專利名稱：改善的自我伺服寫入多時隙計時圖案的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及自我伺服寫入磁性驅(qū)動器的計時圖案生成領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
隨著較新的驅(qū)動器技術(shù)的產(chǎn)生，在旋轉(zhuǎn)介質(zhì)大容量存儲設(shè)備中采用高磁道密度成為可能。這些新技術(shù)包括音圈及其他類型的伺服定位器以及通過使用磁阻(MR)磁頭技術(shù)讀取和寫入較窄的磁道的能力。較高的磁道密度提高了定位磁頭所需要的嵌入伺服系統(tǒng)的伺服寫入的精度要求。
傳統(tǒng)的磁盤驅(qū)動器制造技術(shù)包括用專門的伺服寫入儀器在磁頭磁盤組件(HDA)的介質(zhì)上寫入伺服磁道。在這樣的儀器中使用激光定位反饋以讀取用于寫入伺服磁道的記錄磁頭的實際物理位置。令人遺憾的是，這樣的伺服寫入器越來越難以侵入用于伺服寫入的HDA的內(nèi)部環(huán)境，因為HDA本身取決于它們的遮蓋和鑄造物才能保證正確的操作。此外，一些HDA非常小，小于2平方英寸。在這樣微型化的程度，傳統(tǒng)的伺服寫入方法是不適當(dāng)?shù)摹?br> 傳統(tǒng)的伺服圖案通常包含恒定頻率信號的短脈沖，數(shù)據(jù)磁道的中心線的兩側(cè)的很準(zhǔn)確地定位的偏移量。短脈沖在扇區(qū)標(biāo)題區(qū)寫入，并可用于查找磁道的中心線。在讀取和寫入期間需要停留在中心線上。由于每個磁道可能會有100或更多扇區(qū)，所以在一個數(shù)據(jù)磁道周圍必須要有相同數(shù)量的伺服數(shù)據(jù)區(qū)分散。
此外，通過在數(shù)據(jù)磁道的100左右的扇區(qū)標(biāo)題區(qū)中的每一個區(qū)域?qū)懭攵堂}沖，伺服數(shù)據(jù)一般性地分散在數(shù)據(jù)磁道的周圍。這樣的數(shù)據(jù)短脈沖可以由嵌入伺服機(jī)制用來查找數(shù)據(jù)磁道的中心線。這就允許磁頭甚至在磁道不圓(例如，由于主軸搖擺、磁盤滑動和/或熱膨脹)時跟蹤磁盤周圍的磁道中心線。隨著磁盤驅(qū)動器的容量增大，磁道密度也同樣增大，伺服數(shù)據(jù)必須在磁盤上更準(zhǔn)確地定位。
傳統(tǒng)上，伺服數(shù)據(jù)由專用的外部伺服寫入設(shè)備寫入，并通常涉及使用花崗石塊支持磁盤驅(qū)動器并平息外面的振動效應(yīng)。在記錄磁盤的表面上插入輔助時鐘磁頭，并用它來寫入基準(zhǔn)計時圖案。具有很精確的導(dǎo)螺桿和用于位置反饋的激光位移測量設(shè)備的外部磁頭/臂定位器用于準(zhǔn)確地確定轉(zhuǎn)換器位置。此準(zhǔn)確的轉(zhuǎn)換器位置是磁道放置和磁道與磁道之間的間距的基礎(chǔ)。伺服寫入器需要一個清潔的環(huán)境，因為磁盤和磁頭暴露于環(huán)境中，以允許外部磁頭和傳動器進(jìn)行訪問。
磁盤上的傳統(tǒng)的伺服數(shù)據(jù)圖案包括被分為扇區(qū)的圓形數(shù)據(jù)磁道。每一個扇區(qū)通常具有一個扇區(qū)標(biāo)題區(qū)，后面是數(shù)據(jù)區(qū)。每一個扇區(qū)標(biāo)題區(qū)都包括扇區(qū)標(biāo)題信息，后面是提供徑向位置信息的伺服數(shù)據(jù)區(qū)。扇區(qū)標(biāo)題信息包括伺服識別(SID)字段和格雷碼字段，它們必須在磁道與磁道之間準(zhǔn)確地對準(zhǔn)，以防止磁性圖中的破壞性干擾。這樣的干擾會縮小信號的振幅，并導(dǎo)致數(shù)據(jù)錯誤。
在傳統(tǒng)的驅(qū)動器制造期間，磁盤驅(qū)動器通常安裝在被稱為伺服寫入器的主控站上。伺服寫入器具有傳感器，這些傳感器位于磁盤驅(qū)動器的外面，以定位驅(qū)動器的至少一個內(nèi)部磁頭的徑向和圓周位置。通過使用傳感器的信息，伺服寫入器導(dǎo)致磁頭在磁盤上寫入一個圖案，通常是磁性信息(即，伺服數(shù)據(jù))。如上所述，伺服圖案成為在正常操作期間磁盤驅(qū)動器使用的主基準(zhǔn)，以為數(shù)據(jù)存儲定位磁道和扇區(qū)。當(dāng)使用這樣的站執(zhí)行伺服寫入時，由于每一個磁盤驅(qū)動器都必須安裝在伺服寫入器上，所以制造費用會提高。此外，由于外部傳感器必須能訪問傳動器和磁盤主軸電機(jī)，所以磁盤的機(jī)械邊界條件會發(fā)生改變。如此，可能還需要驅(qū)動器的機(jī)械夾緊和折卸。
根據(jù)另一個傳統(tǒng)的伺服寫入過程，首先由一個單獨的磁頭在磁盤上寫入主時鐘磁道，作為整個伺服磁道寫入操作的計時基準(zhǔn)。在寫入主時鐘磁道之后，在磁盤的整個表面上寫入伺服數(shù)據(jù)短脈沖首先將臂移到外部急停位置，然后對于磁盤轉(zhuǎn)動的每一轉(zhuǎn)使用外部徑向定位系統(tǒng)徑向地將臂移動一個小于數(shù)據(jù)磁道寬度的距離。
這樣的傳統(tǒng)的伺服寫入過程要求使用外部計時傳感器，以便寫入用于確定圓周磁頭位置的計時圖案。由于需要外部傳感器，所以必須在清潔的環(huán)境中執(zhí)行伺服寫入。此外，還需要外部時鐘源和輔助時鐘磁頭寫入計時信息。
為克服這樣的問題，最近已經(jīng)開發(fā)了自我伺服寫入計時生成過程。這些過程允許在每一個伺服數(shù)據(jù)半徑連續(xù)地寫入準(zhǔn)確對準(zhǔn)的伺服數(shù)據(jù)磁道，而不必使用任何機(jī)械的、磁性的或光學(xué)的定位系統(tǒng)來控制伺服數(shù)據(jù)的圓周定位。此外，也不再需要輔助時鐘磁頭來在磁盤上寫入基準(zhǔn)計時圖案。
根據(jù)一種方法，在存儲介質(zhì)的第一個徑向位置寫入第一個計時標(biāo)記。測量選擇的第一個計時標(biāo)記對之間的時間間隔。磁頭移到第二個徑向位置。接下來，在磁盤旋轉(zhuǎn)期間通過記錄每隔一個計時標(biāo)記(假設(shè)奇數(shù)號碼的計時標(biāo)記)的經(jīng)過時間然后在其后計算的延遲寫入插入的計時標(biāo)記(偶數(shù)號碼的計時標(biāo)記)來寫入其他的計時標(biāo)記。新寫入(偶數(shù))標(biāo)記之間的時間間隔被估計為相鄰的計時(奇數(shù))標(biāo)記的經(jīng)過時間的差加上寫入新計時標(biāo)記之前延遲中的差。然后磁頭移到第二個徑向位置。接下來，在磁盤旋轉(zhuǎn)期間通過在剛才寫入的圓周位置記錄每隔一個計時標(biāo)記(這里是偶數(shù)號碼的計時標(biāo)記)的經(jīng)過時間然后在其后計算的延遲寫入插入的計時標(biāo)記(奇數(shù)號碼的計時標(biāo)記)來寫入其他的計時標(biāo)記。
新寫入(偶數(shù))標(biāo)記之間的時間間隔被估計為相鄰的計時(偶數(shù))標(biāo)記的經(jīng)過時間的差加上寫入新計時標(biāo)記之前延遲中的差。在優(yōu)選的方法中，在計時標(biāo)記之間的時間間隔中在一個或多個磁盤表面上寫入伺服數(shù)據(jù)。在優(yōu)選的方法中，重復(fù)測量、移動、和寫入其他計時標(biāo)記的步驟，直到在存儲介質(zhì)的整個表面上寫入伺服圖案。
雖然在使用重疊讀取和寫入磁頭(即，可以不更改磁頭位置寫入和讀取磁道)伺服數(shù)據(jù)磁道時這樣的自我伺服寫入過程已經(jīng)足夠，但是現(xiàn)在正在產(chǎn)生具有不相重疊的讀取和寫入元件的磁盤驅(qū)動器。
具體來說，隨著讀取和寫入元件尺寸縮小以提高存儲密度，在其中發(fā)生讀取和寫入的寬度比讀取和寫入元件本身之間的距離更快速地縮小。因此，當(dāng)在旋轉(zhuǎn)傳動器上使用帶有這樣的元件的磁頭時，磁頭的讀取元件不再能在所有徑向位置重疊磁頭的寫入元件寫入的區(qū)域。當(dāng)上述自我伺服寫入過程用于讀取和寫入元件不重疊的驅(qū)動器時，不能使伺服數(shù)據(jù)磁道保持精確的圓周對準(zhǔn)，并且相對于圖案生成過程中的隨機(jī)誤差的增多缺乏穩(wěn)定性。
根據(jù)另一種方法，在磁盤旋轉(zhuǎn)期間在存儲介質(zhì)的第一個徑向位置寫入第一個計時標(biāo)記。然后磁頭移到第二個徑向位置。在磁盤旋轉(zhuǎn)期間測量選擇的第一個計時標(biāo)記對之間的時間間隔。接下來，在磁盤旋轉(zhuǎn)期間通過記錄每隔一個計時標(biāo)記(假設(shè)奇數(shù)號碼的計時標(biāo)記)的經(jīng)過時間然后在其后計算的延遲寫入插入的計時標(biāo)記(偶數(shù)號碼的計時標(biāo)記)來寫入其他的計時標(biāo)記。然后磁頭移到第二個徑向位置。在磁盤旋轉(zhuǎn)期間測量選擇的第一個計時標(biāo)記對之間的時間間隔。接下來，在磁盤旋轉(zhuǎn)期間通過在剛才寫入的圓周位置記錄每隔一個計時標(biāo)記(這里是偶數(shù)號碼的計時標(biāo)記)的經(jīng)過時間然后在其后計算的延遲寫入插入的計時標(biāo)記(奇數(shù)號碼的計時標(biāo)記)來寫入其他的計時標(biāo)記。在優(yōu)選的方法中，重復(fù)移動、測量和寫入其他計時標(biāo)記的步驟，直到在存儲介質(zhì)的整個表面上寫入伺服圖案。
在此全部引用了2000年6月13日提出的序列號為09/592,740，題為“Method for Self-Servo Writing TimingPropagation”的共同擁有的美國專利申請。此美國專利申請(在此以前被稱為′740申請)描述了自我伺服寫入過程。以前至少每隔一轉(zhuǎn)放置新計時標(biāo)記，以允許至少在旋轉(zhuǎn)期間在寫入隨后的新計時標(biāo)記之前讀取和測量現(xiàn)有計時標(biāo)記之間的所有時間間隔。此外，對于所有這些過程，在每個徑向位置只寫入一半的計時標(biāo)記位置。令人遺憾的是，這可能導(dǎo)致奇偶扇區(qū)不對稱，在計時標(biāo)記處信號強(qiáng)度減小，并增大測量之間的總時間，在不同的測量期間，電機(jī)轉(zhuǎn)速可能顯著地變化，也許會給計時標(biāo)記位置的測量帶來額外的計時誤差。
此外，讀取和寫入裝置的另一種類型使用偏移磁頭。在“偏移”磁頭中，在徑向上讀取和寫入元件在物理上是分離的。偏移磁頭包括記錄磁頭，或者稱為“寫入磁頭”，以及磁探測頭，或者稱為“讀取磁頭”?，F(xiàn)有技術(shù)偏移寫入過程要求，進(jìn)行額外的時間測量以保持過程穩(wěn)定性，從而會延長處理時間。
′740申請的發(fā)明通過檢測計時標(biāo)記的經(jīng)過和在基本上相同的圓周位置寫入計時標(biāo)記的擴(kuò)展克服了現(xiàn)有技術(shù)中的問題。即使磁盤驅(qū)動器或相似的系統(tǒng)不能同時寫入和讀取，這也是可行的，如果讀取磁頭是一個單獨的元件，該元件稍微在磁盤旋轉(zhuǎn)時在寫入磁頭之前遇到磁盤表面上的點，以便檢測現(xiàn)有的計時標(biāo)記可以在相同的圓周位置寫入計時標(biāo)記之前發(fā)生。在讀取操作發(fā)生之后，這種延遲允許在相同的一轉(zhuǎn)上的基本上相同的切線位置發(fā)生隨后的寫入操作。此過程記錄每個計時標(biāo)記的經(jīng)過，然后在基本上相同的圓周位置寫入所有的那些計時標(biāo)記的擴(kuò)展，使用此過程可以改善計時標(biāo)記位置的精度，并使附隨地寫入的伺服數(shù)據(jù)的位置也得到了相應(yīng)的改善。
另一個發(fā)明允許此最后一個較高精度的方法，其中，在要執(zhí)行的同一個磁盤旋轉(zhuǎn)期間檢測和寫入所有計時標(biāo)記位置，無需執(zhí)行除了該磁盤旋轉(zhuǎn)期間產(chǎn)生的測量步驟之外的任何其它測量步驟。這就會縮短總的處理時間。此發(fā)明在1999年10月25日提出的題為“Storageof Timing Information for Self-Servo Writing Timing PatternGeneration When Read and Write Heads are Non-Overlapping”的序列號為09/426,435的共同待審批的美國專利申請中進(jìn)行了說明，該申請定義了一個位置陣列，該陣列存儲了新寫入的計時標(biāo)記之間的估計間隔，由通過讀取磁頭檢測的計時標(biāo)記的測量的計時標(biāo)記間隔計算，用于在數(shù)據(jù)陣列中寫入新計時標(biāo)記的延遲。此美國專利申請(在此以前被稱為’435申請)通常被授予給IBM公司，該申請在這里全部加以引用。在每個新寫入步驟中，檢索當(dāng)前在讀取磁頭下經(jīng)過的計時標(biāo)記的存儲的估計間隔數(shù)據(jù)，并用于預(yù)測寫入的正確延遲。這意味著，在寫入新計時標(biāo)記的磁盤旋轉(zhuǎn)之前沒有必要測量在讀取磁頭下經(jīng)過的計時標(biāo)記之間的時間間隔。
′740申請和′435申請的發(fā)明的組合允許1)高精度，由于根據(jù)′740申請的發(fā)明，每個計時標(biāo)記在驅(qū)動器中的磁盤的同一個旋轉(zhuǎn)中的每個步驟上讀取和寫入，以及2)高處理速度，由于根據(jù)′435申請的發(fā)明，在寫入新計時標(biāo)記的磁盤旋轉(zhuǎn)之前沒有必要花時間來測量在讀取磁頭下經(jīng)過的計時標(biāo)記之間的時間間隔。然而，′740申請的發(fā)明特別要求一種磁頭，這種磁頭通過存在一個比較大的延遲能夠讀取然后在相同的一轉(zhuǎn)上的相同的圓周位置寫入，該延遲允許在相同的一轉(zhuǎn)上的基本上相同的切線位置發(fā)生隨后的寫入操作。延遲要求還限制能夠?qū)懭氲挠嫊r標(biāo)記的持續(xù)時間(圓周長度)，因為計時標(biāo)記的讀取必須在寫入元件到達(dá)該計時標(biāo)記的擴(kuò)展集的前沿之前完成。這種約束限制了可以與較高精度的每個計時標(biāo)記在相同的一轉(zhuǎn)上讀取和寫入的方法一起使用的記錄磁頭和計時標(biāo)記圖案的類型。
相應(yīng)地，有必要克服如上文所討論的現(xiàn)有技術(shù)中的問題，特別是對于在可旋轉(zhuǎn)的存儲介質(zhì)上更有效地寫入計時標(biāo)記的方法。

發(fā)明內(nèi)容
簡要地說，根據(jù)本發(fā)明，描述了多時隙計時圖案的改善的自我伺服寫入的系統(tǒng)和方法。單個的計時標(biāo)記被替換為計時標(biāo)記間隙組。在每一個計時標(biāo)記位置，時間測量是通過檢測一個間隙中的計時標(biāo)記來進(jìn)行的。在其他間隙中寫入計時標(biāo)記。每個組的時間測量和在每個組寫入的計時標(biāo)記的組合改善了時間傳播的總體精度。計時標(biāo)記位置的改善的精度使附隨地寫入的伺服數(shù)據(jù)的位置也得到了相應(yīng)的改善。此外，寫入圖案的校準(zhǔn)精度不易受轉(zhuǎn)速的變化和寫入的躍遷的形狀變化的影響。此外，在每一個伺服半徑只需要單個磁盤旋轉(zhuǎn)就能寫入伺服數(shù)據(jù)并傳播計時標(biāo)記以保持時間對準(zhǔn)。


通過結(jié)合圖形閱讀下面的詳細(xì)說明，本發(fā)明的特點和優(yōu)點將變得更加清楚，在圖形中，類似的引用號表示相同或功能上類似的元件。
圖1A是顯示了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的包括寫入磁頭和讀取磁頭的計時標(biāo)記和記錄轉(zhuǎn)換器的配置的圖表。
圖1B顯示了一個磁盤驅(qū)動器，并顯示了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的用于定位記錄介質(zhì)上的記錄轉(zhuǎn)換器的傳動器的配置。
圖2是顯示根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的生成的計時標(biāo)記的配置的網(wǎng)格。
圖3是描述本發(fā)明的一個實施例中的計時標(biāo)記生成過程的總體操作和控制流程的流程圖。
圖4A和圖4B是描述本發(fā)明的兩個不同的實施例中的計時標(biāo)記生成過程的操作和控制流程中的一個步驟的詳細(xì)說明的流程圖。
圖5是本發(fā)明的一個實施例中的寫入時隙、增加之后的讀取時隙，以及不同的讀取時隙情況的寫延遲的公式的表。
圖6是本發(fā)明的一個實施例中的寫入時隙、增加之后的讀取時隙，以及不同的讀取時隙情況的寫延遲和校正參數(shù)C[S，i]的公式的表。
圖7是本發(fā)明的一個實施例中的旋轉(zhuǎn)介質(zhì)上的計時標(biāo)記組的扇區(qū)布局的圖表。
圖8是可用于實現(xiàn)本發(fā)明的示范性自我伺服寫入計時系統(tǒng)的方框圖。
具體實施例方式
下面將通過示范性實施例對本發(fā)明進(jìn)行描述。這只是為了方便起見，而不打算限制本發(fā)明的應(yīng)用。事實上，在閱讀下面的描述之后，那些精通相關(guān)技術(shù)的普通人員將知道如何在其他實施例中實現(xiàn)本發(fā)明。
傳動器的幾何形狀圖1B顯示了一個磁盤驅(qū)動器，并顯示了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的用于定位記錄介質(zhì)148上的記錄轉(zhuǎn)換器152的傳動器150的配置。傳動器150定位記錄轉(zhuǎn)換器152，以在記錄介質(zhì)148上的任何徑向位置寫入磁道。傳動器位置信息可以從本技術(shù)已知的各種方法通過自我伺服寫入徑向傳播或通過外部傳感器獲得。
圖1A是顯示了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的包括寫入磁頭154和讀取磁頭156的一組計時標(biāo)記擴(kuò)展160和記錄轉(zhuǎn)換器152的配置的圖表。介質(zhì)旋轉(zhuǎn)148的方向是逆時針方向，如針對計時標(biāo)記擴(kuò)展集160的圖1A從左到右所顯示的。計時標(biāo)記是連續(xù)地寫入的，計時標(biāo)記傳播的方向是垂直的(從下往上)。圖1A中顯示的磁盤磁道為水平方向。圖1A顯示了包括寫入磁頭154和讀取磁頭156的記錄轉(zhuǎn)換器152相對于固定徑向位置的一組計時標(biāo)記擴(kuò)展160的位置。
計時標(biāo)記162到170是連續(xù)地寫入的。首先寫入計時標(biāo)記162，然后再寫入計時標(biāo)記164、166、168，最后寫入170。每個連續(xù)寫入的計時標(biāo)記都重疊以前寫入的計時標(biāo)記。如圖1A所示，計時標(biāo)記170重疊168，168重疊166，164重疊162。正如圖1A所顯示的，寫入磁頭154不與讀取磁頭156重疊相同的計時標(biāo)記。即，在不更改傳動器152的徑向位置的情況下，計時標(biāo)記無法由寫入磁頭154寫入并由讀取磁頭156讀取。
圖1A顯示了當(dāng)寫入磁頭154位于對應(yīng)于計時標(biāo)記162的磁道區(qū)域時，讀取磁頭156位于對應(yīng)于計時標(biāo)記168和170的磁道區(qū)域上。如上所述，按時間順序，首先寫入計時標(biāo)記162，第二寫入計時標(biāo)記164，第三寫入計時標(biāo)記166，第四寫入計時標(biāo)記168，第五(最后)寫入計時標(biāo)記170。
計時標(biāo)記164是162的計時標(biāo)記擴(kuò)展。計時標(biāo)記擴(kuò)展以前在′740申請中被定義為至少部分地在相鄰徑向位置的現(xiàn)有計時標(biāo)記的某些部分的數(shù)據(jù)相同的圓周位置寫入的計時標(biāo)記，并與之對齊，以使兩個計時標(biāo)記的某些部分可以由某些徑向位置的讀取磁頭156同時讀取。目的是保持計時標(biāo)記的準(zhǔn)確的對準(zhǔn)以便在伺服寫入過程中提供磁盤的旋轉(zhuǎn)位置的準(zhǔn)確指示器。此外，徑向軌道是諸如磁盤之類的可旋轉(zhuǎn)存儲介質(zhì)上的區(qū)域，該區(qū)域由橫跨初始計時標(biāo)記和該初始計時標(biāo)記的計時標(biāo)記擴(kuò)展集的區(qū)域。最后寫入徑向軌道的近似值可以預(yù)先確定為目標(biāo)軌道，將沿著該目標(biāo)軌道寫入計時標(biāo)記。
如此，在給定的徑向位置，讀取磁頭156可以讀取計時標(biāo)記162和164，它們分別是后退三個和四個計時步寫入的。此特點是讀取磁頭156的寬度、寫入磁頭154的寬度、讀取磁頭156和寫入磁頭154之間的徑向間隔174(叫做“磁頭偏移”)，以及162-170計時標(biāo)記之間的徑向長度的結(jié)果。計時標(biāo)記162-170的徑向長度是由計時標(biāo)記擴(kuò)展172之間的徑向步的步長設(shè)置的。在本發(fā)明的另一個實施例中，讀取磁頭156和寫入磁頭154之間的距離如此，以使讀取磁頭156可以讀取后退預(yù)先確定的計時步數(shù)寫入的計時標(biāo)記。如圖1A所示的參數(shù)N1被定義為讀取到寫入徑向磁頭偏移174減去寫入磁頭寬度154的一半與步長S的比率的整數(shù)部分(小于該比率的最大整數(shù)，由下列公式給出N1Integer part of(Offset-Write/2)/S此外，N2被定義為N1+1。
在本發(fā)明的一個實施例中，一個磁盤的每個磁道被分成V個扇區(qū)，其特征在于，V是產(chǎn)品扇區(qū)計算的整數(shù)倍，如圖7所示，其中V＝8。在每個扇區(qū)內(nèi)，有M個可能的時隙，其特征在于，M是大于2的整數(shù)。在一個示例中，如圖7所示，M＝3。在本發(fā)明的優(yōu)選的實施例中，計時標(biāo)記與每個計時標(biāo)記之間的固定時間間隔t分組在一起。計時標(biāo)記之間的時間間隔t由在上面記錄計時標(biāo)記的記錄介質(zhì)的速度和計時標(biāo)記d之間的距離確定，由下列公式給出t＝v/d，其中v是記錄介質(zhì)的速度。
第一和第二個計時標(biāo)記位置之間的總時間間隔必須有足夠長的時間，以便在在第一個計時標(biāo)記位置寫入計時標(biāo)記之后，在讀取磁頭通過第二個計時標(biāo)記的開始之前，磁盤驅(qū)動器中的讀取磁頭156和讀回電子設(shè)備充分地從由寫入所引起的干擾恢復(fù)。在倒數(shù)第二個和最后一個計時標(biāo)記位置之間保持類似的持續(xù)時間。在優(yōu)選的實施例中，M是3，定義了時隙的物理位置，以便時隙1722在圖7中的磁盤索引700之后在磁盤旋轉(zhuǎn)時開始某個固定時間。時隙2724在時隙1722開始之后開始一個固定時間t以使t等于或大于寫入計時標(biāo)記所需要的時間和讀取和寫入磁頭和電子設(shè)備充分地返回到它們的穩(wěn)態(tài)條件所需要的最大時間之和。時隙3726在時隙2724開始之后開始時間t。在優(yōu)選的實施例中，一個組的所有寫入的計時標(biāo)記都被對于所有時間組都相同的時間分隔，但也可以選擇不同的時間。
計時標(biāo)記布局圖2是顯示根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的生成的計時標(biāo)記的布局的網(wǎng)格。圖2顯示了圖7的扇區(qū)0720和扇區(qū)1730的計時標(biāo)記的詳細(xì)布局。圖2中的磁盤旋轉(zhuǎn)的方向是水平的(從右到左)，而計時標(biāo)記傳播的方向是垂直的(從下往上)。網(wǎng)格205顯示了磁盤上的在每個扇區(qū)內(nèi)寫入的計時標(biāo)記的位置。垂直柱(0-1，0-2，0-3)代表計時標(biāo)記可用的時隙，而行對應(yīng)于記錄介質(zhì)的磁道。圖2中顯示了兩個扇區(qū)，每個扇區(qū)都包含三個時隙，被稱為計時標(biāo)記組。在網(wǎng)格的第一組三個時隙(欄)中顯示了第一個計時標(biāo)記組，標(biāo)記為0-1、0-2、0-3的組0。在網(wǎng)格的第二組三個時隙(欄)中顯示了第二個計時標(biāo)記組，標(biāo)記為1-1、1-2、1-3的組1。在網(wǎng)格的左邊是表示標(biāo)記為209到289的讀取磁頭的徑向位置的線。填充和陰暗方框表示計時標(biāo)記。例如，當(dāng)讀取磁頭位于徑向位置239，寫入磁頭位于一個徑向位置以便在232、231、238和237寫入計時標(biāo)記。對圖2來說，如上所述，作為示例，N1被選擇為2(N1＝2)。在優(yōu)選的實施例中，偏移量是傳動器位置的緩慢變化的函數(shù)，可以是大于或等于兩個徑向步的任何值。
本發(fā)明描述了如何擴(kuò)展計時標(biāo)記(圖2中的陰影線)200、201和206、207的啟動圖案，以便保持時間對準(zhǔn)。本討論假設(shè)，啟動計時標(biāo)記200、201和206、207已經(jīng)通過現(xiàn)有技術(shù)寫入。本發(fā)明的說明書專門講述計時標(biāo)記組1的寫入。還假設(shè)，所有其他計時標(biāo)記組都用與計時標(biāo)記組1一樣的方法寫入，如這里所描述的。在本發(fā)明的優(yōu)選的實施例中，顯示了每個計時標(biāo)記組的三個時隙。在本發(fā)明的另一個實施例中，每個計時標(biāo)記組都可以使用大于2的任何整數(shù)時隙。當(dāng)稍后一個徑向步以及在與以前寫入的計時標(biāo)記相同的計時標(biāo)記間隙寫入一個計時標(biāo)記時，以前寫入的標(biāo)記的徑向部分被新計時標(biāo)記改寫(擦除并替換)。例如，計時標(biāo)記211已經(jīng)部分地被計時標(biāo)記221改寫。計時標(biāo)記261在時隙1沒有直接后繼，因此它沒有被改寫。
作為對后面的圖2的詳細(xì)討論的介紹，可以總結(jié)一下控制寫入和讀取的序列的規(guī)則。在優(yōu)選的實施例中，對每個組中的三個時隙，記錄(讀取)一個計時標(biāo)記的經(jīng)過時間，并在相同的徑向位置寫入兩個計時標(biāo)記。使用讀取計時標(biāo)記的經(jīng)過時間在計時標(biāo)記組之間寫入伺服數(shù)據(jù)以保持如圖7所示的伺服圖案時間對準(zhǔn)。
下面將描述時隙中的讀取和寫入計時圖案的序列。該過程對于磁盤的單周以讀取一個計時標(biāo)記和寫入其他兩個計時標(biāo)記開始。在下一個徑向步，該序列按如下方式前進(jìn)1.如果讀取時隙已經(jīng)重復(fù)小于N1的徑向步數(shù)，則讀取時隙保持相同。
2.否則更改讀取時隙，在優(yōu)選的實施例中，將讀取時隙增加1，或者如果當(dāng)前讀取時隙是最后一個(例如圖1中的時隙3)，則將它設(shè)置為第一個讀取時隙。
在圖2中，用對角線遮蔽的計時標(biāo)記是那些直接在讀取時隙之后的時隙寫入的計時標(biāo)記，而均勻地遮蔽的計時標(biāo)記在其余時隙寫入。
在本發(fā)明的一個實施例中，請參考圖2的網(wǎng)格205，計時圖案生成過程以定位傳動器152開始，以使讀取磁頭156位于219。
如上所述，記錄轉(zhuǎn)換器的幾何形狀導(dǎo)致寫入磁頭154定位在211和217上。計時標(biāo)記是成對地寫入的。記錄了計時標(biāo)記200的經(jīng)過時間，并在第二個時隙在211寫入第一個計時標(biāo)記。在第三個時隙212寫入下一個計時標(biāo)記。隨著磁盤持續(xù)旋轉(zhuǎn)，記錄第一個計時標(biāo)記間隙(組1的206)中的計時標(biāo)記的經(jīng)過時間，在每個連續(xù)的計時標(biāo)記組的時隙2和3(組1的217和218)寫入其他計時標(biāo)記。在時隙2和3中的寫入和在時隙1中的讀取一直持續(xù)，直到扇區(qū)V-1中的最后一個計時標(biāo)記組在記錄轉(zhuǎn)換器下經(jīng)過。
接下來，定位記錄轉(zhuǎn)換器152以使讀取磁頭156定位在229。再次在時隙1讀取計時標(biāo)記200(術(shù)語“讀取”用作觀察回讀信號和并記錄時隙中的計時標(biāo)記的經(jīng)過時間)，并在221和222寫入下一對計時標(biāo)記。隨著磁盤旋轉(zhuǎn)在連續(xù)的計時標(biāo)記組中寫入和讀取一直持續(xù)，直到最后一個計時標(biāo)記組V-1在記錄磁頭下經(jīng)過。在本討論的其余部分，每當(dāng)描述計時標(biāo)記的寫入時，都將假設(shè)，隨著磁盤旋轉(zhuǎn)在連續(xù)的計時標(biāo)記組中寫入和讀取一直持續(xù)，直到最后一個計時標(biāo)記組V-1在記錄磁頭下經(jīng)過。
此時，在第一個時隙中讀取時，記錄轉(zhuǎn)換器152移動N-2步。對于圖2描述的情況，其中讀取到寫入磁頭偏移量如此，以使N1＝2時，2是讀取移到下一個時隙之前計時步的數(shù)量。移動兩步之后，讀取時隙增加，在此情況下，增加到2。這是在寫入磁頭154和讀取磁頭156之間的徑向間隔的結(jié)果，如在本發(fā)明的前面所講述的，在等于N1的步數(shù)之后移到下一個時隙具有有益的特點，因為它創(chuàng)建計時標(biāo)記，這些計時標(biāo)記提供一個引用，該引用依賴于多個時隙。下面將比較全面地描述這些好處的原因。
接下來，定位記錄轉(zhuǎn)換器152以使讀取磁頭156定位在239。在第三個時隙231以及在第一個時隙232寫入下一對計時標(biāo)記。然后定位記錄轉(zhuǎn)換器152以使讀取磁頭156定位在249。在241和242寫入下一對計時標(biāo)記。此時，傳動器152在第二個時隙中移動N-2步。如前所述，2是讀取時隙152被要求移到下一時隙之前允許的計時步的最大數(shù)。由于以前的讀取是在第二個時隙中進(jìn)行的，讀取時隙被移到第三個或最后一個時隙。接下來，定位記錄轉(zhuǎn)換器152以使讀取磁頭156定位在259。在251和252寫入計時標(biāo)記。然后定位記錄轉(zhuǎn)換器152以使讀取磁頭156定位在269。在261和262寫入下一對計時標(biāo)記。
如前所述，傳動器152在第三個時隙中移動N＝2步，這是對于當(dāng)前的磁頭偏移是最大值。如此，由于以前的時隙是最后一個，讀取時隙被移到第一個時隙，即時隙1，因此讀取時隙移到下一個時隙。然后定位記錄轉(zhuǎn)換器152以使讀取磁頭152定位在279。當(dāng)讀取磁頭被定位在219時，讀取時隙和寫入時隙的布局與在步驟1中的相同。第一個時隙中的計時標(biāo)記是讀取，該組中的其他時隙以類似的方式寫入。每當(dāng)移動的步數(shù)等于N1時，就重復(fù)寫入計時標(biāo)記和增加讀取時隙的過程，直到在磁盤中寫入完整的伺服圖案。
本發(fā)明的一個優(yōu)點是，在每個時隙中的計時標(biāo)記的每個相鄰的部分(例如，212、231、241)，當(dāng)在不同的計時標(biāo)記間隙讀取計時標(biāo)記時至少有兩個已經(jīng)寫入的徑向相鄰的計時標(biāo)記。寫入和讀取的序列是這樣定義的，以便在隨后的徑向位置中，讀取磁頭處于這樣的狀態(tài)，以便它跨這些計時標(biāo)記的多個部分，同時寫入更多的計時標(biāo)記。在優(yōu)選的實施例中，此事件在增加讀取時隙之前的最后一個步驟發(fā)生。一個示例是當(dāng)讀取磁頭位于259并且讀取在250表示的計時標(biāo)記在時隙3發(fā)生。在此位置，計時標(biāo)記由222(當(dāng)讀取時隙是時隙1時寫入)和231(當(dāng)讀取時隙是時隙2時寫入)組成。這些特點是有益的，因為它們提供一個引用，該引用依賴于多個時隙。并耦合所有這三個時隙之間的時間信息。這通過將每個間隙中的傳播鏈接到其他間隙的兩個(或優(yōu)選的實施例中的兩個)可以防止計時標(biāo)記誤差。在沒有三個時隙耦合的情況下，不同時隙中的計時標(biāo)記的相對位置的誤差可能會積聚，并降低時間位置的精度。
保留多個時隙的此耦合或鏈接的其他實施例是容易構(gòu)建的。在另一個實施例中，計時標(biāo)記只在單個計時標(biāo)記間隙寫入，其中其他寫入時隙中的計時標(biāo)記決不會被讀取。在此實施例的另一個方案中，將寫入計時標(biāo)記228、237和247，但不會寫入218。將寫入227和228，以便將分別在不同的計時標(biāo)記間隙(0和1)中同時讀寫的毗連的計時標(biāo)記228和237將仍存在。在另一個實施例中，將重新安排計時標(biāo)記的順序。例如，時隙2可以在物理上放在時隙1之前，或者在時隙3之后，或者時隙順序可以顛倒。精通本技術(shù)的人可以設(shè)計其他布局。這里描述的優(yōu)選的實施例使用最小數(shù)量的計時標(biāo)記，并且比較方便，因為不同的處理步驟相對比較少。
計時標(biāo)記生成過程圖3是描述本發(fā)明的一個實施例中的計時標(biāo)記生成過程的總體操作和控制流程的流程圖?？刂屏鞒虖牟襟E320開始，并直接流到步驟322。
在步驟322中，使用傳動器150將記錄轉(zhuǎn)換器152移到初始徑向位置，其中，讀取磁頭156通過計時標(biāo)記(圖2中的200、201、206、207)的啟動圖案，并且徑向地定位寫入磁頭154以寫入啟動計時圖案的擴(kuò)展。此外，代表當(dāng)前時隙中的計時步數(shù)的變量N被定義為零。讀取時隙RS被選為時隙1。第一個寫入時隙WS1被設(shè)置為時隙2。第二個寫入時隙WS2被設(shè)置為時隙3。
在步驟323中，由在啟動圖案生成期間存儲的間隔數(shù)據(jù)計算估計的間隔。稍后將描述估計間隔、寫延遲的推導(dǎo)以及測量的間隔的存儲。在沒有啟動間隔數(shù)據(jù)的情況下，讀取時隙中的計時標(biāo)記之間的間隔可以在磁盤旋轉(zhuǎn)期間測量。在步驟324中，該過程在磁盤旋轉(zhuǎn)期間保持不變，直到V-1計時標(biāo)記組經(jīng)過緊前面。在步驟325中，記錄讀取計時標(biāo)記間隙中的計時標(biāo)記的經(jīng)過時間，并將計時標(biāo)記寫入在其他計時標(biāo)記間隙中。在下面的圖4的討論中進(jìn)一步講述步驟325的細(xì)節(jié)，該圖描述了本發(fā)明的兩個優(yōu)選的實施例。
在步驟326中，記錄轉(zhuǎn)換器152被移到遠(yuǎn)離起點一個伺服步的徑向位置。增加步數(shù)S和N。在327中，遵循下一節(jié)中描述的公式，與參數(shù)C[S，i]一起，存儲讀取時隙中的計時標(biāo)記的經(jīng)過時間之間的間隔。在步驟328中，使用當(dāng)前的時隙檢查N的值以確定已經(jīng)完成了多少徑向步。如果N等于N1，如圖1所描述，該過程移到步驟329，其中N被設(shè)置為零，然后移到步驟330，否則該過程直接移到步驟330。在步驟329中，讀取時隙RS增加到下一個時隙，除非讀取時隙是計時標(biāo)記組中的最后一個(第三個)時隙，而在這樣的情況下，讀取時隙被設(shè)置為等于第一個時隙-即，RS＝RS+1，除非RS＝3，然后RS被設(shè)置為0。
在步驟330中，檢查完成的徑向步S的數(shù)量。如果等于伺服圖案中的步數(shù)，該過程便通過在步驟331中退出來完成；否則該過程返回到步驟323以繼續(xù)徑向地步進(jìn)，并寫入計時標(biāo)記和產(chǎn)品伺服圖案。值得注意的是，可以在時間傳播過程期間寫入產(chǎn)品伺服圖案，但也可以在完成時間傳播之后寫入。
圖4A和圖4B是描述本發(fā)明的兩個不同的實施例中的計時標(biāo)記生成過程的操作和控制流程中的一個步驟(325)的詳細(xì)說明的流程圖。圖4A和圖4B描述了過程步驟的細(xì)節(jié)，其特征在于，記錄讀取時隙中的計時標(biāo)記的經(jīng)過，并寫入新的計時標(biāo)記。圖4A說明了第一個優(yōu)選的實施例的應(yīng)該被稱為同時讀寫(WWR)的過程步驟。圖4B說明了第二個優(yōu)選的實施例的應(yīng)該被稱為直接同時讀寫(DWWR)的過程步驟。
同時讀寫過程現(xiàn)在通過將步驟325分成子過程步驟441到452來比較詳細(xì)地描述圖4A中的WWR過程的圖3中的步驟325的細(xì)節(jié)。步驟325以步驟441進(jìn)入圖4A的過程。在圖3中的前面的步驟(324)中，過程等到最后一個計時標(biāo)記組之前。在步驟441之后是步驟442，其中，計時標(biāo)記組索引i被設(shè)置為最后一個計時標(biāo)記組V-1，該過程等待計時標(biāo)記。計時標(biāo)記的經(jīng)過用時間W0觸發(fā)硬件延遲T0的開始。在下一個步驟443中，我們分別通過下一節(jié)和圖5中描述的公式計算第一和第二寫入時隙的寫延遲W1[i]和W2[i]的延遲時間。在下一個步驟中顯示了在流控制功能446和硬件過程444和445的同時發(fā)生序列之間的流程圖。控制流程從443進(jìn)入446，過程等待T0延遲啟動并等待T2延遲消逝，這表示計時標(biāo)記組的完成。
在此等待期間，硬件計時器T0期滿，并啟動T1和T2計時器444。T0計時器在期滿時自動重置到延遲W0。隨著T1和T2計時器期滿445，它們將觸發(fā)在兩個計時標(biāo)記間隙中的新計時標(biāo)記的寫入。此外，還檢測讀取時隙中的再次啟動計時器T0的計時標(biāo)記。當(dāng)啟動T0之后，表示計時標(biāo)記已經(jīng)被讀取，T2期滿，表示已經(jīng)寫入兩個計時標(biāo)記，過程控制446移到步驟450。
在步驟450中，過程檢查最后一個計時標(biāo)記組是否已經(jīng)經(jīng)過-即，i＝V-1是否成立，表示是否在圍繞磁盤的圓周的所有計時標(biāo)記間隙中讀取或?qū)懭胗嫊r標(biāo)記，而在這樣的情況下，過程移到步驟452并返回到圖3；否則過程移到步驟451。在步驟451中，計時標(biāo)記組索引“i”增加。在步驟451之后，過程返回到步驟443以在下一個計時標(biāo)記組中繼續(xù)讀取計時標(biāo)記并寫入兩個計時標(biāo)記。
在此特定的實施例中，值得注意的是，由于每個組的兩個寫入的計時標(biāo)記在寫入時帶有確定的間隔，不管該組的讀取計時標(biāo)記如何，它們都可以被認(rèn)為是帶有空格的單個的、長計時標(biāo)記。顯然，此標(biāo)記的成分隨著徑向位置而更改(讀取和寫入時隙號碼)。
直接的同時讀寫現(xiàn)在通過將步驟325分成子過程步驟461到492來比較詳細(xì)地描述圖4B中的DWWR過程的圖3中的步驟325的細(xì)節(jié)。步驟425進(jìn)入帶有步驟461的圖4B。在圖3中的前面的步驟324中，過程等到最后一個計時標(biāo)記組之前。在步驟461之后是步驟462，其中，配置硬件觸發(fā)器以啟動在檢測計時標(biāo)記或延遲T0逝去時延遲T1和T2中的每一個，取決于圖6中表示的讀取計時標(biāo)記間隙。過程在步驟463中等待，直到最后一個計時標(biāo)記組(V-l)中的讀取計時標(biāo)記經(jīng)過，這將用延遲W0觸發(fā)延遲T0的啟動。
在下一個步驟464中，我們分別通過下一節(jié)和圖6中描述的公式計算寫入時間延遲T1和T2的寫延遲W1、W2的延遲時間。在下一個步驟中顯示了控制流程，以顯示同時控制流程465和硬件過程。硬件步驟取決于圖4B中指出的1、2或3的RS值表示的讀取時隙。在步驟464之后，過程控制部分在步驟465等待T0運行和T2期滿。
在讀取時隙是3的情況下，對硬件進(jìn)行這樣的配置，以便當(dāng)T0期滿470，它用延遲時間W1啟動延遲T1，用延遲時間W2啟動延遲T2。計時器T0在期滿時自動重置到延遲W0。當(dāng)T1期滿471時，在時隙1中寫入計時標(biāo)記。接下來，當(dāng)計時器T2期滿時，在計時標(biāo)記時隙2中寫入計時標(biāo)記。最后在步驟473中，檢測時隙3中的計時標(biāo)記，從而再次啟動計時器T0。
如果讀取時隙是時隙2，對硬件進(jìn)行這樣的配置，以便當(dāng)T0期滿480，它啟動計時器T1。計時器T0在期滿時自動重置到延遲W0。當(dāng)T1期滿481時，在時隙1中寫入計時標(biāo)記。接下來在步驟482中，檢測時隙2中的計時標(biāo)記，從而再次啟動計時器T0和計時器T2。接下來，當(dāng)計時器T2期滿483時，它導(dǎo)致在計時標(biāo)記時隙3中寫入計時標(biāo)記。
如果讀取時隙是時隙1，則首先檢測490時隙1中的計時標(biāo)記，從而啟動計時器T0、T1和T2。T0以前期滿但沒有被配置為啟動任何延遲。當(dāng)T1期滿491時，在時隙2中寫入計時標(biāo)記。接下來，當(dāng)計時器T2期滿492時，它導(dǎo)致在計時標(biāo)記時隙3中寫入計時標(biāo)記。
不管讀取時隙是什么，每個硬件過程都完成當(dāng)前計時標(biāo)記組，T0正在運行，T2期滿。當(dāng)發(fā)生這種情況時，控制流程步驟465前進(jìn)至步驟466。在步驟466中，過程檢查最后一個計時標(biāo)記組是否已經(jīng)經(jīng)過-即，i＝V-l是否成立，表示是否在圍繞磁盤的圓周的所有計時標(biāo)記間隙中讀取或?qū)懭胗嫊r標(biāo)記，而在這樣的情況下，過程在步驟467返回到圖3；否則過程移到步驟468。在步驟468中，計時標(biāo)記組索引“i”增加。在步驟468之后，過程返回到步驟464，以開始在下一個計時標(biāo)記組中讀取和寫入。
延遲計算本發(fā)明遵循′435申請中說明的方法，該申請定義了存儲第i個計時標(biāo)記組的位置的位置陣列或者計時標(biāo)記間隔陣列。在本發(fā)明的優(yōu)選的實施例中，我們定義了存儲的間隔AI[S，i]的陣列；S對應(yīng)于記錄轉(zhuǎn)換器152的徑向位置(或徑向步或磁道號)，而“i”代表在其中寫入計時標(biāo)記的扇區(qū)號，以便AI[S，0]＝IM
-A+D
-D[V-1]
AI[S，i]＝IM[i，i-1]-A+D[i+1]-D[i]其中IM[j，k]是在第“S”徑向步發(fā)生新計時標(biāo)記的寫入的磁盤旋轉(zhuǎn)期間第“j”個計時標(biāo)記組的讀取時隙中的計時標(biāo)記經(jīng)過時間減去第“k”個計時標(biāo)記組的讀取計時標(biāo)記間隙中的計時標(biāo)記經(jīng)過時間。如′740申請中定義的，我們將使用變量D[i]來代表系統(tǒng)加random_error項的總和。根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的方法，我們將使用變量A代表對轉(zhuǎn)速中的變化的間隔的任何校正。最后，我們將描述如何使用WWR和DWWR實施例中的那些延遲來計算計時標(biāo)記組的情況的寫入。此外，索引S在每個徑向步之后增加。在優(yōu)選的實施例中，為降低數(shù)據(jù)陣列的大小，模K算術(shù)用于索引S，其中K是比最大讀取到寫入徑向磁頭偏移至少大1的數(shù)。雖然未明確顯示，但是到處為S暗示了模運算。此外，也為間隔索引“i”暗示了模運算。
間隔和寫延遲的推導(dǎo)′435申請還講述了從存儲信息計算當(dāng)前估計間隔I[i+1，i]的方法?？梢允褂霉烙嫷拈g隔計算表示在計時標(biāo)記之后多長時間應(yīng)該執(zhí)行寫入以最佳地擴(kuò)展現(xiàn)有的計時標(biāo)記的寫延遲?！癷”索引如以前那樣定義以表示第“i”個計時標(biāo)記組。
在本發(fā)明的優(yōu)選的實施例中，估計間隔是I[i+1，i]＝AI[S-N3，i+I]*F1+AI[S-(N3+I)，i+I]*F2其中參數(shù)N3是以伺服步計量的當(dāng)前讀取到寫入徑向偏移的整數(shù)部分，F(xiàn)1和F2如435申請所定義的。在優(yōu)選的實施例中，如果以伺服步計量的當(dāng)前讀取到寫入徑向偏移的小數(shù)部分小于0.2，那么設(shè)置F1＝0.2；如果以伺服步計量的當(dāng)前讀取到寫入徑向偏移的小數(shù)部分大于0.8，那么設(shè)置F1＝0.8；否則F1是以伺服步計量的當(dāng)前讀取到寫入徑向偏移的小數(shù)部分。在該同一實施例中F2＝1-F1。
′740申請講述了對于單個計時標(biāo)記而不是計時標(biāo)記組的情況如何計算計時標(biāo)記檢測和寫入那些計時標(biāo)記的擴(kuò)展之間的延遲，使用單個計時標(biāo)記之間的測量的或估計的間隔可檢測的計時標(biāo)記和其他標(biāo)記的希望的寫入位置是利用以前的計時標(biāo)記和被擴(kuò)展的計時標(biāo)記之間的預(yù)計時間來計算的。以前的計時標(biāo)記和正在計算的計時標(biāo)記之間的預(yù)計時間優(yōu)選情況下可以根據(jù)美國專利申請09/550,643和美國專利申請08/882,396(現(xiàn)在是美國專利5,901,003)的講述進(jìn)行校正，以獲得系統(tǒng)延遲，這些專利申請通常由本發(fā)明的受讓人擁有，這里對它們?nèi)考右砸?。此外，在?yōu)選的實施例中，從以前的過程步驟積聚的誤差可以根據(jù)美國專利申請09/316,884、美國專利申請09/316,882，以及美國專利申請08/891,122的講述進(jìn)行校正，這些專利申請通常由本發(fā)明的受讓人擁有，這里對它們?nèi)考右砸谩?br> ′740申請講述了具有不同的寫入延遲的兩個實施例。第一個實施例相當(dāng)于當(dāng)前發(fā)明的叫做WWR的實施例。在此實施例中，寫入延遲是計時標(biāo)記之間的估計或測量間隔，從中測量延遲，要寫入的圓周位置中的計時標(biāo)記，加系統(tǒng)和隨機(jī)誤差校正delay＝interval+systematic+random_error.
第二個實施例相當(dāng)于當(dāng)前發(fā)明的叫做DWWR的實施例。在此實施例中，寫入延遲是系統(tǒng)和隨機(jī)誤差校正的總和delay＝systematic+random_error.
然后′740申請講述了如何從(估計)間隔計算寫入延遲。如′740申請中定義的，我們將使用變量D[i]來代表系統(tǒng)加random_error項的總和。根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的方法，我們將使用變量A代表對轉(zhuǎn)速中的變化的間隔的任何校正。最后，我們將描述如何使用WWR和DWWR實施例中的那些延遲來計算計時標(biāo)記組的情況的寫入。
寫入延遲的計算(WWR實施例)圖5是本發(fā)明的一個實施例中的寫入時隙、增加之后的讀取時隙，以及不同的讀取時隙情況的寫延遲的公式的表。圖5總結(jié)了針對每一個讀取時隙位置的優(yōu)選WWR實施例的寫延遲W1[i]和W2[i]的參數(shù)和公式。例如，如果讀取時間間隙是時隙1，當(dāng)組索引是“i”時為T1延遲計時器設(shè)置的延遲W1是W1[i]＝D[i]+I[i-l，i]+A-W0+d其中，如′740申請中定義的，D[i]是對于″i″計時標(biāo)記的間隔+系統(tǒng)+random_error的總和。用于計算間隔、系統(tǒng)延遲和random_error項的估計間隔被估計間隔替代，如上文和在′435申請定義的，如前面所定義的，d是計時標(biāo)記間隙之間的預(yù)先確定的時間間隔，W0是計時器T0的預(yù)先確定的延遲。
寫入延遲的計算(DWWR實施例)圖6是本發(fā)明的一個實施例中的寫入時隙、增加之后的讀取時隙，以及不同的讀取時隙情況的寫延遲和校正參數(shù)C[S，i]的公式的表。圖6總結(jié)了針對每一個讀取時隙位置的優(yōu)選DWWR實施例的寫延遲W1和W2的參數(shù)、硬件配置和公式。例如，如果讀取時間間隙是時隙1，當(dāng)組索引是“i”時為T1計時器設(shè)置的延遲W1是W1[i]-D[i]+d-CC[i]其中，如′740申請中定義的，D[i]是對于“i”計時標(biāo)記的系統(tǒng)+random_error的總和。用于計算間隔、系統(tǒng)延遲和random_error項的測量或估計間隔被估計間隔替代，如′435申請定義的，使用如上所述的修改的存儲間隔的定義。參數(shù)CC[i]的定義如下。
作為另一個示例，如果讀取時隙是2，對于第“i”計時標(biāo)記組的T2延遲計時器，延遲時間W2是D[i]+l[i-l，i]+A-d-CC[i-1]。圖6還指出了計時器T1和T2的硬件觸發(fā)設(shè)置。這兩個計時器可以被配置為通過檢測計時標(biāo)記或延遲計時器T0的消逝自動地啟動，如圖6的表中所指出的，配置取決于當(dāng)前讀取時隙。例如，如果讀取時隙是2，T1延遲由延遲計時器T0的消逝來啟動，而延遲計時器T2由計時標(biāo)記的檢測啟動。
在本發(fā)明的DWWR優(yōu)選的實施例中，我們定義了校正項C[S，i]，由步號和時間組號索引，方式類似于存儲的計時標(biāo)記位置L[S，i]。下一節(jié)加給出C[S，i]的方程式。C[S，i]提供一個估計量，計時標(biāo)記的位置必須校正該估計量以便反映該計時標(biāo)記的理想位置。當(dāng)基于以前的計時標(biāo)記組的經(jīng)過時間寫入計時標(biāo)記時，以前的組中的轉(zhuǎn)速變化和位置誤差可以給新計時標(biāo)記的位置帶來誤差。C[S，i]存儲了基于當(dāng)前計時標(biāo)記組中的計時標(biāo)記的經(jīng)過時間的此誤差的估計。最初，C[S，i]的所有值都為零。圖6的表中給出了C[S，i]的公式，當(dāng)前讀取時隙，以在當(dāng)前讀取時隙位置和當(dāng)前讀取到寫入偏移獲得的測量的間隔IM[i，i-1]和寫延遲W1[i]和W2[i]，步數(shù)N表示。
例如，如果讀取時隙是2，參數(shù)N等于N1，那么C[S，i]是IM[i，i-1]-W2[i]-d。如果讀取時隙是2，參數(shù)N小于讀取到寫入偏移量N1的整數(shù)部分，那么C[S，i]i為零，如圖6的表所示。
定義了校正項的當(dāng)前估計值，只帶有“i”索引，CC[i]。在本發(fā)明的優(yōu)選的實施例中CC[i]＝F1*C[S-N3，i]+F2*C[S-(N3+1)，i]。
參數(shù)F1和F2是加權(quán)因子，它們是磁頭偏移量的函數(shù)。在優(yōu)選的實施例中，N3、F1和F2是上文定義的相同的因子。如此，可檢測的計時標(biāo)記的錯位假設(shè)為存儲的估計值C[S-N3，i]，C[S-(N3+1)，i]的加權(quán)平均值，權(quán)重由落在后退N3和N3+1步寫入的計時標(biāo)記的一部分之上的讀取磁頭的相對分?jǐn)?shù)確定。在另一個實施例中，C[i]-sum j-0 to k{Fj*C[S-Nj，i]}，其中，F(xiàn)j是應(yīng)用于許多存儲數(shù)據(jù)集索引后退Nj的一組k加權(quán)因子。
當(dāng)新計時標(biāo)記的位置通過檢測計時標(biāo)記是否經(jīng)過來確計時，使用校正因子CC[i]的當(dāng)前估計值，這些計時標(biāo)記本身是在以前的計時標(biāo)記組中的一個計時標(biāo)記后面的一個延遲確定的位置寫入的。校正移動寫入新計時標(biāo)記的時間以考慮啟動寫延遲計時器的計時標(biāo)記的錯位(CC[i])。
示范性實施例雖然是以旋轉(zhuǎn)記錄介質(zhì)為例對本發(fā)明進(jìn)行描述的，但是本發(fā)明也可以為記錄介質(zhì)沿著任何任意軌道移動包括而不限于線性運動的任何系統(tǒng)實現(xiàn)。
本發(fā)明可以以硬件、軟件或硬件和軟件的組合實現(xiàn)。根據(jù)本發(fā)明的一個優(yōu)選的實施例的系統(tǒng)可以使用一個計算機(jī)系統(tǒng)以集中方式，或者以不同的元素跨多個互連的計算機(jī)系統(tǒng)的分布式方式來實現(xiàn)。任何類型的計算機(jī)系統(tǒng)-或適于執(zhí)行這里描述的方法的其他裝置都適合。
本發(fā)明的優(yōu)選的實施例可以以組合了計算機(jī)系統(tǒng)和軟件與專門電子硬件的系統(tǒng)900實現(xiàn)，如圖8所說明的。在圖8中，可以是計算機(jī)或信號處理器的主控制器902控制總體操作順序，并通過通信總線903與諸如徑向位置控制器904、電機(jī)控制器916和時間處理器906之類的子系統(tǒng)進(jìn)行通信。徑向控制器904設(shè)置傳動器臂的位置，可以是多種類型，包括機(jī)械定位器或徑向自我伺服寫入定位系統(tǒng)。電機(jī)控制器旋轉(zhuǎn)磁盤驅(qū)動器馬達(dá)，并向時間間隔分析器提供馬達(dá)指標(biāo)。時間處理器906管理本發(fā)明的自我伺服寫入時間功能。處理器控制處理序列。這樣的處理器可以具有附裝的存儲器905。時間測量功能可以由時間間隔分析器電子設(shè)備907執(zhí)行，該設(shè)備測量觸發(fā)圖案檢測器908檢測的觸發(fā)圖案和來自電機(jī)控制器的觸發(fā)圖案和馬達(dá)指標(biāo)之間的時間間隔。發(fā)往正在寫入的磁盤驅(qū)動器901的功率和控制信號和從該磁盤驅(qū)動器發(fā)出的讀回信號穿過讀取/寫入接口909。在觸發(fā)圖案發(fā)生器916′中生成計時標(biāo)記觸發(fā)圖案的寫控制信號。當(dāng)由可編程延遲W1,914或W2,915啟動時，觸發(fā)圖案發(fā)生器導(dǎo)致新計時標(biāo)記寫入。如本文前面所描述的，另一個可編程延遲W0,913用于控制W1和W2延遲和處理序列的啟動。延遲控制邏輯910控制來自時間間隔分析器的時間觸發(fā)信號，以及W0、W1和W2延遲以啟動其他延遲的選擇。實際伺服圖案數(shù)據(jù)的寫入由伺服圖案發(fā)生器控制，伺服數(shù)據(jù)放置時間由可編程延遲911控制。
雖然說明了本發(fā)明的特定實施例，那些精通本技術(shù)的普通人員將理解，在不偏離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可以對特定的實施例進(jìn)行各種修改。因此，本發(fā)明的范圍不僅限于特定的實施例。此外，所附的權(quán)利要求涵蓋在本發(fā)明范圍內(nèi)的一切這樣的應(yīng)用、修改和實施例。
權(quán)利要求
1.一種用于傳播用于存儲介質(zhì)上的伺服數(shù)據(jù)對準(zhǔn)的許多計時標(biāo)記的方法，該方法包括從一組計時標(biāo)記中檢測至少第一個計時標(biāo)記的一部分是否已經(jīng)經(jīng)過，其中，第一個計時標(biāo)記位于第一個半徑和第一個圓周位置；以及等待延遲期期滿并寫入第二個計時標(biāo)記，其中，第二個計時標(biāo)記位于第二個半徑和第二個圓周位置，其中，第二個計時標(biāo)記不是以前寫入的計時標(biāo)記的徑向擴(kuò)展。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括徑向地移動讀寫磁頭一步。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，進(jìn)一步包括檢測第一個計時標(biāo)記的擴(kuò)展，等待預(yù)先確定的一段時間，并寫入第二個和第三個計時標(biāo)記的第二個和第三個計時標(biāo)記擴(kuò)展。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，進(jìn)一步包括檢測第一個計時標(biāo)記的擴(kuò)展，等待預(yù)先確定的一段時間，并寫入第二個計時標(biāo)記的計時標(biāo)記擴(kuò)展。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，進(jìn)一步包括檢測第一個計時標(biāo)記的擴(kuò)展，等待預(yù)先確定的一段時間，并寫入第三個計時標(biāo)記的計時標(biāo)記擴(kuò)展，同時在第二個位置寫入計時標(biāo)記的擴(kuò)展被忽略。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，進(jìn)一步包括重復(fù)檢測第一個計時標(biāo)記的擴(kuò)展，等待指定的一段時間，寫入第二個計時標(biāo)記的計時標(biāo)記擴(kuò)展，并在第四個圓周位置寫入計時標(biāo)記。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，進(jìn)一步包括重復(fù)檢測第一個計時標(biāo)記的擴(kuò)展，等待指定的一段時間，寫入第三個計時標(biāo)記的計時標(biāo)記擴(kuò)展，并在第五個圓周位置寫入計時標(biāo)記。
8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，進(jìn)一步包括重復(fù)檢測第一個計時標(biāo)記，等待指定的一段時間，寫入第二個和第三個計時標(biāo)記的擴(kuò)展預(yù)先確定的徑向步數(shù)N1。
9.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，進(jìn)一步包括重復(fù)檢測第一個計時標(biāo)記，等待指定的一段時間，寫入第二個計時標(biāo)記的擴(kuò)展預(yù)先確定的徑向步數(shù)N1。
10.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，進(jìn)一步包括重復(fù)檢測第一個計時標(biāo)記，等待指定的一段時間，寫入第三個計時標(biāo)記的擴(kuò)展預(yù)先確定的徑向步數(shù)N1，同時在第二個位置寫入計時標(biāo)記的擴(kuò)展被忽略。
11.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，進(jìn)一步包括重復(fù)檢測第一個計時標(biāo)記，等待指定的一段時間，寫入第二個計時標(biāo)記的計時標(biāo)記擴(kuò)展預(yù)先確定的徑向步數(shù)N1，并在第四個圓周位置寫入計時標(biāo)記。
12.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，進(jìn)一步包括重復(fù)檢測第一個計時標(biāo)記，等待指定的一段時間，寫入第三個計時標(biāo)記的計時標(biāo)記擴(kuò)展預(yù)先確定的徑向步數(shù)N1，并在第五個圓周位置寫入計時標(biāo)記。
13.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，N1等于最靠近記錄磁頭的讀取到寫入徑向偏移量的徑向步數(shù)減去記錄磁頭的寫入磁頭寬度的一半，按徑向步距離為單位計量。
14.一種用于傳播用于存儲介質(zhì)上的伺服數(shù)據(jù)對準(zhǔn)的許多計時標(biāo)記的方法，該方法包括從一組計時標(biāo)記中檢測至少第一個計時標(biāo)記的一部分是否已經(jīng)經(jīng)過，其中，第一個計時標(biāo)記位于第一個半徑和第一個圓周位置；等待第一個延遲期期滿并寫入第二個計時標(biāo)記，其中，第二個計時標(biāo)記位于第二個半徑和第二個圓周位置；以及等待第二個延遲期期滿并寫入第三個計時標(biāo)記，其中，第三個計時標(biāo)記位于第三個半徑和第三個圓周位置，其中，第三個計時標(biāo)記不是以前寫入的計時標(biāo)記的徑向擴(kuò)展。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，進(jìn)一步包括徑向地移動讀寫磁頭一步。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，進(jìn)一步包括檢測第一個計時標(biāo)記的擴(kuò)展，等待預(yù)先確定的一段時間，并寫入第二個和第三個計時標(biāo)記的第二個和第三個計時標(biāo)記擴(kuò)展。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，進(jìn)一步包括重復(fù)檢測第一個計時標(biāo)記，等待指定的一段時間，寫入第二個和第三個計時標(biāo)記的擴(kuò)展預(yù)先確定的徑向步數(shù)N1。
18.一種用于傳播用于存儲介質(zhì)上的伺服數(shù)據(jù)對準(zhǔn)的許多計時標(biāo)記的方法，該方法包括從一組計時標(biāo)記中檢測至少第一個計時標(biāo)記的一部分是否已經(jīng)經(jīng)過，其特征在于，第一個計時標(biāo)記位于第一個半徑和第一個圓周位置；等待延遲期期滿并寫入第二個計時標(biāo)記，其特征在于，第二個計時標(biāo)記位于第二個半徑和第二個圓周位置；向第二個徑向位置移動記錄磁頭；從一組計時標(biāo)記中檢測至少第三個計時標(biāo)記的一部分是否已經(jīng)經(jīng)過，其中，第三個計時標(biāo)記位于第三個半徑，其中，第三個計時標(biāo)記不是第一個計時標(biāo)記的計時標(biāo)記擴(kuò)展；以及等待延遲期期滿并寫入第四個計時標(biāo)記，其中，第四個計時標(biāo)記位于第四個半徑，其中，第四個計時標(biāo)記是第二個計時標(biāo)記的擴(kuò)展。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的方法，進(jìn)一步包括向一個新的徑向位置移動記錄磁頭；檢測不是第一個計時標(biāo)記的擴(kuò)展或第一個計時標(biāo)記的擴(kuò)展的擴(kuò)展的計時標(biāo)記；以及寫入是第四個計時標(biāo)記的擴(kuò)展計時標(biāo)記。
20.一種用于傳播用于可旋轉(zhuǎn)的存儲介質(zhì)上的伺服數(shù)據(jù)對準(zhǔn)的許多計時標(biāo)記的方法，該方法包括從一組計時標(biāo)記中檢測至少第一個計時標(biāo)記的一部分是否已經(jīng)經(jīng)過，其中，第一個計時標(biāo)記位于第一個半徑和第一個圓周位置；等待延遲期期滿并寫入第二個計時標(biāo)記，其中，第二個計時標(biāo)記位于第二個半徑和第二個圓周位置；從一組計時標(biāo)記中檢測至少第三個計時標(biāo)記的一部分是否已經(jīng)經(jīng)過；以及存儲寫入第二個計時標(biāo)記和第三計時標(biāo)記經(jīng)過之間的時間差作為參數(shù)C[S，i]。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法，進(jìn)一步包括徑向地移動記錄磁頭；從一組計時標(biāo)記中檢測至少第二個計時標(biāo)記的一部分是否已經(jīng)經(jīng)過；以及等待第二個延遲期期滿并寫入第四個計時標(biāo)記，其中，第四個計時標(biāo)記位于第四個半徑。
22.根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法，其特征在于，所說的第二個延遲至少部分地依賴于參數(shù)C[S，i]。
23.一種用于傳播用于可旋轉(zhuǎn)的存儲介質(zhì)上的伺服數(shù)據(jù)對準(zhǔn)的許多計時標(biāo)記的方法，該方法包括將許多計時標(biāo)記組成時間組；以及使用第一個計時標(biāo)記做為“讀取”計時標(biāo)記寫入計時標(biāo)記。
24.根據(jù)權(quán)利要求23所述的方法，其特征在于，寫入計時標(biāo)記進(jìn)一步包括寫入計時標(biāo)記擴(kuò)展。
25.根據(jù)權(quán)利要求23所述的方法，其特征在于，寫入計時標(biāo)記進(jìn)一步包括不寫入計時標(biāo)記以使所有的計時標(biāo)記都是計時標(biāo)記擴(kuò)展。
26.根據(jù)權(quán)利要求23所述的方法，其特征在于，時間組包含計時標(biāo)記間隙。
27.根據(jù)權(quán)利要求26所述的方法，其特征在于，計時標(biāo)記在計時標(biāo)記間隙中寫入。
28.根據(jù)權(quán)利要求27所述的方法，其特征在于，當(dāng)計時標(biāo)記在計時標(biāo)記組的一個計時標(biāo)記間隙中寫入時，計時標(biāo)記在所有其他計時標(biāo)記組的同一間隙中寫入。
29.根據(jù)權(quán)利要求26所述的方法，其特征在于，當(dāng)?shù)竭_(dá)擴(kuò)展的計時標(biāo)記的末端時，在新的間隙中繼續(xù)寫入計時標(biāo)記。
30.根據(jù)權(quán)利要求26所述的方法，其特征在于，在可旋轉(zhuǎn)的存儲介質(zhì)的任何半徑中有不帶任何計時標(biāo)記的計時標(biāo)記間隙。
31.根據(jù)權(quán)利要求26所述的方法，其特征在于，在一個計時標(biāo)記間隙中的計時標(biāo)記觸發(fā)之后，計時標(biāo)記擴(kuò)展在多于一個的計時標(biāo)記間隙中寫入，以便獲得長于讀取到寫入偏移量的擴(kuò)展。
32.根據(jù)權(quán)利要求26所述的方法，其特征在于，當(dāng)徑向移動前進(jìn)最靠近寫入磁頭偏移量的整數(shù)步數(shù)減去寫入磁頭寬度的一半，計時標(biāo)記寫入跳躍到下一個計時標(biāo)記間隙。
33.根據(jù)權(quán)利要求23所述的方法，其特征在于，寫入計時標(biāo)記進(jìn)一步包括當(dāng)在時間組內(nèi)寫入時，使用校正項C[S，i]和C[i]寫入計時標(biāo)記，同時最大限度地減少誤差，其中S是指步長，i是指計時標(biāo)記，C[i]是校正項的當(dāng)前估計值。
34.根據(jù)權(quán)利要求33所述的方法，其特征在于，被最大限度地減少的誤差包含旋轉(zhuǎn)速度變化和位置誤差。
35.根據(jù)權(quán)利要求33所述的方法，其特征在于，C[i]的當(dāng)前估計值進(jìn)一步包括存儲的估計值的加權(quán)平均值。
36.根據(jù)權(quán)利要求33所述的方法，其特征在于，存儲的估計值的加權(quán)平均值包括C[i]＝F1*C[S-N1，i]+F2*C[S-N2，i]，其中，加權(quán)平均值是至少重疊后退N1和N2步驟寫入的計時標(biāo)記的一部分的讀取磁頭的相對分?jǐn)?shù)。
37.根據(jù)權(quán)利要求33所述的方法，其特征在于，存儲的估計值的加權(quán)平均值包括C[i]＝sumj＝1tok{Fj*C[S-Nj，i]}，其中，F(xiàn)j是應(yīng)用于許多存儲數(shù)據(jù)集Nj的一組k加權(quán)因子。
38.一種計算機(jī)可讀的介質(zhì)，包括用于傳播用于可旋轉(zhuǎn)的存儲介質(zhì)上的伺服數(shù)據(jù)對準(zhǔn)的許多計時標(biāo)記的計算機(jī)指令，計算機(jī)指令包括執(zhí)行如下操作的指令將許多計時標(biāo)記組成時間組；以及使用計時標(biāo)記將計時標(biāo)記寫為觸發(fā)計時標(biāo)記。
39.根據(jù)權(quán)利要求38所述的計算機(jī)可讀的介質(zhì)，其特征在于，用于寫入計時標(biāo)記的指令進(jìn)一步包括寫入計時標(biāo)記擴(kuò)展。
40.根據(jù)權(quán)利要求38所述的計算機(jī)可讀的介質(zhì)，其特征在于，用于寫入計時標(biāo)記的指令進(jìn)一步包括不在可旋轉(zhuǎn)的存儲介質(zhì)的整個半徑內(nèi)連續(xù)地寫入計時標(biāo)記。
41.根據(jù)權(quán)利要求38所述的計算機(jī)可讀的介質(zhì)，其特征在于，用于寫入計時標(biāo)記的指令進(jìn)一步包括距離每一個計時標(biāo)記寫入兩個計時標(biāo)記以便計時標(biāo)記至少為普通的計時標(biāo)記的兩倍長。
42.根據(jù)權(quán)利要求38所述的計算機(jī)可讀的介質(zhì)，其特征在于，計時標(biāo)記組包含計時標(biāo)記間隙。
43.一種用于傳播用于可旋轉(zhuǎn)的存儲介質(zhì)上的伺服數(shù)據(jù)對準(zhǔn)的許多計時標(biāo)記的系統(tǒng)，包括將許多計時標(biāo)記組成時間組的組織裝置；以及使用計時標(biāo)記做為觸發(fā)計時標(biāo)記寫入計時標(biāo)記的寫入裝置。
44.根據(jù)權(quán)利要求43所述的系統(tǒng)，其特征在于，寫入裝置寫入計時標(biāo)記擴(kuò)展。
45.根據(jù)權(quán)利要求43所述的系統(tǒng)，其特征在于，寫入裝置不在可旋轉(zhuǎn)的存儲介質(zhì)的整個半徑內(nèi)連續(xù)地寫入計時標(biāo)記。
46.根據(jù)權(quán)利要求43所述的系統(tǒng)，其特征在于，寫入裝置距離每一個計時標(biāo)記寫入兩個計時標(biāo)記以便兩個計時標(biāo)記至少為普通的計時標(biāo)記的兩倍長。
47.根據(jù)權(quán)利要求43所述的系統(tǒng)，其特征在于，計時標(biāo)記組進(jìn)一步包括計時標(biāo)記間隙。
48.一種用于傳播用于存儲介質(zhì)上的伺服數(shù)據(jù)對準(zhǔn)的許多計時標(biāo)記的方法，其特征在于，用讀取磁頭在一個圓周位置檢測計時標(biāo)記和用寫入磁頭在該圓周位置寫入計時標(biāo)記擴(kuò)展之間的時間間隔小于計時標(biāo)記持續(xù)時間。
49.根據(jù)權(quán)利要求48所述的方法，其特征在于，寫入磁頭在讀取磁頭前面以使在圓周位置檢測計時標(biāo)記不能在定位寫入磁頭以在記錄介質(zhì)上的圓周位置寫入計時標(biāo)記擴(kuò)展之前發(fā)生。
50.根據(jù)權(quán)利要求48所述的方法，其特征于，寫入磁頭和讀取磁頭在相對于計時標(biāo)記的同一圓周位置，以使檢測計時標(biāo)記不能在圓周位置寫入計時標(biāo)記擴(kuò)展之前發(fā)生。
51.一種用于傳播用于具有可重復(fù)的運動的存儲介質(zhì)上的伺服數(shù)據(jù)對準(zhǔn)的許多計時標(biāo)記的方法，其特征在于，檢測計時標(biāo)記和寫入計時標(biāo)記擴(kuò)展之間的時間間隔小于計時標(biāo)記持續(xù)時間。
52.一種用于傳播用于存儲介質(zhì)上的伺服數(shù)據(jù)對準(zhǔn)的許多計時標(biāo)記的方法，該方法包括在第一個徑向位置用讀取傳感器檢測第一個計時標(biāo)記；以及在一個延遲之后寫入第二個計時標(biāo)記，該計時標(biāo)記不是以前寫入的計時標(biāo)記的擴(kuò)展，其中，在檢測時讀取傳感器的寫入元件的圓周位置是這樣，以便第一個計時標(biāo)記的所有可能的擴(kuò)展集中的至少一個擴(kuò)展的前沿已經(jīng)在寫入元件下經(jīng)過。
53.一種用于傳播用于存儲介質(zhì)上的伺服數(shù)據(jù)對準(zhǔn)的許多計時標(biāo)記的方法，該方法包括至少生成一個計時標(biāo)記集，該集合包括至少一個計時標(biāo)記和至少一個計時標(biāo)記擴(kuò)展以使該集合有足夠的徑向長度以允許在第一個徑向傳感器位置寫入該集合的計時標(biāo)記的計時標(biāo)記擴(kuò)展，其中，傳感器的讀取元件可以檢測至少集合中的一個；在第一個徑向位置用傳感器的讀取元件檢測第一個計時標(biāo)記；以及在一個延遲之后寫入第二個計時標(biāo)記，該計時標(biāo)記不是計時標(biāo)記擴(kuò)展集中的一個計時標(biāo)記擴(kuò)展的擴(kuò)展，其中，在檢測第一個計時標(biāo)記時傳感器的寫入元件的圓周位置是這樣，以便第一個計時標(biāo)記的計時標(biāo)記擴(kuò)展集中的任何計時標(biāo)記擴(kuò)展的前沿已經(jīng)在傳感器的寫入元件下經(jīng)過。
54.根據(jù)權(quán)利要求53的所述的方法，其特征在于，至少一個計時標(biāo)記擴(kuò)展的集包括兩個計時標(biāo)記擴(kuò)展。
55.一種用于傳播用于存儲介質(zhì)上的伺服數(shù)據(jù)對準(zhǔn)的許多計時標(biāo)記的方法，該方法包括在第一個徑向位置用讀取傳感器檢測至少一個第一個計時標(biāo)記；在第一個延遲之后寫入至少一個第二個計時標(biāo)記，該計時標(biāo)記不是以前寫入的計時標(biāo)記擴(kuò)展集的擴(kuò)展；以及在第二個延遲之后寫入至少一個第三個計時標(biāo)記，該計時標(biāo)記是以前寫入的計時標(biāo)記的擴(kuò)展。
全文摘要
本說明書描述了多時隙計時圖案的自我伺服寫入的系統(tǒng)和方法。單個的計時標(biāo)記被替換為計時標(biāo)記間隙組。在每一個計時標(biāo)記位置，時間測量是通過檢測一個間隙中的計時標(biāo)記來進(jìn)行的。此外，現(xiàn)有的計時標(biāo)記的擴(kuò)展在其他間隙中的寫入。每個計時標(biāo)記的時間測量和在每個時機(jī)寫入的那些計時標(biāo)記的擴(kuò)展改善了時間傳播的總體精度。計時標(biāo)記位置的改善的精度使附隨地寫入的伺服數(shù)據(jù)的位置也得到了相應(yīng)的改善。此外，寫入圖案的校準(zhǔn)精度不易受轉(zhuǎn)速的變化和寫入的躍遷的形狀變化的影響。此外，在每一個伺服半徑只需要單個磁盤旋轉(zhuǎn)就能寫入伺服數(shù)據(jù)并傳播計時標(biāo)記以保持時間對準(zhǔn)。
文檔編號G11B5/596GK1490788SQ0314305
公開日2004年4月21日 申請日期2003年6月17日 優(yōu)先權(quán)日2002年6月27日
發(fā)明者蒂莫西·J·錢恩納, 馬克·D·舒爾茨, 巴克耐爾·C·韋伯, D 舒爾茨, 爾 C 韋伯, 蒂莫西 J 錢恩納 申請人:日立環(huán)球儲存科技荷蘭有限公司