專利名稱：：格式化/測試通用序列總線裝置的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及的是一種電子數(shù)據(jù)快閃卡，特別涉及的是是一種用在于制造期間測試USB電子數(shù)據(jù)快閃卡的系統(tǒng)與方法。
背景技術(shù)：
：機(jī)密數(shù)據(jù)文件常儲(chǔ)存在軟磁盤驅(qū)動(dòng)器(fl叩pydisk)，或者是通過需要密碼或使用加密編碼以確保安全的網(wǎng)絡(luò)來傳送，且機(jī)密數(shù)據(jù)文件在傳送過程中會(huì)通過加入安全圖章(safetyseal)與水印(watermark)來發(fā)送。然，一旦密碼、加密編碼、安全圖章與印記遭破解，則機(jī)密數(shù)據(jù)文件與文件就暴露在危險(xiǎn)之中，而造成無權(quán)限者可使用此機(jī)密信息。因?yàn)殚W存技術(shù)變得還加先進(jìn)，所以對(duì)于行動(dòng)系統(tǒng)(mobilesystem)而言，閃存正逐漸取代傳統(tǒng)作為儲(chǔ)存媒介的磁盤驅(qū)動(dòng)器。閃存相對(duì)于軟磁盤驅(qū)動(dòng)器或磁性硬盤具有顯著的優(yōu)勢，例如具有高G沖震阻力與低功率消耗。由于閃存的體積小，故對(duì)于行動(dòng)系統(tǒng)也還有傳導(dǎo)性。于是，因其與可攜式(行動(dòng))系統(tǒng)的兼容性和低功率特色，閃存的趨勢已經(jīng)逐漸成長。USB電子數(shù)據(jù)快閃卡(flashcard)是可攜帶性與低功率的裝置，其利用通用序列總線(USB)技術(shù)，作為計(jì)算機(jī)主機(jī)和快閃卡的閃存裝置的接口，且USB電子數(shù)據(jù)快閃卡具有多種形式，例如筆式驅(qū)動(dòng)儲(chǔ)存裝置、MP3播放器、數(shù)字相機(jī)。在每一個(gè)例子中，USB電子數(shù)據(jù)快閃記憶卡一般包括一閃存裝置，一處理器與USB接口電路。由于USB電子數(shù)據(jù)快閃卡快速的流行，USB電子數(shù)據(jù)記憶卡(或USB快閃卡)的制造量持續(xù)成長。隨著增加制造量，制造業(yè)所面臨的問題是在裝運(yùn)到終端使用者的前，如何有效與可靠地測試USB快閃卡。為了低成本、兼容性與可靠度的因素，現(xiàn)有的測試方法是利用一個(gè)人計(jì)算機(jī)(PC)去測試USB快閃卡(即最終端使用者一般是使用USB快閃卡與PC相連，在購買后將能夠快速、可靠地使用USB快閃卡)。這種現(xiàn)有使用PC的測試方法所具有的問題是一般的PCwindowTM(或MACTM)操作系統(tǒng)一次只有支持一些USB裝置，且對(duì)于操作系統(tǒng)來偵測與測試USB快閃卡，需要大量的時(shí)間用手插設(shè)每一USB快閃卡，然后用手拔除每一USB快閃卡。因此，現(xiàn)有的測試方法無法跟上制造產(chǎn)量的增加。有鑒于此，是有需要一種大量測試方法，以滿足對(duì)于USB電子數(shù)據(jù)快閃卡需求增加的需要。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的主要是在提供一種電子數(shù)據(jù)快閃卡，其包括一閃存裝置，一可選配的指紋傳感器，一輸入/輸出接口電路，與一處理器。電子數(shù)據(jù)快閃卡適合受一主機(jī)計(jì)算機(jī)所使用，例如個(gè)人計(jì)算機(jī)、筆記型計(jì)算機(jī)或其它電子主機(jī)裝置。由于電子數(shù)據(jù)快閃卡較容易攜帶且耐用，個(gè)人數(shù)據(jù)能以加密的方式儲(chǔ)存在閃存裝置內(nèi)，故就可如利用與卡本體結(jié)合的指紋傳感器，讓只有指紋吻合者才能使用記憶卡，確保非權(quán)限者無法使用記憶卡。本發(fā)明也對(duì)基于通用序列總線(USB-based)的電子數(shù)據(jù)快閃卡(USB裝置)，提供一種大量測試/格式化過程，以滿足電子數(shù)據(jù)快閃卡(USB裝置)日益增加的需求。本發(fā)明提供USB裝置的大量測試/格式化的方法與系統(tǒng)，利用一測試主機(jī)同時(shí)耦接至多頭的USB裝置(例如一具有多插槽的卡片閱讀機(jī)或一探針卡具)，從每一USB裝置讀取一控制器端點(diǎn)值，且利用一已知良好值確認(rèn)此控制器端點(diǎn)值，然后，對(duì)每個(gè)USB裝置進(jìn)行格式化，以"管線"方式對(duì)每個(gè)USB裝置寫入預(yù)定的數(shù)據(jù)。USB裝置之后被讀取出來以進(jìn)行測試，測試這些預(yù)定數(shù)據(jù)。在一實(shí)施例中，測試主機(jī)利用特定的USB驅(qū)動(dòng)器在偵測到多數(shù)USB裝置時(shí)，會(huì)阻止標(biāo)準(zhǔn)USB注冊(cè)程序。本發(fā)明在測試/格式化前，忽略現(xiàn)有的USB注冊(cè)程序與確認(rèn)控制器端點(diǎn)值，通過刪除耗時(shí)且不必要的注冊(cè)過程以助在有效且大量測試/格式化USB裝置。此外，本發(fā)明以，，管線"方式將數(shù)據(jù)寫入U(xiǎn)SB裝置中，是助在大量測試/格式化USB裝置，大大地減少生產(chǎn)時(shí)間。根據(jù)本發(fā)明的一方面，修改每個(gè)USB裝置，將所選定的句柄與啟動(dòng)碼數(shù)據(jù)、裝置信息與組態(tài)信息儲(chǔ)存在閃存裝置上，以減小控制器ROM的尺寸。因?yàn)楝F(xiàn)有的USB注冊(cè)過程需要使用很多這種句柄、啟動(dòng)碼、裝置信息、組態(tài)信息(因?yàn)楝F(xiàn)有的USB注冊(cè)過程假定這種碼與信息是從控制器ROM中取得)，所以忽略現(xiàn)有USB注冊(cè)過程是提供避免系統(tǒng)失敗或長久延遲的功能，因當(dāng)未格式化的USB裝置(具空白閃存裝置)耦接測試主機(jī)系統(tǒng)，主機(jī)系統(tǒng)會(huì)等待這句柄、啟動(dòng)碼與信息。根據(jù)本發(fā)明的另一方面，測試/格式化過程的目的是包括檢查所有的芯片是否正確的被焊接、目前消耗程度是否符合規(guī)格、每個(gè)組件裝置(例如控制器與閃存裝置)與測試主機(jī)實(shí)施的測試/格式化是否兼容。格式化過程提供下載正確的控制器操作所需的所有進(jìn)入點(diǎn)數(shù)值、抹除閃存、建立剩余的不良區(qū)塊清單(bad—block—list)檔案以便于日后不良區(qū)塊管理，并提供助在OS辨識(shí)的低階格式化。根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，在測試/格式化過程的初始階段所讀取的控制器端點(diǎn)值是包括一組態(tài)描述符值、一大量儲(chǔ)存類別碼值與一產(chǎn)品辨識(shí)值。當(dāng)從每個(gè)USB裝置所讀取的控制器端點(diǎn)值是與儲(chǔ)存在測試主機(jī)的良好數(shù)值匹配時(shí)，則顯示在測試主機(jī)監(jiān)視器上的旗標(biāo)會(huì)表示成功狀態(tài)(例如旗標(biāo)從紅色變成綠色)。根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，測試/格式化過程包括將掃瞄不良區(qū)塊數(shù)據(jù)的一個(gè)或多個(gè)儲(chǔ)存在閃存裝置內(nèi)，確認(rèn)每個(gè)閃存裝置所儲(chǔ)備的儲(chǔ)存容量和一預(yù)定大小是否相等(例如整個(gè)內(nèi)存容量的特定比例)，至少兩份不良區(qū)塊數(shù)據(jù)副本寫入至閃存裝置中，句柄與/或啟動(dòng)碼寫入至閃存裝置中，所提供的客戶數(shù)據(jù)寫入至閃存裝置中，以及還新序號(hào)、日期碼、產(chǎn)品版本碼值寫入至閃存裝置中。圖1(A)為根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，顯示電子數(shù)據(jù)快閃卡與主機(jī)系統(tǒng)的方塊圖1(B)為根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，顯示電子數(shù)據(jù)快閃卡與主機(jī)系統(tǒng)的方塊圖1(C)為本發(fā)明的另一實(shí)施例，顯示電子數(shù)據(jù)快閃卡與主機(jī)系統(tǒng)的方塊圖1(D)為本發(fā)明的另一實(shí)施例，顯示電子數(shù)據(jù)快閃卡與主機(jī)系統(tǒng)的方塊圖2為根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，顯示USB裝置的高容量制造的方法流程圖；圖3(A)為根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，顯示表面貼裝技術(shù)面板示意圖；圖3(B)為顯示從第3(A)圖面板分離的印刷電路板裝置的平面示意圖；圖3(C)為本發(fā)明封裝后，顯示圖3(B)印刷電路板裝置的平面示意圖；圖4(A)與圖4(B)為根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例，顯示所使用的測試主機(jī)的筒化透視圖5(A)與圖5(B)為分別顯示現(xiàn)有和創(chuàng)新的測試與格式化USB裝置的簡化流程圖6為根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，顯示測試與格式化USB裝置的簡化方法流程圖6(A)、圖6(B)、圖6(C)、圖6(D)與圖6(E)圖為流程圖，進(jìn)一步顯示圖6測試與格式化方法；圖7為根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，顯示所產(chǎn)生的USB裝置示意圖8為根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，顯示用在USB裝置的閃存裝置的不同地址結(jié)構(gòu)與分割簡化方塊圖9為根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，顯示儲(chǔ)存在USB裝置的閃存裝置的不良區(qū)塊清單結(jié)構(gòu)；圖10(A)為根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，顯示用在進(jìn)行測試或格式化過程的制造軟件演算流程圖10(B)為根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，顯示用在執(zhí)行USB裝置計(jì)算的制造軟件演算流程圖11為根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，顯示測試主機(jī)系統(tǒng)對(duì)USB裝置的整個(gè)操作流程圖12(A)與圖12(B)為根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，分別顯示雙重路線與單一路線的缺陷快閃芯片操作的簡化流程圖13(A)與圖13(B)是方塊圖，分別敘述關(guān)于圖12(A)與圖12(B)雙重與單一路線的缺陷快閃芯片操作的閃存組態(tài)；圖14為根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，顯示儲(chǔ)存在每個(gè)USB裝置不同內(nèi)存區(qū)域的信息的方塊示意圖15為才艮據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，顯示MLC記憶單元的多層單元電壓感應(yīng)；圖16為根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，顯示可程序化串聯(lián)的參考產(chǎn)生器與比較器；圖17為根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，在寫入或抹除操作，MLC降級(jí)流程圖；圖18為根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，利用ECC字節(jié)與調(diào)整參考電壓來讀取錯(cuò)誤修正的流程圖19(A)-圖19(C)為根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，顯示擴(kuò)充USB裝置結(jié)構(gòu)的方塊圖；圖20(A)-圖20(C)為根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，顯示擴(kuò)充USB裝置結(jié)構(gòu)的方塊圖21(A)-圖21(G)為根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，顯示擴(kuò)充USB連接器與插槽的結(jié)構(gòu)示意圖22(A)-圖22(I)為根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，顯示擴(kuò)充USB連接器與插槽的結(jié)構(gòu)示意圖。附圖標(biāo)記說明1-卡本體；2-處理單元；3-閃存裝置；4-指紋傳感器；5-輸入/輸出接口電路；6-顯示單元；7-電源；8-功能性按鍵組；9-計(jì)算機(jī)；10-電子數(shù)據(jù)快閃卡；13-接口總線；2A-處理單元；3A-閃存裝置；4A-指紋傳感器；5A-輸入/輸出接口電路；2B-處理單元；3B-閃存裝置；5B-輸入/輸出接口電路；6B-顯示單元；8B-功能性按鍵組；9B-計(jì)算機(jī)；22-電源調(diào)節(jié)器；23-重設(shè)電路；10-BUSB裝置；201-監(jiān)視器；202-測試主機(jī)；203-USB插槽；204-復(fù)合卡片閱讀機(jī)；205-探針卡具；206——探針；207-SMT探針測試主機(jī)；208-集合電纜；211-面板；212-PCB裝置；214-快閃卡控制器；215-閃存裝置；215-1-閃存芯片組；215-1A-閃存芯片組；215-lB-閃存芯片組；215-2-閃存芯片組；217-USB接腳；413-不良區(qū)塊數(shù)據(jù)；415A-控制選擇位；415B-控制韌體；420-進(jìn)入點(diǎn)緩存器；421-非揮發(fā)性緩存器；450-微處理器；451-控制端點(diǎn)緩存器；452-地址譯碼器；453-靜態(tài)ROM;453A-RAM緩沖器；453B-快閃存取時(shí)間緩存器；454-只讀存儲(chǔ)器；454A-跳躍式啟動(dòng)韌體；454B-描述器；456-僅大量傳輸指令譯碼器；470-輸入/輸出接口電路；470A-實(shí)體層USB收發(fā)器；470B-連續(xù)接口引擎；470C-數(shù)據(jù)緩沖器；94-良好區(qū)塊；95-原始不良區(qū)塊；96-產(chǎn)生不良區(qū)塊；97-預(yù)備區(qū)域；1030-1040-比較器;1041-1051-參考-電流產(chǎn)生器;1052-控制引擎;1054-快閃記憶單元；1056-位線；1060-解譯邏輯器；1101-1111-電阻器；1161-1171-i史大器；1181-1191-接地電阻器；1120-電壓參考產(chǎn)生器；1122-校正緩存器；1300-USB擴(kuò)充插頭；1303-外殼；1304-USB連接器基板；1305-金屬指；1306-彈簧；1307-接觸接腳；1311-PCB基板；1312-上方表面；1313-底部表面；1314-內(nèi)存控制器；1315-內(nèi)存裝置；1316-板上芯片封裝；1317-接觸指；1400-USB擴(kuò)充插頭；1403-外殼；1404-USB連接器基板；1405-接觸指；1406-彈簧；1407-接觸接腳；2132-接觸接腳；2134-接腳基板；2138-金屬蓋體；2170-接腳基板；2172-接觸接腳；2173-金屬蓋體；2176-塑料殼體；2178-金屬蓋體；2180-接觸接腳；2184-接腳基板；2185-基板延伸部；2186-接觸接腳；2188-接觸接腳；2190-接腳基板；2193-金屬蓋體；2196-塑料殼體；2198-金屬蓋體；2200、2201、2202-接觸接腳；2204-接腳基板；2206、2207-接觸接腳。具體實(shí)施例方式本發(fā)明是關(guān)于對(duì)制造電子數(shù)據(jù)快閃卡的方法上的改進(jìn)，雖然本發(fā)明以下是以USB電子數(shù)據(jù)快閃卡為具體參考，但本發(fā)明的創(chuàng)新處是可使用在廣泛的快閃卡類型的制造，包括PCIExpress，SecureDigital(SD)，MemoryStick(MS),CompactFlash(CF)、IDE與SATA快閃記憶卡，4旦并不局限于上述的這些快閃卡類型。參照?qǐng)D1(A)，根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，一電子數(shù)據(jù)快閃卡IO是通過一外部(主機(jī))計(jì)算機(jī)9通過任一接口總線(interfacebus)13或一-^片閱讀機(jī)(圖中未示)或其它接口機(jī)制(圖中未示)而使用，且電子數(shù)據(jù)快閃卡10包括一卡本體l，一處理單元2，一個(gè)或多個(gè)的閃存裝置3，可選配的指紋傳感器(保全裝置)4,一輸入/輸出接口電路5，一可選配的顯示單元6，一可選配的電源7(例如電池)，與一可選配的功能性按鍵組8。閃存裝置3是裝設(shè)在卡本體1上，以熟知方式將數(shù)據(jù)文件、參考密碼、指紋參考數(shù)據(jù)存在其內(nèi)，其中指紋參考數(shù)據(jù)是通過掃描有權(quán)使用數(shù)據(jù)文件者的指紋而取得。數(shù)據(jù)文件可以是圖片文件或文字文件。以下會(huì)進(jìn)一步提出，閃存裝置3也包括啟動(dòng)碼數(shù)據(jù)與句柄數(shù)據(jù)。指紋傳感器4是位于卡本體1上，且用在掃瞄電子數(shù)據(jù)快閃卡的使用者的指紋以產(chǎn)生指紋掃瞄數(shù)據(jù)。用在本發(fā)明的指紋傳感器4的一例子是公開在美國專利號(hào)6,547,130的IntegratedcircuitcardwithFingerprintVerificationCapability中，整個(gè)內(nèi)容可在此納入做為參考。在上述專利案中所敘述的指紋傳感器乃包括一掃瞄單元數(shù)組來定義一指紋掃瞄區(qū)域。指紋掃瞄數(shù)據(jù)包括復(fù)數(shù)掃瞄線數(shù)據(jù)(scanlinedata),其是通過掃瞄掃瞄單元的數(shù)組對(duì)應(yīng)的掃瞄線而取得。且，掃瞄單元數(shù)組的掃瞄線是以此數(shù)組的橫向方向與縱向方向掃瞄。每一個(gè)掃瞄單元在偵測卡本體的握持者的指紋突起(ridge)部分時(shí)會(huì)產(chǎn)生一第一邏輯信號(hào)，在偵測卡本體的握持者的指紋凹下(valley)部分時(shí)會(huì)產(chǎn)生一第二邏輯信號(hào)。輸入/輸出接口電路5是位于卡本體1上，通過一接口總線5B或一卡片閱讀積W吏用一適當(dāng)?shù)牟遄?socket)，以受到致動(dòng)而與主^L計(jì)算才幾建立通訊關(guān)系。在一實(shí)施例中，輸入/輸出接口電路5包括電路與控制邏輯，其中控制邏輯是與通用序列總線(USB)、PCMCA、RS232接口結(jié)構(gòu)的其中之一有關(guān)，以連接至一與主機(jī)計(jì)算機(jī)9連接或位于主機(jī)計(jì)算機(jī)9上的插座。在另一實(shí)施例中，輸入/輸出接口電路5可包括一SD接口電路、一MMC接口電路、一CF接口電路、一MS接口電路、一PCI-Express接口電路、一整合驅(qū)動(dòng)電子(IDE)接口電路與一SATA接口電路的其中之一，通過接口總線13或卡片閱讀機(jī)與計(jì)算機(jī)主機(jī)9接觸。處理單元2是位于卡本體1上，且利用位于卡本體1上的相關(guān)導(dǎo)電線路或?qū)Ь€連接內(nèi)存裝置3、指紋傳感器4與輸入/輸出接口電路5。在一實(shí)施例中，處理單元2可以是如Intel公司所出產(chǎn)的8051、8052、80286微處理器的其中之一。在其它實(shí)施例中，處理單元2包括一RISC、ARM、MIPS或其它信號(hào)處理器。根據(jù)本發(fā)明的一觀點(diǎn)，處理單元2受至少部分儲(chǔ)存在閃存裝置3的程序所控制，如此處理單元是選擇性地可操作在(l)一程序化模式(programmingmode)，其中處理單元2致動(dòng)輸入/輸出接口電路5接收來自主機(jī)計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)文件，啟動(dòng)碼數(shù)據(jù)與句柄數(shù)據(jù)、可選擇的指紋參考數(shù)據(jù)，與儲(chǔ)存儲(chǔ)存數(shù)據(jù)在閃存裝置內(nèi)(可選擇以壓縮格式增加內(nèi)存裝置的儲(chǔ)存空間)；(2)—重設(shè)模式(resetmode),其中啟動(dòng)碼數(shù)據(jù)與句柄數(shù)據(jù)是從閃存裝置3讀取出來，并被用在設(shè)定與控制處理單元的操作；(3)—數(shù)據(jù)擷取模式(dataretrievingmode)，其中處理單元2從指紋傳感器4讀取指紋掃瞄數(shù)據(jù)，并將指紋掃瞄數(shù)據(jù)與閃存裝置3內(nèi)的至少一部分的指紋參考數(shù)據(jù)做比較，以確認(rèn)電子數(shù)據(jù)快閃卡的使用者是否有權(quán)使用儲(chǔ)存在閃存裝置3內(nèi)的數(shù)據(jù)文件，且一旦確認(rèn)使用者有權(quán)使用存在閃存裝置3內(nèi)的數(shù)據(jù)文件，則致動(dòng)輸入/輸出接口電路5傳送數(shù)據(jù)文件至主機(jī)計(jì)算機(jī)9;(4)一碼還新模式(codeupdatingmode)，還新在閃存裝置內(nèi)的啟動(dòng)碼數(shù)據(jù)與句柄數(shù)據(jù)；(5)—數(shù)據(jù)重設(shè)模式(dataresetmode),從閃存裝置3抹除數(shù)據(jù)文件與指紋參考數(shù)據(jù)。在操作方面，主機(jī)計(jì)算機(jī)9通過卡片閱讀機(jī)或接口總線13傳送寫入要求與讀取要求至電子數(shù)據(jù)快閃卡10,輸入/輸出接口電路傳送至處理單元2，輪流使用閃存控制器對(duì)一個(gè)或多個(gè)閃存裝置3讀取或?qū)懭?。在一?shí)施例中，處理單元2一偵測到從數(shù)據(jù)文件與指鄉(xiāng)丈參考數(shù)據(jù)儲(chǔ)存在內(nèi)存裝置3,—預(yù)設(shè)時(shí)間周期已經(jīng)過去后，就會(huì)自動(dòng)初始化數(shù)據(jù)重置模式操作。8051、8052與80286是由Intel公司所發(fā)展出來的微處理器，是使用復(fù)雜的指令組。8051與8052具有8位的數(shù)據(jù)總線，80286具有16位的數(shù)據(jù)總線。RISC、ARM、MIPS是使用減少指令組架構(gòu)的微處理器。8051與8052廣泛用在低成本的應(yīng)用。80286可以用在高速操作的應(yīng)用。RISC、ARM、MIPS是成本較高的微處理器，比較適合還復(fù)雜的應(yīng)用，例如先進(jìn)的錯(cuò)誤修正碼(ECC)與數(shù)據(jù)譯碼。可選配的電源7是位于卡本體1上，且連接至處理單元2及其它位于卡本體上的相關(guān)單元，以供應(yīng)其所需的電力?？蛇x配的功能性按鍵組8是位于卡本體1上并連接至處理單元2，且是可操作以便處理單元2在程序化、重設(shè)、資料擷取、碼還新或數(shù)據(jù)重設(shè)模式中選擇其中之一開始操作。功能性按鍵組8是可操作來對(duì)處理單元2提供一輸入密碼。處理單元2將輸入密碼與存在閃存裝置3的參考密碼比較，一旦確認(rèn)輸入密碼與參考密碼一致，電子數(shù)據(jù)快閃卡IO開始授權(quán)操作。可選配的顯示單元6是位于卡本體1上，且連接至處理單元2并受到處理單元2的控制，用以顯示與主機(jī)計(jì)算機(jī)9交換的數(shù)據(jù)文件與顯示電子數(shù)據(jù)快閃卡10的操作狀態(tài)。以下是公開本發(fā)明的一些優(yōu)點(diǎn)首先，電子數(shù)據(jù)記憶卡具有小體積卻具很大的儲(chǔ)存容量，如此在數(shù)據(jù)傳送過程中造成便利性；第二，因?yàn)槊恳粋€(gè)人所具有的指紋是獨(dú)一無二的，所以電子數(shù)據(jù)快閃卡只允許有權(quán)限者使用儲(chǔ)存在其內(nèi)的數(shù)據(jù)文件，如此加強(qiáng)安全性。本發(fā)明的其它的特征與優(yōu)點(diǎn)會(huì)在以下進(jìn)一步提出。圖l(B)為根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，顯示電子數(shù)據(jù)快閃卡IOA的方塊圖，是提供一般的傳感器單元4A代替上述的指紋傳感器。示范的傳感器單元包括能夠偵測有權(quán)限使用者的生理特征的視網(wǎng)膜掃描儀或聲音辨識(shí)裝置，且操作方式與上述的指紋傳感器4類似。圖l(C)為根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，顯示電子數(shù)據(jù)快閃卡10B的方塊圖。電子數(shù)據(jù)快閃卡10B除去指紋傳感器與相關(guān)使用者辨識(shí)過程。為了使成本降低，電子數(shù)據(jù)快閃卡10B也包括一高整合的處理單元2B，其含有一輸入/輸出接口電路5B與一閃存控制器21。輸入/輸出接口電路5B包括一收發(fā)區(qū)塊(transceiverblock)與連續(xù)接口引擎區(qū)塊(serialinterfaceengineblock)、數(shù)據(jù)緩沖器、緩存器、中斷邏輯。輸入/輸出接口電路5B耦接至內(nèi)部總線以允許輸入/輸出接口電路5B的不同組件和閃存控制器21的不同組件間與閃存控制器的組件溝通。閃存控制器21包括一微處理單元、一只讀存儲(chǔ)器(ROM)、一靜態(tài)隨機(jī)存取內(nèi)存(RAM)、閃存控制器邏輯、錯(cuò)誤修正碼邏輯、通用型的輸入輸出(GPIO)邏輯。在本實(shí)施例中，通用型的輸入輸出(GPIO)邏輯耦接復(fù)數(shù)個(gè)二極管來作為狀態(tài)指示，例如指示電力良好或讀取/寫入閃爍活動(dòng)等，且GPIO邏輯連接其它1/0裝置。閃存控制器21則耦接一個(gè)或多個(gè)閃存裝置3B。在本實(shí)施例中，主機(jī)計(jì)算機(jī)9B包括一功能性按鍵組8B,當(dāng)電子數(shù)據(jù)快閃卡10B在操作，通過卡片閱讀機(jī)或接口總線連接至處理單元2B。功能性按鍵組8B可用在從程序化、重設(shè)、數(shù)據(jù)擷取、程序代碼還新或數(shù)據(jù)重設(shè)模式其中之一，選擇性設(shè)定電子數(shù)據(jù)快閃卡IOB。功能性按鍵組8B也可用在操作提供一輸入密碼給主機(jī)計(jì)算機(jī)9B。處理單元2B將輸入密碼與存在閃存裝置3B的參考密碼比較，一旦確認(rèn)輸入密碼與參考密碼一致，電子數(shù)據(jù)快閃卡10B開始授權(quán)操作。同時(shí)在本實(shí)施例中，主機(jī)計(jì)算機(jī)9B包括一顯示單元6B,當(dāng)電子數(shù)據(jù)快閃卡10B在操作，通過卡片閱讀機(jī)或接口總線連接至處理單元2B。顯示單元6B用以顯示與主機(jī)計(jì)算機(jī)8交換的數(shù)據(jù)文件與顯示電子數(shù)據(jù)快閃卡10B的操作狀態(tài)。根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，處理單元2包括一閃存類型算法(flashmemorytypealgorithm),用在偵測閃存類型是否受到閃存控制器所支配。由于效能、成本與容量的因素，閃存的進(jìn)步已產(chǎn)生多種閃存類型。又因潛在性的短缺與成本因素，需要閃存來源彈性化與需要特有的控制使用不同快閃記憶類性，所以利用具有智能型算法的處理單元來偵測與使用不同的閃存類型是重要的。一般的閃存包含辨識(shí)(ID)碼以辨識(shí)閃存的類型、制造者、閃存的特征/參數(shù)，例如頁(page)容量、區(qū)塊大小、組織、容量等特征/參數(shù)。智能型算法控制處理單元2在重設(shè)(reset)狀態(tài)讀取閃存3的ID,與將此ID與受閃存控制器所支配的閃存類型的表(table)比較。假如閃存3沒有受到閃存控制器支配，閃存控制器將不能使用閃存3，且不兼容性會(huì)受到閃存控制器輸出端的LED所指示。假如閃存有受到支配，在閃存控制器開始使用閃存的前，閃存控制器以下述方式進(jìn)行。例如，正在申請(qǐng)中的美國專利序號(hào)11/466,759的rflashmemorycontrollerforelectronicdataflashcardJ中公開具有此種智能型算法的閃存控制器，在此將其納入?yún)⒖肌ｋ娮訑?shù)據(jù)快閃卡是一種閃存系統(tǒng)，使用閃存來數(shù)據(jù)儲(chǔ)存，一般閃存的系統(tǒng)架構(gòu)是包括具有處理器、ROM與RAM的閃存控制器，其中啟動(dòng)碼與句柄是位于ROM中作為ROM碼。一旦功率上升，處理器抓取啟動(dòng)碼來執(zhí)行，啟動(dòng)碼初始化系統(tǒng)組成與下載句柄至RAM中。一旦句柄下載至RAM中，句柄即掌握系統(tǒng)的控制。句柄包括驅(qū)動(dòng)器以執(zhí)行如控制與分配內(nèi)存、分配處理指令的優(yōu)先級(jí)、控制輸入與輸出端口等基本任務(wù)。句柄也包括快閃類型偵測算法與閃存參數(shù)數(shù)據(jù)。ROM是一種只讀存儲(chǔ)器，當(dāng)閃存控制器設(shè)計(jì)完成且進(jìn)入生產(chǎn)后，在ROM內(nèi)的軟件碼是固定不動(dòng)，且不能受還改以支持往后才供應(yīng)至市場的新快閃類型。在這種狀況下，就必須發(fā)展新的閃存控制器以不時(shí)支持新的閃存，因此是耗時(shí)又耗錢。圖1(D)是還詳細(xì)地顯示圖1(B)的處理單元2A。電子數(shù)據(jù)快閃卡10A包括一電源調(diào)節(jié)器，以提供一個(gè)或多個(gè)電源供應(yīng)器。電源調(diào)節(jié)器依據(jù)電力需求，提供不同的電壓給處理單元2A與電子數(shù)據(jù)快閃卡IOA的其它相關(guān)單元。為了保持電力穩(wěn)定，可能需要電容器(圖中未示)。電子數(shù)據(jù)快閃卡IOA包括一重設(shè)電路23以提供一重設(shè)信號(hào)(resetsignal)至處理單元2A，一旦功率上升，重設(shè)電路23確立重設(shè)信號(hào)至所有的處理單元2A。在內(nèi)部電壓達(dá)到一穩(wěn)定狀態(tài)后，重設(shè)信號(hào)不存在，且提供緩存器與電容器(圖中未示)以適當(dāng)重設(shè)時(shí)間調(diào)整。電子數(shù)據(jù)快閃卡IOA也包括一石英晶體振蕩器(圖中未示)，以提供基頻給位于處理單元2A內(nèi)的PLL。根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，輸入/輸出接口電路5A與重設(shè)電路23、電源調(diào)節(jié)器22是整合或部分整合在處理單元2A中。高整合可減少整個(gè)所需空間，與降低復(fù)雜度與制造成本。對(duì)于可移除裝置而言，如在此所敘述的電子數(shù)據(jù)快閃卡，緊致性與降低成本是關(guān)鍵因素。當(dāng)今的IC封裝可以將不同的IC組件用不同的技術(shù)與物質(zhì)整合至單一IC封裝中。例如，輸入/輸出接口電路是模擬/數(shù)字混合電路，其也能夠整合至具有處理單元的多芯片封裝(Multi-Chippackage,MCP)之中?；旌鲜叫盘?hào)IC技術(shù)的性質(zhì)是容許模擬與數(shù)字電路的混合。因此，高整合可以并入至相同的芯片/晶粒中，使處理單元含有輸入/輸出接口電路、閃存控制器、重設(shè)電路、電源調(diào)節(jié)器。根據(jù)本發(fā)明的另一方面，電子數(shù)據(jù)快閃卡包括啟動(dòng)碼與句柄存在閃存中，而并非存在閃存控制器的ROM中。因此啟動(dòng)碼與句柄可以在此領(lǐng)域中受到還新，而無須改變閃存控制器。例如，正在申請(qǐng)中且申請(qǐng)日是2006年12月13日的美國專利申i青序號(hào)11/611,811的flashmemorycontrollerforelectronicdataflashcard中，乂〉開啟動(dòng)碼與句柄儲(chǔ)存在閃存中，在此將其納入?yún)⒖肌D2是根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，顯示制造USB裝置的主要方法流程圖，且從圖3A至圖3B是簡化過的平面示意圖，顯示在制造過程不同階段期間的USB裝置。參照?qǐng)D2的方塊50，制造方法一開始是利用如表面貼裝技術(shù)(SMT)，將USB裝置的所有組件裝設(shè)在面板上(例如閃存、控制器、與所有的被動(dòng)組件，如電阻與電容)，其中面板包括多個(gè)印刷電路板PCB。圖3(A)顯示一示范的SMT面板211,其具有多個(gè)印刷電路板裝置211,沿著個(gè)別邊緣連接在一起，可助在不同SMT組件有效率的組裝，這些SMT組件如包括控制器芯片、快閃芯片、及其它組件。PCB裝置212包括線路以助在于不同SMT組件間與在控制器芯片212與四個(gè)USB接腳217(即VDD、D+、D-與GND)間的電性連接。請(qǐng)?jiān)賲⒄請(qǐng)D2,接著對(duì)個(gè)別PCB裝置進(jìn)行測試/格式化，根據(jù)本發(fā)明所使用的過程，其進(jìn)一步公開在底下。在一實(shí)施例中，面板211(參見圖3A)是根據(jù)單一化(singulation)(方塊52A),如此各個(gè)PCB裝置可以受切割或互相分離，然后單一PCB裝置212(參見圖3A)就依據(jù)測試/格式化程序(方塊52B)。在另一實(shí)施例中，當(dāng)PCB裝置212仍連接面板211接受測試(方塊53A)，然后受格式化/測試的PCB裝置受單一化(方塊53B)。其中，發(fā)明人目前較喜歡測試/格式化的PCB裝置212是允許多個(gè)PCB裝置212維持在一固定關(guān)系，以通過單一"^具(fixture)來測試，如此以避免額外的處理時(shí)間來處理各個(gè)PCB裝置212(例如將PCB裝置212—片一片的插入在單一測試固定裝置中)。請(qǐng)?jiān)賲⒄請(qǐng)D2，每一個(gè)已經(jīng)成功完成測試/格式化的PCB裝置212會(huì)接收產(chǎn)品封裝(方塊54)，通過模制或裝設(shè)一本體在每一PCB裝置212的組件上，接著完成USB裝置10B的最后測試(方塊55)，就可準(zhǔn)備運(yùn)送。且，請(qǐng)注意在方塊55所進(jìn)行的最后測試是不同在于方塊52B與53A所進(jìn)行的測試/格式化，因?yàn)樗械某跏純?nèi)容是下載至每一被封裝的裝置10B中，方塊55所進(jìn)行的最后測試是關(guān)于一簡單的插入(plug-in)測試檢驗(yàn)，例如檢驗(yàn)裝置能力以確保終端使用者滿意。第4(A)圖與第4(B)圖是各別顯示根據(jù)本發(fā)明測試/格式化USB裝置的示范系統(tǒng)示意圖。第4(A)圖是根據(jù)圖2的方塊52B，顯示一用在測試單一PCB裝置的第一系統(tǒng)(可參照如底下的受測試裝置(Devicesundertest,DUT))。第一系統(tǒng)包括一PC測試主機(jī)(例如通用型個(gè)人計(jì)算機(jī))202,—監(jiān)視器201,—USB復(fù)合卡片閱讀機(jī)204及其它必要周邊I/0設(shè)備，例如鍵盤與鼠標(biāo)(圖中未示)。在一實(shí)施例中，所有的測試參數(shù)都顯示在監(jiān)視器201上以監(jiān)控測試狀態(tài)，其中有色旗標(biāo)(flag)是用在分辨測試通過或失敗，在測試過程中所使用的一些參數(shù)可受操作者輸入，如監(jiān)控器201上所示的參數(shù)。USB卡片閱讀機(jī)204包括多個(gè)(16個(gè)以上)USB插槽，每一插槽根據(jù)監(jiān)視器201上的旗標(biāo)而具有一指定編號(hào)(例如#1，#2等)。卡片閱讀才凡204通過一般的USB傳輸線連接至一測試主機(jī)202的標(biāo)準(zhǔn)USB插槽203而與測試主機(jī)202連接。當(dāng)每一受測試裝置(DUT)插入多重卡片閱讀機(jī)204的一對(duì)應(yīng)埠(port)中，多重卡片閱讀機(jī)204通過USB插槽203連接至測試主機(jī)202,當(dāng)偵測到每一插入的DUT,會(huì)在監(jiān)視器201上產(chǎn)生一相對(duì)應(yīng)的旗標(biāo)以反應(yīng)此偵測結(jié)果(例如，一旦偵測到，相對(duì)應(yīng)的旗標(biāo)會(huì)從紅色轉(zhuǎn)變呈綠色)。圖4B顯示一第二系統(tǒng)，利用探針卡具(probingfixture)測試事先裝設(shè)好且仍連接面板211的PCB裝置212。第二系統(tǒng)包括一SMT探針測試主機(jī)(例如通用型計(jì)算機(jī))207，監(jiān)視器201,—探針卡具205,及其它必要周邊IO裝置。探針卡具205包括復(fù)數(shù)被聚集起來的測試探針206，以當(dāng)卡具205降低至面板211上時(shí)，用在接觸每一PCB裝置212的USB接腳217。探針206提供四個(gè)信號(hào)路徑，用在格式化/測試面板211上的每一裝置。另，一集合電纜208是用在將卡具205連接至測試主機(jī)207。圖5A是一簡化的流程圖，顯示現(xiàn)有使用一種傳統(tǒng)USB測試系統(tǒng)利用一傳統(tǒng)主機(jī)操作系統(tǒng)(OS)的USB驅(qū)動(dòng)器(方塊301)來測試、格式化一現(xiàn)有USB裝置。如方塊302所示，一旦連接一現(xiàn)有USB裝置至一主機(jī)系統(tǒng)，主機(jī)OS暫存現(xiàn)有USB的受測試裝置(DUT)所使用的事先建立USB協(xié)議。這事先建立的USB協(xié)議是基于假設(shè)特定裝置數(shù)據(jù)(例如在測試前，裝置辨識(shí)與序號(hào)可為相同的)是儲(chǔ)存提供在DUT上的控制器的只讀存儲(chǔ)器裝置的一預(yù)定位置上。此外，事先建立的USB協(xié)議需要注冊(cè)程序一次進(jìn)行一個(gè)DUT(即在開始對(duì)另一DUT進(jìn)行注冊(cè)程序的前，必須先對(duì)一個(gè)DUT完成一個(gè)注冊(cè)程序)。且，一旦失敗，全部的DUT將等到操作者重新安裝此程序后才開始。如方塊302所示，利用這些事先建立的USB協(xié)議所具有的問題是得花許多時(shí)間去注冊(cè)每一個(gè)DUT，并要將這些注冊(cè)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存在主機(jī)OS的暫存區(qū)(registrybank)中(且最后存在主機(jī)的硬盤中)，且不適合同時(shí)測試/格式化大量的DUT。利用這些事先建立的USB協(xié)議所具有的額外問題是與新的USB裝置并不兼容(啟動(dòng)碼、句柄與組件與裝置的辨識(shí)數(shù)據(jù)是儲(chǔ)存在閃存裝置中，并非是在ROM的預(yù)定位置上)。如方塊304與305所示，因?yàn)楦鶕?jù)本發(fā)明所形成的未測試/未格式化裝置，是不包含組件辨識(shí)序號(hào)與產(chǎn)品辨識(shí)號(hào)碼，現(xiàn)有的事先設(shè)定USB協(xié)議可能會(huì)造成主;f幾測試系統(tǒng)中斷(hangup)(方塊306)，或得花一段時(shí)間來完成測試(方塊307)，且/或只是無法完成格式化/測試過程(方塊308)。圖5B是一簡化流程圖，顯示根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的測試與格式化新的USB裝置。如方塊501所示，新的軟件被下載至測試主機(jī)，以阻擋傳統(tǒng)操作系統(tǒng)(OS)的USB驅(qū)動(dòng)器而進(jìn)行一專用USB測試。阻擋現(xiàn)有OS的USB驅(qū)動(dòng)器的目的為通過刪除注冊(cè)程序所花費(fèi)的時(shí)間，使測試時(shí)間縮短。此專用USB測試則通過部分注冊(cè)程序是從USB裝置要求數(shù)據(jù)(并非寫入至閃存裝置內(nèi))，而通過USB裝置的控制器直接寫入開始程序代碼、句柄與裝置辨識(shí)數(shù)據(jù)的至少其中之一至快閃裝置中來開始測試/格式化過程。尤其，如方塊502所示，為避免一次需超過16個(gè)USB裝置的一般冗長的注冊(cè)程序，在測試主機(jī)系統(tǒng)所執(zhí)行的測試/格式化軟件是被修改成讀取控制器的硬性編碼描述符(hard-codeddescriptor)值并將這些描述符值與所儲(chǔ)存的程序參數(shù)作比較，以確認(rèn)DUT準(zhǔn)備受格式化和提供DUT正確參數(shù)以用在正常操作后才開始。只有連續(xù)的檢驗(yàn)將持續(xù)軟件流程。接著，如方塊503所示，為了使USB裝置讓終端客戶使用者使用，主要啟動(dòng)區(qū)塊(masterbootblock,MBR)、檔案配置表(FAT)與初始系統(tǒng)檔案是寫入至快閃裝置內(nèi)。因?yàn)閭鹘y(tǒng)的USB裝置在初始系統(tǒng)操作是使用只讀存儲(chǔ)器(ROM)來正確地程序化，所以傳統(tǒng)的USB裝置將不會(huì)進(jìn)行格式化過程。這個(gè)程序化步驟對(duì)于制造軟件目的且助在后續(xù)使用是很重要的。此外，如方塊504所示，幾個(gè)寫入至快閃裝置的值是滿足USB的規(guī)格。裝置序號(hào)就是這種值，且寫入至每一裝置的裝置序號(hào)是隨測試操作者利用軟件輸入某個(gè)起始值而隨機(jī)或接續(xù)改變。其它變量，例如產(chǎn)品辨識(shí)號(hào)碼(ID)也需要受不同產(chǎn)品或體積容量而改變。再者，現(xiàn)有操作系統(tǒng)(OS)的USB注冊(cè)驅(qū)動(dòng)器(registrydriver)沒有進(jìn)行這些值與變量寫入程序，因此使得容量USB測試是不可行的。如方塊505、506與507所示，本發(fā)明對(duì)于現(xiàn)有的操作系統(tǒng)的USB注冊(cè)驅(qū)動(dòng)器并提供幾個(gè)好處，即因?yàn)楸景l(fā)明利用特別指定的制造軟件，所以格式化/測試大量USB裝置的時(shí)間減少。此外，可以根據(jù)熟知技藝，將分割(容量，磁盤驅(qū)動(dòng)器代號(hào)(driverletter))制訂成符合每一不同需求。圖6是一簡化流程圖，根據(jù)本發(fā)明的一特定實(shí)施例顯示USB裝置的制造格式化/測試方法。圖6的方法可用在單一個(gè)或復(fù)數(shù)個(gè)連到面板的裝置以達(dá)到一高速，，管線(pipeline)"格式化/測試程序，而并非緩慢的個(gè)別DUT測試(如圖3(A)所示)。如方塊101所示，在開始對(duì)一選定的DUT(—群DUT)格式化/測試過程的前，先在測試主機(jī)系統(tǒng)安裝修改過的USB驅(qū)動(dòng)軟件，以操作阻擋現(xiàn)有操作系統(tǒng)USB被辨識(shí)為"HCDI，sys"的驅(qū)動(dòng)區(qū)段。被用在防止區(qū)段"HCDI,sys"的執(zhí)行的軟件指令對(duì)于此
技術(shù)領(lǐng)域：
的熟知技藝者是都知道的。在一實(shí)施例中，為此緣故而取代操作系統(tǒng)的USB匯流驅(qū)動(dòng)器的一些小檔案，這是此
技術(shù)領(lǐng)域：
的熟知技藝者所了解的。如方塊102所示，根據(jù)本發(fā)明所形成的一個(gè)或多個(gè)"brandnew"(未格式化與未測試)USB裝置是受探針、插入或其它方式耦接至一適合的卡具(例如第4(A)圖與第4(B)圖所示的其中之一個(gè)卡具)。如方塊110所示，接著執(zhí)行復(fù)數(shù)個(gè)USB裝置的初始簡單檢驗(yàn)，是通過檢查控制器硬性編碼(hard-coded)值之內(nèi)容，以辨識(shí)大部分共同的錯(cuò)誤。尤其是如第6(A)圖所示，一旦耦接USB裝置，計(jì)數(shù)值(countvalue)是設(shè)定在，T，，主機(jī)測試軟件讀取儲(chǔ)存在一第一裝置內(nèi)的至少一些硬性編碼數(shù)據(jù)。(例如，在控制器只讀存儲(chǔ)器中，一個(gè)或多個(gè)硬性編碼的組態(tài)、接口與終點(diǎn)描述符(方塊120))，大量儲(chǔ)存分類碼(classcode)(方塊121),供貨商辨識(shí)(vendoridentification，VID)與產(chǎn)品辨識(shí)(PID)值(方塊122),與將硬性編碼數(shù)據(jù)與預(yù)定熟知良好值比較以決定不正確USB裝置是否耦接至測試主機(jī)(方塊123)。假若偵測到一不正確裝置(在方塊123的"否"路徑)，通過一對(duì)應(yīng)DUT(如DUT[1]或DUT[2]，一般是指定為DUT[COUNT],方塊103A)的有色(如紅色)顯示旗標(biāo)產(chǎn)生一警示信號(hào)，警告操作者移除不正確裝置。在一選定裝置的連續(xù)簡短檢查后(在方塊123的，，是，，路徑)，一有色(如黃色)顯示旗標(biāo)或其它圖案信號(hào)是顯示在主機(jī)測試系統(tǒng)上(方塊103B)。然后在方塊103C中，根據(jù)現(xiàn)在受測試裝置(所有連接至面板的裝置)的數(shù)目，將裝置計(jì)數(shù)值與預(yù)定最大裝置數(shù)目作比較。假若計(jì)數(shù)值是少在最大裝置數(shù)目，之后計(jì)數(shù)會(huì)增加(方塊102A)且在另一耦接測試系統(tǒng)的USB裝置重復(fù)簡短的檢查(即方塊102-123與方塊103)，直到每一個(gè)耦接至主機(jī)測試系統(tǒng)的裝置已連續(xù)受到簡短檢查為止(在方塊103C的"是，，路徑)，且此時(shí)計(jì)數(shù)值重設(shè)。如方塊103D所示，一旦全部的受測試裝置(DUT)完成初始化，程序就可選擇性地由操作者選擇暫停與等待一"連續(xù)，，信號(hào)(例如按壓在主機(jī)系統(tǒng)上的空格鍵或使用鼠標(biāo)按壓在監(jiān)視器上的START圖樣)。這個(gè)暫停允許操作者時(shí)間視覺性地檢查所有DUT的顯示旗標(biāo)，取代任何指定為有缺陷的DUT(在這個(gè)情況，對(duì)于新增的DUT，初始化過程將重復(fù))。根據(jù)本發(fā)明的方法，通過于測試與/或格式化閃存裝置的前，簡短檢查至少一些硬性編碼數(shù)據(jù)，以助在USB裝置的有效且可靠的程序。再度參照?qǐng)D6，一旦完成所有USB裝置的簡短初始檢查，測試主機(jī)進(jìn)行實(shí)際測試與格式化閃存裝置。這個(gè)測試/格式化過程開始在保存閃存的用在暫存預(yù)定碼進(jìn)入點(diǎn)(codeentrypoint)的第一區(qū)塊(圖6，方塊130)。如圖6B所示，在一實(shí)施例中，對(duì)每一DUT進(jìn)行保存過程，連續(xù)地設(shè)定計(jì)數(shù)值為"l"(方塊131),選擇目前的DUT(DUT[Count])，保存在目前DUT中，閃存的用在進(jìn)入點(diǎn)緩存器的第一區(qū)塊(方塊133),然后增加計(jì)數(shù)值(方塊135、137),且對(duì)下一個(gè)DUT重新保存過程，直到所有的DUT都已處理過(在方塊135的"是"路徑)。最后儲(chǔ)存在保存空間的碼進(jìn)入點(diǎn)是包括一操作系統(tǒng)(OS)進(jìn)入點(diǎn)，韌體進(jìn)入點(diǎn)與一非揮發(fā)性緩存器進(jìn)入點(diǎn)。注意，在測試/格式化過程完成后，實(shí)際的碼進(jìn)入點(diǎn)數(shù)值是寫入(下載)在受保存的第一區(qū)塊的相關(guān)領(lǐng)域中。接著，檢查在每一USB裝置所提供的閃存的容量(圖6，方塊140)。第6(C)圖是根據(jù)一實(shí)施例，每一DUT的容量檢查過程流程圖。此過程開始在設(shè)定計(jì)數(shù)值為，T，(方塊141)。之后，通過讀取在閃存裝置內(nèi)所提供的初始不良區(qū)塊數(shù)據(jù)，對(duì)每一DUT進(jìn)行內(nèi)存容量檢查(即讀取位于閃存裝置的固定位置的旗標(biāo)是受閃存裝置的制造商或供貨商程序化；方塊142)。之后，從掃瞄所產(chǎn)生的不良區(qū)塊數(shù)據(jù)是用在決定受保存之內(nèi)存的特定比例是否存在(方塊143與144)，假若是提供不足夠的儲(chǔ)備內(nèi)存(reservedmemory)，拒絕此DUT。根據(jù)用在將來不良區(qū)塊資料重新定位目的的測試規(guī)格(即當(dāng)一個(gè)良好區(qū)塊的一個(gè)或多個(gè)快閃記憶單元在某一點(diǎn)失敗時(shí)，從良好區(qū)塊拷貝數(shù)據(jù)，且重新在一儲(chǔ)備良好內(nèi)存區(qū)塊中定位數(shù)據(jù))，是需要儲(chǔ)備內(nèi)存(表示整個(gè)"良好"內(nèi)存的一特定比例)的一預(yù)定大小(例如20%)。注意，對(duì)于具有一偶數(shù)個(gè)(兩個(gè)或還多)閃存芯片的USB裝置，當(dāng)偵測到高比例的不良區(qū)塊，則雙重通道操作并不適合大量生產(chǎn)，因此只推薦單一通道。在格式化閃存的前，檢查每一USB裝置的閃存儲(chǔ)存容量，所以本發(fā)明有助在早期辨識(shí)與拒絕不適合的USB裝置，通過減少程序化多個(gè)USB裝置所需的總時(shí)間，進(jìn)而降低制造成本。在一可接受的儲(chǔ)存容量受到確認(rèn)后(在方塊144的"是"路徑)，儲(chǔ)存兩份以上的不良區(qū)塊辨識(shí)數(shù)據(jù)在閃存的儲(chǔ)存區(qū)域中以確保安全(方塊145)。在一實(shí)施例中，不良區(qū)塊數(shù)據(jù)是儲(chǔ)存在內(nèi)存位置，其是位于保留給進(jìn)入點(diǎn)數(shù)據(jù)之內(nèi)存位置后(例如第2個(gè)與第3個(gè)內(nèi)存區(qū)塊)，與保留兩個(gè)額外之內(nèi)存區(qū)塊(例如第4個(gè)與第5個(gè)內(nèi)存區(qū)塊)以作為將來擴(kuò)張用。儲(chǔ)存兩份不良區(qū)塊數(shù)據(jù)則提供多余份數(shù)，以確保USB裝置的可靠長期操作。一旦對(duì)第一裝置完成容量檢查與不良區(qū)塊數(shù)據(jù)儲(chǔ)存過程，計(jì)數(shù)值會(huì)增加(方塊147)，且容量檢查與不良區(qū)塊數(shù)據(jù)儲(chǔ)存過程會(huì)接續(xù)重復(fù)在每一DUT，直到所有的DUT都已受處理過(在方塊146的"是，，路徑)。然后，根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，利用叢發(fā)寫入過程(burstwritingprocess)，將至少一句柄數(shù)據(jù)與啟動(dòng)碼寫入至閃存的選定之內(nèi)存區(qū)塊中(圖6的方塊150)。制造商所產(chǎn)生的控制韌體可助在后續(xù)的控制器操作。一般而言，現(xiàn)有的USB裝置包括兩類基于ROM的句柄、靜態(tài)句柄與動(dòng)態(tài)句柄。靜態(tài)句柄是由一初始重設(shè)跳躍地址(jumpaddress)與用在指定符合大范圍的閃存型態(tài)的基本快閃抹除/寫入/讀取操作狀態(tài)機(jī)械信息所組成(例如靜態(tài)句柄包含相對(duì)長的寫入時(shí)間延遲，其助在寫入操作至"最糟狀況，，(最慢)的快閃記憶類型)。根據(jù)本發(fā)明，儲(chǔ)存在ROM的靜態(tài)句柄是受控制器在起始(start-up)時(shí)取得。動(dòng)態(tài)句柄包括時(shí)間調(diào)整控制信息以受DUT利用特定閃存型態(tài)(例如最佳寫入操作次數(shù))，這不但助在最合適閃存的操作，也助在維持領(lǐng)域的適應(yīng)性。根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，這動(dòng)態(tài)控制韌體是儲(chǔ)存在閃存的選定的區(qū)塊中，以減少控制器晶粒大小且促進(jìn)領(lǐng)域適應(yīng)性。在動(dòng)態(tài)控制韌體寫入至閃存內(nèi)以后，DUT的一控制位是受到重設(shè)以將DUT處理器的控制從靜態(tài)句柄移動(dòng)到動(dòng)態(tài)韌體碼。為了協(xié)助移動(dòng)到動(dòng)態(tài)韌體，在ROM中所提供的靜態(tài)，，跳躍開始(jumpstart)"韌體是包括動(dòng)態(tài)句柄的進(jìn)入點(diǎn)地址以進(jìn)一步執(zhí)行使用。圖6D是一簡單流程圖，顯示用，，管線"方式，利用叢發(fā)寫入過程來將控制韌體寫入至每一DUT中以減少處理時(shí)間。關(guān)于目前DUT的計(jì)數(shù)值受初始化(方塊151),然后將一頁(或區(qū)塊)的指令或/與數(shù)據(jù)寫入至第一DUT的SRAM(揮發(fā)性)緩沖器中(方塊152)。如方塊152右邊所示，一頁的指令或/與數(shù)據(jù)是包括將控制韌體寫入至緊接著不良區(qū)塊的區(qū)塊中。寫入此頁后，主機(jī)系統(tǒng)下令DUT從SRAM緩沖器寫入指令/數(shù)據(jù)至快閃記憶單元中(方塊153)。注意在格式化/測試過程的階段，動(dòng)態(tài)句柄尚未寫入至閃存中，所以DUT所使用的寫入過程是根據(jù)較慢的靜態(tài)句柄。根據(jù)本發(fā)明，為了幫助此寫入過程以時(shí)效方式進(jìn)行，一旦一頁的指令/數(shù)據(jù)寫入至SRAM中且DUT受令在執(zhí)行此寫入動(dòng)作，則主機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行下一個(gè)DUT(即在方塊157，計(jì)數(shù)值增加，然后主機(jī)系統(tǒng)將同樣的指令/數(shù)據(jù)寫入至下一個(gè)DUT中)。最后，一頁的指令/數(shù)據(jù)寫入至每一個(gè)DUT(在方塊155的，，是，，路徑)。在此，主機(jī)系統(tǒng)決定是否所有必要的指令數(shù)據(jù)已寫入至每一DUT中。假若沒有，計(jì)數(shù)值是重新初始化(方塊151),重復(fù)寫入過程，將下一頁的指令/數(shù)據(jù)寫入DUT中。當(dāng)?shù)诙摰闹噶?數(shù)據(jù)寫入至第一DUT(即DUT[l])，第一DUT已完成從SRAM緩沖器寫入第一頁的指令/數(shù)據(jù)過程至閃存所指定的區(qū)塊。利用此"管線(pipeline)"方式，進(jìn)行寫入動(dòng)態(tài)句柄至每一DUT的過程是以高效率方式進(jìn)行，避免因主機(jī)系統(tǒng)等待每一個(gè)DUT寫入信息/數(shù)據(jù)至閃存中所造成的長時(shí)間延遲。除了控制韌體外，在本發(fā)明的一實(shí)施例中，閃存的一個(gè)或多個(gè)區(qū)塊是指定為非揮發(fā)性緩存器，且這些非揮發(fā)性緩存器是用在儲(chǔ)存寫入-保護(hù)信息，例如儲(chǔ)存剛使用后且一旦電源關(guān)閉而不會(huì)損失的數(shù)值，如容量分割數(shù)目與使用者密碼。不論是在上述的叢發(fā)寫入過程，或是動(dòng)態(tài)句柄寫入至每一DUT后的接續(xù)地(如第二)叢發(fā)寫入過程，將信息寫入至每一DUT之中。注意，假若利用接續(xù)的叢發(fā)寫入過程，之后動(dòng)態(tài)句柄可用在加速寫入過程。接下來，如方塊160所示(圖6),進(jìn)行閃存的低階格式化(low-levelformatting),其中低階格式化是以所提供的使用者規(guī)格為基礎(chǔ)。在一實(shí)施例中，低階格式化包括將主要啟動(dòng)區(qū)域(MBR)、檔案配置表(FAT)與初始根目錄數(shù)據(jù)寫入至閃存的選定之內(nèi)存區(qū)塊中。沒有這數(shù)據(jù)，USB裝置就無法受終端使用者使用。注意，假若一終端使用者獲得一個(gè)尚未受到低階格式化的USB裝置，此USB裝置將無法使用，且終端使用者自己無法利用格式化軟件所提供的操作系統(tǒng)進(jìn)行此步驟。然，在完成低階格式化后，終端使用者就可改變他們所希望的FAT格式。在上述任一叢發(fā)寫入過程期間或在動(dòng)態(tài)句柄寫入至每一DUT后的接續(xù)叢發(fā)寫入過程期間，將低階格式化信息寫入至每一DUT中(例如圖6D圖的方塊160A)。在低階格式化、還新序號(hào)、日期碼與產(chǎn)品版本碼數(shù)值寫入至非揮發(fā)性緩存器后(圖6的方塊170)，在上述任一叢發(fā)寫入過程期間或在動(dòng)態(tài)句柄寫入至每一DUT后的叢發(fā)寫入過程期間(例如圖6的方塊170A所示)，將描述符信息寫入至每一DUT中。接著，測試主機(jī)讀取所有寫入至閃存的信息(方塊180),然后這些信息與事先存在主機(jī)系統(tǒng)的緩沖器中的數(shù)值作比較，以確認(rèn)USB裝置適當(dāng)?shù)厥芨袷交?。根?jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，確認(rèn)過程(verificationprocess)是顯示在第6(E)圖中。計(jì)數(shù)值設(shè)為"1"(方塊181)，然后主機(jī)系統(tǒng)指示目前的DUT從閃存重讀預(yù)定信息。注意，使用事先寫入至DUT的動(dòng)態(tài)句柄來進(jìn)行重讀過程。之后，將從DUT所讀取的信息與在主機(jī)系統(tǒng)中的事先儲(chǔ)存數(shù)據(jù)作比較(方塊183)。假若從USB裝置所讀到的任一數(shù)據(jù)是不正確的(在方塊184的"否"路徑)，在主機(jī)測試系統(tǒng)監(jiān)視器上顯示相對(duì)應(yīng)的旗標(biāo)(例如一紅色旗標(biāo))以指示操作者USB裝置在測試/格式化過程是失敗的(方塊185A)。相反地，假若從目前USB裝置所讀取的數(shù)據(jù)是正確的，在主機(jī)測試系統(tǒng)監(jiān)視器上顯示相對(duì)應(yīng)的旗標(biāo)(例如一綠色旗標(biāo))表示在測試/格式化過程是成功的(方塊185B)。之后，在方塊187,根據(jù)目前受測試裝置的數(shù)目，將裝置計(jì)算值與預(yù)定最大裝置數(shù)目作比較(例如所有連接至面板的裝置)。假若計(jì)算值是少在最大裝置數(shù)目，裝置計(jì)算是一個(gè)一個(gè)增加，對(duì)另一個(gè)耦接至測試主機(jī)的USB裝置重復(fù)測試過程，直到每一個(gè)耦接至主機(jī)測試系統(tǒng)的裝置都已檢查過(在方塊187的，，是，，路徑)。然后，測試主機(jī)程序終止。圖7是根據(jù)本發(fā)明的一特定實(shí)施例的顯示一范例USB裝置IOB的簡化方塊圖。如以上所述，USB裝置包括一快閃卡控制器214與一個(gè)或多個(gè)閃存裝置215。參照?qǐng)D7的左半部，閃存215是以簡化的形式描述在圖7中，并在以下進(jìn)一步描述，其中閃存215包括進(jìn)入點(diǎn)緩存器420與不良區(qū)塊數(shù)據(jù)413,—控制選擇位415A,控制韌體415B，與非揮發(fā)性緩存器421。如圖所示，控制器214與閃存215間的溝通是直接經(jīng)由進(jìn)入點(diǎn)緩存器420,與所執(zhí)行的功能有關(guān)，其中進(jìn)入點(diǎn)緩存器420指示控制器要求控制韌體415B與非揮發(fā)性緩存器420。參照?qǐng)D7的右半部，控制器214包括一微處理器450、一控制端點(diǎn)緩存器(controlendpointregister)451與地址譯碼器452,—靜態(tài)隨機(jī)存取內(nèi)存(RAM)、一只讀存儲(chǔ)器(ROM)、一輸入/輸出接口電路470?？刂贫它c(diǎn)緩存器451提供每個(gè)控制器所需的系統(tǒng)默認(rèn)地址(defaultaddress)。控制端點(diǎn)緩存器用在和此裝置通訊，即使之后的地址改變。靜態(tài)ROM453包括一RAM緩沖器(buffer)453A與快閃存取時(shí)間緩存器(flashaccesstimingregister)453B。緩沖器453A包括一足夠之內(nèi)存來儲(chǔ)存閃存215的至少一區(qū)塊，且例如當(dāng)執(zhí)行區(qū)塊拷貝作業(yè)(如從閃存215讀取數(shù)據(jù)且寫入至RAM453中)時(shí)，可使用緩沖器453A以增進(jìn)執(zhí)行速度。在與閃存215通訊期間，快閃存取時(shí)間緩存器453B儲(chǔ)存受控制器214利用的指令碼(commandcode)。只讀存儲(chǔ)器454包括硬性連接(hard-wired)數(shù)據(jù)(即無法被修改的數(shù)據(jù))，其中硬性連接數(shù)據(jù)包括跳躍式啟動(dòng)韌體(jumpstartfirmware)454A與不同描述符454B。跳5夭式啟動(dòng)韌體454A包括一重設(shè)地址向量(resetaddressvector),其造成微處理器450執(zhí)行一大程度跳躍運(yùn)算(jumpoperation)至閃存裝置215的進(jìn)入點(diǎn)緩存器420。因?yàn)椴恍枰淖兙幋a，所以跳躍式啟動(dòng)韌machine)數(shù)據(jù)與區(qū)塊拷貝指令。此外，跳躍式啟動(dòng)韌體包括寫入至快閃存取時(shí)間緩存器453B的靜態(tài)指令碼，而靜態(tài)指令碼是作為系統(tǒng)默認(rèn)時(shí)間(defaulttiming),例如，從閃存215的初始讀取/寫入指令期間或到閃存215的初始讀取/寫入指令期間。注意，惟，用在支持不同類型閃存的動(dòng)態(tài)句柄是存在快閃裝置215的控制韌體緩存器415B中以助在還新。不同的描述符值454B也是ROM454中的硬性碼，且當(dāng)測試主機(jī)從USB裝置IOB要求特定信息時(shí)，使用此描述符值454B。當(dāng)無法響應(yīng)錯(cuò)誤值時(shí)，會(huì)造成USB裝置10B受測試主機(jī)的拒絕，且被認(rèn)定是一控制器失敗。還詳細(xì)的描述符值可參照如通用序列總線大量儲(chǔ)存類別(USBMassStorageClass)規(guī)格。控制器214包括一僅大量傳輸(Bulk-only-transport,BOT)指令譯碼器456以助在利用BOT指令與閃存215通訊往來。邏輯區(qū)塊地址-實(shí)體區(qū)塊地址(LBA-to-PBA)轉(zhuǎn)換器/譯碼器452是用在對(duì)由BOT指令譯碼器456所產(chǎn)生的邏輯地址譯碼。輸入/輸出接口電路470包括一實(shí)體層USB收發(fā)器470A，用在傳送與接收USB不同的NRZI信號(hào)，一連續(xù)接口引擎470B用在執(zhí)行序列-并列(serial-to-parallel)(接收端)操作與并列-序列(parallel-to-serial)(發(fā)送端)操作，一數(shù)據(jù)緩沖器470C用在緩沖輸入/輸出(incoming/outgoing)的數(shù)據(jù)框架，且因?yàn)樗俣绕ヅ洳灰粯?，所以利用連續(xù)接口引擎470B、不同緩存器與中斷處理邏輯470C來處理USB協(xié)議。圖8是一簡化方塊圖，敘述在測試/格式化過程(先前所述)完成后，閃存215的不同地址結(jié)構(gòu)與分割。如圖8的左半部所示，閃存215主要是分成只讀區(qū)域405與讀取/寫入?yún)^(qū)域406。只讀區(qū)域405包括進(jìn)入點(diǎn)緩存器420、不良區(qū)塊清單(badblocklist)413、儲(chǔ)備區(qū)塊414、控制韌體415B、主要啟動(dòng)區(qū)塊(MasterBootBlock)416與非揮發(fā)性緩存器421。如圖8的右半部所示，進(jìn)入點(diǎn)緩存器420包括一控制韌體進(jìn)入點(diǎn)地址420A來儲(chǔ)存控制韌體415B的位置，一非揮發(fā)性緩存器進(jìn)入點(diǎn)地址420A來儲(chǔ)存存在非揮發(fā)性緩存器421的不同值的位置，一操作系統(tǒng)(OS)進(jìn)入地址420C來儲(chǔ)存主要啟動(dòng)區(qū)塊416的位置。只讀存儲(chǔ)器405只可以受制造測試軟件還新，而無法受一般使用者主機(jī)PC系統(tǒng)所改變?？刂祈g體415B受控制器214的微處理器450所執(zhí)行(參照?qǐng)D7)，且控制韌體415B只受到讀取(即無法受終端使用者還新)。同樣地，非揮發(fā)性緩存器421儲(chǔ)存一些在測試/格式化過程可以被還新的值(例如產(chǎn)品序號(hào)或ID號(hào)碼)，但這些值無法受到終端使用者改變。讀取/寫入?yún)^(qū)域406是包括內(nèi)存區(qū)塊，用在受終端使用者使用。在一實(shí)施例中，讀取/寫入?yún)^(qū)域406包括一基本檔案結(jié)構(gòu)，所以檔案可受到主機(jī)操作系統(tǒng)的讀取/寫入，且可被分成數(shù)個(gè)分割區(qū)(分割區(qū)1，2，3,4)。第一分割區(qū)(分割區(qū)1)包括檔案配置表(FAT)1417A與檔案配置表(FAT)2417B，一根目錄418,與檔案叢集(filecluster)。根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，當(dāng)USB裝置10B開始啟動(dòng)，從跳躍啟動(dòng)韌體454A讀取靜態(tài)句柄至快閃存取時(shí)間緩存器453B。在初始步驟期間(圖6的方塊110)，控制器214利用靜態(tài)句柄所提供的系統(tǒng)默認(rèn)時(shí)間(defaulttiming)使用閃存215,例如讀取閃存215的產(chǎn)品辨識(shí)數(shù)據(jù)。產(chǎn)品辨識(shí)數(shù)據(jù)凈皮傳送至主才幾系統(tǒng)，主機(jī)系統(tǒng)再將產(chǎn)品辨識(shí)數(shù)據(jù)與一儲(chǔ)存表比較以辨識(shí)已還新的時(shí)間參數(shù)(或者，在初始格式化過程的前，操作者可以先提供閃存的產(chǎn)品辨識(shí)給主機(jī)系統(tǒng))。然后，主機(jī)系統(tǒng)將已還新的時(shí)間參數(shù)寫入至控制器中，控制器將此些已還新時(shí)間參數(shù)存在快閃存取時(shí)間緩存器中。一旦完成此過程，控制器是以高效率方式，利用已還新時(shí)間參數(shù)來寫入格式化信息至閃存中，進(jìn)而減少制造時(shí)間。注意，一旦完成格式化，控制選擇位415A是設(shè)定在閃存215中，當(dāng)USB裝置IOB接續(xù)啟動(dòng)時(shí)，控制選擇位415A使控制器214從控制韌體415B將動(dòng)態(tài)句柄寫入至快閃存取時(shí)間緩存器453B。圖9是根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，示范存在閃存215中的不良區(qū)塊清單。在本實(shí)施例中，二進(jìn)制的"1"值是表示一良好內(nèi)存區(qū)塊402，二進(jìn)制的"O，，值是表示一不良內(nèi)存區(qū)塊401。儲(chǔ)存不良區(qū)塊數(shù)據(jù)413A與413B的兩份副本，以確保即使一個(gè)副本之后受損，仍有不良區(qū)塊數(shù)據(jù)可用。另兩個(gè)區(qū)塊(參照?qǐng)D8)是暫時(shí)保留，用在未來一旦不良區(qū)塊清單413A、413B中有其中一個(gè)壞掉使用。在制造測試期間，制造測試軟件控制所有不良區(qū)塊的還新。根據(jù)句柄韌體415B所定義的過程，在正常操作時(shí)發(fā)生不良區(qū)塊，將致動(dòng)不良區(qū)塊清單413A、413B還新。且，因?yàn)槊慨?dāng)有再一個(gè)不良區(qū)塊被發(fā)現(xiàn)時(shí)，就會(huì)有再一個(gè)位還新為"O"，所以在還新不良區(qū)塊清單413A與413B,如需還新其它快閃數(shù)據(jù)區(qū)塊的前，是永遠(yuǎn)不需要抹除所有位為，T，。因此，用在不良區(qū)塊數(shù)據(jù)的儲(chǔ)存的區(qū)塊，可靠度就還高了。圖10(A)是根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的制造軟件演算規(guī)則流程圖，用在對(duì)一USB受測試裝置(DUT)進(jìn)行測試/格式化過程。當(dāng)DUT耦接至測試主機(jī)，所有的參數(shù)受操作者輸入而馬上被測試主機(jī)讀取時(shí)，測試開始(方塊601)。軟件執(zhí)行GeLdescriptor(讀取)過程以傳送指令來讀取內(nèi)部硬性描述符值(方塊602),然后，軟件執(zhí)行一SeLdescriptor指令來設(shè)定正確值(correctvalue)以及增加或改變描述符，而不是增加或改變那些存在控制器的RAM緩存器中的描述符(方塊603)。然后，當(dāng)執(zhí)行一Get—configuration指令，軟件讀取初始組態(tài)值(configurationvalue)(方塊4),接著Set—configuration軟件下載每個(gè)不同的組態(tài)值(方塊605)。然后，軟件讀取一"^口描述符值，響應(yīng)一Get—interface指令(方塊606)，接著軟件使用Getjnterface指令下載正確值(方塊607)。之后，下載裝置固定地址至USB裝置，響應(yīng)軟件的Set—address指令，當(dāng)成功的時(shí)候，一相關(guān)的有色旗標(biāo)會(huì)改變以響應(yīng)連接電源狀態(tài)(plug-instatus)(方塊608)。然后，重設(shè)裝置緩存器值(deviceregistervalue)來響應(yīng)一Clear_feature指令(方塊609),且有些特別的特征，如remote—wakeup或endpointjialt能力是受軟件set—feature(方塊610)。USB裝置可以為多種不同類型，例如大儲(chǔ)存量類型，且可受不同類型的特定指令，如like_max_lun所執(zhí)行(方塊611),以讀取軟件所支持的分割數(shù)目，對(duì)于未格式化的裝置，軟件會(huì)下令設(shè)定系統(tǒng)默認(rèn)值(default)，其中系統(tǒng)默認(rèn)值是根據(jù)快閃裝置的分割數(shù)目。之后，使用一Get一status指令以檢查程序化是否成功(方塊612)。假如成功的話，在測試主機(jī)監(jiān)視器上的各個(gè)圖樣顏色會(huì)改變以表示成功地程序化狀態(tài)(方塊613)。圖10B是根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的制造軟件演算規(guī)則流程圖，用在對(duì)一USB受測試裝置(DUT)進(jìn)行計(jì)算(enumeration)。當(dāng)DUT插入至測試集線器(testhub),其輪流連接至測試主機(jī)(例如一般的PC)，就開始此計(jì)算過程。因?yàn)镈UT未受到測試，所以不論是D+或D-接腳應(yīng)所述的具有1.5K奧姆的上拉(pullup)電阻連接，以全速或低速辨識(shí)(方塊702)。如果電阻值不正確或沒有連接，有色旗標(biāo)將會(huì)指示是一個(gè)缺陷裝置而應(yīng)所述的被拒絕。一旦測試主機(jī)PC辨別出DUT,測試主才幾驅(qū)動(dòng)一重設(shè)(Reset)指令給DUT至少10秒(方塊703)。假若DUT適當(dāng)響應(yīng)重設(shè)指令且指示是一成功的重設(shè)狀態(tài)，測試主機(jī)就利用系統(tǒng)默認(rèn)控制端點(diǎn)0(defaultcontrolendpoint)發(fā)布給DUT(方塊704)。測試主機(jī)PC之后傳送Get—descriptor至DUT控制器硬性碼值以取得MaxPacketSize參數(shù)(方塊705),且DUT通過傳送其傳遞封包大小(transferpackagesize)來響應(yīng)(方塊706)。測試主機(jī)PC之后傳送Set—Address至DUT以分配一獨(dú)一地址。假若測試主機(jī)PC與DUT之間的所有通訊往來在這里都是成功的(方塊707A的"是"路徑)，之后將一簡短版本的大量儲(chǔ)存驅(qū)動(dòng)器傳送至DUT,等到之后通訊時(shí)再用(方塊708)。之后，測試主機(jī)傳送一Get—descriptor指令給DUT,將裝置描述符值與已受系統(tǒng)設(shè)定的系統(tǒng)默認(rèn)值比較，且任何不一致會(huì)反應(yīng)在測試主機(jī)PC上以警告操作者拒絕此DUT(方塊709K假如裝置描述符值是正確的，測試主機(jī)PC傳送一set—configuration指令，設(shè)定組態(tài)數(shù)目(方塊710)，將所有必須值寫入至DUT閃存中，如此完成計(jì)算(方塊711)。圖11是根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例的操作流程圖，顯示測試主機(jī)系統(tǒng)對(duì)USB裝置的所有操作方式。參照?qǐng)Dll的上方部分，操作者開始測試計(jì)劃(方塊801),將所有組態(tài)與所有可能類型的閃存特征值下載至程序中(方塊802),這些檔案在下載至程序前是存在硬盤中。程序之后會(huì)等操作者輸入關(guān)于所需測試的正確參數(shù)，例如，被選定的受測試裝置(DUT)的起始序號(hào)或甚至是致動(dòng)程序進(jìn)行的密碼。如方塊804底下所示，有兩個(gè)主要的指令路徑將會(huì)被譯碼與執(zhí)行低階格式化(在方塊804下的右分支)與閃存軟件組態(tài)(在方塊804下的左分支)。參照?qǐng)Dll的右下部分，低階格式化包括對(duì)所有的閃存區(qū)塊進(jìn)行一閃存抹除/讀取/寫入檢查，因?yàn)殚W存可能先被其它管理供貨商所使用，且一般會(huì)有不同的演算規(guī)則來標(biāo)記不良區(qū)塊，所以將測試讀取/寫入(R/W)模式寫入所有閃存區(qū)塊的閃存中(方塊810A)。之后，讀取每一R/W模式并將R/W模式與所期望的結(jié)果作比較。接著，雖然有些區(qū)塊已經(jīng)被標(biāo)記為不良，但是取決在所有任一區(qū)塊受抹除。之后，僅良好區(qū)塊受抹除為所有二進(jìn)制"r數(shù)值期間，進(jìn)行低階格式化(方塊811)。然而，因?yàn)殚W存可能由于先前的使用而受到污染，所以可能通過參數(shù)掃瞄型態(tài)選擇輸入(parameterscantypeselectionentry)對(duì)不良區(qū)塊作完整的掃瞄。之后，每個(gè)記憶卡的各別信息寫入至快閃記憶卡中，以還新各別記憶卡信息(方塊812)。在一實(shí)施例中，信息是包括序號(hào)、產(chǎn)品ID、供貨商ID與LED光模式(方塊817)。然后控制韌體寫入至閃存中(方塊813)，例如，拷貝二位(圖像)檔案至閃存中(方塊818)。此外，紀(jì)錄在閃存的非揮發(fā)性緩存器中的韌體進(jìn)入點(diǎn)地址。之后，閃存的FAT會(huì)根據(jù)客戶要求，通過軟件加載儲(chǔ)存在非揮發(fā)性緩存器中的OS進(jìn)入點(diǎn)地址的事先程序化檔案中而還新。之后，當(dāng)客戶要求時(shí)，則所有初始檔案被拷貝至閃存(方塊815)。這些檔案可能包括自動(dòng)執(zhí)行圖像或可執(zhí)行的檔案來應(yīng)用在儲(chǔ)存在測試主機(jī)的預(yù)先拷貝目錄(Precopydirectory)中(方塊819)。之后，從DUT讀回儲(chǔ)存數(shù)據(jù)，并存到測試主機(jī)硬盤裝置中用在測試與將來參考用(方塊816)。圖11的左部分包括一用在還新的選擇性程序，例如儲(chǔ)存在動(dòng)態(tài)句柄的快閃時(shí)間。起初，有些參數(shù)會(huì)受到改變，例如，由于在測試程序中閃存類型的改變，所以可能需要確認(rèn)如測試操作者密碼是否正確輸入，確認(rèn)受還新的快閃時(shí)間是否被輸入。然，假若圖11的過程被連續(xù)用來測試具有相同快閃裝置的DUT,則不需要進(jìn)行圖ll的左邊的選擇性過程，這是因?yàn)槌绦虮Ｓ袦y試用的正確參數(shù)。參照?qǐng)Dll的左部分，在進(jìn)行低階格式化后，使用閃存軟件組態(tài)，閃存組態(tài)開始在檢查操作者所輸入的預(yù)存密碼(方塊805)。閃存軟件組態(tài)是受限于有權(quán)限人員(例如裝置制造商)，而沒有密碼的無權(quán)限人員則會(huì)受到系統(tǒng)拒絕而無法使用。一旦正確的密碼受到確認(rèn)，軟件將會(huì)等待操作者輸入指令(方塊805A)。閃存是由許多不同的供貨商所生產(chǎn)，與具有許多不同參數(shù)設(shè)定，因?yàn)閮?nèi)存容量從每個(gè)供貨商持續(xù)增加。軟件組態(tài)的第一步驟是辨識(shí)用在目標(biāo)DUT的特定閃存(方塊806)。為了使組態(tài)程序健全，閃存類型的順序是事先被程序化以達(dá)到彈性目的(方塊807),且使用者可以還新此順序，且為便于修改，所有的還新信息是顯示在裝置監(jiān)視器上(方塊808)，然后變還是存入檔案中以便于日后參考。圖12(A)與圖12(B)分別是顯示雙重路線(dualchannel)與單一路線(singlechannel)的缺陷閃存芯片操作的簡化示意圖。圖13(A)與圖13(B)是描述相關(guān)閃存組態(tài)的方塊圖。當(dāng)有雙數(shù)量的閃存芯片與裝置整合，這兩個(gè)選擇就可以受到應(yīng)用單一路線或雙重路線操作。如圖12(A)所示的雙重路線操作，從控制器214將數(shù)據(jù)總線分成兩部分?jǐn)?shù)據(jù)線數(shù)據(jù)[7:0]是連接至閃存芯片組215-1，數(shù)據(jù)線數(shù)據(jù)[15:8]是連接至閃存芯片組215-2，其中兩個(gè)內(nèi)存都分享同一個(gè)控制器地址與控制總線90。如第12(A)所示的雙重路線操作的優(yōu)點(diǎn)就是速度快，因?yàn)閿?shù)據(jù)總線變成二倍。如圖13(A)所示，單一路線操作的缺點(diǎn)就是在閃存芯片的任一邊的不良區(qū)塊(badblock，BB)區(qū)域一般是不對(duì)稱的，但因?yàn)榈刂放c控制總線連接在一起，對(duì)稱操作導(dǎo)致產(chǎn)生不良區(qū)塊而減少可使用的良好區(qū)塊容量。兩組快閃芯片的地址也受到錯(cuò)開，為了反應(yīng)數(shù)據(jù)總線的連接。圖12(B)顯示單一路線操作，其中兩個(gè)內(nèi)存組215-1A與215-lB連接至數(shù)據(jù)線數(shù)據(jù)[7:0]。在單一路線操作，實(shí)體地址范圍是連續(xù)的，如圖13(B)所示，沒有如圖13(A)所敘述的雙重路線操作的導(dǎo)致不良區(qū)塊情況。據(jù)此，單一路線操作的可使用的容量是比雙重路線操作多，預(yù)備區(qū)域并擴(kuò)大以抹除由不良區(qū)域預(yù)留目的所導(dǎo)致的缺失。惟，單一路線操作的缺點(diǎn)是操作速度比較慢，因?yàn)橹挥惺褂?個(gè)總線路線數(shù)據(jù)[7:0],而不是雙重路線操作所使用的16個(gè)數(shù)據(jù)總線路線。然，因?yàn)榫哂懈卟涣紖^(qū)塊比例的快閃芯片増加，如近來大量快閃芯片的生產(chǎn)，所以最好是采用單一路線操作。圖14是根據(jù)本發(fā)明顯示儲(chǔ)存在每一USB裝置的不同內(nèi)存領(lǐng)域中的信息與參數(shù)設(shè)定的方塊圖。所有的參數(shù)可以受操作者改變，且分成兩個(gè)類別裝置信息與組態(tài)信息。裝置信息儲(chǔ)存在每一裝置IOB，位于如圖IO的上方區(qū)域的區(qū)塊(領(lǐng)域)中。方塊905包括最大裝置容量(例如256MB)。方塊901包括由裝置制造商所建立的裝置容量(例如一個(gè)具有256MB最大容量的裝置，有效裝置容量可設(shè)定在250MB,剩下的6MB是保留給不良區(qū)塊管理)。方塊902包括閃存部分使用，例如，制造商的部分號(hào)碼是由三星(Samsung)或英飛凌(Infineon)所建立(例如三星的K9K8G08U0M的1Gbyte閃存裝置)。方塊903包括一閃存ID信息，其經(jīng)由快閃初始指令地址90H讀取且用在決定閃存裝置是否正確，因?yàn)橛行╅W存具有不同時(shí)間性質(zhì)^f旦享有同一ID碼。為了允許終端客戶容易進(jìn)入不同NAND快閃時(shí)間規(guī)格，故提供這個(gè)特征以助在快閃ID的調(diào)整。方塊卯4包括在特定裝置10B所使用的快閃芯片數(shù)目。在USB裝置的格式化/測試與接續(xù)修改期間，方塊卯5A、905B與905C儲(chǔ)存使用的不同密碼。因?yàn)椴僮髡呙艽a對(duì)于控制制造過程而言是非常重要的，且為維持測試質(zhì)量，密碼修改(方塊905B)與確認(rèn)(方塊905C)對(duì)于MIS控制測試程序的正式取用是很關(guān)鍵的。裝置10B的組態(tài)信息是公開在圖IO的裝置信息下方的方塊圖中。方塊卯6包括生產(chǎn)線號(hào)碼(productionlinenumber)信息，用在生產(chǎn)控制信息的操作者ID號(hào)碼。方塊907包括預(yù)先掃瞄快閃類型信息，其包含不同掃瞄閃存的方法(抹除/讀取/寫入)，一快速跳回區(qū)塊檢驗(yàn)值(skipbackblockvalue)(方塊907A)，一所有區(qū)塊的全掃瞄值(方塊907B)，一掃瞄良好區(qū)塊而略過受制造商所植入不良區(qū)塊標(biāo)記值(方塊907C)。對(duì)于那些使用閃存組件的裝置，是推薦全掃瞄，重新建立不良區(qū)塊清單(bad_block—list)(方塊907B)。方塊卯8包括主要序號(hào)(serialnumber,S/N),方塊908A包括此特定裝置的初始S/N，具有方塊908B的還新序號(hào)信息，且不論序號(hào)是使用事先設(shè)定的數(shù)列或是隨機(jī)產(chǎn)生的(即序號(hào)可以增加或減少，也可以任意由操作者輸入而產(chǎn)生(例如軟件呼叫一隨機(jī)號(hào)碼產(chǎn)生器與一種子參數(shù)(例如主機(jī)測試器時(shí)間/日期))以確保其隨機(jī)性)，主要原理就是對(duì)于根據(jù)USB規(guī)格的每一個(gè)裝置，序號(hào)需要不一樣。方塊卯9包括裝置的電流規(guī)格與限制(例如裝置的最大電流用量)，其中裝置超過這個(gè)數(shù)目就是一種裝置失敗的指示(例如500ma是列在USB裝置的最大特定電流)。方塊910包括裝置LED燈在不同條件下的一時(shí)間間隔與亮度值，與用在告知操作者操作狀態(tài)(例如，當(dāng)測試中斷或成功或裝置是閑置或使用中)。方塊917包括正確控制器的供貨商/產(chǎn)品ID號(hào)碼，用在允許測試/格式化過程(即裝置具有不匹配的供貨商/產(chǎn)品號(hào)碼存在此范疇，一開始就會(huì)受到測試/格式化系統(tǒng)拒絕)。方塊911包括供貨商名字與產(chǎn)品內(nèi)文譯碼信息，方塊912A包括產(chǎn)品串行名字(stringname)與版本信息。方塊913儲(chǔ)存一統(tǒng)計(jì)值，表示在測試產(chǎn)品在線所測試的產(chǎn)品的通過/失敗測試數(shù)目(方塊913A是用在重設(shè)此數(shù)值)，方塊915包括一測試產(chǎn)品線的最大測試數(shù)目，因?yàn)闇y試是由一特定操作者初始設(shè)定，這個(gè)信息用在提供操作者有用的統(tǒng)計(jì)信息。方塊919包括閃存的最大預(yù)備比例(reservedration)(即為了日后操作目的，不良區(qū)塊配置所需的預(yù)備內(nèi)存數(shù))。方塊921包含一寫入保護(hù)開關(guān)(開或關(guān))，方塊920A包括一容量分配數(shù)，用以紀(jì)錄閃存在儲(chǔ)存時(shí)，可分配至多個(gè)不同區(qū)域，以達(dá)到數(shù)據(jù)分類的目的。方塊920儲(chǔ)存起始容量標(biāo)記(volumelabel),例如D:(E:,F:，以此類推)。最后，方塊920包含每一裝置對(duì)應(yīng)每一插槽的BIN號(hào)碼，且這個(gè)信息是用在當(dāng)裝置在測試/格式化過程失敗時(shí)公開一錯(cuò)誤碼。因?yàn)槎鄬訂卧?Multi-level-cell,MLC)閃存與大小相同的單層單元閃存比較起來，具有還大的儲(chǔ)存密度，所以MLC閃存愈來愈受到歡迎。根據(jù)本發(fā)明的部分實(shí)施例，上述所敘述的技術(shù)是可以應(yīng)用在大量生產(chǎn)MLC閃存或?qū)LC閃存的生產(chǎn)測試。有關(guān)MLC閃存的較詳盡的資料可以參考上述內(nèi)容與美國專利申請(qǐng)?zhí)?1/737,336,其中美國專利申請(qǐng)?zhí)?1/737,336是讓渡給本申請(qǐng)案的一相同受讓人。圖15是4艮據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，顯示一MLC記憶單元(CELL)的多層電壓感應(yīng)，如圖15中所顯示的系統(tǒng)可以及上述技術(shù)一起使用。一閃存芯片具有快閃記憶單元(flashcell)數(shù)組，以行(row)、歹'Kcolumn)方式設(shè)置，且根據(jù)地址的一行部分與地址的一列部分選擇快閃記憶單元數(shù)組。地址可由記錄器(sequencer)依放進(jìn)閃存芯片的區(qū)域地址或頁地址產(chǎn)生。地址的一第三部分是有效地選擇MLC記憶單元內(nèi)的位。參照?qǐng)D15，控制引擎1052接收地址并在已選定的行、列交叉處選擇一個(gè)或多個(gè)快閃記憶單元。MLC地址傳送至解譯邏輯器(translationlogic)1060，使每一記憶單元產(chǎn)生多個(gè)位。根據(jù)控制邏輯1052的MLC地址，對(duì)解譯邏輯器1060所輸出的每一記憶單元的位中，挑選一個(gè)或多個(gè)位。一般而言，8個(gè)或還多快閃記憶單元是受平行的8個(gè)或還多位線所讀取與感應(yīng)，或是受8個(gè)或還多個(gè)解譯邏輯器1060的副本所讀取與感應(yīng)，但只有位劃分^皮顯示。位線1058受上拉(pullup)1056先充電，被選定的快閃記憶單元1054是在被選定的行與列的交叉處，且快閃記憶單元1054具有一柵極電壓VG,其是在通道打開時(shí)受施加，取決在快閃記憶單元1054的狀態(tài)。不同的狀態(tài)可能^皮程序化至快閃記憶單元1054，每個(gè)狀態(tài)在快閃記憶單元1054的浮動(dòng)斥冊(cè)極上儲(chǔ)存了不同數(shù)量的電荷，因此每個(gè)狀態(tài)造成不同大小的通道電流流經(jīng)快閃記憶單元1054,從位線1058至接地端。可調(diào)變電流流經(jīng)快閃記憶單元1054，結(jié)合上拉電流從上拉1056而形成一分壓器。位線1058上的電壓因此隨著被程序化至快閃記憶單元1054中的狀態(tài)而改變。位線1058是作為比較器1030-1040的反相輸入端(invertinginput),非反相輸入端對(duì)比較器1030-1040而言是參考電壓，此參考電壓是由參考-電流產(chǎn)生器1041-1051所產(chǎn)生的。由參考-電流產(chǎn)生器1041-1051所產(chǎn)生的電壓是受控制引擎1052所控制，并回應(yīng)這些用在感應(yīng)四個(gè)記憶單元狀態(tài)的參考狀態(tài)電壓、較高狀態(tài)電壓、較低狀態(tài)電壓。由參考電壓產(chǎn)生器1041-1051所產(chǎn)生的電壓是連續(xù)的高電壓，所以位線電壓超過較低的參考電壓，清除較低狀態(tài)比較器的輸出，而當(dāng)位線電壓無法超過較高的參考電壓，則使得較高狀態(tài)的參考電壓輸出是維持原設(shè)定。從輸出O的比較器30-40過渡到輸出1的比較器1030-1040的位置是指出位線1058的感應(yīng)電壓。例如，當(dāng)比較器輸出O與比較器輸出1,比較器1037與1038發(fā)生0至1的過渡。施加電壓IU2至比較器1037，與施加電壓IR3至比較器1038。位線1038的電壓是位于IU2與IR3之間，是讀為狀態(tài)3(01)。解譯邏輯器1060從比較器1030-1040接收11個(gè)比較器輸出，并偵測從O過渡到1的位置。解譯邏輯器1060產(chǎn)生數(shù)個(gè)輸出，例如讀取數(shù)據(jù)位(readdatabit)Dl、DO,其是2位，用以對(duì)從記憶單元中所讀取的狀態(tài)譯碼。一4位MLC將會(huì)有一解譯邏輯器，其輸出四個(gè)讀取數(shù)據(jù)位D3、D2、Dl、DO。從解譯邏輯器1060的其它輸出在記憶單元程序化期間是有用的。在程序化期間，記憶單元緩慢地被充電或被放電，故在位線1058上的電壓改變。一旦所需的數(shù)據(jù)從數(shù)據(jù)-讀取輸出Dl、DO讀取出，工作停止。然，為確保足夠的噪聲界線(noisemargin)，位線電壓應(yīng)所述的是在較高與較低狀態(tài)電壓之間，例如VL2與VU2之間，而并非是在相鄰的讀取-參考電壓之間，例如VR2與VR3之間。當(dāng)位線電壓是在VR2與VL2之間，啟動(dòng)under-program輸出，當(dāng)位線電壓是在VU2與VR3之間，啟動(dòng)over-program輸出。當(dāng)位線電壓是在VL2與VU3之間，則啫卩不啟動(dòng)under-program輸出與over-program輸出。當(dāng)一所欲的記憶單元值已達(dá)到，也可以啟動(dòng)小于或等于的輸出。位選擇輸出小于或可以供應(yīng)寫入數(shù)據(jù)至解譯邏輯器1060以允許小于或等于的輸出至目標(biāo)邏輯狀態(tài)。解譯邏輯器1060可作為一真值表(truthtable)。因?yàn)閰⒖茧娏髁鹘?jīng)電阻而產(chǎn)生一參考電壓，所以當(dāng)比較器1030-1040是電流比較器，參考-電流產(chǎn)生器1041-1051可以產(chǎn)生參考電流或參考電壓。圖16顯示一可程序化的連續(xù)參考產(chǎn)生器與操作放大器。電壓參考產(chǎn)生器1120產(chǎn)生一較高的參考電壓施加在較上方的操作放大器1161與電阻器1101。校正緩存器(calibrationregister)1122可以程序化至不同數(shù)值以調(diào)整電壓參考產(chǎn)生器1120所產(chǎn)生的最高參考電壓值。對(duì)一連串的電阻器1101-1111施加較高參考電壓，構(gòu)成一分壓器(voltagedivider)至接地端。每個(gè)電阻器1101-1111的電阻值可以一樣大，所以較高參考電壓與接地端的電壓差可分成11個(gè)相同的電壓分段，產(chǎn)生ll個(gè)分電壓?；蛘?，每一電阻1101-1111可以具有一不同的可程序化數(shù)值以提供還多的電壓控制。從電阻器1101-1111的每一個(gè)分壓施加在其中一個(gè)操作》文大器1161-1171的非反相輸入端(+),每個(gè)操作放大器1161-1171的輸出端與反相輸入端是連接在一起以達(dá)到高效益。反相輸出端經(jīng)由4妄地電阻1181-1191連4妄至"l妻地端，其中接地電阻器1181-1191具有相同的電阻值。每一個(gè)4喿作放大器1161-1171產(chǎn)生一參考電壓，其等于施加在非反相輸入端的分壓。因此產(chǎn)生ll個(gè)參考電壓，其所具的電壓值是穩(wěn)定增加。這些參考電流對(duì)應(yīng)圖15的參考-電壓產(chǎn)生器1041-1051所產(chǎn)生的參考電流。當(dāng)讀取快閃記憶單元期間有發(fā)生數(shù)據(jù)錯(cuò)誤，與位線電壓比較的參考電壓會(huì)受到調(diào)整以試著回復(fù)快閃記憶單元內(nèi)的數(shù)據(jù)。例如，漏損(leakage)可能減少儲(chǔ)存在快閃記憶單元浮動(dòng)4冊(cè)極內(nèi)的電荷，造成太多電流流經(jīng)-故選定的快閃記憶單元1054信道(圖15)。因此，位線電壓下降。校正緩存器1122可以重新被程序化以減少電壓參考產(chǎn)生器所產(chǎn)生的最高參考電壓，降低所有施加在操作放大器1161-1171的參考電壓。位線電壓現(xiàn)在可能落在正確參考值中，允許數(shù)據(jù)在沒有超過最大容許ECC錯(cuò)誤數(shù)下受到讀取。校正緩存器1122可以逐漸改變直到受讀取的數(shù)據(jù)都無誤為止。ECC字節(jié)可以用在偵測錯(cuò)誤，所以當(dāng)ECC檢查器報(bào)告出錯(cuò)誤很少或沒有錯(cuò)誤時(shí)，參考-電壓調(diào)整可以停止且讀取數(shù)據(jù)。區(qū)塊可以重新分配。圖17是一MLC在寫入或抹除操作時(shí)的降級(jí)(downgrading)流程圖。當(dāng)寫入或抹除操作期間發(fā)生錯(cuò)誤，步驟1202，在讀取或低活動(dòng)期間，ECC檢查器標(biāo)記出太多^l普誤，則啟動(dòng)此降級(jí)流程。內(nèi)存位(bits-per-cell)指示器從區(qū)塊或特別區(qū)塊的多余區(qū)域讀取，步驟1204。當(dāng)內(nèi)存位指示器已經(jīng)是每記憶單元1位，步驟1206,記憶單元會(huì)先降級(jí)至最小密度，而錯(cuò)誤仍在發(fā)生，降級(jí)是不成功的。步驟1208，通過清除在多余區(qū)域的不良區(qū)塊字節(jié)(Byte)中的位，標(biāo)記區(qū)塊為不良區(qū)塊，所以這個(gè)區(qū)塊現(xiàn)在已經(jīng)從日后的使用移除。步驟1210,假若需要的話，可以選擇另一區(qū)塊來操作。當(dāng)區(qū)塊具有其內(nèi)存位指示器來設(shè)定每一記憶單元的2個(gè)或還多位，則區(qū)塊之后可以降級(jí)。步驟1214,從區(qū)塊多余區(qū)域之內(nèi)存位指示器所讀取的位/記憶單元數(shù)目是減少至下一個(gè)較低的程度，例如從每個(gè)記憶單元的4位(4位/記憶單元)下降至每個(gè)記憶單元的3位(3位/記憶單元)。區(qū)塊的大小可能減少，或區(qū)塊的安排可能改變以配合每個(gè)記憶單元的位所減少的數(shù)目。例如，從4位/記憶單元至3位/記憶單元，區(qū)塊大小可以切成一半。在降級(jí)后，區(qū)塊的頁可以具有一半的邏輯分割器數(shù)目。步驟1216，將被減少的位/記憶單元寫入至內(nèi)存位指示器，以降級(jí)區(qū)塊。寫入或擦拭操作之后可以在降級(jí)區(qū)塊上重新被執(zhí)行。當(dāng)降級(jí)流程因讀取錯(cuò)誤超過而受致動(dòng)，則一旦數(shù)據(jù)已被讀取且重新配置到另一區(qū)塊，區(qū)塊可以被抹除。圖18是使用ECC字節(jié)與通過調(diào)整電壓參考值來讀取錯(cuò)誤修正的流程圖。讀取錯(cuò)誤可通過檢驗(yàn)被讀取數(shù)據(jù)至ECC字節(jié)而受偵測。例如，從數(shù)據(jù)與ECC字節(jié)所產(chǎn)生的非零癥狀可以發(fā)出錯(cuò)誤產(chǎn)生的信號(hào)，與發(fā)出錯(cuò)誤的位位置與錯(cuò)誤校正的信號(hào)。步驟1220,當(dāng)一讀取錯(cuò)誤被偵測到，致動(dòng)此流程。步驟1222，當(dāng)錯(cuò)誤的數(shù)目與位置是允許使用ECC字節(jié)來校正錯(cuò)誤，之后可以使用ECC字節(jié)修正讀取錯(cuò)誤，步驟1242。步驟1230,數(shù)據(jù)可以重新被配置在另一區(qū)塊，利用內(nèi)存位指示器使方塊抹除與選擇性受降級(jí)?？尚Ｕe(cuò)誤的數(shù)目是一固定數(shù)目，例如一ECC極限或隨錯(cuò)誤位置改變，例如一字節(jié)中的任意3位，或任一串4個(gè)不良位。ECC極限也可被任意設(shè)定，或設(shè)為一較低的可修正值，但仍舊有令人不快，表示應(yīng)所述的被降級(jí)的區(qū)塊，即使其錯(cuò)誤是可修正的。在步驟1222,當(dāng)錯(cuò)誤的數(shù)目超過ECC極限時(shí)，ECC機(jī)制并無法修正所有的錯(cuò)誤，故數(shù)據(jù)可能會(huì)遺失。因此，通過調(diào)整與位線電壓比較的參考電壓位準(zhǔn)，來企圖回復(fù)遺失的數(shù)據(jù)。在步驟1224,校正緩存器1122是寫入新數(shù)值數(shù)據(jù)以使電壓參考產(chǎn)生器1120產(chǎn)生一較高的參考電壓。這使得所有的參考電壓一連串的漸漸增加。在步驟1226,使用這些較高的參考電壓讀取區(qū)塊中的數(shù)據(jù)。之后，并使用ECC字節(jié)檢查數(shù)據(jù)是否有錯(cuò)誤。在步驟1228,當(dāng)錯(cuò)誤數(shù)目減少至ECC極限以下，提高參考電壓是成功的。在步驟1232,ECC字節(jié)可以用在修改所有剩下的錯(cuò)誤。在步驟1230,然后數(shù)據(jù)重新安置至其它區(qū)塊。這個(gè)區(qū)塊可以通過圖17的呼叫降級(jí)流程而降級(jí)。當(dāng)儲(chǔ)存在快閃記憶單元的負(fù)電荷數(shù)量增加時(shí)，有時(shí)增加參考電壓是成功的。且，負(fù)電荷增加是由于從讀取或程序化相鄰記憶單元所產(chǎn)生的記憶單元擾動(dòng)造成。超過的負(fù)電荷需要較高的柵極電壓來彌補(bǔ)，所以提高參考電壓是有效的。在步驟1228，當(dāng)錯(cuò)誤的數(shù)目仍超過ECC極限時(shí)，則之后提高參考電壓并不會(huì)成功。其中，可以通過重復(fù)步驟1224-1228(圖中未示)幾次來提升參考電壓。當(dāng)提高參考電壓卻無法回復(fù)數(shù)據(jù)時(shí)，可以降低參考電壓。在步驟1234，圖16的校正緩存器1122是寫入新數(shù)值數(shù)據(jù)以使電壓參考產(chǎn)生器1120產(chǎn)生一較低的參考電壓。這使得所有的參考電壓一連串的漸漸降低。在步驟1236,使用這些較低的參考電壓讀取區(qū)塊中的數(shù)據(jù)。之后，并使用ECC字節(jié)檢查數(shù)據(jù)是否有錯(cuò)誤。在步驟1238，當(dāng)錯(cuò)誤數(shù)目減少至ECC極限以下，降低參考電壓是成功的。在步驟1242，ECC字節(jié)可以用在修改所有剩下的錯(cuò)誤。在步驟1230,然后數(shù)據(jù)重新安置至其它區(qū)塊。這個(gè)區(qū)塊可以通過圖17的呼叫降級(jí)流程而降級(jí)。當(dāng)儲(chǔ)存在快閃記憶單元的負(fù)電荷數(shù)量減少時(shí)，有時(shí)降低參考電壓是成功的。且，漏損(leakage)可以造成負(fù)電荷減少。減少的負(fù)電荷造成多余的通道電流流經(jīng)被選定的記憶單元以響應(yīng)一固定4冊(cè)極電壓。多余的信道電流造成位線電壓比往常電壓低，因此參考電壓必須降低以彌補(bǔ)記憶單元漏損。在步驟1238，當(dāng)錯(cuò)誤的數(shù)目仍超過ECC極限時(shí)，則之后降低參考電壓并不會(huì)成功。其中，可以通過重復(fù)步驟1234-1238(圖中未示)幾次來降低參考電壓。然，當(dāng)數(shù)據(jù)錯(cuò)誤數(shù)目沒有下降至ECC極限以下，則表資料遺失。在步驟1240，發(fā)出一個(gè)不能回復(fù)數(shù)據(jù)錯(cuò)誤的信號(hào)。上述過程的還詳細(xì)的信息可以同時(shí)參考美國專利申請(qǐng)?zhí)?1/737,336號(hào)。根據(jù)某些實(shí)施例，MLC閃存可使用在具有雙重性USB插頭的USB裝置上，可支持多個(gè)通訊接口，也就是雙重性。圖19A-圖19C是根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，顯示具有多重性質(zhì)的USB擴(kuò)充插頭的透視圖。參照?qǐng)D19A,USB擴(kuò)充插頭顯示在完整圖1301與分解圖1302中。在一實(shí)施例中，USB擴(kuò)充插頭1300包括一殼體或外殼1303與一USB連接器基板1304，其中USB連接器基板1304可插入殼體1303中，且殼體1303是金屬制的，也就是金屬殼體。連接器基板1304包括一第一終端與一第二終端，其中第一終端具有復(fù)數(shù)個(gè)金屬指或短小突出部(tab)1305，第二終端包括復(fù)數(shù)個(gè)電子接觸接腳1307。在一特定實(shí)施例中，接腳1307具有9個(gè)接腳。連接器基板1304還包括一個(gè)或多個(gè)彈簧1306，用在當(dāng)其它USB連接器插入至USB擴(kuò)充插頭的開口中，對(duì)另一USB連接器提供壓力而與接觸指1305具有實(shí)質(zhì)接觸。在一實(shí)施例中，接觸指1305可位于連接器基板1304的一上表面上，其它接觸指(圖中未示)可以位于連接器基板1304的一下表面上。例如，接觸指1305與標(biāo)準(zhǔn)USB規(guī)格相符，其它接觸指可設(shè)計(jì)成及其它接口相符，例如PCIExpress或IEEE1349規(guī)格接口。所以，USB擴(kuò)充插頭1300可用在復(fù)數(shù)個(gè)不同通訊接口，也就是雙重性。關(guān)于具有雙重性的USB擴(kuò)充插頭的還詳細(xì)的信息可在上述的申請(qǐng)案或?qū)＠钢姓业?，例如美國專利?hào)7,021,971與美國專利申請(qǐng)?zhí)?1/864,696,故可一并參考?，F(xiàn)在請(qǐng)參照?qǐng)D19B，USB擴(kuò)充插頭1300可以連接至PCBA，其中PCBA具有一內(nèi)存裝置與一用在控制內(nèi)存裝置之內(nèi)存控制器。如圖19B的上方俯視圖1308、側(cè)視圖1309、下方俯視圖1310所示，USB擴(kuò)充插頭1300連接至PCB基板1311,例如通過焊接接腳1307在PCB基板1311上。此外，一內(nèi)存裝置，如閃存裝置可位于PCB基板1311的一表面上，一內(nèi)存控制器，如快閃控制器則位于其它表面。在本范例中，內(nèi)存裝置1315是位于PCB基板1311的底部表面1313上，內(nèi)存控制器1314是位于PCB基板1311的上方表面1312上。在一實(shí)施例中，內(nèi)存裝置1315可以是一MLC兼容內(nèi)存，內(nèi)存控制器1314則可以是一MLC兼容內(nèi)存控制IC。根據(jù)另一實(shí)施例，對(duì)于第19(A)-19(B)圖所敘述的技術(shù)也可應(yīng)用在閃存與快閃控制器是整合在單一封裝上，如第19(C)圖所顯示的板上芯片(chiponboard,COB)封裝。參照?qǐng)D19C,一COB封裝1316可是一種MLC封裝，可位于如PCB基板1311的上表面1312上，其中COB封裝1316可通過一個(gè)或多個(gè)位于COB封裝1316表面上的接觸指(contactfinger)1317連接(例如焊接)。圖20A與圖20B是根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，顯示具有多重性質(zhì)的USB擴(kuò)充插頭的透視圖。參照?qǐng)D20A，USB延伸插頭是顯示在完整圖1401與分解圖1402中。在一實(shí)施例中，USB擴(kuò)充插頭1400包括一殼體或外殼1403與一USB連接器基板1404，其中USB連接器基板1404可插入殼體1403中，且殼體1403是金屬制的，也就是金屬殼體。連接器基板1404包括一第一終端與一第二終端，其中第一終端具有復(fù)數(shù)個(gè)電子接觸指或短小突出部(tab)，第二終端包括復(fù)數(shù)個(gè)電子接觸接腳1407。在一特定實(shí)施例中，接腳1407具有一第一列與一第二列，其中第一列具有5個(gè)接腳，第二列具有4個(gè)接腳。連接器基板1404還包括一個(gè)或多個(gè)彈簧1406，用在當(dāng)其它USB連接器插入U(xiǎn)SB擴(kuò)充插頭的開口中，對(duì)另一USB連接器提供壓力而與接觸指1405具有實(shí)質(zhì)接觸。在一實(shí)施例中，類似在USB擴(kuò)充插頭1300,4妻觸指1405可位于連接器基板1404的一上表面上，其它接觸指(圖中未示)可以位于連接器基板1404的一下表面上。例如，接觸指1405與標(biāo)準(zhǔn)USB規(guī)格相符，其它接觸指可設(shè)計(jì)成及其它接口相符，例如PCIExpress或IEEE1349接口規(guī)格。所以，USB擴(kuò)充插頭1400可用在復(fù)數(shù)個(gè)不同通訊接口，也就是雙重性?，F(xiàn)在請(qǐng)參照?qǐng)D20B,USB擴(kuò)充插頭1400可以連接至PCBA，其中PCBA具有一內(nèi)存裝置與一用在控制內(nèi)存裝置之內(nèi)存控制器。如圖20B的上方俯視圖1408、側(cè)視圖1409、下方俯視圖1410所示，USB擴(kuò)充插頭1400連接至PCB基板，例如通過焊接接腳1407在PCB基板上。如在側(cè)視圖1409所顯示的例子中，接腳1407的第一行可焊接在PCB基板的一上表面上，第二行可焊接在PCB基板的一下表面上，反的也然。此外，一內(nèi)存裝置，如閃存裝置可位于PCB基板的一表面上，一記體控制器如快閃控制器則可位于PCB基板的其它表面上。在本范例中，類似在圖19A-圖19B所示，一內(nèi)存裝置是位于PCB基板的底部表面上，內(nèi)存控制器是位于PCB基板的上方表面上。且，內(nèi)存裝置可以是一MLC兼容內(nèi)存，內(nèi)存控制器則可以是一MLC兼容內(nèi)存控制IC。同樣地，根據(jù)再一實(shí)施例，對(duì)于圖20A-圖20B所敘述的技術(shù)也可應(yīng)用在閃存與快閃控制器是整合在單一封裝上，如圖20C所顯示的COB封裝。也可用其它種形式的封裝。圖21A-圖21I是顯示USB擴(kuò)充連接器與具有金屬接觸接腳的插槽的實(shí)施例，其中金屬接觸接腳是位于接腳基板的上表面與下表面。請(qǐng)注意如圖21A-圖21I所示的實(shí)施例，是可與前述的任何實(shí)施例接合。參照?qǐng)D21A,擴(kuò)充連接器具有塑料殼體2176以供使用者要插入連接器插頭至插槽時(shí)握住。接腳基板2170供四個(gè)金屬接觸接腳2188位于其上表面，其中基板2170是絕緣材，如陶資、塑料或其它材質(zhì)。金屬引腳(lead)或?qū)Ь€可以通過接腳基板2170以連接金屬接觸接腳2188至位于塑料殼體2176內(nèi)用在連接周邊裝置的導(dǎo)線。5個(gè)背面金屬接觸接腳2172是位于接腳基板2170的底部，接近連接器插頭的末端。背面金屬接觸接腳2172是額外的接腳，用在擴(kuò)充信號(hào)，如PCIExpress信號(hào)。金屬引腳(lead)或?qū)Ь€可以通過接腳基板2170以連接金屬接觸接腳2172至位于塑料殼體2176內(nèi)用在連接周邊裝置的導(dǎo)線。在某些實(shí)施例中，金屬蓋體2173是一矩形管體，環(huán)繞著接腳基板2170與具有一開口端。一位于接腳基板2170底部的金屬蓋體2173上的開口是容許背面金屬接觸接腳2172受到暴露。圖21B顯示一USB擴(kuò)充插槽，其具有4個(gè)金屬接觸接腳位于接腳基板的上表面，5個(gè)金屬接觸接腳位于接腳基板的下表面。接觸基板2184具有4個(gè)金屬接觸接腳2186形成在一底面上，此底面是面向供連接器的接腳基板2170插入的凹槽。接腳基板2184也具有較低的基板延伸部2185,具有一L形狀的接腳基板，這是現(xiàn)有USB插槽所沒有的。5個(gè)金屬接觸接腳2180是位于一較低的基板延伸部2185,靠近凹槽的開口端。一凸塊(bump)或彈簧可形成在金屬接觸接腳2180上，例如通過彎折平坦的金屬接腳。這個(gè)凸塊容許金屬接觸接腳2180接觸背面的金屬接觸接腳2172,其位于連接器的接腳基板2170。凹槽是由接腳基板2184的底面、較低的接腳基板2185的上表面與接腳基板2184的背面連接較低基板延伸部2185所形成的。金屬蓋體2178是金屬管體，覆蓋接腳基板2184與較低的基板延伸部2185。USB連接器的金屬蓋體2173填充位于金屬蓋體2175與接腳基板2184上邊、側(cè)邊之間之間隙。安裝接腳(mountingpin)2182可形成在金屬蓋體2178上來安裝USB插槽至PCB或底架上。圖21C顯示接腳基板2184的底面，以供金屬接觸接腳2186位于其上。這四個(gè)接腳帶有現(xiàn)有USB的不同信號(hào)、電力、接地，并與位于接腳基才反2170上表面的USB連接器的金屬接觸接腳2188接觸，如圖21D所示。USB接觸器具有5個(gè)背面金屬接觸接腳2172位于接腳基板2170的底部表面上，排設(shè)方式如圖21D所示。這些接腳2172與擴(kuò)充的金屬接觸"l妄腳2180接觸，如圖21C所示排設(shè)在較低的基板延伸部2185上。這5個(gè)擴(kuò)充接腳帶有擴(kuò)充信號(hào)，如PCIExpress信號(hào)。圖21E顯示具有9接腳的USB連接器插頭插入9接腳的USB插槽中。當(dāng)完全插入后，接觸基板2170的末端安裝在接腳基板2184與USB插槽的較低基板延伸部2185之間。在連接器的接腳基板2170的上表面上，金屬接觸接腳2188與插槽接腳基板2184的四個(gè)金屬接觸接腳2186接觸。位于接腳基才反2170底面的背面金屬接觸接腳2172是與較低基板延伸部2185的上表面的延伸金屬接觸接腳2810接觸。因?yàn)楸趁娼饘俳佑|接腳2172有凹進(jìn)去而不會(huì)與現(xiàn)有USB插槽的金屬蓋體2138接觸。圖21F顯示連接器未插入U(xiǎn)SB插槽前，標(biāo)準(zhǔn)的4接腳USB連接器與擴(kuò)充的9接腳USB連接器的示意圖。當(dāng)完全插入時(shí)，就如圖21G所示，連接器接腳基板2134的末端插在插槽接觸基板2134的下方。在連接器接腳基板2134的上表面處，金屬接觸接腳2132與插槽接腳基板2184的四個(gè)金屬接觸接腳2186接觸。因?yàn)闃?biāo)準(zhǔn)4接腳的USB連接器只具四個(gè)接腳2132，故插槽接腳基板2185的上表面的接觸接腳與USB連接器沒有電性接觸。圖22A-圖22I顯示USB連接器與插槽的第二實(shí)施例示意圖，具有金屬接觸接腳位于接觸基板表面的其中之一。圖22A顯示一擴(kuò)充9接腳的USB連接器插頭具有四個(gè)金屬接腳與五個(gè)擴(kuò)充金屬接腳在接腳基板的上表面。圖22A中，連接器具有塑料殼體2196以供使用者要插入連接器插頭至插槽時(shí)握住。接腳基板2190供金屬接觸接腳2200、2201位于其上表面，其中基板2190是絕緣材，如陶瓷、塑料或其它材質(zhì)。金屬引腳(lead)或?qū)Ь€可以通過接腳基板21卯以連接金屬接觸接腳2200、2201至位于塑料殼體2196內(nèi)用在連接周邊裝置的導(dǎo)線。接腳基板2190的長度是比接腳基板2134的長度L2長。增加的長度可為2-5毫米，末端金屬接腳2201是大部分位于超過L2的延伸區(qū)域中。金屬蓋體2193是矩形管體，環(huán)繞著接腳基板2190且具有一開口端。圖22B顯示一擴(kuò)充插槽，具有四個(gè)金屬接觸接腳與五個(gè)擴(kuò)充金屬接觸接腳位于接腳基板表面的其中之一上。接腳基板2204具有金屬接觸接腳2206、2207形成在一朝向凹槽的表面上，此凹槽是供連接器的接腳基板2190插入。接腳基板2204不需要圖21B的較低的基板延伸部，但可以如圖所示具有L形狀。金屬蓋體2198是一金屬管體，覆蓋著接腳基板2204且有位于下方的開口。USB連接器的金屬蓋體2193插入金屬蓋體2198與接腳基板2204上邊、側(cè)邊之間之間隙。安裝接腳2202可以形成在金屬蓋體2198上以安裝USB延伸插槽至PCB或底架上。圖22(C)顯示一擴(kuò)充9接腳的USB連接器插頭插入9接腳的插槽。形成在插槽的接腳基板2204的底面的金屬接觸接腳2207與2206，分別與位于接腳基板2190的金屬接腳2201與2202接觸。圖22(D)顯示插槽接腳基板2204的底面，可供金屬接觸接腳2206、2207位于其上。主要的金屬接觸接腳2206是在第一排的五個(gè)接腳，最靠近插槽開口。次要的金屬接觸接腳2207是在第二排的四個(gè)接腳，離插槽開口最遠(yuǎn)次要的金屬接觸接腳2207包括四個(gè)USB接腳。主要的金屬接觸接腳2206包括擴(kuò)充接腳，用在支持其它接口規(guī)格，例如PCI-Express。當(dāng)USB連接器完全插入U(xiǎn)SB插槽時(shí)，接腳基4反2190的末端插在USB插槽的接觸基板2204下方的凹槽。在連接器接腳基板2190的上表面處，金屬接觸接腳2200與插槽接腳基板2204的六個(gè)主要金屬接觸接腳2206接觸，位于接腳基板2190上表面末端的金屬接觸接腳2201與位于接腳基板2204向下表面上的次要擴(kuò)充金屬接觸接腳2207接觸。圖22(F)顯示一擴(kuò)充的9接腳連接器在未插入一標(biāo)準(zhǔn)4接腳USB插槽前的示意圖。當(dāng)完全插入時(shí)，如圖22(G)所示，接腳基板2190的末端插入插槽接腳基板2142的下方。在連接器接腳基板2190的上表面，末端金屬"l妄觸接腳2201的第一、第三、第四、第六個(gè)與插槽接腳基板2142的四個(gè)USB金屬接觸接腳2144接觸。在接腳基板2190上表面的最后一排的金屬接腳2200與插槽金屬蓋體2138或任何金屬接觸接腳沒有接觸，因?yàn)樗麄兾挥谶B接器接腳基板2190太后面的位置。因此只有四個(gè)標(biāo)準(zhǔn)USB接腳(金屬接觸接腳2144、2201)可以電性接觸。圖22H顯示一標(biāo)準(zhǔn)4接腳USB連接器在插入一擴(kuò)充的9接腳USB插槽前的示意圖。當(dāng)完全插入時(shí)，如第22(I)圖所示，連接器接腳基板2134的末端插入插槽接腳基板2204的下方。在連接器接腳基板2134的上表面，金屬接觸接腳2132與插槽接腳基板2204的第一、第三、第四、第六個(gè)的四個(gè)主要金屬接觸接腳2206接觸。在基板2204的次要金屬接觸接腳2207與接觸器金屬蓋體2133沒有接觸，因?yàn)閿U(kuò)充的USB插槽的深度比現(xiàn)有技藝的USB連接器的長度大。因此只有四個(gè)標(biāo)準(zhǔn)USB接腳(金屬接觸接腳2132、2206)可以電性接觸。如第22(F)-22(I)圖所示，擴(kuò)充的9接腳USB連接器插頭、插槽與標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)有4接腳USB插槽、USB連接器插頭電性連接與機(jī)械方面相符。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明而言僅僅是說明性的，而非限制性的。本專業(yè)技術(shù)人員理解，在本發(fā)明權(quán)利要求所限定的精神和范圍內(nèi)可對(duì)其進(jìn)行許多改變，修改，甚至等效，但都將落入本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。權(quán)利要求1.一種格式化/測試通用序列總線裝置的方法，其特征在于其是利用一含有計(jì)算系統(tǒng)的測試主機(jī)實(shí)現(xiàn)的，所述的方法是包括耦接復(fù)數(shù)USB裝置至所述的測試主機(jī)，每一所述的USB裝置包括一快閃控制器與至少一個(gè)閃存裝置，其中每一所述的USB裝置包括一擴(kuò)充的USB連接器插頭，耦接一印刷電路版裝置或耦接一板上芯片，其具有至少一個(gè)閃存裝置與快閃控制器，其中所述的擴(kuò)充USB連接器插頭包括一擴(kuò)充接腳基板，具有一擴(kuò)充長度，其大于或等于標(biāo)準(zhǔn)USB連接器插頭的接腳基板的標(biāo)準(zhǔn)長度；復(fù)數(shù)插頭的標(biāo)準(zhǔn)金屬接觸接腳，位于所述的接腳基板上，所述的擴(kuò)充USB連接器插頭的標(biāo)準(zhǔn)接腳基板插入標(biāo)準(zhǔn)USB插槽的一凹槽內(nèi)，標(biāo)準(zhǔn)金屬接觸接腳與所述的插頭標(biāo)準(zhǔn)金屬接觸接腳實(shí)質(zhì)電性接觸；與復(fù)數(shù)插頭擴(kuò)充金屬接觸接腳位于所述的擴(kuò)充接腳基板上，所述的擴(kuò)充USB連接器插頭的所述的擴(kuò)充接腳基板插入擴(kuò)充USB插槽的一凹槽內(nèi)，使位于所述的擴(kuò)充接腳基板上的所述的插頭擴(kuò)充金屬接觸接腳與位于所述的擴(kuò)充USB插槽上的插槽擴(kuò)充金屬接觸接腳實(shí)質(zhì)電性接觸；從每一所述的USB裝置讀取至少一控制器端點(diǎn)描述符值，核對(duì)每一所述的USB裝置的所述的控制器端點(diǎn)描述符值是與儲(chǔ)存在所述的測試主機(jī)的描述符值相配；與對(duì)具有一有效端點(diǎn)描述符值的每一所述的USB裝置格式化/測試，通過以管線方式將預(yù)定數(shù)據(jù)寫入至閃存裝置內(nèi)，之后從所述的閃存裝置內(nèi)讀取所述的預(yù)定數(shù)據(jù)，將受讀取的所述的預(yù)定數(shù)據(jù)與存在所述的測試主機(jī)的已知良好數(shù)據(jù)值比較。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的格式化/測試通用序列總線裝置的方法，其特征在于還包括安裝一USB驅(qū)動(dòng)器至所述的測試主機(jī)，指示所述的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)一旦偵測所述的USB裝置就阻止標(biāo)準(zhǔn)的USB注冊(cè)流程。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的格式化/測試通用序列總線裝置的方法，其特征在于還包括設(shè)置所述的USB裝置，使所述的USB裝置連接至一面板。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的格式化/測試通用序列總線裝置的方法，其特征在于在所述的USB裝置連接至所述的面板之前，還包括單一化所述的面板，或在連續(xù)格式化/測試所有所述的USB裝置后，單一化所述的面板。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的格式化/測試通用序列總線裝置的方法，其特征在于從每一所述的USB裝置讀取所述的控制器端點(diǎn)描述符值的步驟，其括讀取至少一組態(tài)描述符值、一大量儲(chǔ)存類別碼值、一供貨商辨識(shí)值與一產(chǎn)品辨識(shí)值。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的格式化/測試通用序列總線裝置的方法，其特征在于還包括顯示一相對(duì)應(yīng)的有色旗標(biāo)在所述的測試主機(jī)的一監(jiān)視器上，以核對(duì)存在每一所述的USB裝置的所述的控制器端點(diǎn)描述符值是與所述的儲(chǔ)存的描述符值相配。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的格式化/測試通用序列總線裝置的方法，其特征在于在所述的格式化/測試步驟中，其包括掃瞄儲(chǔ)存在所述的閃存裝置的不良區(qū)塊數(shù)據(jù)，以及核對(duì)每個(gè)閃存裝置的儲(chǔ)備儲(chǔ)存容量是等于一預(yù)定大小。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的格式化/測試通用序列總線裝置的方法，其特征在于在所述的格式化/測試步驟中，其包括寫入至少兩不良區(qū)域數(shù)據(jù)副本至所述的閃存裝置的預(yù)定區(qū)塊中，其中所述的不良區(qū)域數(shù)據(jù)是辨識(shí)在所述的閃存裝置上的不良區(qū)塊。9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的格式化/測試通用序列總線裝置的方法，其特征在于所述的閃存裝置包括復(fù)數(shù)個(gè)非揮發(fā)性記憶單元，其為一單一層單元類型或一多層單元類型。10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的格式化/測試通用序列總線裝置的方法，其特征在于所述的測試/格式化包括寫入至少一句柄數(shù)據(jù)與啟動(dòng)碼數(shù)據(jù)，或?qū)懭胧褂谜咚峁┑臄?shù)據(jù)，或?qū)懭脒€新序號(hào)、日期碼、產(chǎn)品版本碼數(shù)值至所述的閃存裝置的預(yù)定區(qū)塊中。全文摘要本發(fā)明為一種大量測試/格式化過程，提供給基于通用序列總線(USB-based)的電子數(shù)據(jù)快閃卡(USB裝置)，以滿足電子數(shù)據(jù)快閃卡日益增加的需求。一測試主機(jī)同時(shí)耦接至復(fù)數(shù)個(gè)USB裝置(例如一具有多端口的卡片閱讀機(jī)或探針卡具)，從每一USB裝置讀取一控制器端點(diǎn)值，且利用一已知良好值確認(rèn)此控制器端點(diǎn)值，然后，對(duì)每個(gè)USB裝置進(jìn)行測試/格式化，用管線方式對(duì)每個(gè)USB裝置寫入預(yù)定數(shù)據(jù)。在一實(shí)施例中，測試主機(jī)利用特定的USB驅(qū)動(dòng)器在偵測到復(fù)數(shù)USB裝置時(shí)，會(huì)阻止標(biāo)準(zhǔn)USB注冊(cè)程序。句柄與/或啟動(dòng)碼數(shù)據(jù)寫入至閃存裝置內(nèi)(即不是寫入控制器ROM中)。文檔編號(hào)G11C29/56GK101409111SQ20081008778公開日2009年4月15日申請(qǐng)日期2008年3月31日優(yōu)先權(quán)日2007年10月11日發(fā)明者周圭璋,李威若,沈明祥,馬治剛申請(qǐng)人:智多星電子科技有限公司