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觸控感測顯示裝置及減少所述裝置誤報觸控點的方法

文檔序號:8395625閱讀:390來源:國知局
觸控感測顯示裝置及減少所述裝置誤報觸控點的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明是有關(guān)于觸控感測顯示裝置,特別有關(guān)于減少誤報觸控點的觸控感測顯示
>J-U ρ?α裝直。
【背景技術(shù)】
[0002]由于可攜式裝置,像是移動助理(PDA)或是手機,日益普遍,觸控感測顯示裝置越來越受到重視。一般來說,觸控感測顯示裝置由觸控面板以及液晶模塊所組成。將觸控面板整合至液晶模塊的方法,如本領(lǐng)域內(nèi)的技藝人士已知的,像是晶片外(out-cell)、晶片上(on-cell)及晶片內(nèi)(in-cell)。簡而言之,這些技術(shù)大致上可分為兩類,貼合技術(shù)(bondingtechniques,也稱為 Laminat1n)以及非貼合技術(shù)(un-bonding techniques)。
[0003]圖1A是顯示利用貼合技術(shù)制程的觸控感測顯裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。關(guān)于貼合技術(shù),因為一觸控面板I1及一液晶模塊120透過貼合技術(shù)整合在一起,因此在該觸控面板110及該液晶模塊120之間可能存在一間隙Gl (如圖1A所示),例如是空氣,其將導致較差的觸控效率,像是發(fā)生觸控感測顯示裝置誤報觸控點的情形(如以下所述)。
[0004]當使用者觸碰觸控感測顯示裝置,設置在該觸控面板110的電容的電容值將發(fā)生變化。微處理器(未顯示)將電容值的變化(電容值的變化于此及下方將稱作差值,difference value)與臨界值比較,以偵測出哪一點被按壓。簡單來說,以上所描述情形稱為報告觸控點,于此稱為“報點”。
[0005]圖1B是顯示按壓該觸控面板110導致彎曲現(xiàn)象的示意圖。如圖1B所示,由于在該觸碰面板I1及該液晶模塊120之間具有該間隙G1,因此當用力按壓該觸控面板110時,該觸控面板110將會嚴重彎曲。也就是說,彎曲現(xiàn)象(Bending Phenomenon)發(fā)生在該觸控面板110上。彎曲現(xiàn)象將導致觸控感測顯示裝置誤報觸控點,進而影響觸控效率。需注意的是,當按壓該觸控面板110的力量越強,誤報觸控點的情況將越嚴重。
[0006]圖2A是顯示用力按壓觸控面板的彎曲現(xiàn)象的示意圖。圖2B是顯示當用力按壓該觸控面板I1時,差值變化的示意圖。參照圖2A及圖2B,因為手指或其他物體用力按壓在該觸控面板110上的觸控點A,整個該觸控面板110嚴重彎曲,進而導致在該觸控點A附近的觸控點,像是點Al及A2,的差值(differential value)劇烈變化,以及導致在觸控點A附近但沒有被按壓的點B及BI的差值也劇烈變化,如圖2B所示。
[0007]微處理器(未圖示)將所有的差值與臨界值thO比較,以根據(jù)比較結(jié)果來偵測出哪一點被壓。在觸控點A附近的點Al及A2也超過該臨界值thO,其中用來決定哪一點被按壓的判斷方法由設計者所設計并安裝至微處理器,如本領(lǐng)內(nèi)的技藝人士已知。
[0008]關(guān)于鄰近觸控點A的點B及BI,未被按壓的點B及BI,其差值也高于該臨界值thO,如圖2B所示。因此,微處理器(未圖示)根據(jù)比較結(jié)果以及相同的判斷方法將點B視為觸控點。然而,實際上,點B并沒有被按壓,因此點B被稱為“鬼點”(ghost point),如本領(lǐng)域內(nèi)的記憶人士已知。上述情形稱為誤報觸控點,也稱為誤報點。
[0009]因此,有需要提供一種新的觸控感測顯示裝置,以避免誤報觸控點的情形,進而提升觸控效率。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0010]本發(fā)明的觀點在于解決至少上述問題及/或缺點以及提供至少以下所述的優(yōu)點。因此,本發(fā)明的觀點在于提供一觸控感測顯示裝置,其用于預防當觸控面板及液晶模塊之間存在間隙且觸控面板被用力按壓時所導致的誤報觸控點的情況。
[0011]根據(jù)本發(fā)明的觀點,提供一種觸控感測顯示裝置。該觸控感測顯示裝置包括多個行電極及多個列電極。該觸控感測顯示裝置還包括一電容值偵測器,偵測每一列電極對一參考接地的一第一電容變化值以及每一行電極對一參考接地的一第二電容變化值,以及偵測所述行電極及所述列電極的每一交叉處的一第三電容變化值。該觸控感測顯示裝置還包括一處理器,其執(zhí)行一第一操作,以根據(jù)該第一電容變化值、該第二電容變化值及該第三電容變化值,決定進入一彎曲模式。在該第一操作中,該處理器計算所述第一電容變化值及所述第二電容變化值超過一第一臨界值的一第一數(shù)量,計算所述第一電容變化值及所述第二電容變化值達到一最大電容變化值的一第二數(shù)量,以及計算所述第三電容變化值超過一第二臨界值的一第三數(shù)量。當該第一數(shù)量及該第二數(shù)量分別超過一第一預設量及一第二預設量以及該第三數(shù)量小于該第一數(shù)量時,該處理器使該觸控感測顯示裝置進入該彎曲模式。當該觸控感測顯示裝置在該彎曲模式時,該處理器執(zhí)行一第二操作,以提升該第二臨界值。
[0012]本發(fā)明更提出一種方法,使上述的觸控感測顯示裝置根據(jù)該方法操作,以減少該觸控感測顯示裝置誤報觸控點的情況。減少觸控感測顯示裝置誤報觸控點的方法包括提供多個列電極及多個行電極。減少觸控感測顯示裝置誤報觸控點的方法還包括,偵測每一列電極對一參考接地的一第一電容變化值以及每一行電極對一參考接地的一第二電容變化值,以及偵測所述行電極及所述列電極的每一交叉處的一第三電容變化值。減少觸控感測顯示裝置誤報觸控點的方法還包括執(zhí)行一第一操作,以根據(jù)所述第一電容變化值、所述第二電容變化值及所述第三電容變化值,決定進入一彎曲模式。在該第一操作中,計算所述第一電容變化值及所述第二電容變化值超過一第一臨界值的一第一數(shù)量,計算所述第一電容變化值及所述第二電容變化值達到一最大電容變化值的一第二數(shù)量,以及計算所述第三電容變化值超過一第二臨界值的一第三數(shù)量。當該第一數(shù)量及該第二數(shù)量分別超過一第一預設量及一第二預設量以及該第三數(shù)量小于該第一數(shù)量時,使該觸控感測顯示裝置進入該彎曲模式。當該觸控感測顯示裝置在該彎曲模式時,執(zhí)行一第二操作,以提升該第二臨界值。
【附圖說明】
[0013]圖1A是顯示利用貼合技術(shù)制程的觸控感測顯裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0014]圖1B是顯示按壓該觸控面板110導致彎曲現(xiàn)象的示意圖;
[0015]圖2A是顯示用力按壓觸控面板的彎曲現(xiàn)象的示意圖;
[0016]圖2B是顯示當用力按壓該觸控面板110時,差值變化的示意圖;
[0017]圖3是顯示根據(jù)本發(fā)明一示范性實施例所述的差值行為示意圖;
[0018]圖4是顯示根據(jù)本發(fā)明的一示范性實施例所述的觸控感測顯示裝置300的方塊示意圖;
[0019]圖5是顯示根據(jù)本發(fā)明一實施例所述的該觸控感測顯示裝置300的彎曲區(qū)域以及非彎曲區(qū)域的示意圖;
[0020]圖6為是顯示根據(jù)本發(fā)明一實施例所述的如何進入彎曲模式以及提升互感臨界值的流程圖。
[0021]【符號說明】
[0022]110?觸控面板
[0023]120?液晶模塊
[0024]Gl?間隙
[0025]A?觸控點
[0026]A1、A2、B、B1 ?點
[0027]thO、thl、th2 ?臨界值
[0028]300?觸控感測顯示裝置
[0029]310?觸控面板
[0030]320?電容值偵測器[0031 ]330?處理器
[0032]GND?參考接地
[0033]R1, R2,...,Rn、Ra、Rb ?列電極
[0034]C1, C2,...,CM、Ca、Cb ?行電極
[0035]C11, C12,…,C1N、C21, C22,…,C2M、C3 ?等效電容
[0036]?第一臨界值
[0037]5O?彎曲區(qū)域
[0038]S0-S7 ?步驟
[0039
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