專利名稱：閃存介質(zhì)掃描方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體存儲介質(zhì)領(lǐng)域，特別涉及一種閃存介質(zhì)掃描方法。
背景技術(shù)：
閃存介質(zhì)(Flash)包括多個存儲塊簡稱塊(Block,擦除閃存介質(zhì)的基 本單位)，每個塊包括多個頁(Page，讀寫閃存介質(zhì)的基本單位)，每個頁包 括多個位(bit,取值為0或1)?？梢詫崿F(xiàn)取值從"0"到"1"和從"1"到 "0"的逆轉(zhuǎn)換的位稱為好位，否則認為是壞位，不能用于存儲數(shù)據(jù)。為識別 閃存介質(zhì)是否可以使用，需掃描其內(nèi)部的塊。現(xiàn)有一種閃存介質(zhì)掃描的流程 如圖1所示，判斷某塊是否好塊的做法是將某塊擦除，然后寫數(shù)據(jù)到該塊，再 從每一頁中讀出數(shù)據(jù)，與寫入的數(shù)據(jù)相比較。當某頁中超過預(yù)定數(shù)量的位出 現(xiàn)寫入和讀出的數(shù)據(jù)不相同，則認為該頁是不可使用的頁，簡稱壞頁；否則 認為該頁是好頁。同理，當某塊中超過預(yù)定數(shù)量的頁為壞頁，則認為該塊是 不可使用的塊，簡稱壞塊；否則認為該塊是好塊。對于包含較少壞塊的閃存 介質(zhì)，采用上述掃描方法就可以順利完成識別。
隨著閃存介質(zhì)技術(shù)和應(yīng)用的快速發(fā)展，閃存介質(zhì)市場越來越大，容量越 來越高，開發(fā)商對閃存介質(zhì)掃描效率和閃存介質(zhì)良率提出新的要求，有的要 求能夠快速找出壞塊完成識別，有的要求能夠全面準確地找出壞塊，還有的 則要求又快速又準確地完成識別。對于多種掃描要求，現(xiàn)有的閃存介質(zhì)掃描 算法已經(jīng)無法同時滿足。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種閃存介質(zhì)掃描方法，以實現(xiàn)對閃存介質(zhì)不同
等級的掃描，^v而滿足各種掃描要求。
本發(fā)明提供一種閃存掃描方法，通過對閃存掃描確定閃存好塊和壞塊，
包括步驟選擇掃描等級；根據(jù)選擇的掃描等級，使用與掃描等級對應(yīng)的掃 描方式對閃存介質(zhì)進行掃描，形成至少一掃描結(jié)果；整合掃描結(jié)果，得到最 終掃描結(jié)果。
優(yōu)選地，上述掃描方式包括將閃存介質(zhì)所有塊擦除；檢查閃存介質(zhì)， 判斷是否正確擦除，產(chǎn)生掃描結(jié)果；將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機。優(yōu)選地，上述掃描方式還包括將掃描數(shù)據(jù)寫入指定地址；；險查指定地 址的數(shù)據(jù)，產(chǎn)生掃描結(jié)果；將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機；將閃存介質(zhì)中 指定塊擦除；檢查閃存介質(zhì)指定塊，判斷是否正確纟察除，產(chǎn)生掃描結(jié)果；將 掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機。
上述掃描數(shù)據(jù)為全"0"。
優(yōu)選地，上述掃描方式還包括將正掃描數(shù)據(jù)寫入指定地址；4全查指定 地址的數(shù)據(jù)，產(chǎn)生掃描結(jié)果；將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機；將閃存介質(zhì) 中指定塊擦除；將反掃描數(shù)據(jù)寫入指定地址；檢查指定地址的數(shù)據(jù)，產(chǎn)生掃 描結(jié)果；將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機。
優(yōu)選地，上述閃存掃描方法還包括快速檢查閃存介質(zhì)的步驟。
優(yōu)選地，上述快速檢查介質(zhì)是讀取閃存介質(zhì)中的塊中至少一頁、頁中至 少一位和/或至少一字節(jié)中的數(shù)據(jù)，檢查數(shù)據(jù)是否被正確擦除，找出未能正確 擦除的塊，將其認為是壞塊。
優(yōu)選地，上述掃描方式還包括將正掃描數(shù)據(jù)寫入指定地址；4企查指定 地址的數(shù)據(jù)，產(chǎn)生掃描結(jié)果；將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機。
優(yōu)選地，上述正掃描數(shù)據(jù)取反得到反掃描數(shù)據(jù)；正掃描數(shù)據(jù)和反掃描數(shù) 據(jù)均為非全"0"的掃描數(shù)據(jù)。
優(yōu)選地，上述閃存掃描方法根據(jù)產(chǎn)生的掃描結(jié)果剔除壞塊，對好塊進行 數(shù)據(jù)寫入、讀取、擦除和/或掃描。
本發(fā)明提供的閃存介質(zhì)掃描方法，根據(jù)對掃描的不同需求和嚴格程度將 掃描分成多個等級，不同掃描等級對應(yīng)的掃描方式不同。高掃描等級對應(yīng)的 掃描方式嚴格全面，可以對閃存中所有的頁中所有的位進行掃描，非常全面 但掃描速度較低。低掃描等級對應(yīng)的掃描方式不需對閃存介質(zhì)進行寫:f喿作， 可在很短時間內(nèi)完成掃描，但掃描準確度不高。另外還設(shè)有多個中間等級， 一定程度上兼顧掃描速度和掃描的全面性，以便根據(jù)待掃描閃存介質(zhì)的特性 和掃描要求，選擇合適的掃描等級，在保證準確性的前提下提高掃描速度。


圖l是本發(fā)明第一實施例閃存掃描方法流程示意圖； 圖2是本發(fā)明第二實施例擦除掃描方式流程示意圖； 圖3是本發(fā)明第三實施例的掃描方式流程示意圖； 圖4是本發(fā)明第四實施例的掃描方式流程示意圖； 圖5是本發(fā)明第五實施例的掃描方式流程示意圖； 圖6是本發(fā)明第六實施例快速檢查方式流程示意圖；圖7是本發(fā)明第七實施例對塊掃描的流程示意圖。
本發(fā)明目的的實現(xiàn)、功能特點及優(yōu)點將結(jié)合實施例，參照附圖做進一步 說明。
具體實施例方式
本發(fā)明提出第 一 實施例通過設(shè)置多個不同的掃描等級對閃存介質(zhì)進行掃 描，根據(jù)掃描等級確定掃描方式，從而可以實現(xiàn)對閃存介質(zhì)分別進行不同精 度、不同速度的掃描，滿足多種掃描要求。
圖1示出本實施例閃存掃描方法流程示意圖，包括步驟
步驟Sl，選擇掃描等級；預(yù)設(shè)的多個掃描等級，每個掃描等級對應(yīng)不同
的掃描方式，以分別滿足多種掃描要求，根據(jù)掃描要求和閃存介質(zhì)的特性選
擇掃描等級；
步驟S2,根據(jù)選擇的掃描等級，使用與掃描等級對應(yīng)的掃描方式對閃存 介質(zhì)進行掃描，形成至少一掃描結(jié)果；
步驟S3，整合上述步驟S2形成的掃描結(jié)果，得到最終掃描結(jié)果。
基于上述實施例本發(fā)明還提出第二實施例。本實施例中的掃描等級包括 第一等級，第一等級對應(yīng)的掃描方式為擦除掃描方式，即對閃存介質(zhì)4察除后， 檢查部分或全部數(shù)據(jù)是否正確擦除，據(jù)此找出壞塊的過程。
如圖2所述，擦除掃描方式包括步驟
步驟Sll,將閃存介質(zhì)所有塊擦除；
步驟S12,檢查閃存介質(zhì)，判斷塊中的數(shù)據(jù)是否正確擦除，產(chǎn)生掃描結(jié)果； 步驟S13，將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機，流程結(jié)束。
具體來說，在上述掃描周期過程的步驟S 12是讀取閃存介質(zhì)中的塊中至少 一頁、頁中至少一位和/或至少一字節(jié)中的數(shù)據(jù)，檢查數(shù)據(jù)是否被正確擦除， 找出未能正確擦除的塊，將其認為是壞塊。由于好塊被擦除后，其中的所有 位都應(yīng)為"1",因此將讀出數(shù)據(jù)不為"1"的位所在的塊認為是無法正確4察除 的壞塊，讀出數(shù)據(jù)全為'T，的塊認為是可以正確擦除的好塊。執(zhí)行該步驟時， 可以讀取并判斷所有塊中的所有數(shù)據(jù)，也可僅抽取至少一塊，對塊中至少一 頁讀取數(shù)據(jù)；進一步地，對抽取的至少一頁也不讀取所有位，而是僅抽耳又頁 中至少一位或至少一字節(jié)，才企查這些位或字節(jié)的數(shù)據(jù)。抽取頁、位和/或字節(jié) 可使用隨機算法實現(xiàn)。步驟S12產(chǎn)生的掃描結(jié)果包括閃存介質(zhì)各塊中包含好、 壞頁的信息。步驟S13，將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機，供主機根據(jù)所有各塊的好、 壞頁信息生成閃存介質(zhì)的好壞塊信息表。
基于上述實施例本發(fā)明還提出第三實施例。本實施例中的掃描等級包括
第二等級，參照圖3,第二等級對應(yīng)的掃描方式包括 步驟S21，將閃存介質(zhì)所有塊擦除；
步驟S22，檢查閃存介質(zhì)，判斷數(shù)據(jù)是否正確擦除，產(chǎn)生掃描結(jié)果； 步驟S23,將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機；
步驟S24,接收主機發(fā)來的寫數(shù)據(jù)指令，根據(jù)指令中的指定地址，將掃描 數(shù)據(jù)寫入指定地址；該掃描數(shù)據(jù)為全"0";
步驟S25,分別讀取指定地址的數(shù)據(jù)，檢查數(shù)據(jù)是否為全"0"，產(chǎn)生掃描 結(jié)果；
步驟S26,將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機；
步驟S27,接收主機發(fā)來的指令，根據(jù)指令中的指定起始地址和長度，將 閃存介質(zhì)中指定塊擦除；
步驟S28，檢查閃存介質(zhì)指定塊，判斷數(shù)據(jù)是否正確擦除，產(chǎn)生掃描結(jié)果； 步驟S29，將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機，流程結(jié)束。
上述流程中，步驟S21、 S22和S23與前一實施例的纟察除掃描過程和產(chǎn)生的 掃描結(jié)果相似，故不贅述。
步驟S24中，主機發(fā)來的寫數(shù)據(jù)指令中的指定地址是根據(jù)步驟S23的掃描 結(jié)果得到的閃存介質(zhì)中所有好塊的地址，即根據(jù)步驟S23得到的掃描結(jié)果，剔 除壞塊，僅對好塊進行寫數(shù)據(jù)和掃描。
步驟S25，由于步驟S24寫入的掃描數(shù)據(jù)為全"0"，因此該步驟檢查出讀 取的數(shù)據(jù)不為全"0"的塊為壞塊，據(jù)此產(chǎn)生掃描結(jié)果。本步驟可以抽取至少 一塊讀取其中的數(shù)據(jù)；進一步地，對抽取的至少一塊也可以不讀取所有位， 而是僅抽取至少一位或至少一字節(jié)讀取數(shù)據(jù)，檢查這些位或字節(jié)的數(shù)據(jù)。抽 取塊、頁、位和/或字節(jié)可使用隨機算法實現(xiàn)。
步驟S27,主機發(fā)來的寫數(shù)據(jù)指令中的指定地址是結(jié)合步驟S23和步驟S26 的掃描結(jié)果得到的閃存介質(zhì)中所有好塊的地址，即根據(jù)步驟S23和S26得到的 掃描結(jié)果，剔除壞塊，僅對好塊進行寫數(shù)據(jù)和掃描。
步驟S28和S29與前一實施例的擦除掃描過程相似，故不贅述；步驟S29產(chǎn) 生的掃描結(jié)果發(fā)給主機，供主機將步驟S29、步驟S23和步驟S26的掃描結(jié)果結(jié) 合起來，得到最終掃描結(jié)果。
本實施例提供的掃描流程可對閃存介質(zhì)實現(xiàn)較快且較全面的掃描。本實
7施例只進行一次寫數(shù)據(jù)，即可檢測出閃存介質(zhì)是否能夠?qū)崿F(xiàn)"0"和"1"的 相互轉(zhuǎn)換， 〃(人而完成對閃存介質(zhì)的掃描。
本發(fā)明提出第四實施例，本實施例中的掃描等級包括第三等級，參照圖4 ，
第三等級對應(yīng)的掃描方式包括
步驟S301,將閃存介質(zhì)所有塊擦除；
步驟S302,檢查閃存介質(zhì)，判斷數(shù)據(jù)是否正確擦除，產(chǎn)生掃描結(jié)果； 步驟S303，將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機；
步驟S304,接收主機發(fā)來的寫數(shù)據(jù)指令，根據(jù)指令中的指定地址，將正 掃描數(shù)據(jù)寫入指定地址；
步驟S305,分別讀取指定地址中的數(shù)據(jù)，將讀取的數(shù)據(jù)與寫入的正掃描 數(shù)據(jù)相比較，將寫入和讀出的數(shù)據(jù)存在不一致的塊認為是壞塊，否則認為是 好塊，產(chǎn)生掃描結(jié)果；
步驟S306，將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機；
步驟S307,接收主機發(fā)來的指令，根據(jù)指令中的指定起始地址和長度， 將閃存介質(zhì)中指定塊擦除；
步驟S308，接收主機發(fā)來的寫數(shù)據(jù)指令，根據(jù)指令中的指定地址，將反 掃描數(shù)據(jù)寫入指定地址；
步驟S309，分別讀取指定地址中的數(shù)據(jù)，將讀取的數(shù)據(jù)與寫入的反掃描 數(shù)據(jù)相比較，將寫入和讀出的數(shù)據(jù)存在不一致的塊認為是壞塊，否則認為是 好塊，產(chǎn)生掃描結(jié)果；
步驟S310,將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機；
步驟S311,接收主機發(fā)來的指令，根據(jù)指令中的指定起始地址和長度， 將閃存介質(zhì)中指定塊擦除；
步驟S312，快速檢查閃存介質(zhì)，流程結(jié)束。
上述流程中，步驟S301、 S302和S303與第一實施例的i察除掃描過程和產(chǎn) 生的掃描結(jié)果相似，故不贅述。
步驟S304中，主機發(fā)來的寫數(shù)據(jù)指令中的指定地址是根據(jù)步驟S303的掃 描結(jié)果得到的閃存介質(zhì)中所有好塊的地址，即根據(jù)步驟S303得到的掃描結(jié)果， 剔除壞塊，僅對好塊進行寫數(shù)據(jù)和掃描。主機發(fā)來的掃描數(shù)據(jù)為非全"0"的 掃描數(shù)據(jù)，該掃描數(shù)據(jù)取反則得到步驟S308的掃描數(shù)據(jù)，因此步驟S6304中的 掃描數(shù)據(jù)稱為正掃描數(shù)據(jù)，步驟S308中的掃描數(shù)據(jù)稱為反掃描數(shù)據(jù)。例如正 掃描數(shù)據(jù)某字節(jié)為0x56(0101, 0110),則反掃描數(shù)據(jù)中相應(yīng)字節(jié)為 0xA9 (1010, 1001)。
步驟S305，分別讀取指定地址中的數(shù)據(jù)并與寫入該塊的相應(yīng)正掃描數(shù)據(jù)比較。本步驟可以抽取至少一塊檢查其中的數(shù)據(jù)；進一步地，對抽取的至少 一塊也可以不檢查所有位，而是僅抽取至少一位或至少一字節(jié)讀取數(shù)據(jù)，檢 查這些位或字節(jié)的數(shù)據(jù)。抽取塊、頁、位和/或字節(jié)可使用隨機算法實現(xiàn)。
步驟S308、 S309、 S310、 S311的做法和步驟S304、 S305、 S306、 S307相
2得到。
二 ' ' 一 ？'
上述流程中，步驟S312根據(jù)釆用快速檢查方式對閃存介質(zhì)進行掃描，產(chǎn) 生掃描結(jié)果。
上述流程中，根據(jù)每次得到的掃描結(jié)果剔除壞塊，僅對好塊發(fā)出指令進 行數(shù)據(jù)讀、寫和掃描。例如主機接收到步驟S310發(fā)送的掃描結(jié)果，將該掃描 結(jié)果與步驟S303和步驟S306分別發(fā)送的掃描結(jié)果整合起來，將各掃描結(jié)果中 的壞塊剔除，再余下的好塊發(fā)出擦除指令。本實施例第三等級掃描結(jié)束后， 主機整合所有掃描結(jié)果，產(chǎn)生最終掃描結(jié)果。
本實施例中，掃描結(jié)果分批上報給主機并存在主機中。要讀取掃描結(jié)果 時，主機發(fā)送命令，指定起始塊和塊的個數(shù)，閃存主控芯片根據(jù)命令讀取從 起始塊開始，指定個數(shù)個塊中的數(shù)據(jù)，根據(jù)數(shù)據(jù)判斷所在塊為好塊或壞塊， 產(chǎn)生掃描結(jié)果，將掃描結(jié)果返回給主^L,閃存主控芯片不負責保存掃描結(jié)果。 主機根據(jù)取得的掃描結(jié)果就可以知道閃存介質(zhì)中哪些是好塊，哪些是壞塊，
可以用數(shù)組記錄好壞塊信息，形成好壞塊信息表。寫數(shù)據(jù)時，主機也會發(fā)送 命令指定從起始塊開始，向指定個數(shù)的塊中寫數(shù)據(jù)。由于命令是由主機發(fā)出， 好壞塊信息也是由主機保存，這樣主機就可以保證發(fā)送命令時避開壞塊，保 障數(shù)據(jù)讀寫操作準確無誤。
本實施例中的正掃描數(shù)據(jù)和反掃描凝:據(jù)是由主機產(chǎn)生并發(fā)送給閃存介質(zhì) 的，采用相反的掃描數(shù)據(jù)可以檢查位是否能夠?qū)崿F(xiàn)取值從"0"到"1"和從 'T，到"0"的逆轉(zhuǎn)換，從而確定位是否為好位。
本發(fā)明提出第五實施例，采用正、反、正三組非全"0"隨機數(shù)據(jù)作為掃 描數(shù)據(jù)，全面檢查每個位是否可以實現(xiàn)乂人"0"到"1"，再從"1"到"0"， 或是從T到"0"再從"0"到T的轉(zhuǎn)換。本實施例中的掃描等級包括 第四等級，參照圖5，第四等級對應(yīng)的掃描方式包括
步驟S401,將閃存介質(zhì)所有塊擦除；
步驟S402，檢查閃存介質(zhì)，判斷數(shù)據(jù)是否正確擦除，產(chǎn)生掃描結(jié)果； 步驟S403，將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機；
步驟S404,接收主機發(fā)來的寫數(shù)據(jù)指令，根據(jù)指令中的指定地址，將正 掃描數(shù)據(jù)寫入指定地址；步驟S405,分別讀取指定地址中的數(shù)據(jù)，將讀取的數(shù)據(jù)與寫入的正掃描
數(shù)據(jù)相比較，將寫入和讀出的數(shù)據(jù)存在不一致的塊認為是壞塊，否則認為是
好塊，產(chǎn)生掃描結(jié)果；
步驟S406，將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機；
步驟S407，接收主機發(fā)來的指令，根據(jù)指令中的指定起始地址和長度， 將閃存介質(zhì)中指定塊擦除；
步驟S408，接收主機發(fā)來的寫數(shù)據(jù)指令，根據(jù)指令中的指定地址，將反 掃描數(shù)據(jù)寫入指定地址；
步驟S409，分別讀取指定地址中的數(shù)據(jù)，將讀取的數(shù)據(jù)與寫入的反掃描 數(shù)據(jù)相比較，將寫入和讀出的數(shù)據(jù)存在不一致的塊認為是壞塊，否則認為是 好塊，產(chǎn)生掃描結(jié)果；
步驟S410,將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機；
步驟S411,接收主機發(fā)來的指令，根據(jù)指令中的指定起始地址和長度， 將閃存介質(zhì)中指定塊擦除；
步驟S412,接收主機發(fā)來的寫數(shù)據(jù)指令，根據(jù)指令中的指定地址，將正 掃描數(shù)據(jù)寫入指定地址；
步驟S413,分別讀取指定地址中的數(shù)據(jù)，將讀取的數(shù)據(jù)與寫入的正掃描 數(shù)據(jù)相比較，將寫入和讀出的數(shù)據(jù)存在不一致的塊認為是壞塊，否則認為是 好塊，產(chǎn)生掃描結(jié)果；
步驟S414,將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機；流程結(jié)束。
相比上一實施例的第三等級掃描，本實施例在完成反掃描數(shù)據(jù)掃描后， 執(zhí)行步驟S412至S414，再次使用正掃描數(shù)據(jù)對閃存介質(zhì)進行掃描，以實現(xiàn)比 第三等級掃描更加全面徹底的掃描，但掃描速度比第三等級寸氐。
上述各實施例中的第一至第四掃描等級在掃描速度方面，第一等級可以 在數(shù)秒內(nèi)完成，第二、三、四等級分別需要對閃存介質(zhì)進行一次、兩次和三 次掃描，在時間上相差較大，第四等級耗時最長，速度最低。掃描精度方面， 有些閃存介質(zhì)用第二等級甚至第一等級就可以有效的掃描出壞塊，絕大部分 的閃存介質(zhì)用第三等級就可以準確識別壞塊，只有極個別的閃存介質(zhì)才需要 用第四等級掃描。
基于上述實施例，本發(fā)明提出第六實施例，提供用快速檢查方式對閃存 介質(zhì)進行掃描?？焖贆z查方式是讀取閃存介質(zhì)中的塊中至少一頁、頁中至少 一位和/或至少一字節(jié)中的數(shù)據(jù)，檢查數(shù)據(jù)是否被正確擦除，找出未能正確4寮 除的塊，將其認為是壞塊?？焖贆z查方式可讀取并判斷所有塊中的所有數(shù)據(jù)，也可^f又抽耳又至少一塊，對塊中至少一頁讀:f又數(shù)據(jù)；進一步地，對抽取的至少
一頁也不讀取所有位，而是僅抽取頁中至少一位或至少一字節(jié)讀取數(shù)據(jù)，檢 查這些位或字節(jié)的數(shù)據(jù)。抽取頁、位和/或字節(jié)可使用隨機算法實現(xiàn)。
參照圖6，快速檢查方式包括
步驟S51，接收主機發(fā)來的讀掃描結(jié)果指令，根據(jù)指令中的指定起始地址 和長度，設(shè)定指針i指向要掃描的塊，用于記錄當前檢查的塊的塊號，指針i 初始化為0;
步驟S52,抽取塊中至少一頁、頁中至少一位和/或至少一字節(jié)，讀取其 中的數(shù)據(jù)；
步驟S53，檢查讀取的數(shù)據(jù)是否為'T'，若讀出的數(shù)據(jù)不為'T'則進行 步驟S54,否則進行步驟S55;
步驟S54，將指針i指向的當前塊認為是壞塊，記錄其塊號，然后進行步 驟S55;
步驟S55，判斷指針i是否指向步驟S51中主機指定的最后一塊，若指向 最后一塊則快速檢查方式結(jié)束；否則進行步驟S56;
步驟S56，指針i加l，即使指針i指向當前塊的下一塊，然后進行步驟S52。
本實施例提供的快速^r查方式可大大加快掃描速度。由于壞塊被擦除后， 其中的數(shù)值會有多種可能，絕大部分的壞塊通過抽查就可以找出來。對于一 片容量為lGByte的閃存介質(zhì)，執(zhí)行本實施例提出的擦除掃描不超過2秒鐘。設(shè) 經(jīng)擦除掃描找出的壞塊不再參與后續(xù)的掃描操作，對于一片壞塊很多的閃存 介質(zhì)將大大提高掃描的速度，例如一片包含1000個塊的閃存介質(zhì)，若采用本 實施例的擦除掃描可快速檢查出500個壞塊，則掃描速度將比現(xiàn)有技術(shù)提高近 l倍。.
基于上述各實施例本發(fā)明提出第七實施例，結(jié)合閃存介質(zhì)主控芯片實現(xiàn) 對塊的掃描。本實施例預(yù)設(shè)一壞位上限，對包含壞位數(shù)超過壞位上限的塊認 為是壞塊塊。
參照圖7示出對塊掃描的流程圖，包括
步驟S61，設(shè)定指針j指向要掃描的頁，用于記錄當前檢查的頁的頁號，
指針j初始化為0;
步驟S62,將指針j所指頁的數(shù)據(jù)讀到閃存介質(zhì)主控芯片的內(nèi)存中； 步驟S63,閃存介質(zhì)主控芯片自帶的糾錯碼(ECC)模塊判斷步驟S62讀過
程中是否有數(shù)據(jù)發(fā)生錯誤的位，如果發(fā)現(xiàn)發(fā)生了不可糾正的錯誤，則進行步
驟S69,否則進行步驟S64;
ii步驟S64,判斷錯誤個數(shù)是否達到壞位上限，根據(jù)判斷結(jié)果進行步驟S65 或步驟S69;
步驟S65，判斷當前頁數(shù)據(jù)是否全為"0"，根據(jù)判斷結(jié)果進行步驟S66或 步驟S69;
步驟S66,判斷指針j是否指向該塊最后一頁，根據(jù)判斷結(jié)果進行步驟 S67或步驟S68;
步驟S67，指針j指向的頁所在塊認為是好塊，結(jié)束流程； 步驟S68,指針j加l,指向下一頁，然后進行步驟S6^ 步驟S69,指針j指向的頁所在塊認為是壞塊，結(jié)束流程。
進一步地，由于壞塊可能存在很多位不能實現(xiàn)從"0"到'T，的轉(zhuǎn)換， 而如果從這樣的位開始讀數(shù)據(jù)，當數(shù)據(jù)全都是"0"的情況下，糾錯碼(ECC) 模塊無法檢測出錯誤。所以本實施例提出，在閃存介質(zhì)主控芯片中增加一寄 存器，用于記錄數(shù)據(jù)全部為"0"的位。若主機發(fā)送下來的數(shù)據(jù)不是全"0", 而此寄存器又記錄這個頁的數(shù)據(jù)是全"0"時，那這個頁所在的塊就是壞塊， 如圖中步驟S66所示。當步驟S63、 S64、 S65和S66的條件都不能成立時， 執(zhí)行比較操作步驟S69,看當前頁是否已經(jīng)是這個塊的最后一個頁，如果是， 則當前塊就認為是好塊，結(jié)束對這個塊的掃描；否則頁指針j增加1指向下 一頁，對下一頁進行類似的操作。
本實施例可應(yīng)用于上述第一掃描周期、第二掃描周期、第三掃描周期和/ 或更多掃描周期，提高閃存介質(zhì)利用率。
以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍， 凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接 或間接運用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內(nèi)。
1權(quán)利要求
1.一種閃存掃描方法，通過對閃存掃描確定閃存好塊和壞塊，其特征在于，該方法包括步驟選擇掃描等級；根據(jù)選擇的掃描等級，使用與掃描等級對應(yīng)的掃描方式對閃存介質(zhì)進行掃描，形成至少一掃描結(jié)果；整合掃描結(jié)果，得到最終掃描結(jié)果。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的閃存掃描方法，其特征在于，所述掃描方式包括將閃存介質(zhì)所有塊擦除；檢查閃存介質(zhì)，判斷是否正確擦除，產(chǎn)生掃描結(jié)果； 將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的閃存掃描方法，其特征在于，所述掃描方式還 包括將掃描數(shù)據(jù)寫入指定地址； 檢查指定地址的數(shù)據(jù)，產(chǎn)生掃描結(jié)果； 將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機； 將閃存介質(zhì)中指定塊^察除；檢查閃存介質(zhì)指定塊，判斷是否正確擦除，產(chǎn)生掃描結(jié)果； 將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的閃存掃描方法，其特征在于，所述掃描數(shù)據(jù)為 全"0"。
5. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的閃存掃描方法，其特征在于，所述掃描方式還 包括將正掃描數(shù)據(jù)寫入指定地址； 檢查指定地址的數(shù)據(jù)，產(chǎn)生掃描結(jié)果； 將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機； 將閃存介質(zhì)中指定塊擦除； 將反掃描數(shù)據(jù)寫入指定地址； 檢查指定地址的數(shù)據(jù)，產(chǎn)生掃描結(jié)果；將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的閃存掃描方法，其特征在于，還包括 快速檢查閃存介質(zhì)的步驟。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的閃存掃描方法，其特征在于 所述快速檢查介質(zhì)是讀取閃存介質(zhì)中的塊中至少一頁、頁中至少一位和/或至少一字節(jié)中的數(shù)據(jù)，檢查數(shù)據(jù)是否被正確擦除，找出未能正確擦除的塊， 將其認為是壞塊。
8. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的閃存掃描方法，其特征在于，所述掃描方式還 包括將正掃描數(shù)據(jù)寫入指定地址；檢查指定地址的數(shù)據(jù)，產(chǎn)生掃描結(jié)果； 將掃描結(jié)果發(fā)給執(zhí)行掃描的主機。
9. 根據(jù)權(quán)利要求5至8任意一項所述的閃存掃描方法，其特征在于 所述正掃描數(shù)據(jù)取反得到反掃描數(shù)據(jù)；所述正掃描數(shù)據(jù)和反掃描數(shù)據(jù)均為非全"0"的掃描數(shù)據(jù)。
10. 根據(jù)權(quán)利要求1至8任意一項所述的閃存掃描方法，其特征在于 根據(jù)產(chǎn)生的掃描結(jié)果剔除壞塊，對好塊進行數(shù)據(jù)寫入、讀取、擦除和/或掃描。
全文摘要
本發(fā)明提供種一種閃存掃描方法，包括選擇掃描等級；根據(jù)選擇的掃描等級，使用與掃描等級對應(yīng)的掃描方式對閃存介質(zhì)進行掃描，形成至少一掃描結(jié)果；整合掃描結(jié)果，得到最終掃描結(jié)果。本發(fā)明設(shè)多個掃描等級，一定程度上兼顧掃描速度和掃描的全面性，以便根據(jù)待掃描閃存介質(zhì)的特性和掃描要求，選擇合適的掃描等級，在保證準確性的前提下提高掃描速度。
文檔編號G11C29/32GK101562051SQ20081008758
公開日2009年10月21日 申請日期2008年4月18日 優(yōu)先權(quán)日2008年4月18日
發(fā)明者盧賽文 申請人:深圳市朗科科技股份有限公司