技術(shù)編號(hào)：12771335
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種固態(tài)硬盤測(cè)試裝置。背景技術(shù)固態(tài)硬盤(solidstatedrive,SSD)在生產(chǎn)完成后，需要對(duì)SSD進(jìn)行大批量的數(shù)據(jù)寫入及讀取來考核SSD的壽命承受能力的老化測(cè)試?，F(xiàn)有技術(shù)中，SSD的測(cè)試架與測(cè)試電腦主機(jī)一般是分離的且相隔一定距離，在對(duì)SSD進(jìn)行測(cè)試時(shí)，需通過線纜從所述測(cè)試電腦主機(jī)內(nèi)的主板上牽出后，再電性連接于所述SSD的測(cè)試架，然而，由于SSD的測(cè)試架的體積較大，從而使所述線纜的長(zhǎng)度較長(zhǎng)，在對(duì)SSD進(jìn)行老化測(cè)試時(shí)，信號(hào)通過較長(zhǎng)的線纜后使所述信號(hào)的衰減增大，從而使測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)...
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