本發(fā)明涉及存儲(chǔ)
技術(shù)領(lǐng)域：
，特別是線序測試方法、裝置及電子設(shè)備。
背景技術(shù)：
：存儲(chǔ)器作為存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的器件，常用于存儲(chǔ)電子設(shè)備的數(shù)據(jù)。具體而言，存儲(chǔ)器的多個(gè)引腳可與電子設(shè)備的多個(gè)引腳對(duì)應(yīng)連接，以實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的交互。然而，存儲(chǔ)器的引腳和電子設(shè)備的引腳的連接關(guān)系并不是統(tǒng)一固定的，例如存儲(chǔ)器的任一引腳連接至電子設(shè)備的任一引腳，從而導(dǎo)致不同產(chǎn)品中的存儲(chǔ)器和電子設(shè)備之間的引腳連接關(guān)系可能并不相同。而本申請的發(fā)明人在實(shí)踐中發(fā)現(xiàn)，對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行諸如調(diào)試(debug)等工作時(shí)，需要用到存儲(chǔ)器與電子設(shè)備之間的引腳連接關(guān)系，但是此時(shí)相關(guān)人員一般僅能依賴產(chǎn)品出廠時(shí)，所附帶的存儲(chǔ)器與電子設(shè)備之間的硬件圖才能確定上述引腳連接關(guān)系。但是，若該硬件圖丟失或者出錯(cuò)，則很難獲取上述引腳連接關(guān)系。因此現(xiàn)有技術(shù)存在不足，有改進(jìn)之必要。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本發(fā)明提供了線序測試方法、裝置及電子設(shè)備，能夠快速、準(zhǔn)確地測試出存儲(chǔ)器和電子設(shè)備之間引腳連接關(guān)系(即線序)。本發(fā)明第一方面提供一種線序測試方法，用于測試存儲(chǔ)器和與其連接的電子設(shè)備之間的引腳連接關(guān)系，包括：以至少一個(gè)測試圖案對(duì)該存儲(chǔ)器進(jìn)行測試，得到至少一個(gè)第一數(shù)據(jù)；根據(jù)該測試圖案與該存儲(chǔ)器的引腳之間的映射關(guān)系，預(yù)估以至少一個(gè)該測試圖案對(duì)該存儲(chǔ)器進(jìn)行測試時(shí)，所應(yīng)得到的至少一個(gè)第二數(shù)據(jù)；以及根據(jù)該至少一個(gè)第一數(shù)據(jù)和該至少一個(gè)第二數(shù)據(jù)，確定該存儲(chǔ)器和該電子設(shè)備之間的引腳連接關(guān)系。本發(fā)明第二方面提供一種線序測試裝置，用于測試存儲(chǔ)器和與其連接的電子設(shè)備之間的引腳連接關(guān)系，包括：測試模塊，用于以至少一個(gè)測試圖案對(duì)該存儲(chǔ)器進(jìn)行測試，得到至少一個(gè)第一數(shù)據(jù)；預(yù)估模塊，用于根據(jù)該測試圖案與該存儲(chǔ)器的引腳之間的映射關(guān)系，預(yù)估以至少一個(gè)該測試圖案對(duì)該存儲(chǔ)器進(jìn)行測試時(shí)，所應(yīng)得到的至少一個(gè)第二數(shù)據(jù)；以及確定模塊，用于根據(jù)該至少一個(gè)第一數(shù)據(jù)和該至少一個(gè)第二數(shù)據(jù)，確定該存儲(chǔ)器和該電子設(shè)備之間的引腳連接關(guān)系。本發(fā)明第三方面提供一種電子設(shè)備，包括多個(gè)引腳、處理核心和控制端口；該多個(gè)引腳分別與存儲(chǔ)器的多個(gè)引腳對(duì)應(yīng)連接；該控制端口用于與該存儲(chǔ)器的受控端口連接；該處理核心用于采用如上所述的線序測試方法來確定該存儲(chǔ)器和該電子設(shè)備之間的引腳連接關(guān)系。上述方案中，利用測試圖案對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行測試，以得到與存儲(chǔ)器連接的電子設(shè)備輸出的第一數(shù)據(jù)，并獲取預(yù)估的該測試圖案對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)器輸出的第二數(shù)據(jù)，根據(jù)電子設(shè)備與存儲(chǔ)器具有連接關(guān)系的管腳具有相同輸出的原理，通過對(duì)比第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)，可快速、準(zhǔn)確地測試出存儲(chǔ)器和電子設(shè)備之間引腳連接關(guān)系。附圖說明圖1是本發(fā)明的線序測試方法一應(yīng)用場景中的存儲(chǔ)器與電子設(shè)備之間的連接關(guān)系示意圖；圖2是本發(fā)明的線序測試方法的一實(shí)施例的流程圖；圖3是圖2中的步驟s21的實(shí)施例的流程示意圖；圖4是圖2中的步驟s21的實(shí)施例的流程示意圖；圖5是圖2中的步驟23的實(shí)施例的流程示意圖；圖6是是圖2中的步驟s23的實(shí)施例的流程示意圖；圖7是本發(fā)明的線序測試方法一應(yīng)用場景中采用的測試圖案的示意圖；圖8是圖7所示的測試圖案對(duì)應(yīng)可確定的存儲(chǔ)器的引腳示意圖；圖9是以圖7所示的測試圖案進(jìn)行測試而得到的第一數(shù)據(jù)的示意圖；圖10是本發(fā)明的線序測試方法另一應(yīng)用場景中采用的測試圖案的示意圖；圖11是本發(fā)明的線序測試方法再一應(yīng)用場景中采用的測試圖案的示意圖；圖12是本發(fā)明的線序測試方法另一實(shí)施例的部分流程圖；圖13是本發(fā)明的線序測試裝置的一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖14是本發(fā)明的電子設(shè)備的一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。具體實(shí)施方式以下描述中，為了說明而不是為了限定，提出了諸如特定系統(tǒng)結(jié)構(gòu)、接口、技術(shù)之類的具體細(xì)節(jié)，以便透徹理解本申請。然而，本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)清楚，在沒有這些具體細(xì)節(jié)的其它實(shí)施例中也可以實(shí)現(xiàn)本申請。在其它情況中，省略對(duì)眾所周知的裝置、電路以及方法的詳細(xì)說明，以免不必要的細(xì)節(jié)妨礙本申請的描述。請參閱圖1，圖1是本發(fā)明線序測試方法一應(yīng)用場景中的存儲(chǔ)器與電子設(shè)備之間的引腳連接關(guān)系示意圖。本實(shí)施例中，存儲(chǔ)器11包括多個(gè)引腳，例如引腳dq0-dq15，電子設(shè)備12同樣包括多個(gè)引腳，例如引腳dq0-dq15。其中，存儲(chǔ)器11與電子設(shè)備12的引腳一一連接，以實(shí)現(xiàn)電子設(shè)備12向存儲(chǔ)器11中寫入數(shù)據(jù)以及從存儲(chǔ)器11中讀取數(shù)據(jù)。需要說明的是，圖1僅示范性給出一應(yīng)用場景中的存儲(chǔ)器與電子設(shè)備之間的引腳連接關(guān)系，此并非為對(duì)本發(fā)明中的存儲(chǔ)器與電子設(shè)備之間的引腳連接關(guān)系的限定，例如在圖1中存儲(chǔ)器11的引腳dq4連接至了電子設(shè)備12的引腳dq5，但是在另一實(shí)施例中，存儲(chǔ)器11的引腳dq4可以連接至電子設(shè)備12的引腳dq3或者其他引腳。另外，需要說明的是，在不查看硬件圖或者利用本發(fā)明實(shí)施例提供的線序測試方式的情況下，本領(lǐng)域技術(shù)人員一般并不清楚存儲(chǔ)器11和電子設(shè)備12之間的引腳連接關(guān)系。如圖1所示，本實(shí)施例的存儲(chǔ)器11和電子設(shè)備12的數(shù)據(jù)引腳均為16個(gè)。但是，在其他實(shí)施例中，存儲(chǔ)器11的引腳數(shù)量和電子設(shè)備12的引腳數(shù)量均不受限制，例如可以為8個(gè)或者32個(gè)等。本實(shí)施例中，該存儲(chǔ)器11可以支持指令地址調(diào)訓(xùn)(commandaddresstraining，以下簡稱catraining)功能，即可向存儲(chǔ)器11的指令地址(英文：commandaddress，簡稱：ca)線輸入特定的ca測試圖案(pattern)，并從存儲(chǔ)器11至少部分上述引腳中獲取到與該ca測試圖案對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)，以校準(zhǔn)時(shí)鐘和ca線之間的關(guān)系。例如該存儲(chǔ)器11為低功耗雙數(shù)據(jù)速率同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器(lowpowerdoubledataratesdram，lpddr)，諸如lpddr3等。該電子設(shè)備11例如可為一控制系統(tǒng)，如為片上系統(tǒng)(systemonchip，soc)；當(dāng)然，電子設(shè)備也可以為任何可讀寫存儲(chǔ)器的裝置。鑒于在硬件圖缺失或者錯(cuò)誤的情況下，本領(lǐng)域技術(shù)人員難以獲取上述存儲(chǔ)器11與上述電子設(shè)備12之間的線序的情況。本發(fā)明提供了一種線序測試方法，可快速、準(zhǔn)確地測試出上述存儲(chǔ)器11與電子設(shè)備12之間的引腳連接關(guān)系。請結(jié)合參閱圖2，圖2是本發(fā)明的線序測試方法的一實(shí)施例的流程圖。該測試方法可由線序測試裝置執(zhí)行，該線序測試裝置可集成于電子設(shè)備中，或者與電子設(shè)備為分離的兩個(gè)獨(dú)立設(shè)備。該測試方法包括以下步驟：s21：以至少一個(gè)測試圖案對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行測試，得到至少一個(gè)第一數(shù)據(jù)。s22：根據(jù)該測試圖案與該存儲(chǔ)器的引腳之間的映射關(guān)系，預(yù)估以至少一個(gè)該測試圖案對(duì)該存儲(chǔ)器進(jìn)行測試時(shí)，所應(yīng)得到的至少一個(gè)第二數(shù)據(jù)。s23：根據(jù)該至少一個(gè)第一數(shù)據(jù)和該至少一個(gè)第二數(shù)據(jù)，確定該存儲(chǔ)器和該電子設(shè)備之間的引腳連接關(guān)系。由于存儲(chǔ)器的引腳與電子設(shè)備的引腳之間存在連接關(guān)系，故存儲(chǔ)器的引腳輸出的數(shù)據(jù)會(huì)輸入至電子設(shè)備的對(duì)應(yīng)引腳上。換句話說，測試時(shí)，存儲(chǔ)器和電子設(shè)備之間相連接的引腳上的數(shù)據(jù)是相同的，以圖1為例，存儲(chǔ)器dq0和電子設(shè)備dq0上的數(shù)據(jù)是相同的。因而，通過對(duì)比在測試時(shí)從電子設(shè)備的引腳得到的第一數(shù)據(jù)以及根據(jù)該測試圖案以及預(yù)存映射關(guān)系確定的存儲(chǔ)器的引腳應(yīng)當(dāng)輸出的第二數(shù)據(jù)，可以快速、準(zhǔn)確地測試出存儲(chǔ)器和電子設(shè)備之間的引腳連接關(guān)系。其中，在上述s21中，每個(gè)測試圖案可以包括：多個(gè)測試符號(hào)。其中該多個(gè)測試符號(hào)主要分為第一類測試符號(hào)和第二類測試符號(hào)。例如，在以多個(gè)設(shè)定電壓值作為測試符號(hào)的實(shí)施例中，0v的輸入電壓為第一類測試符號(hào)，-5v和5v的輸入電壓為第二類測試符號(hào)。又例如，以二進(jìn)制符號(hào)作為測試符號(hào)的實(shí)施例中，該第一類測試符號(hào)為二進(jìn)制中的“0”，該第二類測試符號(hào)為二進(jìn)制中的“1”?；蛘?，該第一類測試符號(hào)為二進(jìn)制中的“1”，該第二類測試符號(hào)為二進(jìn)制中的“0”。在上述s21中，該第一數(shù)據(jù)為電子設(shè)備的引腳上的數(shù)據(jù)。其中，一個(gè)測試圖案對(duì)應(yīng)一個(gè)第一數(shù)據(jù)。其中，在步驟s21中，主要采用catraining的方式來進(jìn)行測試。但是在其他實(shí)施例中，也可通過其他向存儲(chǔ)器輸入測試圖案且能夠在其引腳輸出預(yù)期數(shù)據(jù)的其他方式進(jìn)行測試。在進(jìn)行catraining測試的實(shí)施例中，為提高每條ca線的利用率，可將測試圖案中每兩個(gè)測試符號(hào)作為一條ca線的輸入。請結(jié)合參照圖3，圖3是圖2中的步驟s21的實(shí)施例的流程示意圖。該步驟s21包括以下子步驟：s211：檢測存儲(chǔ)器的時(shí)鐘信號(hào)；s212：當(dāng)存儲(chǔ)器的時(shí)鐘信號(hào)處于上升沿時(shí)，向存儲(chǔ)器的ca線輸入ca線對(duì)應(yīng)的一個(gè)測試符號(hào)；s213：當(dāng)存儲(chǔ)器的時(shí)鐘信號(hào)處于下降沿時(shí)，向存儲(chǔ)器的ca線輸入ca線對(duì)應(yīng)的另一個(gè)測試符號(hào)。例如，存儲(chǔ)器的ca線ca0用于測試存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)線dq0和dq1的線序。在滿足設(shè)定時(shí)序后，線序測試裝置在存儲(chǔ)器的時(shí)鐘信號(hào)處于上升沿時(shí)，向ca0輸入與該dq0對(duì)應(yīng)的測試符號(hào)，在存儲(chǔ)器的時(shí)鐘信號(hào)處于下降沿時(shí)，向ca0輸入與該dq1對(duì)應(yīng)的測試符號(hào)。通過將ca線復(fù)用于測試兩條數(shù)據(jù)線，可提高存儲(chǔ)器的ca線的利用率。請結(jié)合參照圖4，圖4是圖2中的步驟s21的實(shí)施例的流程示意圖。保證測試的準(zhǔn)確性，該步驟s21具體包括以下子步驟：s214：連續(xù)多次地以同一測試圖案對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行測試，并于電子設(shè)備的引腳上得到多個(gè)測試結(jié)果。s215：將該多個(gè)測試結(jié)果中連續(xù)出現(xiàn)次數(shù)最多的一個(gè)作為以該測試圖案所測試得到的第一數(shù)據(jù)。本實(shí)施例，可以連續(xù)地多次地以同一測試圖案來對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行多次測試，以得到多個(gè)測試結(jié)果，并從這些測試結(jié)果中選出最合適的一個(gè)測試結(jié)果來做作最終的數(shù)據(jù)，從而減低測試數(shù)據(jù)的失真率，確保測試得到的數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。在又一實(shí)施例中，線序測試裝置在電子設(shè)備輸出的第一數(shù)據(jù)后，還可判斷該第一數(shù)據(jù)是否有效，例如判斷該第一數(shù)據(jù)的第一類測試符號(hào)的個(gè)數(shù)是否與測試圖案中的第一類測試符號(hào)的個(gè)數(shù)相同，若是，則有效，否則為無效；若有效則執(zhí)行s22，否則以該測試圖案重新進(jìn)行測試或者發(fā)出存儲(chǔ)器出現(xiàn)故障的警告。由此，進(jìn)一步提高測試的準(zhǔn)確性。在s22中，該第二數(shù)據(jù)可以理解為當(dāng)存儲(chǔ)器輸入該至少一個(gè)測試圖案時(shí)，該存儲(chǔ)器的引腳對(duì)應(yīng)輸出的數(shù)據(jù)。該第二數(shù)據(jù)可根據(jù)該測試圖案獲得，例如由測試圖案與存儲(chǔ)器的引腳之間映射關(guān)系，來得到第二數(shù)據(jù)。也就是說，第二數(shù)據(jù)不需要通過測試來獲取。請參閱圖5，圖5是圖2中的步驟23的實(shí)施例的流程示意圖。該圖5針對(duì)的情形是：該測試圖案包含的多個(gè)測試符號(hào)中僅有一個(gè)為第一類測試符號(hào)，其余為第二類測試符號(hào)。則在步驟23中，對(duì)于每個(gè)測試圖案，可以根據(jù)其對(duì)應(yīng)的第一數(shù)據(jù)和對(duì)應(yīng)的第二數(shù)據(jù)，來確定存儲(chǔ)器的一個(gè)引腳與電子設(shè)備的一個(gè)引腳之間的連接關(guān)系。具體的，圖5包括以下子步驟：s231：根據(jù)一第一數(shù)據(jù)，確定該電子設(shè)備的多個(gè)引腳中出現(xiàn)該第一類測試符號(hào)的引腳為引腳x。s232：根據(jù)一第二數(shù)據(jù)，確定該存儲(chǔ)器的多個(gè)引腳中出現(xiàn)該第一類測試符號(hào)的引腳為引腳y。s233：確定該電子設(shè)備的引腳x對(duì)應(yīng)連接該存儲(chǔ)器的引腳x。其中，測試圖案中的第一類測試符號(hào)可以為二進(jìn)制中的“1”，該第二類測試符號(hào)可以為二進(jìn)制中的“0”。且在本實(shí)施例中，每個(gè)測試圖案可以包括僅包含一位“1”或者一位“0”。上述x，y為正整數(shù)。本實(shí)施例采用的測試圖案僅包括一個(gè)第一類測試符號(hào)，進(jìn)而可使得每以一個(gè)測試圖案進(jìn)行測試即可確定存儲(chǔ)器一個(gè)引腳與電子設(shè)備一個(gè)引腳之間的連接關(guān)系，故，只要進(jìn)行與存儲(chǔ)器待測試引腳數(shù)量相同次數(shù)的測試，即可快速確定該存儲(chǔ)器與電子設(shè)備之間的連接關(guān)系，而且每次測試可直接根據(jù)輸出為第一類測試符號(hào)確定對(duì)應(yīng)引腳關(guān)系，大大簡化了測試的復(fù)雜度。以catraining測試來作為本發(fā)明實(shí)施例的測試方式為例，可以借由線序測試裝置向存儲(chǔ)器的ca線輸入測試圖案，以進(jìn)行catraining測試。其中，在存儲(chǔ)器時(shí)鐘信號(hào)的上升沿和下降沿時(shí)每條ca線分別與不同的引腳對(duì)應(yīng)，且分別輸入該測試圖案中的一個(gè)測試符號(hào)，存儲(chǔ)器中與該ca線對(duì)應(yīng)的引腳則輸出該ca線輸入的測試符號(hào)。本例中，存儲(chǔ)器中用于進(jìn)行該測試的ca線包括ca0-ca3和ca5-ca8，共8條ca線。存儲(chǔ)器的ca線與引腳dq0-dq15的對(duì)應(yīng)關(guān)系表1所示：表1ca0ca1ca2ca3ca5ca6ca7ca8時(shí)鐘信號(hào)dq0dq2dq4dq6dq8dq10dq12dq14上升沿dq1dq3dq5dq7dq9dq11dq13dq15下降沿上表1中，以ca0舉例，當(dāng)時(shí)鐘信號(hào)處于上升沿時(shí)，ca0線輸入的測試符號(hào)，則從存儲(chǔ)器的引腳dq0輸出；當(dāng)時(shí)鐘信號(hào)處于下降沿時(shí)，ca0線輸入的測試符號(hào)，則從存儲(chǔ)器的引腳dq1輸出。也就是說，假設(shè)在上升沿向ca0輸入了測試符號(hào)“0”，則在dq0也會(huì)出現(xiàn)該測試符“0”，并且電子設(shè)備中與存儲(chǔ)器的dq0連接的引腳也會(huì)出現(xiàn)該測試符號(hào)“0”。線序測試裝置獲取以測試圖案進(jìn)行測試時(shí)，電子設(shè)備側(cè)輸出的第一數(shù)據(jù)以及存儲(chǔ)器應(yīng)當(dāng)輸出的第二數(shù)據(jù)。例如，電子設(shè)備的引腳dq0-dq15輸出組成的第一數(shù)據(jù)為0x0001，且由測試圖案確定的存儲(chǔ)器的引腳dq0-dq15輸出組成的第二數(shù)據(jù)為0x0001，即由此次測試可確定電子設(shè)備的引腳dq0與存儲(chǔ)器的引腳dq0具有連接關(guān)系。需要說明的是，雖然在測試之前并不知道存儲(chǔ)器和電子設(shè)備之間的連接關(guān)系，但是對(duì)于電子設(shè)備的引腳順序本領(lǐng)域技術(shù)人員是清楚的，因此在測試時(shí)可以清楚地測試到電子設(shè)備的各引腳的信號(hào)。線序測試裝置以16個(gè)不同的測試圖案分別進(jìn)行上述測試，以分別得到電子設(shè)備的16個(gè)引腳與存儲(chǔ)器的16個(gè)引腳之間的連接關(guān)系。具體如下表2所示：表2值的注意的是，線序測試裝置以15個(gè)不同的測試圖案分別進(jìn)行上述測試，以分別得到電子設(shè)備的16個(gè)引腳與存儲(chǔ)器的16個(gè)引腳之間的連接關(guān)系(根據(jù)15次測試圖案確定電子設(shè)備的15個(gè)引腳與存儲(chǔ)器的15個(gè)引腳之間的連接關(guān)系后，即可確定電子設(shè)備的剩余一個(gè)引腳與存儲(chǔ)器的剩余一個(gè)引腳之間的連接關(guān)系)。同理地，當(dāng)?shù)谝活悳y試符號(hào)為“0”，第二類測試符號(hào)為“1”，每個(gè)測試圖案僅包含一個(gè)“0”的另一示例中，線序測試裝置輸入測試圖案得到第一數(shù)據(jù)后，可確定存儲(chǔ)器與電子設(shè)備的引腳連接關(guān)系。其中，其輸入的測試圖案如下表3所示：表3因此，線序測試裝置可利用存儲(chǔ)器已有的用于校準(zhǔn)時(shí)鐘和指令(command)線之間的關(guān)系的catraining模式來用于獲取存儲(chǔ)器與電子設(shè)備之間的線序，故無需對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行任何改進(jìn)，即可實(shí)現(xiàn)其線序的測試。請參閱圖6，是圖2中的步驟s23的實(shí)施例的流程示意圖。圖6針對(duì)的情形為：測試圖案包含的多個(gè)測試符號(hào)中含有至少兩個(gè)第一類測試符號(hào)，且同樣含有至少兩個(gè)第二類測試符號(hào)。上述步驟s21中該的至少一個(gè)測試圖案為多個(gè)測試圖案，對(duì)應(yīng)測試得到多個(gè)第一數(shù)據(jù)和預(yù)估得到多個(gè)第二數(shù)據(jù)。上述步驟s23具體包括以下子步驟：s234：根據(jù)該多個(gè)第一數(shù)據(jù)和該多個(gè)第二數(shù)據(jù)，得到多組對(duì)應(yīng)關(guān)系。其中，該s234可具體包括：根據(jù)該多個(gè)第一數(shù)據(jù)中的其中一個(gè)，確定該電子設(shè)備的多個(gè)引腳中出現(xiàn)該第一類測試符號(hào)的多個(gè)第一引腳；根據(jù)該第二數(shù)據(jù)中的其中一個(gè)，確定該存儲(chǔ)器的多個(gè)引腳中出現(xiàn)該第一類測試符號(hào)的多個(gè)第二引腳；確定一組對(duì)應(yīng)關(guān)系，其中該組對(duì)應(yīng)關(guān)系為：該多個(gè)第一引腳與該多個(gè)第二引腳具有連接關(guān)系。s235：根據(jù)該多組對(duì)應(yīng)關(guān)系，確定該存儲(chǔ)器和該電子設(shè)備之間的引腳連接關(guān)系。其中，每組對(duì)應(yīng)關(guān)系表示：該電子設(shè)備的多個(gè)引腳中的部分引腳與該存儲(chǔ)器的多個(gè)引腳中的部分引腳存在連接關(guān)系。例如，電子設(shè)備的dq0-dq15組成的第一數(shù)據(jù)為0x0111，獲取存儲(chǔ)器的dq0-dq15組成的第二數(shù)據(jù)為0x0405，即可確定電子設(shè)備的dq0、dq4、dq8三個(gè)引腳與存儲(chǔ)器的dq0、dq1、dq9三個(gè)引腳具有連接關(guān)系，但不能確定電子設(shè)備的該三個(gè)引腳與存儲(chǔ)器的該三個(gè)引腳具體的每個(gè)引腳的連接關(guān)系。而需要通過多組這樣的關(guān)系來相互比較，從而確定存儲(chǔ)器和該電子設(shè)備之間的引腳連接關(guān)系。例如，一組對(duì)應(yīng)關(guān)系表明存儲(chǔ)器的dq0連接至了電子設(shè)備的dq1、dq3和dq5，而另一組對(duì)應(yīng)關(guān)系表明存儲(chǔ)器的dq0連接至了電子設(shè)備的dq3、dq7和dq9，則確定存儲(chǔ)器的dq0連接至了電子設(shè)備的dq3。其中，可參考下述方式來設(shè)計(jì)測試圖案及進(jìn)行測試。例如，每個(gè)測試圖案包括：n個(gè)第一類測試符號(hào)和k個(gè)第二類測試符號(hào)，其中n和k均為大于2的整數(shù)。存儲(chǔ)器和電子設(shè)備的待測試引腳數(shù)量均為m，其中，該m可以為根據(jù)不同存儲(chǔ)器進(jìn)行確定，例如，存儲(chǔ)器的與電子設(shè)備連接的引腳數(shù)量為8，則可將待測試引腳數(shù)量確定為8，或者存儲(chǔ)器的可用于測試的ca線為8條，即對(duì)應(yīng)引腳共為16個(gè)，故可將待測試引腳確定為16。一般，該m大于或等于上述n和k的和。線序測試裝置以不同的測試圖案進(jìn)行j次測試，其中，該j為最接近的整數(shù)，且j等于或大于其中，第i次測試采用的測試圖案為第i階測試圖案。每階測試圖案滿足以下條件：互斥條件為：每階的任意2個(gè)測試圖案中不能出現(xiàn)相同位置為第一類測試符號(hào)的情況；互補(bǔ)條件為：當(dāng)?shù)谝活悳y試符號(hào)為“1”，每階的所有測試圖案中置“1”位(bit)之和為0xffff；當(dāng)?shù)谝活悳y試符號(hào)為“0”，每階的所有測試圖案中清“0”位(bit)之和為0xffff；2n分條件為：子節(jié)點(diǎn)均分父節(jié)點(diǎn)中的第一類測試符號(hào)的位，即上一階的每個(gè)測試圖案(父節(jié)點(diǎn))均為兩個(gè)下一階測試圖案(子節(jié)點(diǎn))之和，且該兩個(gè)下一階測試圖案中的第一類測試符號(hào)的個(gè)數(shù)相等。下面對(duì)具體測試方式列舉兩個(gè)例子，如下：1)在第i次以測試圖案對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行測試的步驟中，包括：依次以2i-1個(gè)第i階測試圖案對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行測試；其中，該i為1至j之間的整數(shù)；每個(gè)該第i階測試圖案包含第i-1階測試圖案中的m/2i個(gè)第一類測試符號(hào)且m-m/2i個(gè)第二類測試符號(hào)，或包含第i-1階補(bǔ)充圖案中的m/2i個(gè)第一類測試符號(hào)且m-m/2i個(gè)第二類測試符號(hào)；該第i-1階測試圖案中的第一類測試符號(hào)的位置不同于該第i-1階補(bǔ)充圖案中的第一類測試符號(hào)的位置，且該第0階測試圖案包含m個(gè)第一類測試符號(hào)。該補(bǔ)充圖案并不需要向存儲(chǔ)器輸入以進(jìn)行測試的。其中，該每階的測試圖案可如圖7所示，其中，實(shí)線方框?yàn)闇y試圖案，虛線方框?yàn)檠a(bǔ)充圖案，，該第一類測試符號(hào)為二進(jìn)制“1”。其中，，針對(duì)每一測試圖案，該存儲(chǔ)器的引腳dq0-dq15輸出組成的第二數(shù)據(jù)與其測試圖案相同，即也如圖7所示。每輸入一個(gè)測試圖案，對(duì)應(yīng)地電子設(shè)備的引腳dq0-dq15輸出組成的第一數(shù)據(jù)如圖9所示。2)第i次以測試圖案對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行測試的步驟包括：以一個(gè)第i階測試圖案進(jìn)行測試；其中，該i為1至j之間的整數(shù)；該第i階測試圖案包含第i-1階測試圖案中的m/2i個(gè)第一類測試符號(hào)和第i-1階補(bǔ)充圖案中的m/2i個(gè)第一類測試符號(hào)以及m-2m/2i個(gè)第二類測試符號(hào)；該第i-1階測試圖案中的第一類測試符號(hào)的位置不同于該第i-1階補(bǔ)充圖案中的第一類測試符號(hào)的位置，且該第0階測試圖案包含m個(gè)第一類測試符號(hào)。如圖10所示，圖10是上述第一種測試方式采用的測試圖案另一示意圖，其中，實(shí)線方框?yàn)榈谝环N測試方式所采用的測試圖案，虛線方框?yàn)榈谝环N測試方式所采用的補(bǔ)充圖案，該第一類測試符號(hào)為二進(jìn)制“1”。圖10中每一階的實(shí)線方框表示的測試圖案之和作為第二種測試方式所采用的該階的測試圖案，即第一階測試圖案為0xcf03，第二階測試圖案為0x033f，第三階測試圖案為0x0ccf，第四階測試圖案為0x5555。線序測試裝置對(duì)應(yīng)不同測試圖案獲得多個(gè)第一數(shù)據(jù)以及第二數(shù)據(jù)后，根據(jù)第i階測試圖案測得的第一數(shù)據(jù)，確定該電子設(shè)備中出現(xiàn)該第一類測試符號(hào)的m/2i個(gè)引腳；根據(jù)第i階測試圖案獲取的第二數(shù)據(jù)，確定該存儲(chǔ)器中出現(xiàn)該第一類測試符號(hào)的m/2i個(gè)引腳(如圖8所示，對(duì)應(yīng)圖7的每個(gè)測試圖案，分別可確定該存儲(chǔ)器的出現(xiàn)該第一類測試符號(hào)的引腳)；確定該存儲(chǔ)器的該m/2i個(gè)引腳與該電子設(shè)備的該m/2i個(gè)引腳具有連接關(guān)系，并確定該存儲(chǔ)器其余的m-m/2i個(gè)引腳該電子設(shè)備的其余的m-m/2i個(gè)引腳具有連接關(guān)系。由該多個(gè)第一數(shù)據(jù)和多個(gè)第二數(shù)據(jù)即可得到多組對(duì)應(yīng)關(guān)系。在獲得該多組對(duì)應(yīng)關(guān)系后，由于不同組的對(duì)應(yīng)關(guān)系所包括的引腳至少部分不同，故通過對(duì)比不同組的對(duì)應(yīng)關(guān)系，以確定存儲(chǔ)器與電子設(shè)備的每個(gè)引腳之間的連接關(guān)系。具體，從i為1開始，在對(duì)應(yīng)第i-1階測試圖案確定的存儲(chǔ)器和電子設(shè)備的具有連接關(guān)系的m/2i-1個(gè)引腳中，確定除對(duì)應(yīng)第i階測試圖案確定的存儲(chǔ)器和電子設(shè)備的具有連接關(guān)系的m/2i個(gè)引腳外的存儲(chǔ)器和電子設(shè)備剩余的m/2i-1-m/2i個(gè)引腳具有引腳關(guān)系，直到i為上述j，進(jìn)而得到該電子設(shè)備的m個(gè)待測試引腳與該存儲(chǔ)器的m個(gè)待測試引腳之間的一一連接關(guān)系。結(jié)合參考圖7-圖9，由第1階測試圖案，可確定存儲(chǔ)器的引腳dq0-dq7與電子設(shè)備的引腳dq0-dq7具有連接關(guān)系，存儲(chǔ)器的引腳dq8-dq15與電子設(shè)備的引腳dq8-dq15具有連接關(guān)系；由第2階測試圖案，可確定存儲(chǔ)器的引腳dq0-dq3與電子設(shè)備的引腳dq0-dq2、dq4，存儲(chǔ)器的引腳dq4-dq7與電子設(shè)備的引腳dq3、dq5-dq7，存儲(chǔ)器的引腳dq8-dq11與電子設(shè)備的引腳dq8-dq0、dq12，存儲(chǔ)器的引腳dq12-dq15與電子設(shè)備的引腳dq11、dq13-dq15具有連接關(guān)系；由第3階測試圖案，可確定存儲(chǔ)器的引腳dq0-dq1與電子設(shè)備的引腳dq0-dq1，存儲(chǔ)器的引腳dq2-dq3與電子設(shè)備的引腳dq2、dq4，存儲(chǔ)器的引腳dq4-dq5與電子設(shè)備的引腳dq3、dq5，存儲(chǔ)器的引腳dq6-dq7與電子設(shè)備的引腳dq6-dq7，存儲(chǔ)器的引腳dq8-dq9與電子設(shè)備的引腳dq8-dq9，存儲(chǔ)器的引腳dq10-dq11與電子設(shè)備的引腳dq10、dq12，存儲(chǔ)器的引腳dq12-dq13與電子設(shè)備的引腳dq11、dq14，存儲(chǔ)器的引腳dq14-dq15與電子設(shè)備的引腳dq13、dq15具有連接關(guān)系；由第4階測試圖案，可確定存儲(chǔ)器的引腳dq0-dq15分別與電子設(shè)備的引腳dq0-dq2、dq4、dq5、dq3、dq7、dq6、dq8-10、dq12、dq11、dq14、dq15、dq13具有連接關(guān)系?？梢岳斫獾氖牵鲜雒恳浑A測試圖案并不限定為圖7和圖10所示，可為任意只要滿足上述互斥、互補(bǔ)和2n分條件的符號(hào)集合。另外，上述例子均采用將每個(gè)測試圖案一分為二(2n分法，n＝1)進(jìn)行測試。在其他實(shí)施例中，也可采用將每個(gè)測試圖案一分為四(2n分法，n＝2)進(jìn)行測試，也即線序測試裝置只需以上述例子中的第偶數(shù)階測試圖案進(jìn)行測試，如圖11所示，實(shí)線方框?yàn)闇y試圖案，虛線方框?yàn)檠a(bǔ)充圖案。當(dāng)然，測試圖案還可為其他分法，即上述n可為任意整數(shù)，對(duì)應(yīng)地，線序測試裝置需進(jìn)行次測試，其中第i次以第i階測試圖案進(jìn)行測試，該i為1至z之間的整數(shù)；且每個(gè)第i階測試圖案包含第i-1階測試圖案中的m/(2n)i個(gè)第一類測試符號(hào)且m-m/(2n)i個(gè)第二類測試符號(hào)，或包含第i-1階補(bǔ)充圖案中的m/(2n)i個(gè)第一類測試符號(hào)且m-m/(2n)i個(gè)第二類測試符號(hào)。請參閱圖12，圖12是本發(fā)明的線序測試方法另一實(shí)施例的部分流程圖。本實(shí)施例中，在上述實(shí)施例中的s21之前還包括步驟s121、s122和s123，接下來具體介紹各步驟。s121：以第一檢查圖案對(duì)該存儲(chǔ)器進(jìn)行測試，得到該電子設(shè)備側(cè)產(chǎn)生的一第三數(shù)據(jù)。s122：以第二檢查圖案對(duì)該存儲(chǔ)器進(jìn)行測試，得到該電子設(shè)備側(cè)產(chǎn)生的另一第三數(shù)據(jù)。其中，上述每個(gè)檢查圖案中的多個(gè)測試符號(hào)相同，且第一檢查圖案和第二檢查圖案中含有的測試符號(hào)不同，例如，該第一檢查圖案含有多個(gè)第一類測試符號(hào)，該第二檢查圖案含有多個(gè)第二類測試符號(hào)。s123：根據(jù)該第一檢查圖案對(duì)應(yīng)的第三數(shù)據(jù)和該第二檢查圖案對(duì)應(yīng)的第三數(shù)據(jù)，確定該電子設(shè)備的待測試引腳。例如，當(dāng)該一第三數(shù)據(jù)包括的測試符號(hào)與該第一檢查圖案中的測試符號(hào)相同，如均為該第一類測試符號(hào)，及當(dāng)該另一第三數(shù)據(jù)包括的測試符號(hào)與該第二檢查圖案中的測試符號(hào)相同，如均為該第二類測試符號(hào)時(shí)，將該一第三數(shù)據(jù)中的第一類測試符號(hào)與另一第三數(shù)據(jù)中的第二類測試符號(hào)共同對(duì)應(yīng)的該電子設(shè)備的引腳確定為該電子設(shè)備的待測試引腳，并執(zhí)行步驟s21。例如，在存儲(chǔ)器的引腳的缺省輸出為“0”，分別以0xffff和0x0000作為上述兩個(gè)檢查圖案進(jìn)行測試，得到電子設(shè)備的引腳dq0-dq15的輸出組成為0xffff和0x0000，由上述輸出可確定電子設(shè)備的16個(gè)引腳均已獲得存儲(chǔ)器相應(yīng)檢查圖案的輸出，故可確定存儲(chǔ)器可正常工作，故可執(zhí)行圖2-圖6所示的測試方法，并且根據(jù)電子設(shè)備非缺省值的輸出0xffff可確定dq0-dq15共16個(gè)引腳為電子設(shè)備的待測試引腳。請參閱圖13，圖13是本發(fā)明線序測試裝置一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。該線序測試裝置13用于測試存儲(chǔ)器和與其連接的電子設(shè)備之間的引腳連接關(guān)系，包括測試模塊131、預(yù)估模塊132和確定模塊133。測試模塊131用于以至少一個(gè)測試圖案對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行測試，得到至少一個(gè)第一數(shù)據(jù)。預(yù)估模塊132用于根據(jù)該測試圖案與該存儲(chǔ)器的引腳之間的映射關(guān)系，預(yù)估以至少一個(gè)該測試圖案對(duì)該存儲(chǔ)器進(jìn)行測試時(shí)，所應(yīng)得到的至少一個(gè)第二數(shù)據(jù)。確定模塊133用于根據(jù)該至少一個(gè)第一數(shù)據(jù)和該至少一個(gè)第二數(shù)據(jù)，確定該存儲(chǔ)器和該電子設(shè)備之間的引腳連接關(guān)系?？蛇x地，測試模塊131具體用于：以該至少一個(gè)測試圖案對(duì)該存儲(chǔ)器進(jìn)行catraining測試?？蛇x地，該測試圖案包括：多個(gè)測試符號(hào)，其中該多個(gè)測試符號(hào)中的其中一個(gè)為第一類測試符號(hào)，其余為第二類測試符號(hào)。進(jìn)一步地，該確定模塊133具體用于：根據(jù)該至少一個(gè)第一數(shù)據(jù)之一，確定該電子設(shè)備的多個(gè)引腳中出現(xiàn)該第一類測試符號(hào)的引腳為引腳x；根據(jù)該至少一個(gè)第二數(shù)據(jù)之一，確定該存儲(chǔ)器的多個(gè)引腳中出現(xiàn)該第一類測試符號(hào)的引腳為引腳y；確定該電子設(shè)備的引腳x對(duì)應(yīng)連接該存儲(chǔ)器的引腳x?？蛇x地，該測試圖案包括：多個(gè)測試符號(hào)，其中該多個(gè)測試符號(hào)中的至少兩個(gè)為第一類測試符號(hào)且至少兩個(gè)為第二類測試符號(hào)；其中，該至少一個(gè)測試圖案為多個(gè)測試圖案，該至少一個(gè)第一數(shù)據(jù)為多個(gè)第一數(shù)據(jù)，該至少一個(gè)第二數(shù)據(jù)為多個(gè)第二數(shù)據(jù)。進(jìn)一步地，該確定模塊133具體用于：根據(jù)該多個(gè)第一數(shù)據(jù)和該多個(gè)第二數(shù)據(jù)，得到多組對(duì)應(yīng)關(guān)系；以及根據(jù)該多組對(duì)應(yīng)關(guān)系，確定該存儲(chǔ)器和該電子設(shè)備之間的引腳連接關(guān)系；其中，每組對(duì)應(yīng)關(guān)系表示：該電子設(shè)備的部分引腳與該存儲(chǔ)器的部分引腳存在連接關(guān)系。其中，該線序測試裝置的上述模塊分別用于執(zhí)行上述方法實(shí)施例中的相應(yīng)步驟，具體執(zhí)行過程如上方法實(shí)施例說明，在此不作贅述。上述線序測試裝置可為圖1所示的電子設(shè)備12，或?yàn)樵撾娮釉O(shè)備12中的部分電路。請參閱圖14，圖14是本發(fā)明的電子設(shè)備的一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。該電子設(shè)備14與存儲(chǔ)器具有引腳連接關(guān)系，包括多個(gè)引腳141、處理核心142和控制端口143。該多個(gè)引腳141用于分別與存儲(chǔ)器的多個(gè)引腳一一連接，例如圖1所示進(jìn)行連接。該控制端口143用于與該存儲(chǔ)器的受控端口連接。在一具體應(yīng)用中，存儲(chǔ)器的受控端口為存儲(chǔ)器的ca線接口，該控制端口143為向存儲(chǔ)器的ca線接口輸入的端口。該處理核心142用于：通過控制端口143向存儲(chǔ)器輸入至少一個(gè)測試圖案，以對(duì)該存儲(chǔ)器進(jìn)行測試，并從該多個(gè)引腳141中得到至少一個(gè)第一數(shù)據(jù)；根據(jù)該測試圖案與該存儲(chǔ)器的引腳之間的映射關(guān)系，預(yù)估以至少一個(gè)該測試圖案對(duì)該存儲(chǔ)器進(jìn)行測試時(shí)，所應(yīng)得到的至少一個(gè)第二數(shù)據(jù)；以及根據(jù)該至少一個(gè)第一數(shù)據(jù)和該至少一個(gè)第二數(shù)據(jù)，確定該存儲(chǔ)器和該電子設(shè)備之間的引腳連接關(guān)系?？蛇x地，處理核心142用于以該至少一個(gè)測試圖案對(duì)該存儲(chǔ)器進(jìn)行catraining測試。可選地，該測試圖案包括：多個(gè)測試符號(hào)，其中該多個(gè)測試符號(hào)中的其中之一為第一類測試符號(hào)，其余為第二類測試符號(hào)。進(jìn)一步地，處理核心142用于：根據(jù)該至少一個(gè)第一數(shù)據(jù)之一，確定該電子設(shè)備的多個(gè)引腳141中出現(xiàn)該第一類測試符號(hào)的引腳為引腳x；根據(jù)該至少一個(gè)第二數(shù)據(jù)之一據(jù)，確定該存儲(chǔ)器的多個(gè)引腳中出現(xiàn)該第一類測試符號(hào)的引腳為引腳y；確定該電子設(shè)備的引腳x對(duì)應(yīng)連接該存儲(chǔ)器的引腳x。可選地，該測試圖案包括：多個(gè)測試符號(hào)，其中該多個(gè)測試符號(hào)中的至少兩個(gè)為第一類測試符號(hào)且至少兩個(gè)為第二類測試符號(hào)；其中，該至少一個(gè)測試圖案為多個(gè)測試圖案，該至少一個(gè)第一數(shù)據(jù)為多個(gè)第一數(shù)據(jù)，該至少一個(gè)第二數(shù)據(jù)為多個(gè)第二數(shù)據(jù)。進(jìn)一步地，處理核心142用于：根據(jù)該多個(gè)第一數(shù)據(jù)和該多個(gè)第二數(shù)據(jù)，得到多組對(duì)應(yīng)關(guān)系；根據(jù)該多組對(duì)應(yīng)關(guān)系，確定該存儲(chǔ)器和該電子設(shè)備之間的引腳連接關(guān)系；其中，每組對(duì)應(yīng)關(guān)系表示：該電子設(shè)備的多個(gè)引腳141中的部分引腳與該存儲(chǔ)器的多個(gè)引腳中的部分引腳存在連接關(guān)系。進(jìn)一步地，處理核心142用于：根據(jù)該多個(gè)第一數(shù)據(jù)之一，確定該電子設(shè)備的多個(gè)引腳中出現(xiàn)該第一類測試符號(hào)的多個(gè)第一引腳；根據(jù)該第二數(shù)據(jù)之一，確定該存儲(chǔ)器的多個(gè)引腳中出現(xiàn)該第一類測試符號(hào)的多個(gè)第二引腳；確定一組對(duì)應(yīng)關(guān)系，其中該組對(duì)應(yīng)關(guān)系表示：該多個(gè)第一引腳與該多個(gè)第二引腳具有連接關(guān)系。可選地，處理核心142還用于：通過控制端口142向該存儲(chǔ)器輸入至少一個(gè)檢查圖案，以對(duì)該存儲(chǔ)器進(jìn)行測試，并從多個(gè)引腳141中得到至少一個(gè)第三數(shù)據(jù)，其中，每個(gè)檢查圖案中的多個(gè)測試符號(hào)相同；當(dāng)每個(gè)第三數(shù)據(jù)中包括的測試符號(hào)與其對(duì)應(yīng)的檢查圖案所包含的測試符號(hào)均相同時(shí)，執(zhí)行該以至少一個(gè)測試圖案對(duì)該存儲(chǔ)器進(jìn)行測試的步驟。進(jìn)一步地，該至少一個(gè)檢查圖案包括：第一檢查圖案和第二檢查圖案，其中第一檢查圖案和第二檢查圖案中含有的測試符號(hào)不同；處理核心142還用于：根據(jù)該第一檢查圖案對(duì)應(yīng)的第三數(shù)據(jù)和該第二檢查圖案對(duì)應(yīng)的第三數(shù)據(jù)，確定該電子設(shè)備的待測試引腳?？蛇x地，處理核心142用于：對(duì)于該至少一個(gè)測試圖案中的每一個(gè)，連續(xù)多次地以其對(duì)該存儲(chǔ)器進(jìn)行測試，得到多個(gè)測試結(jié)果；以及將該多組測試結(jié)果中連續(xù)出現(xiàn)次數(shù)最多的一個(gè)測試結(jié)果作為該第一數(shù)據(jù)。以上方案中，該第一類測試符號(hào)為二進(jìn)制中的“0”，該第二類測試符號(hào)為二進(jìn)制中的“1”；或者，該第一類測試符號(hào)為二進(jìn)制中的“1”，該第二類測試符號(hào)為二進(jìn)制中的“0”。在一實(shí)施例中，上述存儲(chǔ)器為lpddr，該電子設(shè)備為soc。其中，上述處理核心142通過執(zhí)行存儲(chǔ)指令來執(zhí)行上述步驟，該存儲(chǔ)指令可存儲(chǔ)在與該電子設(shè)備連接的該存儲(chǔ)器中，處理核心通過上述多個(gè)引腳從存儲(chǔ)器中讀取指令，或者該存儲(chǔ)指令存儲(chǔ)在電子設(shè)備設(shè)置的內(nèi)存中，又或存儲(chǔ)在于電子設(shè)備連接的其他存儲(chǔ)介質(zhì)中。上述本發(fā)明實(shí)施例揭示的方法也可以應(yīng)用于處理核心142中，或者由處理核心142實(shí)現(xiàn)。處理核心142可能是一種集成電路芯片，具有信號(hào)的處理能力。在實(shí)現(xiàn)過程中，上述方法的各步驟可以通過處理核心142中的硬件的集成邏輯電路或者軟件形式的指令完成。上述的處理核心142可以是通用處理器、數(shù)字信號(hào)處理器(dsp)、專用集成電路(asic)、現(xiàn)成可編程門陣列(fpga)或者其他可編程邏輯器件、分立門或者晶體管邏輯器件、分立硬件組件?？梢詫?shí)現(xiàn)或者執(zhí)行本發(fā)明實(shí)施例中的公開的各方法、步驟及邏輯框圖。通用處理器可以是微處理器或者該處理器也可以是任何常規(guī)的處理器等。結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例所公開的方法的步驟可以直接體現(xiàn)為硬件譯碼處理器執(zhí)行完成，或者用譯碼處理器中的硬件及軟件模塊組合執(zhí)行完成。軟件模塊可以位于隨機(jī)存儲(chǔ)器，閃存、只讀存儲(chǔ)器，可編程只讀存儲(chǔ)器或者電可擦寫可編程存儲(chǔ)器、寄存器等本領(lǐng)域成熟的存儲(chǔ)介質(zhì)中。處理核心142讀取相應(yīng)儲(chǔ)介質(zhì)中的信息，結(jié)合其硬件完成上述方法的步驟。上述方案中，利用測試圖案對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行測試，以得到與存儲(chǔ)器連接的電子設(shè)備輸出的第一數(shù)據(jù)，并獲取預(yù)估的該測試圖案對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)器輸出的第二數(shù)據(jù)，根據(jù)電子設(shè)備與存儲(chǔ)器具有連接關(guān)系的管腳具有相同輸出的原理，通過對(duì)比第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)，可快速、準(zhǔn)確地測試出存儲(chǔ)器和電子設(shè)備之間引腳連接關(guān)系。在本申請所提供的幾個(gè)實(shí)施例中，應(yīng)該理解到，所揭露的系統(tǒng)，裝置和方法，可以通過其它的方式實(shí)現(xiàn)。例如，以上所描述的裝置實(shí)施例僅僅是示意性的，例如，該模塊或單元的劃分，僅僅為一種邏輯功能劃分，實(shí)際實(shí)現(xiàn)時(shí)可以有另外的劃分方式，例如多個(gè)單元或組件可以結(jié)合或者可以集成到另一個(gè)系統(tǒng)，或一些特征可以忽略，或不執(zhí)行。另一點(diǎn)，所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過一些接口，裝置或單元的間接耦合或通信連接，可以是電性，機(jī)械或其它的形式。該作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個(gè)地方，或者也可以分布到多個(gè)網(wǎng)絡(luò)單元上?？梢愿鶕?jù)實(shí)際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實(shí)現(xiàn)本實(shí)施例方案的目的。另外，在本申請各個(gè)實(shí)施例中的各功能單元可以集成在一個(gè)處理單元中，也可以是各個(gè)單元單獨(dú)物理存在，也可以兩個(gè)或兩個(gè)以上單元集成在一個(gè)單元中。上述集成的單元既可以采用硬件的形式實(shí)現(xiàn)，也可以采用軟件功能單元的形式實(shí)現(xiàn)。該集成的單元如果以軟件功能單元的形式實(shí)現(xiàn)并作為獨(dú)立的產(chǎn)品銷售或使用時(shí)，可以存儲(chǔ)在一個(gè)計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中?；谶@樣的理解，本申請的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對(duì)現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻(xiàn)的部分或者該技術(shù)方案的全部或部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該計(jì)算機(jī)軟件產(chǎn)品存儲(chǔ)在一個(gè)存儲(chǔ)介質(zhì)中，包括若干指令用以使得一臺(tái)計(jì)算機(jī)設(shè)備(可以是個(gè)人計(jì)算機(jī)，服務(wù)器，或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)或處理核心(processor)執(zhí)行本申請各個(gè)實(shí)施例該方法的全部或部分步驟。而前述的存儲(chǔ)介質(zhì)包括：u盤、移動(dòng)硬盤、只讀存儲(chǔ)器(rom，read-onlymemory)、隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(ram，randomaccessmemory)、磁碟或者光盤等各種可以存儲(chǔ)程序代碼的介質(zhì)。當(dāng)前第1頁12