專利名稱：預(yù)防光存儲介質(zhì)破裂的讀取裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種讀取裝置，特別是涉及一種可預(yù)防一光存儲介質(zhì)破裂的讀取裝置及方法。
背景技術(shù)：
光存儲介質(zhì)(optical storage medium)，諸如光盤(compact disk；CD)、可擦寫光盤(CD-RW)、數(shù)字激光視盤(digital versatile disk；DVD)、可擦寫數(shù)字激光視盤(DVD-RW；DVD+RW)以及超級聲音光盤(super audiocompact disk；SACD)，多半由塑料所制成。光存儲介質(zhì)會因為制作不良、使用不當(dāng)或高低溫差而產(chǎn)生裂痕，而這些裂痕又會在高速旋轉(zhuǎn)的讀取裝置中破裂。破裂的光存儲介質(zhì)可能在數(shù)據(jù)讀寫或開啟讀取裝置時，彈射出來，而造成人體的傷害。近來，為加速數(shù)據(jù)的讀取與寫入，讀取裝置的轉(zhuǎn)速不斷提高，光存儲介質(zhì)破裂的機會亦越來越大。
傳統(tǒng)為預(yù)防使用者被破裂的光存儲介質(zhì)傷害，通常會設(shè)計預(yù)防破片在轉(zhuǎn)動時射出的機械裝置，例如，托盤屏蔽，避免對使用者造成傷害。即便如此，破裂的光存儲介質(zhì)亦會傷害到讀取裝置，或者在開啟讀取裝置時彈射出來，傷害到使用者。
因此，需要一可預(yù)防光存儲介質(zhì)破裂的讀取裝置及方法，用以避免光存儲介質(zhì)在轉(zhuǎn)動時破裂。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明的目的是提供一種預(yù)防光存儲介質(zhì)破裂的讀取裝置及方法，藉由定期檢測讀取數(shù)據(jù)的錯誤數(shù)目變化情形，并在發(fā)現(xiàn)光存儲介質(zhì)產(chǎn)生裂痕時，停止轉(zhuǎn)動或降低轉(zhuǎn)速，避免光存儲介質(zhì)破裂。
依據(jù)上述目的，本發(fā)明的讀取裝置，包含一數(shù)據(jù)讀取組件、一機械裝置以及一控制單元。機械裝置以一轉(zhuǎn)速運作，使數(shù)據(jù)讀取組件讀取一光存儲介質(zhì)的內(nèi)容。控制單元由機械裝置接收啟動訊號，進行第一讀取步驟以及第二讀取步驟?？刂茊卧诘谝蛔x取步驟中由內(nèi)而外讀取光存儲介質(zhì)中的部分?jǐn)?shù)據(jù)，取得第一錯誤數(shù)值，且在第二讀取步驟中，由內(nèi)而外讀取光存儲介質(zhì)中的上述部分?jǐn)?shù)據(jù)，取得第二錯誤數(shù)值。
第二讀取步驟與上述第一讀取步驟間隔一間隔時間，且在機械裝置處于非忙碌狀態(tài)時進行。第一錯誤數(shù)值是指在上述第一讀取步驟過程中所產(chǎn)生的錯誤數(shù)目；而第二錯誤數(shù)值是指在上述第二讀取步驟過程中所產(chǎn)生的錯誤數(shù)目。其中，第一錯誤數(shù)值以及第二錯誤數(shù)值包含一隨機錯誤數(shù)目(randomerror count)或一爆發(fā)錯誤數(shù)目(burst error count)，而隨機錯誤數(shù)目可包含相應(yīng)于Reed-Solomon碼的C1值，爆發(fā)錯誤數(shù)目可包含相應(yīng)于Reed-Solomon碼的C2值。
若第一錯誤數(shù)值大于一初始設(shè)定值則停止機械裝置的運轉(zhuǎn)或降低機械裝置的轉(zhuǎn)速，用以預(yù)防上述光存儲介質(zhì)在高速運轉(zhuǎn)時破裂。
若第二錯誤數(shù)值相較于第一錯誤數(shù)值的差異量大于差異設(shè)定值則調(diào)整上述機械裝置的狀態(tài)，以避免光存儲介質(zhì)破裂。調(diào)整機械裝置的狀態(tài)是指停止機械裝置的運轉(zhuǎn)或降低機械裝置的轉(zhuǎn)速，以避免光存儲介質(zhì)于高速運轉(zhuǎn)時破裂。
依據(jù)上述目的，本發(fā)明還提出一光存儲介質(zhì)破裂預(yù)防方法，避免一光存儲介質(zhì)在一讀取裝置中因高速運轉(zhuǎn)而破裂。讀取裝置包含一機械裝置，當(dāng)讀取裝置讀取光存儲介質(zhì)時，機械裝置以一轉(zhuǎn)速運作。其方法包括下列步驟接收啟動訊號；進行第一讀取步驟，由內(nèi)而外讀取光存儲介質(zhì)中的一部分?jǐn)?shù)據(jù)，取得第一讀取步驟過程中所產(chǎn)生的錯誤數(shù)目當(dāng)作第一錯誤數(shù)值；在一間隔時間后且讀取裝置處于非忙碌狀態(tài)時，進行一第二讀取步驟，由內(nèi)而外讀取上述光存儲介質(zhì)中的上述部分?jǐn)?shù)據(jù)，取得第二讀取步驟過程中所產(chǎn)生的錯誤數(shù)目當(dāng)作第二錯誤數(shù)值；若上述第一錯誤數(shù)值大于一初始設(shè)定值，則調(diào)整機械裝置的轉(zhuǎn)速；以及若第二錯誤數(shù)值相較于第一錯誤數(shù)值的差異量大于一差異設(shè)定值，則調(diào)整機械裝置的轉(zhuǎn)速。調(diào)整轉(zhuǎn)速是停止機械裝置的運作或降低機械裝置的轉(zhuǎn)速。


為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并結(jié)合附圖詳細說明如下。
圖1示出了依據(jù)本發(fā)明實施例的硬件架構(gòu)示意圖；圖2a、2b示出了依據(jù)本發(fā)明實施例的光存儲介質(zhì)破裂預(yù)防方法的方法流程圖。
附圖符號說明11-機械裝置；12-控制單元；121-芯片/芯片組；122-存儲裝置；13-數(shù)據(jù)讀取組件；S211、S212、S213、S214、S215、S221、S222、S231、S232、S233、S234-操作步驟。
具體實施例方式
一光存儲介質(zhì)(optical storage medium)的破裂，通常是由內(nèi)而外，因此，藉由定期檢測光存儲介質(zhì)內(nèi)圈數(shù)據(jù)的讀取錯誤數(shù)目變化情形，可判斷轉(zhuǎn)動中的光存儲介質(zhì)是否產(chǎn)生裂痕，并在發(fā)現(xiàn)光存儲介質(zhì)產(chǎn)生裂痕時，停止轉(zhuǎn)動或降低轉(zhuǎn)速以避免破裂。
圖1示出了依據(jù)本發(fā)明實施例的硬件架構(gòu)示意圖，讀取裝置10包含一機械裝置11、一控制單元12與一數(shù)據(jù)讀取組件13。數(shù)據(jù)讀取組件13包含讀寫頭(pickup head)。機械裝置11至少包含一主軸馬達，其以一轉(zhuǎn)速運作，從光存儲介質(zhì)讀取數(shù)據(jù)或?qū)懭霐?shù)據(jù)。控制單元12包含一芯片(chip)/芯片組(chipset)121以及一存儲裝置122。在較佳的情況下，存儲裝置122為一非易失性存儲裝置(non-volatile memory device)，如只讀存儲器(flash ROM)、電子可抹寫只讀存儲器(EEPROM)或快閃只讀存儲器(flash ROM)或其它不會因電源切斷而造成數(shù)據(jù)消失的內(nèi)存。數(shù)據(jù)讀取組件13、機械裝置11以及控制單元12是已知的讀取裝置，諸如光驅(qū)(CD-ROM)、光盤燒錄機(CD-RW)、數(shù)字激光視盤機(DVD-ROM)、數(shù)字影音燒錄機(DVD-RW)或其它可讀取或?qū)懭牍獯鎯橘|(zhì)的裝置中最重要的組件。
芯片/芯片組121包含一數(shù)據(jù)讀取邏輯、一數(shù)據(jù)譯碼邏輯以及一轉(zhuǎn)速控制邏輯。數(shù)據(jù)讀取邏輯用以指示數(shù)據(jù)讀取組件13讀取一既定范圍的光存儲介質(zhì)數(shù)據(jù)，此范圍以邏輯區(qū)塊地址(Logical Block Address；LBA)為單位來表示。從光存儲介質(zhì)所取得的數(shù)據(jù)通常為經(jīng)過編碼后的數(shù)據(jù)，在較佳情況下為Reed-Solomon碼(R-S code)，其中包含奇偶校驗(parity check)數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)譯碼邏輯用以輸入數(shù)據(jù)讀取邏輯所讀取的數(shù)據(jù)，依據(jù)奇偶校驗數(shù)據(jù)進行數(shù)據(jù)驗證與修正，并輸出經(jīng)修正后的譯碼數(shù)據(jù)以及錯誤數(shù)目，此錯誤數(shù)目可代表隨機錯誤數(shù)目(random error count)或爆發(fā)錯誤數(shù)目(burst errorcount)。隨機錯誤數(shù)目為相應(yīng)于R-S碼的C1值，爆發(fā)錯誤數(shù)目為相應(yīng)于R-S碼的C2值。轉(zhuǎn)速控制邏輯用以指示機械裝置11停止運轉(zhuǎn)或降低轉(zhuǎn)速。存儲裝置122存儲一程序模塊，用以讓芯片/芯片組121加載并執(zhí)行，以達到光存儲介質(zhì)破裂的預(yù)防功能。
控制單元12由機械裝置11接收啟動訊號，進行第一讀取步驟以及第二讀取步驟?？刂茊卧?2在第一讀取步驟中執(zhí)行芯片/芯片組121中的數(shù)據(jù)讀取邏輯，由內(nèi)而外讀取光存儲介質(zhì)中的部分?jǐn)?shù)據(jù)，且執(zhí)行芯片/芯片組121中的數(shù)據(jù)譯碼邏輯，取得第一錯誤數(shù)值。在第二讀取步驟中執(zhí)行芯片/芯片組121中的數(shù)據(jù)讀取邏輯，由內(nèi)而外讀取光存儲介質(zhì)中的上述部分?jǐn)?shù)據(jù)，且執(zhí)行芯片/芯片組121中的數(shù)據(jù)譯碼邏輯，取得第二錯誤數(shù)值。
第二讀取步驟是間隔上述第一讀取步驟一間隔時間，且在機械裝置11處于非忙碌狀態(tài)時進行。第一錯誤數(shù)值是指在上述第一讀取步驟過程中所產(chǎn)生的錯誤數(shù)目；而第二錯誤數(shù)值是指在上述第二讀取步驟過程中所產(chǎn)生的錯誤數(shù)目。其中，第一錯誤數(shù)值以及第二錯誤數(shù)值包含一隨機錯誤數(shù)目(randomerror count)或一爆發(fā)錯誤數(shù)目(burst error count)，而隨機錯誤數(shù)目可包含相應(yīng)于Reed-Solomon碼的C1值，爆發(fā)錯誤數(shù)目可包含相應(yīng)于Reed-Solomon碼的C2值。
若第一錯誤數(shù)值大于一初始設(shè)定值，則控制單元12執(zhí)行芯片/芯片組121中的轉(zhuǎn)速控制邏輯，停止機械裝置11的運轉(zhuǎn)或降低機械裝置11的轉(zhuǎn)速，用以預(yù)防上述光存儲介質(zhì)于高速運轉(zhuǎn)時破裂。
若第二錯誤數(shù)值相較于第一錯誤數(shù)值的差異量大于差異設(shè)定值，則控制單元12執(zhí)行芯片/芯片組121中的轉(zhuǎn)速控制邏輯，調(diào)整上述機械裝置的狀態(tài)，以避免光存儲介質(zhì)破裂。調(diào)整機械裝置的狀態(tài)系指停止機械裝置的運轉(zhuǎn)或降低機械裝置的轉(zhuǎn)速，以避免光存儲介質(zhì)于高速運轉(zhuǎn)時破裂。
本發(fā)明還包含一光存儲介質(zhì)破裂預(yù)防方法，避免一光存儲介質(zhì)在一讀取裝置中因高速運轉(zhuǎn)而破裂。讀取裝置包含一機械裝置11，當(dāng)讀取裝置讀取光存儲介質(zhì)時，機械裝置11以一轉(zhuǎn)速運作。此方法包括下列步驟，首先，接收一啟動訊號；接著，進行第一讀取步驟，由內(nèi)而外讀取光存儲介質(zhì)中的一部分?jǐn)?shù)據(jù)，取得第一讀取步驟過程中所產(chǎn)生的錯誤數(shù)目當(dāng)作第一錯誤數(shù)值。在一間隔時間后且讀取裝置處于非忙碌狀態(tài)時，進行一第二讀取步驟，由內(nèi)而外讀取上述光存儲介質(zhì)中的上述部分?jǐn)?shù)據(jù)，取得第二讀取步驟過程中所產(chǎn)生的錯誤數(shù)目當(dāng)作第二錯誤數(shù)值。若上述第一錯誤數(shù)值大于一初始設(shè)定值，則調(diào)整機械裝置11的轉(zhuǎn)速。若第二錯誤數(shù)值相較于第一錯誤數(shù)值的差異量大于一差異設(shè)定值，則調(diào)整機械裝置11的轉(zhuǎn)速。調(diào)整轉(zhuǎn)速系停止機械裝置11的運作或降低機械裝置11的轉(zhuǎn)速。
圖2示出了依據(jù)本發(fā)明實施例的光存儲介質(zhì)破裂預(yù)防方法的方法流程圖。本發(fā)明實施例所披露的方法，存儲于程序模塊，開始于步驟S211，接收一讀取裝置啟動訊號，此讀取裝置啟動訊號代表使用者置入一光存儲介質(zhì)。
如步驟S212，此為第一讀取步驟，由內(nèi)而外讀取光存儲介質(zhì)中的一部分?jǐn)?shù)據(jù)。如步驟S213，取得讀取數(shù)據(jù)的錯誤數(shù)值，并將此數(shù)值當(dāng)作第一錯誤數(shù)值存儲于一臨時文件中。此第一錯誤數(shù)值可為隨機錯誤數(shù)目或爆發(fā)錯誤數(shù)目，在較佳情況下為相應(yīng)于R-S碼的C1值或C2值。除此之外，亦可以使用隨機錯誤數(shù)目以及爆發(fā)錯誤數(shù)目做加權(quán)運算，得到上述第一錯誤數(shù)值。如步驟S214，判斷第一錯誤數(shù)值是否大于預(yù)設(shè)的初始設(shè)定值(initiatedthreshold value)，若是，代表置入的光存儲介質(zhì)可能有刮痕(scratch)或裂縫(fissure)，進行步驟S215的處理；否則，代表置入的光存儲介質(zhì)良好，則進行步驟S221的處理。如步驟S215所示，在此步驟將會停止讀取裝置或降低讀取裝置的轉(zhuǎn)速；而在較佳情況下，將讀取裝置的轉(zhuǎn)速調(diào)降至最低轉(zhuǎn)速。
此方法流程中的步驟S221至S233為一反復(fù)執(zhí)行的程序，用以在一間隔時間后，主動檢測運轉(zhuǎn)中的光存儲介質(zhì)是否產(chǎn)生刮痕或裂縫，若是，則停止讀取裝置或降低轉(zhuǎn)速，避免光讀取介質(zhì)在高速運轉(zhuǎn)的過程中破裂。如步驟S221，此方法閑置(idle)一間隔時間，如1分鐘。如步驟S222，檢測讀取裝置是否處于忙碌狀態(tài)，其中，忙碌狀態(tài)代表讀取裝置正讀取或?qū)懭霐?shù)據(jù)，是則進行步驟S221的處理；否則進行步驟S231的處理。如步驟S231，此為第二讀取步驟，由內(nèi)而外讀取光存儲介質(zhì)中的一部分?jǐn)?shù)據(jù)，此范圍必須相同于步驟S212讀取的范圍。如步驟S232，取得讀取數(shù)據(jù)的第二錯誤數(shù)值，將此數(shù)值當(dāng)作第二錯誤數(shù)值且必須相應(yīng)于步驟S213所得到的第一錯誤數(shù)值。舉例來說，若步驟S213取得的爆發(fā)錯誤數(shù)目當(dāng)作第一錯誤數(shù)值，則步驟S232取得的爆發(fā)錯誤數(shù)目當(dāng)作第二錯誤數(shù)值；若步驟S213使用隨機錯誤數(shù)目以及爆發(fā)錯誤數(shù)目進行加權(quán)運算后的數(shù)值當(dāng)作第一錯誤數(shù)值，則步驟S232亦須使用相同的加權(quán)運算后的數(shù)值當(dāng)作第二錯誤數(shù)值。如步驟S233，判斷第二錯誤數(shù)值相較于第一錯誤數(shù)值的差異量是否大于一差異設(shè)定值(differential threshold value)，其中，差異設(shè)定值于較佳的情況下設(shè)定為2倍。若步驟S233的結(jié)果是第二錯誤數(shù)值相較于第一錯誤數(shù)值的差異量大于一差異設(shè)定值，代表光存儲介質(zhì)在運轉(zhuǎn)過程中可能產(chǎn)生刮痕(scratch)或裂縫(fissure)，則進行步驟S234的處理；否則，代表光存儲介質(zhì)于運轉(zhuǎn)過程中沒有遭受任何傷害，回到步驟S221的處理。如步驟S234所示，此方法會停止讀取裝置或降低讀取裝置的轉(zhuǎn)速，而在較佳情況下，將讀取裝置的轉(zhuǎn)速調(diào)降至最低轉(zhuǎn)速。
以下還舉出光存儲介質(zhì)在運轉(zhuǎn)中產(chǎn)生裂縫的一實例來說明上述流程方法，假設(shè)初始設(shè)定值為300，差異設(shè)定值為2倍。當(dāng)一光存儲介質(zhì)被置入讀取裝置時，會產(chǎn)生一啟動訊號，啟動此讀取裝置。依據(jù)本發(fā)明實施例，此方法會執(zhí)行如步驟S211所述的處理。接下來，如步驟S212，由內(nèi)而外讀取光存儲介質(zhì)中的邏輯區(qū)塊地址0至4000的數(shù)據(jù)。如步驟S213，取得相應(yīng)于R-S碼的C1值，當(dāng)作第一錯誤數(shù)值C1(i)，C1(i)＝98。如步驟S214，此方法判斷出第一錯誤數(shù)值小于初始設(shè)定值，進行S221的處理。如步驟S221，此方法先閑置1分鐘。假設(shè)光存儲介質(zhì)在運轉(zhuǎn)的這1分種因機械問題產(chǎn)生裂縫。如步驟S222所示，此方法檢測出讀取裝置并非處于忙碌狀態(tài)而進行步驟S231的處理。如步驟S231，由內(nèi)而外讀取光存儲介質(zhì)中的邏輯區(qū)塊地址0至4000的數(shù)據(jù)。如步驟S232取得相應(yīng)于R-S碼的C1值，當(dāng)作第二錯誤數(shù)值C1(t1)，C1(t1)＝776。如步驟S233所示，此方法判斷第二錯誤數(shù)值相較于第一錯誤數(shù)值的差異量大于差異設(shè)定值而進行步驟S234的處理。如步驟S234，此方法將讀取裝置的轉(zhuǎn)速調(diào)降至最低轉(zhuǎn)速，避免光存儲介質(zhì)于高速運轉(zhuǎn)時破裂。
雖然本發(fā)明的實施例披露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的前提下，可做如果更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍以本發(fā)明的權(quán)利要求為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種讀取裝置，包括一數(shù)據(jù)讀取組件；一機械裝置，以一轉(zhuǎn)速運作，使上述數(shù)據(jù)讀取組件讀取一光存儲介質(zhì)的內(nèi)容；以及一控制單元，用以由上述機械裝置接收一啟動訊號，進行一第一讀取步驟與一第二讀取步驟；其中，上述控制單元在第一讀取步驟中由內(nèi)而外讀取上述光存儲介質(zhì)中的一部分?jǐn)?shù)據(jù)，取得一第一錯誤數(shù)值，且在上述第二讀取步驟中，由內(nèi)而外讀取上述光存儲介質(zhì)中的上述部分?jǐn)?shù)據(jù)，取得一第二錯誤數(shù)值；當(dāng)上述第二錯誤數(shù)值相較于上述第一錯誤數(shù)值的差異量大于一差異設(shè)定值，則調(diào)整上述機械裝置的狀態(tài)，以避免上述光存儲介質(zhì)破裂。
2.如權(quán)利要求1所述的讀取裝置，其中上述控制單元調(diào)整上述機械裝置的狀態(tài)是指停止上述機械裝置的運轉(zhuǎn)或降低上述機械裝置的上述轉(zhuǎn)速，以避免上述光存儲介質(zhì)在高速運轉(zhuǎn)時破裂。
3.如權(quán)利要求1所述的讀取裝置，其中上述第二讀取步驟是間隔上述第一讀取步驟一間隔時間，且于上述機械裝置處在一非忙碌狀態(tài)時進行。
4.如權(quán)利要求1所述的讀取裝置，其中上述第一錯誤數(shù)值是指在上述第一讀取步驟過程中所產(chǎn)生的錯誤數(shù)目。
5.如權(quán)利要求1所述的讀取裝置，其中上述第二錯誤數(shù)值是指在上述第二讀取步驟過程中所產(chǎn)生的錯誤數(shù)目。
6.如權(quán)利要求1所述的讀取裝置，其中上述第一錯誤數(shù)值以及上述第二錯誤數(shù)值包含一隨機錯誤數(shù)目或一爆發(fā)錯誤數(shù)目。
7.如權(quán)利要求6所述的讀取裝置，其中上述隨機錯誤數(shù)目包含相應(yīng)于Reed-Solomon碼的C1值，上述爆發(fā)錯誤數(shù)目包含相應(yīng)于Reed-Solomon碼的C2值。
8.如權(quán)利要求1所述的讀取裝置，其中上述控制單元還判斷若上述第一錯誤數(shù)值大于一初始設(shè)定值，則調(diào)整上述機械裝置的狀態(tài)。
9.如權(quán)利要求8所述的讀取裝置，其中上述控制單元調(diào)整上述機械裝置的狀態(tài)是指停止上述機械裝置的運作或降低上述機械裝置的上述轉(zhuǎn)速。
10.一種光存儲介質(zhì)破裂預(yù)防方法，避免一光存儲介質(zhì)于一讀取裝置中因高速運轉(zhuǎn)而破裂，上述讀取裝置包含一機械裝置，當(dāng)上述讀取裝置讀取上述光存儲介質(zhì)時，上述機械裝置以一轉(zhuǎn)速運作，其方法包括下列步驟接收一啟動訊號；進行一第一讀取步驟，由內(nèi)而外讀取上述光存儲介質(zhì)中的一部分?jǐn)?shù)據(jù)，取得上述第一讀取步驟過程中所產(chǎn)生的錯誤數(shù)目當(dāng)作一第一錯誤數(shù)值；在一間隔時間后且上述讀取裝置處于非忙碌狀態(tài)時，進行一第二讀取步驟，由內(nèi)而外讀取上述光存儲介質(zhì)中的上述部分?jǐn)?shù)據(jù)，取得上述第二讀取步驟過程中所產(chǎn)生的錯誤數(shù)目當(dāng)作一第二錯誤數(shù)值；以及若上述第二錯誤數(shù)值相較于上述第一錯誤數(shù)值的差異量大于一差異設(shè)定值，則調(diào)整上述機械裝置的上述轉(zhuǎn)速。
11.如權(quán)利要求10所述的方法，其中上述第一錯誤數(shù)值以及上述第二錯誤數(shù)值包含一隨機錯誤數(shù)目或一爆發(fā)錯誤數(shù)目。
12.如權(quán)利要求11所述的方法，其中上述隨機錯誤數(shù)目包含相應(yīng)于Reed-Solomon碼的C1值，上述爆發(fā)錯誤數(shù)目包含相應(yīng)于Reed-Solomon碼的C2值。
13.如權(quán)利要求10所述的方法，調(diào)整上述轉(zhuǎn)速系停止上述機械裝置的運作或降低上述機械裝置的上述轉(zhuǎn)速。
14.如權(quán)利要求10所述的方法，在上述第一讀取步驟之后還包含一步驟，若上述第一錯誤數(shù)值大于一初始設(shè)定值，則調(diào)整上述機械裝置的上述轉(zhuǎn)速。
15.如權(quán)利要求14所述的方法，調(diào)整上述轉(zhuǎn)速是指停止上述機械裝置的運作或降低上述機械裝置的上述轉(zhuǎn)速。
全文摘要
一種預(yù)防光存儲介質(zhì)破裂的讀取裝置，包含一數(shù)據(jù)讀取組件、一機械裝置以及一控制單元。機械裝置以一轉(zhuǎn)速運作，使數(shù)據(jù)讀取組件讀取光存儲介質(zhì)的內(nèi)容?？刂茊卧蓹C械裝置接收啟動訊號，進行第一讀取步驟以及第二讀取步驟。控制單元于第一讀取步驟中由內(nèi)而外讀取光存儲介質(zhì)中的部分?jǐn)?shù)據(jù)，取得第一錯誤數(shù)值，且于第二讀取步驟中，由內(nèi)而外讀取光存儲介質(zhì)中的上述部分?jǐn)?shù)據(jù)，取得第二錯誤數(shù)值。若第二錯誤數(shù)值相較于第一錯誤數(shù)值的差異量大于一差異設(shè)定值則調(diào)整上述機械裝置的狀態(tài)，以避免光存儲介質(zhì)破裂。
文檔編號G11B15/05GK1677529SQ20041003326
公開日2005年10月5日 申請日期2004年3月29日 優(yōu)先權(quán)日2004年3月29日
發(fā)明者李武松 申請人:明基電通股份有限公司