專利名稱：測試電子部件的系統(tǒng)及其控制方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試電子部件的系統(tǒng)，更具體地講，涉及一種能夠根據(jù) 插槽的位置變化自動;險測插槽的位置以測試電子部件的用于測試電子部件的 系統(tǒng)及其控制方法。
背景技術(shù)：
近來，隨著半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展，實現(xiàn)了所有電氣/電子設(shè)備的小尺寸 和高密度。此外，隨著工業(yè)機器人的發(fā)展，開發(fā)出了利用機器人測試電氣/電 子設(shè)備的性能的測試裝置。以測試存儲芯片的性能時，使用工業(yè)機器人來自動地將存儲芯片插入安裝在 主板上的插槽或?qū)⒋鎯π酒c插槽分離。為了測試電子部件的性能，插入電子部件的插槽的位置通過離線工作程 序輸入機器人，基于參考塊來檢測插槽的位置，所述參考塊是利用接觸傳感 器檢測插槽的位置的參考工具。檢測到插槽的位置后，利用機器人將存儲芯片插入插槽中，測試存儲芯 片的性能，并利用機器人將插入的存儲芯片與插槽分離。隨著時間的過去應(yīng)該更換為新的型號，因此在系統(tǒng)自動操作時會出現(xiàn)嚴(yán)重的問題。即，只要將主板換成新的主板，就應(yīng)該重新改變存儲芯片插入的位置并 將其輸入機器人。當(dāng)主板被修理并被重新安裝時，與當(dāng)主板被換成新的主板 時一樣，也會出現(xiàn)這種問題。因此，重新改變存儲芯片的插入位置并將其輸入機器人需要大量時間。 由于該時間對應(yīng)于系統(tǒng)停止的時間，因此降4氐了系統(tǒng)的效率。發(fā)明內(nèi)容因此，本發(fā)明的一方面在于提供一種具有改進的結(jié)構(gòu)的用于測試電子部 件的系統(tǒng)及其控制方法，該系統(tǒng)能夠根據(jù)插槽的位置變化自動地檢測插槽的 位置，以有效地測試電子部件，并提高系統(tǒng)的效率。將在下面的描述中部分地闡述附加方面和/或優(yōu)點，所述附加方面和/或優(yōu)點將部分地通過描述而明顯，或者可以通過實施本發(fā)明而了解。依照實施例，前述和/或其他方面可以通過提供一種利用機器人自動測試 電子部件的用于測試電子部件的系統(tǒng)來實現(xiàn)，該系統(tǒng)包括距離測量單元， 測量安裝在基底上用于測試電子部件的插槽和用于提供參考位置的參考塊之間的距離；位置測量單元，檢測參考塊的位置信息；控制器，在所檢測的參 考塊的位置信息的基礎(chǔ)上，利用所測量的插槽和參考塊之間的距離計算插槽 的位置信息，并利用所計算的插槽的位置信息控制機器人。所述距離測量單元可以利用視覺系統(tǒng)測量插槽和參考塊之間的距離。 所述位置測量單元可以利用激光傳感器檢測參考塊的位置信息。 所述位置測量單元可以利用從激光傳感器照射到參考塊上的光束被反射 的程度來檢測參考塊的位置信息。所述位置測量單元可以利用參考塊的上表面的邊檢測位置信息。當(dāng)從激 光傳感器照射到參考塊的光束未被反射時，所述位置測量單元可以確定參考 塊的上表面的邊并檢測參考塊的位置信息。前述和/或其他方面可以通過提供一種控制利用機器人自動測試電子部 件的用于測試電子部件的系統(tǒng)的方法來實現(xiàn)，該方法包括以下步驟測量安 裝在基底上用于測試電子部件的插槽和用于提供參考位置的參考塊之間的距 離；檢測參考塊的位置信息；在所檢測的參考塊的位置信息的基礎(chǔ)上，利用 所測量的插槽和參考塊之間的距離計算插槽的位置信息；利用所計算的插槽 的位置信息控制機器人。所述測量距離的步驟可以包括利用視覺系統(tǒng)測量插槽和參考塊之間的距離。所述檢測參考塊的位置信息的步驟可以包括利用激光傳感器檢測參考塊 的位置信息。所述檢測參考塊的位置信息的步驟可以包括利用從激光傳感器照射到 參考塊的光束被反射的程度來檢測參考塊的位置信息。所述檢測參考塊的位置信息的步驟可以包括利用參考塊的上表面的邊來檢測位置信息。所述檢測參考塊的位置信息的步驟可以包括當(dāng)從激光傳感器照射到參 考塊的光束未被反射時，確定參考塊上表面的邊并檢測參考塊的位置信息。前述和/或其他方面可以通過提供一種控制用于測試電子部件的系統(tǒng)的 方法來實現(xiàn)，該方法包括以下步驟測量安裝在基底上用于測試電子部件的插槽和參考塊之間的距離；檢測參考塊的位置信息，根據(jù)照射到參考塊上的光束是否被反射來檢測所述位置信息；在所檢測的參考塊的位置信息的基礎(chǔ)上，利用所測量的插槽和參考塊之間的距離計算插槽的位置信息。當(dāng)確定照射到參考塊上的光束未被反射時，可以檢測所述參考塊的邊。 所述系統(tǒng)可以包括用于檢測照射到參考塊上的光束是否被反射的傳感器，當(dāng)確定照射到參考塊上的光束被反射時，將傳感器從初始檢測位置移動到第二檢測位置。


通過下面結(jié)合附圖對實施例進行的的描述，這些和/或其他方面和優(yōu)點將 變得清楚并更加容易理解，其中圖l是示出了用于測試電子部件的工具箱的視圖；圖2是示出了用于自動測試電子部件的機器人的視圖；圖3是示出了根據(jù)實施例的用于測試電子部件的系統(tǒng)的框圖；圖4是示出了根據(jù)實施例的控制用于測試電子部件的系統(tǒng)的方法的流程圖。
具體實施方式
現(xiàn)在，將詳細說明實施例，實施例的示例在附圖中示出，其中，相同的 標(biāo)號始終表示相同的元件。下面參照附圖描述實施例來解釋本發(fā)明。首先，圖3是示出了根據(jù)實施例的用于測試電子部件的系統(tǒng)的框圖。用 于測試電子部件的系統(tǒng)100包括距離測量單元110、位置測量單元120和控 制器130。如圖1和圖2所示，用于測試電子部件的系統(tǒng)100包^"舌為了測試電子部 件的工具箱1和機器人10。工具箱1是其中安裝了用于測試電子部件的基底2的結(jié)構(gòu)，且工具箱1結(jié)合到系統(tǒng)或與系統(tǒng)分離。在工具箱中提供了個人計算機(PC)的電源和硬盤 以使工具箱執(zhí)行類似普通PC的功能。在工具箱1中，安裝有基底2，用于安裝電子部件以對電子部件進行測試的在基底2上安裝的插槽3以及用于提供參考位置的參考塊4。為了利用機器人10自動測試電子部件的性能，由于需要檢測插槽3的位 置信息并將所檢測的插槽3的位置信息提供給機器人10的過程，因此距離測 量單元110測量插槽3和參考塊4之間的距離以檢測插槽3的位置信息。具體地講，優(yōu)選地，距離測量單元IIO接收并分析工具箱的實際圖像并 利用視覺系統(tǒng)測量插槽3和參考塊4之間的距離。利用視覺系統(tǒng)包括的光纖 和發(fā)光二極管(LED)視覺地感測插槽3和參考塊4,以測量插槽3和參考塊4 之間的距離。這里，參考塊4是用于提供參考位置信息以檢測插槽3的位置信息的工 具。參考塊4具有預(yù)定面積(area)。安裝在工具箱1中的參考塊4位于預(yù)定的 范圍中。如果參考塊4具有預(yù)定面積，則來自激光傳感器14的光束被允許照 射在參考塊4上。接著，位置測量單元120檢測參考塊4的位置信息。即，在利用視覺系統(tǒng)測量插槽3和參考塊4之間的距離后，利用安裝在 機器人10中的激光傳感器14檢測參考塊4的位置信息。更具體地，可以利用從激光傳感器14照射到參考塊4上的光束被反射的 程度檢測參考塊4的位置信息。為了將光束照射到參考塊4上，機器人10將 激光傳感器14移動到預(yù)定位置。這里，在光束從參考塊4沿著機器人10的行進方向移動(機器人具有行 進軸以在多個工具箱1中安裝電子部件)的同時，結(jié)合到機器臂支架11的機 器人10的臂12移動，以使激光傳感器14的位置可改變。激光傳感器14移 動到位于設(shè)置在預(yù)定位置的參考塊4的上方，以使來自激光傳感器14的光束 照射到參考塊4的上表面。具有預(yù)定面積的參考塊4被設(shè)計為即使基底2被 更換或調(diào)換，仍然使得來自激光傳感器14的光束照射到參考塊4的上表面。因此，將從激光傳感器14照射到參考塊4上表面的光束被反射的程度與 激光傳感器14移動到另一位置時照射的光束被反射的程度進行比較，以檢測 參考塊4的位置信息。如前所述，為了容易地利用參考塊4的邊檢測參考塊4的位置信息，優(yōu)選地，將參考塊4的上表面的邊截去。即，當(dāng)光束從激光傳感器14被照射到參考塊4的平坦的上表面時，大部 分光束被反射并返回。相反，當(dāng)光束從激光傳感器14被照射到參考塊4的上 表面的邊時，由于被截去的邊，使得光束不被反射并返回。因此，可以檢測 參考塊4的邊，利用4企測到的邊能夠檢測參考塊4的位置信息。在執(zhí)行了如前所述的檢測參考塊4的位置信息的過程之后，控制器130 在所檢測的參考塊4的位置信息的基礎(chǔ)上，利用所測量的插槽3和參考塊4 之間的距離來計算插槽3的位置信息，并利用所計算的插槽3的位置信息控 制機器人10。即，基于所檢測的參考塊4的位置信息利用距離測量單元110測量的插 槽3和參考塊4之間的距離準(zhǔn)確地計算插槽3的位置信息(坐標(biāo)信息)，所計算 的插槽3的位置信息被發(fā)送到機器人10以控制機器人10,以便利用插槽3 的位置信息安裝電子部件。通過存儲在工具箱1的硬盤中的程序測試電子部件。當(dāng)完成對電子部件 的測試時，控制器130控制機器人10的手13移動到所計算的插槽3的位置， 使得電子部件與插槽3分離。然后，根據(jù)電子部件的檢測結(jié)果(即，根據(jù)好或 壞的質(zhì)量)保存電子部件。當(dāng)將參考塊4安裝在基底2或工具箱1的預(yù)定位置，并且由距離測量單 元110測量插槽3和參考塊4之間的距離，代替參考塊4以提供參考位置時， 本實施例可以根據(jù)位于任何其他位置的參考塊4，利用下述方法實現(xiàn)獲得 從工具箱1的預(yù)定參照點到參考塊4的位置信息，將所述位置信息發(fā)送到機 器人10。在下文中，將描述一種控制用于測試電子部件的系統(tǒng)的方法。圖4是示出了根據(jù)實施例的控制用于測試電子部件的系統(tǒng)的方法的流程圖。如圖4所述，測量用于測試電子部件的插槽和用于提供參考位置的參考塊之間的距離(400)。確定從激光傳感器照射到參考塊的光束是否未被反射(410)。如果從激光傳感器照射到參考塊的光束沒有被反射，則確定參考塊的邊并檢測參考塊的位置信息(420)。這里，為了檢測參考塊4的位置信息，截去了參考塊的上表面的邊，并檢測從激光傳感器照射到參考塊的上表面的邊的光束被反射的程度。當(dāng)光束從激光傳感器被照射到參考塊的平坦上表面時，大部分光束被反射并返回。相反，當(dāng)光束從激光傳感器照射到參考塊的上表面的邊時，由于被截去了的邊，光束沒有被反射并返回。因此，能夠;險測參考塊的邊，并且能夠利用所檢測到的邊檢測參考塊的位置信息。如果從激光傳感器照射到參考塊的光束被反射，則改變激光傳感器的位置(430)。然后，程序返回操作410。檢測到參考塊的位置信息后，在所檢測的參考塊4的位置信息的基礎(chǔ)上， 利用所測量的插槽和參考塊之間的距離計算插槽的位置信息(440)。然后，利用所計算的插槽的位置信息控制機器人，以測試電子部件(450)。即，控制機器人以利用所計算的插槽的位置信息將機器人的手移動到插 槽的位置，將電子部件插到插槽中。如上所述，根據(jù)用于測試電子部件的系統(tǒng)及其控制方法，能夠根據(jù)插槽 位置的變化自動地;險測插槽的位置并有效地測試電子部件。因此，能夠提升系統(tǒng)的效率，并且利用機器人測試電子部件的系統(tǒng)能夠 自動化。雖然示出并描述了實施例，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該理解，在不脫離本發(fā)明 的原理和精神的情況下，可以在實施例中進行改變，本發(fā)明的范圍在權(quán)利要 求及其等同物中限定。
權(quán)利要求
1、一種測試電子部件的系統(tǒng)，該系統(tǒng)利用機器人自動測試電子部件，該系統(tǒng)包括距離測量單元，測量安裝在基底上用于測試電子部件的插槽和用于提供參考位置的參考塊之間的距離；位置測量單元，檢測參考塊的位置信息；控制器，在所檢測的參考塊的位置信息的基礎(chǔ)上，利用所測量的插槽和參考塊之間的距離計算插槽的位置信息，并利用所計算的插槽的位置信息控制機器人。
2、 如權(quán)利要求l所述的系統(tǒng)，其中，所述距離測量單元利用視覺系統(tǒng)測 量插槽和參考塊之間的距離。
3、 如權(quán)利要求l所述的系統(tǒng)，其中，所述位置測量單元利用激光傳感器 檢測參考塊的位置信息。
4、 如權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)，其中，所述位置測量單元利用從激光傳感 器照射到參考塊上的光束被反射的程度來檢測參考塊的位置信息。
5、 如權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)，其中，所述位置測量單元利用參考塊的上 表面的邊來檢測位置信息。
6、 如權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其中，當(dāng)從激光傳感器照射到參考塊的光 束未被反射時，所述位置測量單元確定參考塊的上表面的邊并檢測參考塊的 位置信息。
7、 一種控制用于測試電子部件的系統(tǒng)的方法，該系統(tǒng)利用機器人自動測 試電子部件，該方法包括以下步驟測量安裝在基底上用于測試電子部件的插槽和用于提供參考位置的參考 塊之間的距離；檢測參考塊的位置信息；在所檢測的參考塊的位置信息的基礎(chǔ)上，利用所測量的插槽和參考塊之 間的距離計算插槽的位置信息；利用所計算的插槽的位置信息控制機器人。
8、 如權(quán)利要求7所述的方法，其中，所述測量距離的步驟包括利用視覺 系統(tǒng)測量插槽和參考塊之間的距離。
9、 如權(quán)利要求7所述的方法，其中，所述檢測參考塊的位置信息的步驟 包括利用激光傳感器檢測參考塊的位置信息。
10、 如權(quán)利要求9所述的方法，其中，所述檢測參考塊的位置信息的步 驟包括利用從激光傳感器照射到參考塊的光束被反射的程度來檢測參考塊 的位置信息。
11、 如權(quán)利要求9所述的方法，其中，所述^r測參考塊的位置信息的步 驟包括利用參考塊的上表面的邊來檢測位置信息。
12、 如權(quán)利要求11所述的方法，其中，所述^f企測參考塊的位置信息的步 驟包括當(dāng)從激光傳感器照射到參考塊的光束未被反射時，確定參考塊的上表 面的邊并檢測參考塊的位置信息。
13、 一種控制用于測試電子部件的系統(tǒng)的方法，該方法包括測量安裝在基底上用于測試電子部件的插槽和參考塊之間的距離； 檢測參考塊的位置信息，根據(jù)照射到參考塊上的光束是否被反射來檢測 所述位置信息；在所檢測的參考塊的位置信息的基礎(chǔ)上，利用所測量的插槽和參考塊之 間的距離計算插槽的位置信息。
14、 如權(quán)利要求13所述的方法，其中，當(dāng)確定照射到參考塊上的光束未 被反射時，檢測所述參考塊的邊。
15、 如權(quán)利要求13所述的方法，其中，所述系統(tǒng)包括用于檢測照射到參 考塊上的光束是否被反射的傳感器，當(dāng)確定照射到參考塊上的光束被反射時， 將傳感器從初始檢測位置移動到第二檢測位置。
全文摘要
本公開涉及一種測試電子部件的系統(tǒng)及其控制方法，該系統(tǒng)能夠根據(jù)插槽的位置變化自動檢測插槽的位置以有效地測試電子部件。利用機器人自動測試電子部件的用于測試電子部件的系統(tǒng)包括距離測量單元，測量安裝在基底上用于測試電子部件的插槽和用于提供參考位置的參考塊之間的距離；位置測量單元，檢測參考塊的位置信息；控制器，在所檢測的參考塊的位置信息的基礎(chǔ)上，利用所測量的插槽和參考塊之間的距離計算插槽的位置信息，并利用所計算的插槽的位置信息控制機器人。
文檔編號G11C29/56GK101276213SQ20081008793
公開日2008年10月1日 申請日期2008年3月25日 優(yōu)先權(quán)日2007年3月29日
發(fā)明者樸哲浚, 金宣吾, 龍衡重 申請人:三星電子株式會社