duì)SSD進(jìn)行多次寫入/刪除測(cè)試，其中，寫入/刪除測(cè)試包括對(duì)SSD的所有容量寫滿數(shù)據(jù)，之后將所寫入的數(shù)據(jù)刪除(此時(shí)，可以了解到在反復(fù)的讀和寫操作中 SSD的性能跌落情況)；步驟S105，在預(yù)定的第一時(shí)間段內(nèi)持續(xù)對(duì)SSD進(jìn)行寫入操作，并在第一時(shí)間段結(jié)束后對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試(該步驟可以理解為是進(jìn)行壓力測(cè)試，即，使SSD進(jìn)入“最差狀態(tài)”，SSD中的碎片分布比較散亂)；步驟S107，在預(yù)定的第二時(shí)間段內(nèi)將SSD置于空閑狀態(tài)(保持SSD的供電，并保證 SSD與系統(tǒng)連接，但是不對(duì)SSD進(jìn)行數(shù)據(jù)訪問以及讀寫操作)，并在第二時(shí)間段期間或在第二時(shí)間段結(jié)束后，對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試(該步驟能夠測(cè)試SSD在空閑狀態(tài)下的工作情況，即，SSD是否能夠?qū)⑸y的數(shù)據(jù)碎片進(jìn)行快速搬運(yùn)和轉(zhuǎn)存)；
步驟S109，控制SSD在預(yù)定的第三時(shí)間段內(nèi)運(yùn)行指定應(yīng)用程序，并在第三時(shí)間段結(jié)束后對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試(從而能夠測(cè)試SSD在特定工作狀態(tài)下的性能是否穩(wěn)定)；步驟S111，測(cè)試SSD與硬盤控制器的兼容性；步驟S113，獲取并分析SSD的預(yù)定參數(shù)信息，得到測(cè)試結(jié)果。其中，對(duì)SSD進(jìn)行多次寫入/刪除測(cè)試的處理可以包括統(tǒng)計(jì)SSD的空余空間減少狀況，并在每一次對(duì)SSD寫滿后進(jìn)行一次預(yù)定性能測(cè)試。并且，在第二時(shí)間段期間對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試的處理可以包括在第二時(shí)間段期間，以預(yù)定周期對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試。此外，在測(cè)試SSD與硬盤控制器的兼容性之前，可以測(cè)試背板與SSD的兼容性，其中，根據(jù)背板的供電狀態(tài)指示燈和讀寫狀態(tài)指示燈的提示情況判斷SSD是否與背板相兼容。另外，在測(cè)試SSD與硬盤控制器的兼容性時(shí)，可以將SSD與多種硬盤控制器連接， 其中，在SSD與每種硬盤控制器連接的情況下進(jìn)行操作系統(tǒng)的安裝，并且，在安裝之后，在 SSD的閃存芯片沒有數(shù)據(jù)寫入的情況下，對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試。其中，所安裝的操作系統(tǒng)可以包括Windows操作系統(tǒng)、Linux操作系統(tǒng)等。另外，預(yù)定性能測(cè)試包括以下至少之一根據(jù)預(yù)定的數(shù)據(jù)塊大小對(duì)SSD進(jìn)行順序?qū)懭搿㈨樞蜃x取、隨機(jī)寫入、隨機(jī)讀取。寫入/讀取的數(shù)據(jù)塊大小可以是4K、8K、64K等，具體可以根據(jù)SSD的相關(guān)參數(shù)來確定，并且在進(jìn)行寫入時(shí)，可以進(jìn)行100%的寫入，而在進(jìn)行讀取時(shí)，可以進(jìn)行100%的讀取。預(yù)定參數(shù)信息為自我監(jiān)測(cè)、分析及報(bào)告技術(shù)(即，SMART)參數(shù)信息。下面將結(jié)合具體實(shí)例描述本發(fā)明的測(cè)試方案。在實(shí)際應(yīng)用中，本發(fā)明的測(cè)試方案步驟如下步驟(1)針對(duì)SSD基礎(chǔ)性能和性能跌落情況進(jìn)行評(píng)估。目前的測(cè)試平臺(tái)采用基于htel ICHlOR南橋的測(cè)試平臺(tái)，硬盤控制器工作在 AHCI模式下。硬盤控制器驅(qū)動(dòng)使用htel Rapid Storage Technology DriverlO. 0系列版本，在 Windows Server 2008 R2 SPl 下進(jìn)行測(cè)試。由于SSD在“干凈”，即所有閃存芯片均沒有寫入數(shù)據(jù)的情況下性能最高，故獲得 SSD后，第一，對(duì)其進(jìn)行最高性能測(cè)試。如需分區(qū)，則將SSD所有的可用容量分為一個(gè)區(qū)， 以保證所有的I^age都可以被訪問到。選用的測(cè)試軟件有HD Tach, HD Tune, ATTO Disk Benchmark, Crystal Disk Benchmark, IOMeter 禾口 AS SSD Benchmark 等。在 IOMeter 測(cè)試過程中，采用32隊(duì)列深度以達(dá)到最高性能。測(cè)試采用的模式分別為64K 100%順序讀， 64K 100%順序?qū)懀?K(或8K，根據(jù)SSD每個(gè)頁(yè)面的大小來決定。測(cè)試數(shù)據(jù)大小等于頁(yè)面大小)100%順序讀，4K 100%順序?qū)懀?K 100%隨機(jī)讀，4K 100%隨機(jī)寫(S卩，這些模式的測(cè)試過程就是上述預(yù)定性能測(cè)試的過程)。以上測(cè)試全部完成后，記錄所有數(shù)據(jù)并填入表格。 此測(cè)試反應(yīng)了 SSD的順序讀寫性能，隨機(jī)讀寫性能，相應(yīng)時(shí)間，隨不同數(shù)據(jù)塊大小情況下的讀寫性能。第二，使用IOMeter或其他任意工具將SSD所有容量寫滿數(shù)據(jù)，之后刪除。反復(fù)進(jìn)行五次。之后繼續(xù)進(jìn)行上一步中的測(cè)試程序并比較測(cè)試結(jié)果。此步驟反映出SSD隨寫入次數(shù)增加，空余空間減少而反應(yīng)出的性能跌落情況。如需更加精細(xì)的反應(yīng)性能跌落情況，可在
6每次對(duì)SSD寫滿之后，進(jìn)行一次性能測(cè)試。將各個(gè)測(cè)試軟件的測(cè)試結(jié)果記錄并繪制曲線，可以更加清晰的看到SSD使用過程中性能跌落的情況。第三，使用IOMeter軟件，使用4K 100%隨機(jī)寫對(duì)SSD進(jìn)行持續(xù)壓力寫入。寫操作可根據(jù)時(shí)間和SSD容量選擇12小時(shí) 72小時(shí)。在大量、全LBA覆蓋，長(zhǎng)時(shí)間的4K隨即寫壓力下，SSD的性能將逐漸降低到“最差狀態(tài)”。此時(shí)，再進(jìn)行第一步的性能測(cè)試，可以測(cè)試出SSD在“最差狀態(tài)”的性能。第四，“最差狀態(tài)”下的性能測(cè)試完畢之后，將SSD置于“空閑狀態(tài)”下，即SSD保持供電，保持與系統(tǒng)的連接，但是不對(duì)SSD進(jìn)行任何數(shù)據(jù)訪問與讀寫操作。放置2 M小時(shí)的時(shí)間。此時(shí)，如果SSD有剩余空間的情況下，SSD將會(huì)在后臺(tái)自動(dòng)進(jìn)行垃圾回收操作。當(dāng)?shù)却欢〞r(shí)間后，再次針對(duì)SSD進(jìn)行第一步的性能測(cè)試，可反映出SSD進(jìn)行垃圾回收操作的效率和結(jié)果。此步驟中，也可以每隔一定的固定時(shí)間(一般來說不小于2小時(shí)。由于測(cè)試本身也會(huì)寫入數(shù)據(jù)，對(duì)垃圾回收造成不良影響)進(jìn)行一次性能測(cè)試，將多次測(cè)試的結(jié)果繪制成表格。第五，如需要針對(duì)具體應(yīng)用進(jìn)行測(cè)試，則需要在步驟四之后，針對(duì)具體應(yīng)用進(jìn)行持續(xù)性測(cè)試，當(dāng)SSD逐漸進(jìn)入“穩(wěn)定狀態(tài)”后，進(jìn)行測(cè)試，可反映出SSD在“穩(wěn)定狀態(tài)”下的性能。步驟( 針對(duì)SSD與硬盤背板兼容性進(jìn)行評(píng)估。由于服務(wù)器多采用硬盤背板與硬盤設(shè)備進(jìn)行連接。在背板上，一般有供電狀態(tài)指示燈和讀寫狀態(tài)指示燈兩種。故針對(duì)此特性，進(jìn)行相關(guān)的兼容性測(cè)試。正常情況下，連接背板并通電后，電源指示燈亮。在數(shù)據(jù)讀寫時(shí)，讀寫狀態(tài)指示燈閃爍，硬盤空閑時(shí)，對(duì)于SATA接口的SSD，讀寫指示燈熄滅。(3)針對(duì)SSD與硬盤控制器兼容性進(jìn)行測(cè)試。在此測(cè)試中，需要涉及到需要使用的硬盤控制器。例如本發(fā)明中需要涉及到的控制器有Intel ICH10R, AMD SP5100, LSI 1068e，LSI 1078e,LSI 2008, LSI 2108。針對(duì)這些控制器，還有 IDE 模式，AHCI 模式和 RAID 模式三種模式。在兼容性測(cè)試過程中，需要進(jìn)行安裝Windows和Linux操作系統(tǒng)的測(cè)試，并在安裝好的操作系統(tǒng)下進(jìn)行性能測(cè)試。在“干凈”狀態(tài)下的測(cè)試結(jié)果應(yīng)與第一步中性能測(cè)試結(jié)果數(shù)值接近。(4)當(dāng)SSD測(cè)試完成后，需要對(duì)SSD的SMART信息進(jìn)行檢查。查看主機(jī)寫入數(shù)據(jù)量，主機(jī)讀取數(shù)據(jù)量。并檢測(cè)SSD的磨損情況。根據(jù)SMART信息綜合評(píng)價(jià)，可以預(yù)估SSD在特定應(yīng)用環(huán)境下的壽命。通過上述處理，能夠通過一系列的測(cè)試和評(píng)估，判斷出SSD在各種工作模式下的性能、與各種硬盤控制器的兼容性、SSD本身工作的穩(wěn)定性、SSD在長(zhǎng)期工作情況下的性能跌落情況。通過此測(cè)試，可以判斷出SSD是否可在指定工作條件下工作，以及可以判斷出是否與指定型號(hào)的PC/筆記本/服務(wù)器兼容。還可以得知在指定工作條件下SSD的工作壽命預(yù)期，防止由于SSD損壞造成的數(shù)據(jù)失效狀況。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，還提供了一種SSD的測(cè)試裝置。如圖2所示，跟本發(fā)明實(shí)施例的SSD的測(cè)試裝置包括第一測(cè)試模塊21，用于在SSD的閃存芯片沒有數(shù)據(jù)寫入的情況下，對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試；
第二測(cè)試模塊22，連接至第一測(cè)試模塊21，用于對(duì)SSD進(jìn)行多次寫入/刪除測(cè)試， 其中，寫入/刪除測(cè)試包括對(duì)SSD的所有容量寫滿數(shù)據(jù)，之后將所寫入的數(shù)據(jù)刪除；第三測(cè)試模塊23，連接至第二測(cè)試模塊22，用于在預(yù)定的第一時(shí)間段內(nèi)持續(xù)對(duì) SSD進(jìn)行寫入操作，并在第一時(shí)間段結(jié)束后對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試；第四測(cè)試模塊對(duì)，連接至第三測(cè)試模塊23，用于在預(yù)定的第二時(shí)間段內(nèi)將SSD置于空閑狀態(tài)，并在第二時(shí)間段期間或在第二時(shí)間段結(jié)束后，對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試；第五測(cè)試模塊25，連接至第四測(cè)試模塊對(duì)，用于控制SSD在預(yù)定的第三時(shí)間段內(nèi)運(yùn)行指定應(yīng)用程序，并在第三時(shí)間段結(jié)束后對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試；第六測(cè)試模塊26，連接至第五測(cè)試模塊25，用于測(cè)試SSD與硬盤控制器的兼容性；分析模塊27，連接至第六測(cè)試模塊沈，用于獲取并分析SSD的預(yù)定參數(shù)信息，得到測(cè)試結(jié)果。其中，第二測(cè)試模塊22用于在對(duì)SSD進(jìn)行多次寫入/刪除測(cè)試時(shí)，統(tǒng)計(jì)SSD的空余空間減少狀況，并在每一次對(duì)SSD寫滿后進(jìn)行一次預(yù)定性能測(cè)試。綜上所述，借助于本發(fā)明的上述技術(shù)方案，通過選擇不同方面的測(cè)試方法、以一定順序進(jìn)行組合，判斷出固態(tài)硬盤在各種數(shù)據(jù)碎片分布情況下以及操作系統(tǒng)下的性能，并檢測(cè)固態(tài)硬盤在各種硬盤控制器下的兼容性，對(duì)固態(tài)硬盤的穩(wěn)定性、可靠性、功能性、兼容性等多個(gè)方面進(jìn)行全面測(cè)試和評(píng)估。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種固態(tài)硬盤SSD的測(cè)試方法，其特征在于，包括在SSD的閃存芯片沒有數(shù)據(jù)寫入的情況下，對(duì)所述SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試；對(duì)所述SSD進(jìn)行多次寫入/刪除測(cè)試，其中，所述寫入/刪除測(cè)試包括對(duì)SSD的所有容量寫滿數(shù)據(jù)，之后將所寫入的數(shù)據(jù)刪除；在預(yù)定的第一時(shí)間段內(nèi)持續(xù)對(duì)所述SSD進(jìn)行寫入操作，并在所述第一時(shí)間段結(jié)束后對(duì)所述SSD進(jìn)行所述預(yù)定性能測(cè)試；在預(yù)定的第二時(shí)間段內(nèi)將所述SSD置于空閑狀態(tài)，并在所述第二時(shí)間段期間或在所述第二時(shí)間段結(jié)束后，對(duì)所述SSD進(jìn)行所述預(yù)定性能測(cè)試；控制所述SSD在預(yù)定的第三時(shí)間段內(nèi)運(yùn)行指定應(yīng)用程序，并在所述第三時(shí)間段結(jié)束后對(duì)所述SSD進(jìn)行所述預(yù)定性能測(cè)試；測(cè)試所述SSD與硬盤控制器的兼容性；獲取并分析所述SSD的預(yù)定參數(shù)信息，得到測(cè)試結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，對(duì)所述SSD進(jìn)行多次寫入/刪除測(cè)試包括統(tǒng)計(jì)所述SSD的空余空間減少狀況，并在每一次對(duì)所述SSD寫滿后進(jìn)行一次所述預(yù)定性能測(cè)試。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，在所述第二時(shí)間段期間對(duì)所述SSD進(jìn)行所述預(yù)定性能測(cè)試包括在所述第二時(shí)間段期間，以預(yù)定周期對(duì)所述SSD進(jìn)行所述預(yù)定性能測(cè)試。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，在測(cè)試所述SSD與硬盤控制器的兼容性之前，所述方法進(jìn)一步包括測(cè)試背板與所述SSD的兼容性，其中，根據(jù)所述背板的供電狀態(tài)指示燈和讀寫狀態(tài)指示燈的提示情況判斷所述SSD是否與所述背板相兼容。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，測(cè)試所述SSD與硬盤控制器的兼容性包括將所述SSD與多種硬盤控制器連接，其中，在所述SSD與每種硬盤控制器連接的情況下進(jìn)行操作系統(tǒng)的安裝，并且，在安裝之后，在所述SSD的閃存芯片沒有數(shù)據(jù)寫入的情況下， 對(duì)所述SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述操作系統(tǒng)包括以下至少之一 Windows操作系統(tǒng)、Linux操作系統(tǒng)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述預(yù)定性能測(cè)試包括以下至少之一根據(jù)預(yù)定的數(shù)據(jù)塊大小對(duì)所述SSD進(jìn)行順序?qū)懭?、順序讀取、隨機(jī)寫入、隨機(jī)讀取。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述預(yù)定參數(shù)信息為自我監(jiān)測(cè)、分析及報(bào)告技術(shù)SMART參數(shù)信息。
9.一種SSD的測(cè)試裝置，其特征在于，包括第一測(cè)試模塊，用于在SSD的閃存芯片沒有數(shù)據(jù)寫入的情況下，對(duì)所述SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試；第二測(cè)試模塊，用于對(duì)所述SSD進(jìn)行多次寫入/刪除測(cè)試，其中，所述寫入/刪除測(cè)試包括對(duì)SSD的所有容量寫滿數(shù)據(jù)，之后將所寫入的數(shù)據(jù)刪除；第三測(cè)試模塊，用于在預(yù)定的第一時(shí)間段內(nèi)持續(xù)對(duì)所述SSD進(jìn)行寫入操作，并在所述第一時(shí)間段結(jié)束后對(duì)所述SSD進(jìn)行所述預(yù)定性能測(cè)試；第四測(cè)試模塊，用于在預(yù)定的第二時(shí)間段內(nèi)將所述SSD置于空閑狀態(tài)，并在所述第二時(shí)間段期間或在所述第二時(shí)間段結(jié)束后，對(duì)所述SSD進(jìn)行所述預(yù)定性能測(cè)試；第五測(cè)試模塊，用于控制所述SSD在預(yù)定的第三時(shí)間段內(nèi)運(yùn)行指定應(yīng)用程序，并在所述第三時(shí)間段結(jié)束后對(duì)所述SSD進(jìn)行所述預(yù)定性能測(cè)試；第六測(cè)試模塊，用于測(cè)試所述SSD與硬盤控制器的兼容性； 分析模塊，用于獲取并分析所述SSD的預(yù)定參數(shù)信息，得到測(cè)試結(jié)果。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述第二測(cè)試模塊用于在對(duì)所述 SSD進(jìn)行多次寫入/刪除測(cè)試時(shí)，統(tǒng)計(jì)所述SSD的空余空間減少狀況，并在每一次對(duì)所述 SSD寫滿后進(jìn)行一次所述預(yù)定性能測(cè)試。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種固態(tài)硬盤的測(cè)試方法和裝置，其中，該方法包括在SSD的閃存芯片沒有數(shù)據(jù)寫入的情況下，對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試；對(duì)SSD進(jìn)行多次寫入/刪除測(cè)試，寫入/刪除測(cè)試包括對(duì)SSD的所有容量寫滿數(shù)據(jù)，之后將所寫入的數(shù)據(jù)刪除；在預(yù)定的第一時(shí)間段內(nèi)持續(xù)對(duì)SSD進(jìn)行寫入操作，并在第一時(shí)間段結(jié)束后對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試；在預(yù)定的第二時(shí)間段內(nèi)將SSD置于空閑狀態(tài)，并在第二時(shí)間段期間或在第二時(shí)間段結(jié)束后，對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試；控制SSD在預(yù)定的第三時(shí)間段內(nèi)運(yùn)行指定應(yīng)用程序，并在第三時(shí)間段結(jié)束后對(duì)SSD進(jìn)行預(yù)定性能測(cè)試；測(cè)試SSD與硬盤控制器的兼容性；獲取并分析SSD的預(yù)定參數(shù)信息，得到測(cè)試結(jié)果。
文檔編號(hào)G11C29/56GK102411993SQ20111037784
公開日2012年4月11日 申請(qǐng)日期2011年11月24日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月24日
發(fā)明者歷軍, 朱越, 沙超群, 聶華, 趙雷, 邵宗有 申請(qǐng)人:曙光信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司