專利名稱：優(yōu)化將標記記錄到記錄載體的信息層上的寫功率的方法和使用這種優(yōu)化方法的記錄裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種優(yōu)化以輻射束照射信息層的方式將標記記錄到記錄載體的信息層上的輻射束的寫功率的方法，所述信息層具有在第一相和第二相之間進行可逆變化的相。更具體地說，本發(fā)明涉及一種在具有在晶相和非晶相之間進行可逆變化的相的記錄載體上記錄標記的方法。本發(fā)明還涉及使用這種優(yōu)化方法的記錄裝置和記錄方法。
背景技術(shù)：
當采用所謂1T寫策略將標記記錄到記錄載體的信息層(所述信息層包含例如相變記錄材料)上時，通常運行OPC(最佳功率控制)程序，以通過測量已寫入測試標記的調(diào)制變化來確定最佳寫功率，所述測試標記以這些測試標記寫入過程中施加的寫功率寫入。OPC程序通常在盤上的專門預(yù)留的PCA(功率校準區(qū))中被執(zhí)行。最佳寫功率從測量到的調(diào)制對施加的寫功率的合成曲線得到。如果需要，存儲在盤本身中的與盤相關(guān)的信息(例如ATIP)也可用于得出最佳寫功率。
在相變型盤例如CD-RW和DVD+RW上進行記錄時提高記錄速度需要采用更快的材料和更新的寫策略。近期一項重要的技術(shù)改進在于所謂2T寫策略(WS)的引入，所述技術(shù)已與超速CD-RW標準和高速DVD+RW標準相結(jié)合。用于相變記錄的傳統(tǒng)1T寫策略的OPC程序從測量到的調(diào)制對施加的寫功率的曲線中得到最佳寫功率。但在更快的相變材料上進行記錄時采用同樣的方法實現(xiàn)2T寫策略是不可行的(或者至少不會提供一個魯棒并滿意的解決方式)。其主要原因在于測量到的調(diào)制與記錄特性(以寫入標記的抖動表示)之間不像1T寫策略中觀察到的那樣存在直接關(guān)系。因此，用于優(yōu)化2T寫策略的寫策略參數(shù)(例如寫功率)的程序也需要重新設(shè)計。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種優(yōu)化將標記記錄到記錄載體的信息層中的寫功率的方法，所述方法尤其適用于采用nT寫策略，最好為2T寫策略的情況，n為大于1的整數(shù)。本發(fā)明的另一目的在于提供一種用于將標記記錄到記錄載體的信息層上的記錄方法和記錄裝置。
所述目的是由根據(jù)本發(fā)明所述的優(yōu)化將標記記錄到記錄載體的信息層上的寫功率的方法實現(xiàn)的，所述信息層具有可在第一相與第二相之間進行可逆變化的相，其中，所述方法包括下述步驟-通過施加至少三個不同的寫功率將測試標記圖案記錄到記錄載體上，所述測試標記至少包括短標記，所述短標記具有預(yù)定的短標稱掃描寬度(runlength)，-測量通過施加至少三個不同的寫功率記錄的所述短標記的掃描寬度，-基于測量到的掃描寬度與所述短標記的標稱掃描寬度的偏差確定最佳寫功率。
根據(jù)權(quán)利要求2所述的實施方式，最佳寫功率發(fā)現(xiàn)于測量的掃描寬度與所述短標記的標稱掃描寬度之間的偏差為零或至少基本為零時。
一種相應(yīng)的裝置定義于權(quán)利要求10。
所述目的還通過提供一種用于借助以輻射束照射信息層將代表用戶數(shù)據(jù)的標記記錄到記錄載體的信息層中的記錄方法實現(xiàn)，所述信息層具有可在第一相與第二相之間進行可逆變化的相，所述記錄方法包括下述步驟-通過優(yōu)化寫功率的方法優(yōu)化記錄所述標記的寫功率，以獲得最佳寫功率，和-通過施加所述最佳寫功率記錄所述標記。
相應(yīng)的記錄裝置定義于權(quán)利要求11、12和13中。本發(fā)明的優(yōu)選實施方式定義于從屬權(quán)利要求中。
本發(fā)明是基于為了優(yōu)化寫策略而尋找代表記錄性能的潛在的(underlying)重要參數(shù)這一想法而提出的?，F(xiàn)已發(fā)現(xiàn)，所述參數(shù)即為記錄在記錄載體上的短標記的結(jié)果標記長度，最好是最短允許標記長度。由于光學記錄中短(或最短)標記對總信道編碼的(例如NRZI碼)的較長標記的比值相當高(例如，對于CD-RW，3T標記的比值高于30％)，并且由于最短標記是最難于優(yōu)化的標記，因此，如果能夠令人滿意并且以足夠低的抖動記錄最短標記，則可以令人滿意的并且以足夠低的抖動記錄其他標記。
根據(jù)優(yōu)選實施方式，具有應(yīng)用的調(diào)制方法(例如用于CD的EFM和用于DVD的EFM+)所允許的最短掃描寬度的最短標記記錄為測試標記，所述最短測試標記的掃描寬度被測量并被用于確定最佳寫功率。例如，對于CD-RW，EFM調(diào)制方法所允許的最短掃描寬度為3T，從而，記錄之后對這些3T標記的掃描寬度進行測量并用以確定最佳寫功率。測量到的掃描寬度與所述3T標記的標稱掃描寬度之間的差被特別用于此確定過程。
在另一優(yōu)選實施方式中，以默認最佳寫功率值周圍的三個不同寫功率值記錄測試標記。所述默認最佳寫功率值可以基于例如先前的多個記錄載體的試驗數(shù)據(jù)而得到，也可以設(shè)定為先前記錄操作或OPC程序確定的最佳寫功率。
優(yōu)化寫功率的方法可用于每個新的記錄操作之前，以尋找最佳寫功率。然而，所述方法也可以在每個記錄操作過程(通常被稱為“步進式(walking)OPC”)中持續(xù)應(yīng)用或以規(guī)律間隔應(yīng)用。在這種實施方式中，優(yōu)化寫功率的方法還包括下述步驟-通過施加先前確定的最佳寫功率將包括短標記的標記記錄到記錄載體上，-測量通過施加先前確定的最佳寫功率所記錄的所述短標記的掃描寬度，-基于測量到的掃描寬度與所述短標記的標稱掃描寬度之間的偏差調(diào)整最佳寫功率，以使測量到的掃描寬度與所述短標記的標稱掃描寬度之間的偏差基本為零和/或抖動為最小值。
由此，代表用戶數(shù)據(jù)的標記圖案在所述實施方式中被記錄下來，包括于其中的短標記，最好是最近記錄的短標記的掃描寬度被測量并且被用于調(diào)整最佳寫功率。
為了檢查寫入之后的記錄標記的調(diào)制是否滿足相關(guān)規(guī)定，可以采用在另一實施方式中建議的下述附加步驟-測量用至少三個不同的寫功率記錄的所述短標記的調(diào)制，-檢查用最佳寫功率記錄的所述短標記的調(diào)制是否導(dǎo)致調(diào)制超出預(yù)定閾值調(diào)制。
應(yīng)當注意，記錄標記的抖動可能不總是在測量到的掃描寬度與短標記的標稱掃描寬度之間的偏差為零時最小。在根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)化寫功率的另一方法中，其抖動(特別是紋脊(land)抖動)被最小化?，F(xiàn)在，優(yōu)化寫功率的方法包括根據(jù)測量到的掃描寬度對短標記的標稱掃描寬度的偏差確定最佳寫功率的步驟，以便最小化抖動。


現(xiàn)在將參考附圖進一步解釋本發(fā)明，其中圖1示出了對于2T寫策略的不同參數(shù)設(shè)定的相對于調(diào)制繪制的寫功率的曲線，圖2示出了對于不同的2T寫策略相對于3T標記的抖動繪制的寫功率的曲線，圖3示出了對于不同的寫策略相對于3T紋脊抖動繪制的測量到的3T掃描寬度和標稱3T掃描寬度之間的差(Δ3TRL)的曲線，圖4是示出根據(jù)本發(fā)明的方法的流程圖，圖5示出了對于不同的寫策略相對于寫功率繪制的測量到的3T掃描寬度和標稱3T掃描寬度之間的差(Δ3TRL)的曲線，圖6示出了對于不同的寫策略相對于測量到的3T掃描寬度和標稱3T掃描寬度之間的差(Δ3TRL)繪制的調(diào)制的曲線。
具體實施例方式
圖1示出了對于2T寫策略(WS)的四個參數(shù)設(shè)定(編號從1到4)的調(diào)制對寫功率的曲線。顯然，調(diào)制只是寫功率的函數(shù)。由于四個不同的參數(shù)設(shè)定給出了恰好相同的調(diào)制，因此看起來與其他WS參數(shù)的具體數(shù)值無關(guān)。
然而，對于某個寫功率，3T標記引發(fā)的抖動(特別是紋脊抖動)作為施加的寫策略的函數(shù)變化相當明顯(參見圖2)。例如，在42mW下，寫策略2和3呈現(xiàn)了28ns的紋脊抖動，而寫策略1和4導(dǎo)致33ns的紋脊抖動。此外，每個寫策略下的最佳寫功率明顯不同，例如，WS 4下為36mW，WS 2下為40mW。應(yīng)當注意，可得到的底部(bottom)抖動(即曲線的最低抖動值)對于所有寫策略而言是十分相似的。然而，所述底部抖動對不同寫策略來說是通過不同寫功率值得到的，因此，在不同的調(diào)制值上。
另一問題(如圖2所示)在于抖動對寫功率的曲線是不對稱的，在低功率側(cè)急劇增加，在高功率側(cè)緩慢增加。通常，這種不對稱曲線對于優(yōu)化寫策略參數(shù)而言是不理想的；對稱形狀的拋物線是優(yōu)選的。
2T寫策略的第三個問題在于WS參數(shù)的數(shù)量可能很大，在給定寫功率下參數(shù)設(shè)定很關(guān)鍵。其中一些參數(shù)，特別是那些與較短標記例如3T標記相關(guān)的參數(shù)，需要以高時間分辨率(例如高至1/16T的時間分辨率)進行定義。引發(fā)的抖動，特別是紋脊抖動有可能對這些參數(shù)十分敏感，正如從圖2明顯可以看出的。上述寫策略參數(shù)，特別是寫功率優(yōu)化的問題的解決方案是尋找代表記錄性能的潛在的重要的參數(shù)。所述參數(shù)是已記錄的3T標記的長度，或者更一般來說是施加的調(diào)制方法所允許的最短標記的長度，或者至少是短標記的長度。由圖中可以看出，當已記錄的3T標記的長度不正確時，抖動(所述抖動是代表記錄性能的最重要的參數(shù)；低抖動是優(yōu)選的)很高。
如果相對于測量到的3T掃描寬度與標稱3T掃描寬度(Δ3TRL)之間的差繪制3T紋脊抖動的曲線，則2T寫策略的不同參數(shù)設(shè)定下的所有曲線都變?yōu)閽佄锞€(參見圖3)。如果寫功率發(fā)生變化，則在所有不同寫策略參數(shù)設(shè)定下都可以發(fā)現(xiàn)相似的底部抖動(即，拋物線的最低抖動值。此外，不同寫策略下的所有拋物線均按比例形成相同的“類(generic)”拋物線(參見圖3)。
圖3示出了，當利用3T紋脊抖動與3T標記長度之間的關(guān)系時，寫功率，或更一般來說是WS參數(shù)的優(yōu)化變得更加一目了然。應(yīng)當注意，當寫功率變化時，凹坑抖動幾乎保持恒定。因而，在這種優(yōu)化過程中不需要考慮凹坑抖動(盡管所述凹坑抖動也應(yīng)加以考慮)。
通過測量三個點，已經(jīng)可以得到拋物線的三個參數(shù)。多點測量將提高拋物線的精確度。得到的拋物線使獲得適于一組2T寫策略參數(shù)的最佳寫功率(用于記錄具有低抖動的標記)成為可能。
如上所述，紋脊抖動對Δ3TRL曲線與同一基本曲線成比例。所有不同的寫策略都導(dǎo)致對于相似的Δ3TRL，因此對于相似的已記錄3T標記長度的相似的底部抖動值。通常，對于Δ3TRL，可以發(fā)現(xiàn)底部抖動等于零。然而，對于圖3中的不同2T WS參數(shù)設(shè)定，與最低抖動(即底部抖動)相應(yīng)的Δ3TRL約為0.5ns。因此，有可能對接近但不是正好等于零(在這種情況下，為0.5ns)的某個目標Δ3TRL值進行優(yōu)化。
基于上述觀察，下面將參考圖4所示的流程圖討論根據(jù)本發(fā)明的可行OPC方法的一個實施例，所述方法借助Δ3TRL的測量確定給定2T寫策略下的最佳寫功率。在第一步驟S1，驅(qū)動器利用默認寫功率值周圍的三個不同寫功率值在記錄載體的三個軌道(例如專門預(yù)留的功率校準區(qū))上寫入隨機測試標記，同時利用默認參數(shù)設(shè)定用于寫策略的其他參數(shù)。默認寫功率值可由先前的優(yōu)化過程得到，或使用同類的記錄載體通過多次實驗得到。所述隨機測試標記包括至少多個最短允許標記(例如用于可記錄或可重寫CD和DVD型記錄載體的3T標記)。
隨后(步驟S2)，針對三個不同的寫功率的每個測量所述已寫入的最短標記的掃描寬度。可選擇的，可以同時測量所述已寫入最短標記的得到的調(diào)制。
根據(jù)測量到的掃描寬度與所述最短標記(3T標記)的標稱掃描寬度之間的差Δ3TRL，可以確定寫功率對Δ3TRL的(局部)拋物線，如圖5所示。可選擇的，如果在步驟S2中測量了調(diào)制，則可以確定Δ3TRL對調(diào)制的另一條曲線，如圖6所示。后一曲線可用在可選的步驟S3中用于確定那些Δ3TRL值，從而可以無疑的確定那些寫功率，所述寫功率可以使記錄標記獲得足夠高的調(diào)制(正如相關(guān)標準所規(guī)定的)。有選擇的，或者此外，可以獲得圖1所示的寫功率對記錄標記的調(diào)制的曲線，并將其用于確定產(chǎn)生足夠高的調(diào)制的那些寫功率。
在接下來的步驟S4中，確定最佳寫功率。確定最佳寫功率的方法是基于得到的圖5所示的寫功率對Δ3TRL的拋物線。所述寫功率從所述拋物線得到，所述拋物線期望產(chǎn)生最佳Δ3TRL。最佳Δ3TRL本身可以設(shè)定為0ns，也可以設(shè)定為預(yù)先確定的使抖動預(yù)期最小的Δ3TRL值，例如，基于圖3所示的Δ3TRL對(紋脊)抖動的拋物線，所述附圖中示出，當Δ3TRL≈0.5ns時，抖動最低。由此確定的寫功率隨后用作給定2T寫策略的最佳參數(shù)設(shè)定下的最佳寫功率。
現(xiàn)在，所述最佳寫功率在步驟S5中用于寫入數(shù)據(jù)。當采用隨后的“步進式OPC”程序時，在步驟S6中再次測量已寫入數(shù)據(jù)中的至少最短標記的掃描寬度。之后，在步驟S7中，為測量到的掃描寬度再次確定Δ3TRL，并再次將新Δ3TRL與最佳Δ3TRL進行比較，以調(diào)整(如果需要)最佳寫功率。記錄載體或驅(qū)動器中疊層厚度和材料組成的變動或溫度變化可以引起最佳寫功率對于盤的不同區(qū)域而變化。由于可以執(zhí)行所述“步進式OPC”程序，因而可以在寫數(shù)據(jù)過程中針對此類變動和變化調(diào)整寫功率。在已將正常數(shù)據(jù)(即，不是專門為OPC程序設(shè)計的數(shù)據(jù))寫入盤上之后，驅(qū)動器測量Δ3TRL，將其與最佳值進行比較，并調(diào)整寫功率。
應(yīng)當注意，可以將寫測試圖案的一個單獨的寫步驟或?qū)憸y試標記的兩個分開的寫步驟用于上述步驟2中組合的標記長度測量和(可選)記錄標記調(diào)制的測量。此外，本發(fā)明并不局限于2T寫策略，而是更普遍的可適用于任何nT寫策略，n是大于1的整數(shù)。本發(fā)明并不局限于任何特定類型的記錄載體，而是適用于任何可記錄或可重寫類型的記錄載體，例如CD、DVD或BD型記錄載體。對于某些種類的記錄載體，最短允許標記可能不是3T標記，而是，例如，2T標記，正如BD記錄載體所出現(xiàn)的情況。還可以不僅利用和測量最短標記的掃描寬度，而且利用和測量較長標記的掃描寬度，考慮用其確定最佳寫功率。例如，不僅可以利用3T標記，而且有時還可利用較長的4T和5T標記。從而測試標記的圖案也必須相應(yīng)地改變。
權(quán)利要求
1.一種優(yōu)化以輻射束照射信息層的方式將標記記錄到記錄載體的信息層上的寫功率的方法，所述信息層具有可在第一相與第二相之間進行可逆變化的相，所述方法包括下述步驟-通過施加至少三個不同的寫功率將測試標記圖案記錄(S1)到記錄載體上，所述測試標記至少包括短標記，所述短標記具有預(yù)定的短標稱掃描寬度，-測量(S2)通過施加至少三個不同的寫功率記錄的所述短標記的掃描寬度，-基于測量到的掃描寬度與所述短標記的標稱掃描寬度的偏差確定(S4)最佳寫功率。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中基于測量到的掃描寬度與所述短標記的標稱掃描寬度的偏差確定最佳寫功率，以使測量到的掃描寬度與所述短標記的標稱掃描寬度之間的差基本為零。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中基于測量到的掃描寬度與所述短標記的標稱掃描寬度的偏差確定最佳寫功率，以使所述短標記的抖動最小。
4.如權(quán)利要求1，2或3所述的方法，其中，在所述記錄測試標記的圖案的步驟中(S1)，記錄具有施加的調(diào)制方法所允許的最短掃描寬度的最短標記，并且其中所述最短標記的掃描寬度被測量并被用于確定最佳寫功率。
5.如權(quán)利要求1，2或3所述的方法，其中，在所述記錄測試標記的圖案的步驟中(S1)，通過施加默認最佳寫功率周圍的至少三個不同的寫功率記錄測試標記。
6.如權(quán)利要求1，2或3所述的方法，還包括下述步驟-通過施加確定的最佳寫功率將包括短標記的標記記錄(S5)在記錄載體上，-測量(S6)通過確定的最佳寫功率記錄的所述短標記的掃描寬度，-基于測量到的掃描寬度與所述短標記的標稱掃描寬度之間的差調(diào)整(S7)最佳寫功率。
7.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括下述步驟-測量(S2)通過至少三個不同的寫功率記錄的所述記錄的短標記的調(diào)制，-檢查(S3)施加的寫功率是否導(dǎo)致已記錄的短標記的調(diào)制超過預(yù)定閾值調(diào)制。
8.一種用于以輻射束照射信息層的方式將代表用戶數(shù)據(jù)的標記記錄到記錄載體的信息層上的記錄方法，所述信息層具有可在第一相與第二相之間進行可逆變化的相，所述方法包括下述步驟-通過權(quán)利要求1，2或3所述的方法優(yōu)化用于記錄所述標記的寫功率，以獲得最佳寫功率，和-通過施加所述最佳寫功率記錄所述代表用戶數(shù)據(jù)的所述標記。
9.一種用于以輻射束照射信息層的方式將代表用戶數(shù)據(jù)的標記記錄到記錄載體的信息層上的記錄方法，所述信息層具有可在第一相與第二相之間進行可逆變化的相，所述方法包括下述步驟-通過有規(guī)律的執(zhí)行如權(quán)利要求6所述的方法優(yōu)化用于記錄所述標記的寫功率，以在所述記錄過程中有規(guī)律的調(diào)整最佳寫功率。
10.一種用于通過權(quán)利要求1，2或3所述的方法優(yōu)化將標記記錄到記錄載體的信息層中的寫功率的裝置，包括-記錄裝置，用于通過施加至少三個不同的寫功率將測試標記圖案記錄到記錄載體上，所述測試標記至少包括短標記，所述短標記具有預(yù)定的短標稱掃描寬度，-測量裝置，用于測量通過施加至少三個不同的寫功率記錄的所述短標記的掃描寬度，-確定裝置，用于基于測量到的掃描寬度與所述短標記的標稱掃描寬度的偏差確定最佳寫功率。
11.一種用于以輻射束照射信息層的方式將標記記錄到記錄載體的信息層上的記錄裝置，包括如權(quán)利要求10所述的用于優(yōu)化將標記記錄到記錄載體的信息層中的寫功率的裝置。
12.如權(quán)利要求11所述的記錄裝置，還包括-另一記錄裝置，用于通過施加確定的最佳寫功率將包括短標記的標記記錄在記錄載體上，-另一測量裝置，用于測量通過確定的最佳寫功率記錄的所述短標記的掃描寬度，-調(diào)整裝置，用于基于測量到的掃描寬度與所述短標記的標稱掃描寬度的偏差調(diào)整最佳寫功率。
13.一種如權(quán)利要求12所述的適于通過有規(guī)律的執(zhí)行如權(quán)利要求6所述的用于有規(guī)律的調(diào)整最佳寫功率的方法優(yōu)化用于記錄所述標記的寫功率的記錄裝置。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種優(yōu)化以(脈沖)輻射束照射信息層的方式將標記記錄到記錄載體的信息層上的寫功率的方法，所述信息層具有在第一相(例如晶相)和第二相(例如非晶相)之間進行可逆變化的相。由于已知的用于1T寫策略的方法通常不能用于nT寫策略，n是大于1的整數(shù)，因此，本發(fā)明提出了一種新的方法，包括下述步驟通過施加至少三個不同的寫功率將測試標記圖案記錄(S1)到記錄載體上，所述測試標記包括短標記，所述短標記具有預(yù)定的短標稱掃描寬度，測量(S2)通過施加至少三個不同寫功率獲得的所述記錄的短標記的掃描寬度，和基于測量到的掃描寬度與所述短標記的標稱掃描寬度的偏差確定(S4)最佳寫功率。
文檔編號G11B7/125GK1985315SQ200580024021
公開日2007年6月20日 申請日期2005年7月7日 優(yōu)先權(quán)日2004年7月16日
發(fā)明者B·蒂克, 唐富龍 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司