專利名稱：光記錄介質的記錄裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種光記錄介質的記錄裝置，更特別地，涉及一種光記錄介質的記錄裝置，其中當照射激光以在光記錄介質上記錄信息時，用作激光強度調整的指標的評價函數響應激光的反射光進行調整。
背景技術：
相關申請的交叉引用本發(fā)明包括了與2006年1月25日向日本專利局提交的日本專利申請JP2006-015867相關的主題，在此將其全部內容引入作為參考。
在相關技術領域中已知各種光記錄介質，例如其上可以記錄數字信息的光盤。
特別地，作為使用有機染料形成的其上可以一次性記錄數字信息的一次寫入光記錄介質，已知CD-R(可記錄光盤)、DVD+R、DVD-R(可記錄數字通用光盤)等等。同時，作為使用相變型材料形成的其上可以重寫數據的可擦除型光記錄介質，已知CD-RW(可重寫光盤)、DVD-RW(可重寫數字通用光盤)、DVD-RAM(數字通用光盤-隨機存取存儲器)、BD-RE(可重寫藍光盤)等等。
盡管所述光記錄介質通常在嚴格管理的生產線上制造，然而有時會出現不同制造商的制造方法間差異導致的染料成分或合金成分的分散或者制造批量之間的差異。
特別地，使用有機染料形成的一次寫入光記錄介質有時遭受翹曲或表面撓曲，或者所述翹曲或表面撓曲的狀態(tài)有時根據制造過程或用戶的使用狀態(tài)或存儲狀態(tài)而發(fā)生變化。需要注意的是，光記錄介質的翹曲是光記錄介質變形為像展開的傘形的狀態(tài)。同時，光記錄介質的表面撓曲是當旋轉光記錄介質時，響應旋轉角度，其記錄表面像波浪一樣橫向撓曲的狀態(tài)。
如果以這種方式發(fā)生記錄層或光記錄介質的染料或合金成分的分散，或者光記錄介質的翹曲或表面撓曲，那么即使光記錄介質的制造商和母模是相同的，在光記錄介質的記錄表面上的信息的記錄狀態(tài)也變得不同。因此，在再現信息時，不是總能得到再現信號的固有品質，導致難以進行數據的解碼。
因此，作為調整用于在光記錄介質上進行記錄的激光的強度以便再現信號的品質可保持固定的方法，已知的各種控制方法包括OPC(最佳功率校準)和運行OPC。
根據OPC，在記錄數據之前，向作為光記錄介質的試寫入區(qū)域的PCA(功率校準區(qū)域)照射預定圖案的激光以執(zhí)行試寫入。然后，再現以這種方式寫入的數據，并根據某一評價基準確定最優(yōu)的激光強度，從而提高記錄品質。
同時，根據運行OPC，當向光記錄介質照射用于記錄的激光以記錄所需信息時，檢測激光的反射光，并響應檢測到的反射光的強度，校正要照射的激光強度。
應用OPC和運行OPC，從而一旦開始在光記錄介質上記錄信息，光記錄介質的PCA中的OPC就執(zhí)行一次，并以OPC確定的激光強度開始在光記錄介質上記錄信息。以后，激光強度由運行OPC調整為適當的狀態(tài)。
需要注意的是，光記錄介質可能遭受在制造過程中形成記錄介質期間其內周和外周部分分散的困擾，并且激光的最佳強度常常沿著光記錄介質的直徑方向不同。
為了反映在光記錄介質的內周和外周部分的激光強度的適當差異，當執(zhí)行運行OPC時，使用評價函數。
評價函數由特性曲線表示，該特性曲線表示關于激光強度的坑的深度信息。在運行OPC中，激光強度根據該特性曲線進行調整，從而信息可以以高品質寫入光記錄介質。
需要注意的是，盡管在運行OPC中，檢測在用激光在光記錄介質上記錄信息時激光的反射光，以執(zhí)行激光強度的調整，然而由于檢測到的反射光不同于讀出記錄信息時的反射光，因此可能反射光不能正確地反映記錄狀態(tài)。
因此，近來還存在以下描述的對策，從而可以應用具有更適當強度的激光執(zhí)行記錄過程。具體而言，當正在進行在光記錄介質上的信息記錄過程時，中斷該過程，并再現在所述中斷之前記錄的信息，基于再現所述記錄過程的再現時的反射光的檢測結果，執(zhí)行激光強度的調整。描述的這種方法例如在日本專利公開No.2004-234812中公開。

發(fā)明內容
然而，即使在光記錄介質上的信息記錄過程被中斷，并且然后應用強度調整的激光重新啟動，由于運行OPC包括根據用于記錄的激光的反射光進行的激光強度調整，因此還存在這樣的可能性重啟之后，激光強度可能偏離通過運行OPC校正的適當強度。因此，存在這樣的可能性如果記錄過程被中斷，頻繁地重復激光的重新調整和記錄過程的重新啟動，記錄過程的處理時間可能變得非常長。
然而，由于用于運行OPC的適當的評價函數根據待用光記錄介質的類型而不同，因此優(yōu)選地為每一種類型的光記錄介質都準備適當的函數。然而，由于光記錄介質的制造分散，所準備的評價函數可能并不適于光記錄介質。
因此，需要提供一種光記錄介質的記錄裝置，可以通過該記錄裝置執(zhí)行記錄過程，同時盡可能長時間地保持適當的激光強度。
根據本發(fā)明的實施例，提供了一種光記錄介質的記錄裝置，包括光拾取部分，配置成向光記錄介質照射激光以在光記錄介質上執(zhí)行信息記錄或從中再現信息；控制部分，配置成控制光拾取部分；以及存儲部分，配置成預先存儲評價函數，該評價函數用于在將要在光記錄介質上記錄信息時，響應于激光的反射光調整激光強度；控制部分可用于在記錄過程的中途中斷在光記錄介質上的信息記錄過程，并再現中斷之前記錄的信息，然后基于再現時的反射光檢測結果調整該評價函數。
在該光記錄介質記錄裝置中，在記錄過程的中途中斷在光記錄介質上的信息記錄過程，并再現在中斷之前記錄的信息。此后，基于再現時反射光的檢測結果調整評價函數。因此，在恢復記錄過程之后，可以基于適當的評價函數調整激光強度，并可以在光記錄介質的全部區(qū)域實現穩(wěn)定的高品質的記錄過程。
該光記錄介質記錄裝置可以被配置成在存儲部分中預先存儲多個評價函數，且控制部分通過基于再現時反射光的檢測結果選擇評價值之一，來調整評價函數。
在該光記錄介質記錄裝置中，由于預先存儲了多個評價函數，并通過基于再現時反射光的檢測結果選擇所存儲的評價值之一，來調整評價函數。因此，即使光記錄介質具有一些制造分散，也可以響應于該分散使用適當的評價函數。
在這種情況下，光記錄介質的記錄可以被配置成執(zhí)行在光記錄介質上的信息記錄過程之前，控制部分使得多個測試數據記錄在光記錄介質上提供的試寫入區(qū)域中，同時改變激光強度，并使用存儲在存儲部分中的評價函數中預定的一個評價記錄狀態(tài)，而不管光記錄介質的類型，并且當執(zhí)行在光記錄介質上的信息記錄過程時根據再現測試數據時反射光的檢測結果確定激光強度。
在該光記錄介質記錄裝置中，在執(zhí)行在光記錄介質上的信息記錄過程之前，將多個測試數據記錄在光記錄介質上提供的試寫入區(qū)域中，同時改變激光強度。然后，不管光記錄介質的類型，應用存儲部分中存儲的預定評價函數之一評價記錄狀態(tài)。此后，當執(zhí)行在光記錄介質上的信息記錄過程時，根據再現測試數據時反射光的檢測結果確定激光強度。因此，可以應用光記錄介質的試寫入區(qū)域有效地指定適當的激光強度。
或者，該光記錄介質記錄裝置可以配置成在執(zhí)行在光記錄介質上的信息記錄過程之前，控制部分使得多個測試數據記錄在光記錄介質上提供的試寫入區(qū)域中，同時改變激光強度，并使用存儲在存儲部分中的預定評價函數中與光記錄介質的類型相對應的評價函數來評價記錄狀態(tài)，并根據再現測試數據時反射光的檢測結果，確定當執(zhí)行在光記錄介質上的信息記錄過程時激光的強度。
在該光記錄介質記錄裝置中，在執(zhí)行在光記錄介質上的信息記錄過程之前，將多個測試數據記錄在光記錄介質上提供的試寫入區(qū)域中，同時改變激光強度。然后，使用存儲在存儲部分中的預定評價函數中與光記錄介質的類型相應的評價函數評價記錄狀態(tài)。此后，根據再現測試數據時反射光的檢測結果，確定當執(zhí)行在光記錄介質上的信息記錄過程時激光的強度。因此，可以應用光記錄介質的試寫入區(qū)域有效地指定適當的激光強度。
控制部分可以通過產生校正評價函數來調整評價函數，所述校正評價函數通過根據再現時反射光的檢測結果、借助于評價函數的平移或類似手段來校正評價函數而獲得。
在該光記錄介質記錄裝置中，通過產生校正評價函數來調整評價函數，所述校正評價函數通過根據再現時反射光的檢測結果、借助于評價函數的平移或類似手段來校正評價函數而獲得。因此，預先準備的評價函數的數目可以最小化。因此，可以降低存儲部分的存儲容量，并可以期望控制部分的控制效率增強。
當激光強度超出與在光記錄介質上記錄信息的開始時刻的激光強度相應的預定范圍時，控制部分可以通過根據評價函數調整激光強度來中斷記錄過程。
在該光記錄介質記錄裝置中，當激光強度超出與在光記錄介質上記錄信息的開始時刻的激光強度相應的預定范圍時，通過根據評價函數調整激光強度而中斷記錄處理。因此，可以僅僅當需要所述中斷時，才中斷記錄過程。因此，中斷的次數可以最小化，并且記錄過程可以高效地執(zhí)行。
本發(fā)明的上述和其它特征和優(yōu)點將從以下說明和所附權利要求以及相關的附圖中變得明顯，其中附圖中相同的部件或元件由相同的附圖標記表示。


圖1是根據本發(fā)明的實施例的光記錄介質記錄裝置的方框圖；圖2是圖示光記錄介質記錄裝置的光記錄介質記錄電路的控制處理器的控制過程的流程圖，其中存在多個評價函數；圖3是圖示光記錄介質記錄裝置中應用的β和不對稱值的圖；圖4A和4B是圖示評價函數的控制目標值確定方法的圖；圖5是圖示評價函數調整方法的圖，其中在光記錄介質記錄裝置中應用多個評價值；圖6是圖示光記錄介質記錄裝置的光記錄介質記錄電路的控制處理器的控制過程的流程圖，其中存在單個評價函數；以及圖7是圖示評價函數調整方法的圖，其中在光記錄介質記錄裝置中應用一個評價值。
具體實施例方式
根據本發(fā)明的光記錄介質記錄裝置包括光拾取部分，配置成向光記錄介質照射激光以在光記錄介質上執(zhí)行信息記錄或從中再現信息；控制部分，配置成控制光拾取部分；以及存儲部分，配置成預先存儲評價函數，該評價函數用于當將要在光記錄介質上記錄信息時，響應于激光的反射光，調整激光強度。在該光記錄介質記錄裝置中，控制部分在記錄過程的中途中斷在光記錄介質上信息記錄過程，并再現在中斷之前記錄的信息，然后基于再現時反射光的檢測結果，調整所述評價函數。
簡言之，基于記錄過程時的記錄狀態(tài)調整待用于運行OPC的評價函數。然后，當恢復記錄過程時，可以基于適當的評價函數執(zhí)行激光強度的調整。因此，可以執(zhí)行穩(wěn)定的高品質的記錄過程。特別地，由于評價函數被調整，因此可以對光記錄介質的全部區(qū)域執(zhí)行高品質的記錄過程。
以下，描述本發(fā)明的優(yōu)選實施例。圖1顯示了一種光記錄介質記錄裝置，其包括應用了本發(fā)明的光記錄介質記錄電路。
參照圖1，該光記錄介質記錄裝置包括用于驅動光記錄介質10旋轉的主軸馬達11，以及用于向由主軸馬達11旋轉的光記錄介質10上照射激光并從光記錄介質10接收照射光的反射光的光拾取部分12。
主軸馬達11由伺服處理器13控制的第一馬達驅動器14驅動。
光拾取部分12包括用于向光記錄介質10的記錄表面照射激光的激光二極管(未示出)，以及用于接收激光的反射光的多個光接收元件(未示出)。激光二極管由激光器驅動器16控制以照射具有所需強度的激光，該激光器驅動器16由用作控制部分的控制處理器15控制。
用作存儲所需評價函數的存儲部分的存儲器17連接到控制處理器15，從而控制處理器15根據存儲器17中存儲的評價函數執(zhí)行激光的強度控制。
光接收元件接收照射在光記錄介質10的記錄表面上的激光的反射光，并輸出RF(射頻)信號。輸出的RF信號輸入至RF放大器18并被其放大，并輸入到控制處理器15和伺服處理器13。
光拾取部分12通過由伺服處理器13控制的第二馬達驅動器19控制螺紋馬達(thread motor)20，從而螺紋馬達20在光記錄介質10的直徑方向上向后和向前移動光拾取部分12。特別地，光拾取部分12連接到螺桿21，該螺桿21為了互鎖移動而通過螺紋部件22連接于螺紋馬達20的輸出軸，使得通過螺紋馬達20旋轉螺桿21，來沿著螺桿21前后移動光拾取部分12。
進一步地，光拾取部分12可以由伺服處理器13控制的致動器驅動器23進行調整，從而調整其與光記錄介質10的距離。
控制處理器15用作以上述方式配置的光記錄介質記錄裝置的控制部分，該控制處理器15基于圖2中圖示的流程圖，在執(zhí)行運行OPC的同時執(zhí)行在光記錄介質上的信息記錄過程。此處假定用作存儲部分的存儲器17中存儲有多個評價函數。進一步地，在控制部分預先設置的預定時刻執(zhí)行記錄過程的中斷。
首先，該光記錄介質記錄裝置在開始在光記錄介質上記錄所需信息時執(zhí)行OPC(最佳功率校準)。
在OPC中，執(zhí)行在PCA(功率校準區(qū)域)中的步進寫入(步驟S1)，其中PCA是光記錄介質10的試寫入區(qū)域。步進寫入是這樣一個記錄過程從控制處理器15輸出預定圖案的測試數據，并且對于每一固定的時間段以固定的時間間隔改變將輸出的激光強度，以執(zhí)行對PCA的寫入。
通常于光記錄介質10的最內圓周部分和最外圓周部分都提供PCA。光記錄介質10的最內圓周部分和最外圓周部分用于，在該步進寫入期間基于將在運行OPC中應用的各種評價函數采集數據。
在由該步進寫入進行的記錄過程結束之后，控制處理器15再現在各個條件寫入的測試數據，并根據再現信號計算β和/或對稱值(步驟S2)。
β和/或對稱值代表再現信號的振幅對稱的偏移量，并用從光拾取部分12中輸出的RF信號的波形(作為光記錄介質10的再現結果)進行表示，如圖3中所示，通過以下表達式表示不對稱值＝[(I14H+I14L)/2-(I3H+I3L)/2]/I14β＝[(RFAv-I14L)/2-(I14H+RFAv)/2]/I14控制處理器15指定用來從計算出的β和/或不對稱值獲得最佳記錄狀態(tài)的激光強度(步驟S3)。然后，控制處理器15為各個評價函數指定目標值，利用所述目標值，可以輸出具有指定強度的激光(步驟S4)。
評價函數中的目標值的指定是對激光強度的指定，使用該激光強度的指定，在通過繪制不同激光強度(功率)下的β值而獲得的β曲線上獲得了最優(yōu)β值，所述曲線如圖4A中所示。該指定進一步指定控制目標值，借助于此，可針對該控制目標值從圖4B中圖示的評價函數的輸出特性曲線輸出具有指定強度的激光。
進一步地，控制處理器15根據計算出的β和/或不對稱值以及指定的激光強度指定最適當的評價函數(步驟S5)。
在本實施例中，對于多個評價函數中的每個，執(zhí)行激光強度的指定和評價函數的指定。然而，也可以僅使用對于光記錄介質10是適合的評價函數，來進行這種指定，所述適合的評價函數通過在開始在光記錄介質10上記錄所需信息時，讀取記錄在光記錄介質10上的光記錄介質10的標識信息、根據光記錄介質10的類型來指定。
通過以這種方式僅使用對于光記錄介質10是最佳的評價函數來執(zhí)行OPC，可以有效地利用PCA指定適當的激光強度。
或者，可以總是使用預定評價函數指定激光強度來執(zhí)行步進寫入，而不管光記錄介質10的類型。當總是僅僅使用預定評價函數時，可以有利于OPC的控制，并可以有效地利用PCA指定適當的激光強度。
在激光強度的指定和評價函數的指定之后，控制處理器15將要從光拾取部分12輸出的激光的強度設置為由OPC指定的強度，并開始在光記錄介質10上記錄所需信息的過程(步驟S6)。
在記錄過程結束之前，控制處理器15執(zhí)行運行OPC，并根據由運行OPC指定的評價函數控制激光強度。如果不再有要記錄的信息，則控制處理器15結束記錄過程(步驟S7)。
另一方面，如果在記錄過程期間到達預先設定的預定時刻，則控制處理器15中斷記錄過程(步驟S8)。
在本實施例中，當檢測到光拾取部分12在光記錄介質10的直徑方向上移動預定尺寸時，在步驟S8執(zhí)行記錄過程的中斷。然而，另外，可以在每經過預定時間段之后或者響應于檢測到完成預定量信息的記錄，執(zhí)行所述記錄過程的中斷。
否則，可以響應于檢測到激光強度超出預定的強度范圍，來執(zhí)行記錄過程的中斷，其中根據由運行OPC的激光強度控制根據預先指定的激光強度設定該強度范圍。
通過以這種方式根據激光強度執(zhí)行記錄過程的中斷決定，可以僅僅當由于不正常的激光強度而決定需要中斷記錄過程時，才中斷記錄過程。因此，可以減少中斷的次數，并可以高效地執(zhí)行記錄過程。
需要注意的是，用作中斷決定的依據的強度范圍可以是根據環(huán)境要求的任意強度范圍。優(yōu)選地，參照由中斷決定中斷的激光輸出的開始時刻的強度設定該范圍。
如果在步驟S8要中斷記錄過程的時刻沒有到來，則控制處理器15將處理返回到步驟S6以進行運行OPC。
如果記錄過程在步驟S8被中斷，則控制處理器15再現在中斷之前記錄在光記錄介質10上的信息(步驟S9)。然后，控制處理器15根據再現信號計算β和/或不對稱值(步驟S10)。
然后，如果在步驟S11確定在步驟S10得到的β和/或不對稱值落入在步驟S2得到的β和/或不對稱值的允許范圍內，則控制處理器15將處理返回至步驟S6以恢復運行OPC。
另一方面，如果在步驟S11確定β和/或不對稱值超出該允許的范圍，則控制處理器15改變評價函數(步驟S12)。特別地，參照圖5，控制處理器15平移在中斷之前所應用的評價函數，使得如此校正的評價函數可以通過記錄過程開始時的運行OPC目標值和中斷后通過測量計算得出的β值之間的交叉點。然后，控制處理器15選擇存儲器17(用作存儲部分)中存儲的評價函數之一，將其作為要使用的新評價函數，該評價函數表現出與校正的評價函數的誤差最小。
然后，控制處理器15將處理返回至步驟S6，從而根據新的評價函數恢復運行OPC。
通過以這種方式檢測β和/或不對稱值的變化，并當β和/或不對稱值的變化量顯著時改變評價函數，可以使用在光記錄介質10上記錄信息的時刻具有最高可控制性的評價函數，調整激光的輸出強度。因此，可以在光記錄介質10的全部區(qū)域上執(zhí)行具有高品質的穩(wěn)定記錄過程。
特別地，由于預先準備多個評價函數，因此即使光記錄介質10具有制造分散，也可以應用對于該分散適合的記錄過程。
當根據新的評價函數恢復在光記錄介質10上的記錄過程時，輸出的激光強度可能突然發(fā)生變化，并使得記錄特性惡化。因此，輸出的激光強度低速變化。
控制處理器15重復從步驟S6到步驟S12的處理步驟，并當在步驟S7檢測到記錄過程結束時結束該處理。
現在，參照圖6詳細描述在存儲器17中僅僅預先存儲一個評價函數時，在光記錄介質上的信息記錄過程。需要注意的是，假定在由控制部分預先設定的預定時刻執(zhí)行對記錄處理過程的中斷，這與此前描述的應用多個評價函數的記錄過程相似。
首先，光學記錄介質記錄裝置通過在PCA中執(zhí)行步進寫入，在開始光記錄介質上的所需信息記錄時執(zhí)行OPC，其中PCA是光記錄介質10的試寫入區(qū)域(步驟T1)。
在步進寫入進行的記錄過程結束之后，控制處理器15再現在各種條件下寫入的測試數據，并根據再現信號計算β和/或不對稱值(步驟T2)。
控制處理器15指定激光強度，借助于此從計算出的β和/或不對稱值得到的最佳記錄狀態(tài)(步驟T3)。然后，控制處理器15指定可以用來輸出指定強度的激光的評價函數的目標值(步驟T4)。
此后，控制處理器15將要從光拾取部分12輸出的激光的強度設置為OPC指定的強度，并開始在光記錄介質10上記錄所需信息的過程(步驟T5)。
在記錄過程結束之前，控制處理器15執(zhí)行運行OPC，并根據評價函數控制激光強度。如果不再有要被記錄的信息，則控制處理器15結束記錄過程(步驟T6)。
另一方面，當預先設定的預定時刻在記錄處理狀態(tài)中到來時，控制處理器15中斷記錄過程(步驟T7)。
如果在步驟T7中記錄過程被中斷的時刻沒有到來，則控制處理器15將處理返回至步驟T5以繼續(xù)運行OPC。
如果記錄過程在步驟T7被中斷，則控制處理器15再現在中斷之前記錄在光記錄介質10上的信息(步驟T8)。然后，控制處理器15根據再現信號計算β和/或不對稱值(步驟T9)。
然后，如果在步驟T10確定在步驟T9得到的β和/或不對稱值落入在步驟T2中得到的β和/或不對稱值的允許范圍內，則控制處理器15將處理返回至步驟T5以恢復運行OPC。
另一方面，如果在步驟T10確定β和/或不對稱值超出允許范圍，則控制處理器15改變評價函數。特別地，參照圖7，控制處理器15平移在中斷之前應用的評價函數，使得如此校正的評價函數可以通過開始記錄過程時的運行OPC目標值和中斷后通過測量計算出的β值之間的交叉點。
然后，控制處理器15設定已校正的評價函數，將其作為新的目標值，由于該校正的評價函數，校正評價函數的β值變得與在步驟T2得到的值相等(步驟T11)。
然后，控制處理器15將處理返回至步驟T5，從而根據新的目標值的控制目標值恢復運行OPC。
以這種方式，在準備一個評價值的情況下，通過根據β值平移評價函數來調整可用于獲得期望β值的控制目標值，可以在光記錄介質10的全部區(qū)域中執(zhí)行高品質的穩(wěn)定的記錄過程。
控制處理器15重復從步驟T5到步驟T11的處理步驟，然后當在步驟T6檢測到記錄過程結束點時結束該處理。
雖然已經應用特定術語說明了本發(fā)明的優(yōu)選實施例，然而所述說明是用于示例的目的，并應該理解可以在不脫離以下權利要求的精神實質和范圍的情況下作出改變和變更。
權利要求
1.一種光記錄介質記錄裝置，包括光拾取部分，配置成向光記錄介質照射激光以在光記錄介質上記錄信息或從中再現信息；控制部分，配置成控制所述光拾取部分；以及存儲部分，配置成預先存儲評價函數，所述評價函數用于當將要在光記錄介質上記錄信息時，響應于激光的反射光來調整激光強度；其中所述控制部分可用于在記錄過程的中途，中斷在光記錄介質上記錄信息的過程，并再現在中斷之前記錄的信息，然后根據再現時反射光的檢測結果調整評價函數。
2.根據權利要求1的光記錄介質記錄裝置，其中在所述存儲部分中預先存儲多個評價函數，所述控制部分通過根據再現時反射光的檢測結果選擇評價值之一來調整評價函數。
3.根據權利要求2的光記錄介質記錄裝置，其中，在執(zhí)行在光記錄介質上的信息記錄過程之前，所述控制部分使得多個測試數據記錄在光記錄介質上提供的試寫入區(qū)域中，同時改變激光強度，并且不管光記錄介質的類型，使用存儲在所述存儲部分中的評價函數中預定的一個評價記錄狀態(tài)，并根據再現測試數據時反射光的檢測結果，確定當執(zhí)行在光記錄介質上的信息記錄過程時激光的強度。
4.根據權利要求2的光記錄介質記錄裝置，其中，在執(zhí)行在光記錄介質上的信息記錄過程之前，所述控制部分使得多個測試數據記錄在光記錄介質上提供的試寫入區(qū)域中，同時改變激光強度，并使用存儲在所述存儲部分中的預定評價函數中與光記錄介質的類型相對應的評價函數評價記錄狀態(tài)，并根據再現測試數據時反射光的檢測結果，確定當執(zhí)行在光記錄介質上的信息記錄過程時激光的強度。
5.根據權利要求1的光記錄介質記錄裝置，其中所述控制部分通過產生校正評價函數來調整評價函數，所述校正評價函數通過根據再現時反射光的檢測結果、借助于評價函數的平移或類似手段來校正評價函數而得到。
6.根據權利要求1到5中的任一個的光記錄介質記錄裝置，其中當激光強度超出預定范圍時，所述控制部分通過根據評價函數調整激光強度而中斷記錄過程，所述預定范圍與開始在光記錄介質上記錄信息的時刻的激光強度相對應。
全文摘要
本申請公開了一種光記錄介質記錄裝置，包括光拾取部分，配置成向光記錄介質照射激光以在光記錄介質上記錄信息或從中再現信息；控制部分，配置成控制光拾取部分；以及存儲部分，配置成預先存儲評價函數，所述評價函數用于當將要在光記錄介質上記錄信息時，響應于激光的反射光來調整激光強度；控制部分可用于在記錄處理過程的中途中斷在光記錄介質上記錄信息的過程，并再現在中斷之前記錄的信息，然后根據再現時反射光的檢測結果，調整評價函數。
文檔編號G11B7/09GK101034566SQ20071010062
公開日2007年9月12日 申請日期2007年1月25日 優(yōu)先權日2006年1月25日
發(fā)明者山本拓矢 申請人:索尼株式會社