專利名稱：用于監(jiān)控電子控制的方法和設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種根據(jù)獨(dú)立權(quán)利要求的用于監(jiān)控電子控制的方法和設(shè)備，其中在至少一個(gè)存儲(chǔ)器中存放有作為代碼的控制指令和/或數(shù)據(jù)、尤其是常數(shù)，其中在持續(xù)地存取指令時(shí)，通過(guò)尤其是數(shù)據(jù)總線的字線將尤其是數(shù)據(jù)的代碼從至少一個(gè)存儲(chǔ)器向具有一定字寬的控制單元、尤其是向用于控制工作流程的處理器傳輸。
背景技術(shù)：
在現(xiàn)有技術(shù)中公開(kāi)了用于監(jiān)控電子控制的方法，這些方法基于在整個(gè)或部分代碼范圍上周期性地計(jì)算校驗(yàn)和。因此如果已改變了代碼，則應(yīng)該識(shí)別出來(lái)；假設(shè)是通過(guò)調(diào)整(Tuning)或通過(guò)存儲(chǔ)元件的電荷丟失。在啟動(dòng)系統(tǒng)時(shí)應(yīng)執(zhí)行針對(duì)操作或針對(duì)數(shù)據(jù)丟失的校驗(yàn)和計(jì)算，以便達(dá)到最大可能的安全性。但是基于長(zhǎng)的時(shí)間這是不能應(yīng)用的，因?yàn)橛纱藭?huì)延緩系統(tǒng)的啟動(dòng)特性，并且客戶將這感覺(jué)為缺陷，該時(shí)間由超過(guò)100KB直至幾兆字節(jié)代碼的完整的校驗(yàn)和計(jì)算所產(chǎn)生。
在持續(xù)地存取指令時(shí)，即在工作中，已知一種以硬件為特色的方法，用于在快閃存儲(chǔ)元件有電荷丟失的問(wèn)題時(shí)防止數(shù)據(jù)丟失。在該利用相應(yīng)硬件的、也稱為ECC(差錯(cuò)校驗(yàn)和校正)的方法中，不僅存在著存儲(chǔ)信息所需要的、即用于控制指令和/或數(shù)據(jù)、原來(lái)的代碼的存儲(chǔ)單元，而且也附加地存在著若干具有附加信息的存儲(chǔ)單元，通過(guò)該附加信息可以查明，用于信息存儲(chǔ)的單元中的信息是否已改變。這在持續(xù)地存取指令時(shí)、即在工作中通過(guò)硬件來(lái)實(shí)現(xiàn)。例如在DE 38 33 713 A1中公開(kāi)了這種硬件。正如名稱已說(shuō)明的那樣，通過(guò)這些附加信息也可以部分地校正被破壞的數(shù)據(jù)。不過(guò)在所述的方法中，在持續(xù)的工作中，也就是在持續(xù)地存取指令時(shí)檢驗(yàn)相應(yīng)的數(shù)據(jù)，使得由持續(xù)的指令存取不常詢問(wèn)或完全不詢問(wèn)的數(shù)據(jù)或存儲(chǔ)器部分不?；蛲耆贿M(jìn)行檢驗(yàn)。因此在所述的公布文獻(xiàn)的范圍內(nèi)公開(kāi)的方法不保證有規(guī)律地監(jiān)控或檢驗(yàn)存儲(chǔ)器的所有存儲(chǔ)單元。
此外，現(xiàn)代的快閃存儲(chǔ)器的特性是作為極限讀取(Margin read)公知的。在DE 199 64 012 A1中示出的該功能查明，存儲(chǔ)單元中的信息是否在正常模式中、即在正常工作中也還是足夠的，以便能夠?qū)崿F(xiàn)控制的無(wú)差錯(cuò)的功能。為此不用正常的位線負(fù)荷，而是用提高了的負(fù)荷來(lái)讀出存儲(chǔ)單元，或測(cè)量單元電流。如果單元的電荷還是足夠的，則正確讀出信息。如果單元的電荷是不足夠的，則讀出錯(cuò)誤的信息。通過(guò)在不施加提高的負(fù)荷情況下再次讀取信息，并且通過(guò)比較所讀取的值可以查明，電荷是否還是足夠的。不僅對(duì)于利用極限讀取的讀取來(lái)說(shuō)，而且對(duì)于沒(méi)有極限讀取的讀取來(lái)說(shuō)，信息的讀取在這里總是與校驗(yàn)和計(jì)算相結(jié)合的。如果兩個(gè)過(guò)程的校驗(yàn)和是相同的，則出發(fā)點(diǎn)可以是充分地存在來(lái)自存儲(chǔ)單元的電荷。但是這意味著，甚至在此也必須像上面已經(jīng)表明的那樣帶著上述的缺點(diǎn)來(lái)執(zhí)行費(fèi)時(shí)的校驗(yàn)和計(jì)算。

發(fā)明內(nèi)容
由此產(chǎn)生了以下任務(wù)，即提供一種方法和設(shè)備，利用該設(shè)備可以通過(guò)縮短用于檢驗(yàn)的時(shí)間來(lái)周期性地監(jiān)控或檢驗(yàn)所有存儲(chǔ)單元。
與此相應(yīng)地，以下的解決方案實(shí)現(xiàn)了周期性地并且?guī)缀鯚o(wú)延遲地、尤其在啟動(dòng)之前監(jiān)控或檢驗(yàn)所有存儲(chǔ)單元。
本發(fā)明展示了一種用于監(jiān)控電子控制的方法和設(shè)備，其中在至少一個(gè)存儲(chǔ)器中存放有作為代碼的控制指令和/或數(shù)據(jù)，其中在持續(xù)地存取指令時(shí)，將代碼通過(guò)字線從至少一個(gè)存儲(chǔ)器向具有一定字寬的控制單元、尤其是向用于控制工作流程的處理器傳輸，其中字寬包括存儲(chǔ)器的多個(gè)存儲(chǔ)單元的代碼，并且為字寬的代碼分別形成附加信息并將其存放在存儲(chǔ)器中，以及除了持續(xù)地存取指令之外還通過(guò)以下方式檢驗(yàn)至少一個(gè)存儲(chǔ)器的整個(gè)代碼，即對(duì)于每個(gè)字寬選出恰好一個(gè)存儲(chǔ)單元，并因此激活完整的字線，其中由完整的機(jī)載導(dǎo)線(Bordleitung)的代碼形成檢驗(yàn)信息，并且將該檢驗(yàn)信息與所存儲(chǔ)的附加信息進(jìn)行比較。
因此按照具體的實(shí)施方案，這意味著一種用于監(jiān)控電子控制的方法和設(shè)備，其中設(shè)法將至少一個(gè)存儲(chǔ)器的完整的數(shù)據(jù)或代碼相繼讀入可由存儲(chǔ)器很迅速地填充的ECC單元中，并且在那里自動(dòng)地進(jìn)行檢驗(yàn)，而不必費(fèi)時(shí)地向處理器傳輸完整的數(shù)據(jù)或代碼，其中ECC檢驗(yàn)寬度包括存儲(chǔ)器的多個(gè)存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)，并且是處理器的讀取字寬的多倍，以及為ECC檢驗(yàn)寬度的數(shù)據(jù)分別形成附加信息，并且存放在存儲(chǔ)器中，以及因此除了持續(xù)地存取指令之外還通過(guò)以下方式檢驗(yàn)至少一個(gè)存儲(chǔ)器的整個(gè)代碼/數(shù)據(jù)區(qū)，即針對(duì)處理器對(duì)一個(gè)唯一的存儲(chǔ)單元的內(nèi)容的每個(gè)請(qǐng)求，從存儲(chǔ)器中以完整的ECC檢驗(yàn)寬度連同附加信息來(lái)填充ECC單元，其中由完整的BCC檢驗(yàn)寬度的數(shù)據(jù)形成檢驗(yàn)信息，并且自動(dòng)地在ECC單元中將檢驗(yàn)信息與所存儲(chǔ)的附加信息進(jìn)行比較。
因此可以以有利的方式尤其在汽車(chē)中在啟動(dòng)發(fā)動(dòng)機(jī)之前評(píng)價(jià)整個(gè)存儲(chǔ)內(nèi)容的正確性，因?yàn)轱@著地降低了為此所需要的時(shí)間。合宜地，在一種特定的實(shí)施形式中，附加地在所選出的存儲(chǔ)單元和/或所選出的存儲(chǔ)器中確定當(dāng)前的電荷狀態(tài)，并且將該電荷狀態(tài)與可預(yù)定的電荷閾值進(jìn)行比較，或者通過(guò)改變位線負(fù)荷來(lái)為所選出的存儲(chǔ)器和/或存儲(chǔ)單元預(yù)定在讀出數(shù)據(jù)和檢驗(yàn)信息時(shí)已改變的電荷閾值。也就是說(shuō)，在所選出的存儲(chǔ)單元中附加地確定當(dāng)前的電荷狀態(tài)，或者讀出具有已改變的閾值的數(shù)據(jù)，以及ECC單元完整地檢驗(yàn)數(shù)據(jù)的正確性，而不必將所有要檢驗(yàn)的數(shù)據(jù)傳輸?shù)教幚砥魃?。于是通過(guò)在本發(fā)明方法中附加地采用剛才所述的極限讀取，可以無(wú)需其它的時(shí)間花費(fèi)附加地推斷出存儲(chǔ)器中的未來(lái)的不正確的信息，因?yàn)樵诖鎯?chǔ)器中有電荷丟失時(shí)，在ECC單元中不一致的情況下，識(shí)別每個(gè)ECC檢驗(yàn)寬度的數(shù)據(jù)或代碼和附加信息，這用純粹的校驗(yàn)和方法是不可能實(shí)現(xiàn)的。在單元的不正確的電荷狀態(tài)下可以防止啟動(dòng)，并且因此可以避免基于有錯(cuò)誤的存儲(chǔ)內(nèi)容的安全臨界狀態(tài)。這意味著，原則上在本發(fā)明方法和設(shè)備中在處理器上不必進(jìn)行數(shù)據(jù)或代碼的比較，因?yàn)橐呀?jīng)在ECC單元中進(jìn)行了與附加信息的比較。
因此可以以有利的方式在處理器本身上不進(jìn)行數(shù)據(jù)的檢驗(yàn)，而是直接在ECC單元的HW中進(jìn)行該檢驗(yàn)，而不必通過(guò)數(shù)據(jù)總線向處理器傳輸所有數(shù)據(jù)。在此，還有利的是，如果在一種特別的實(shí)施形式中處理器處理不是來(lái)自要檢驗(yàn)的存儲(chǔ)器校驗(yàn)碼、而是來(lái)自另一個(gè)快速存儲(chǔ)器的校驗(yàn)碼、尤其是來(lái)自代碼高速緩沖存儲(chǔ)器(CodeCache)或來(lái)自單獨(dú)的代碼RAM的校驗(yàn)碼。
此外有利的是，從第一存儲(chǔ)單元的起始地址出發(fā)，通過(guò)重復(fù)設(shè)置增量來(lái)實(shí)現(xiàn)相應(yīng)字寬的存儲(chǔ)單元的選擇，其中每隔所述增量的距離選出每個(gè)其它的存儲(chǔ)單元。因此以一種特別的特征這樣得出一種方法，使得處理器只請(qǐng)求各個(gè)存儲(chǔ)單元的選出的數(shù)據(jù)，而不請(qǐng)求存儲(chǔ)器的所有數(shù)據(jù)，并且從第一存儲(chǔ)單元的起始地址出發(fā)，通過(guò)每隔ECC檢驗(yàn)寬度的距離向起始地址重復(fù)加上一個(gè)增量來(lái)實(shí)現(xiàn)所有其它的選擇。這意味著，即使在這里，原則上在本發(fā)明的方法和設(shè)備中，在處理器上不必實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)或代碼的比較，因?yàn)橐呀?jīng)在ECC單元中實(shí)現(xiàn)了與附加信息的比較。此外通過(guò)增量形成，處理器只須以每隔ECC檢驗(yàn)寬度的距離的增量來(lái)請(qǐng)求各個(gè)存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)，而不必請(qǐng)求存儲(chǔ)器的所有數(shù)據(jù)，因?yàn)橛嘞碌臄?shù)據(jù)自動(dòng)地與從存儲(chǔ)器所請(qǐng)求的數(shù)據(jù)一起傳輸?shù)紼CC單元中，并且受到檢驗(yàn)。因此從第一存儲(chǔ)單元的起始地址出發(fā)，只須分別對(duì)于每個(gè)ECC檢驗(yàn)寬度請(qǐng)求一個(gè)存儲(chǔ)單元，用于訪問(wèn)每個(gè)其它的存儲(chǔ)單元的增量相當(dāng)于ECC檢驗(yàn)寬度。
在代碼的數(shù)據(jù)或檢驗(yàn)信息與附加信息不相同時(shí)，合宜地由ECC單元用信號(hào)將中斷請(qǐng)求發(fā)送到處理器上，并且顯示差錯(cuò)。
此外合宜的是，立即校正在該比較中識(shí)別出的差錯(cuò)，使得電子控制盡管數(shù)據(jù)或代碼有差錯(cuò)仍能夠繼續(xù)工作。
有利地在采用極限讀取時(shí)，即在當(dāng)前的電荷狀態(tài)達(dá)到或低于可預(yù)定的電荷閾值時(shí)，執(zhí)行相應(yīng)存儲(chǔ)單元或相應(yīng)字線的所有存儲(chǔ)單元或存儲(chǔ)器的所有存儲(chǔ)單元的電荷狀態(tài)的刷新，因?yàn)橥ㄟ^(guò)ECC、或通過(guò)改變可預(yù)定的電荷閾值、或通過(guò)這兩種方法的組合還可以建立正確的信息。如上面提及的那樣，在該電荷比較時(shí)同樣可以推斷出未來(lái)的差錯(cuò)，并且存在顯示未來(lái)差錯(cuò)的可能性，以及同時(shí)存在涉及該未來(lái)差錯(cuò)的防止可能性。
此外合宜的是，處理器處理不是來(lái)自要檢驗(yàn)的存儲(chǔ)器的校驗(yàn)碼，而是來(lái)自另一個(gè)快速存儲(chǔ)器、尤其來(lái)自高速緩沖存儲(chǔ)器或獨(dú)立的代碼RAM的校驗(yàn)碼。因而確保，一方面僅在ECC單元中檢驗(yàn)預(yù)期的數(shù)據(jù)，而另一方面尤其在采用極限讀取時(shí)，即使在不再達(dá)到預(yù)定的電荷閾值并且因此如果處理器從相同的存儲(chǔ)器中提取它的指令則可能向該處理器發(fā)送錯(cuò)誤的代碼時(shí)，也還確保校驗(yàn)碼的實(shí)施。
從說(shuō)明書(shū)和權(quán)利要求的特征中得出其它的優(yōu)點(diǎn)和有利的擴(kuò)展方案。


以下借助附圖中示出的圖來(lái)詳述本發(fā)明。
圖1展示了具有本發(fā)明硬件的控制設(shè)備。
圖2中示出了具有各個(gè)存儲(chǔ)單元的本發(fā)明的存儲(chǔ)器，以及由圖3a和3b組成的圖3借助流程圖形式的特殊實(shí)施例說(shuō)明了本發(fā)明。
具體實(shí)施例方式
圖1展示了一種包含有存儲(chǔ)器102和控制單元101、尤其是處理器的電子控制或控制設(shè)備100。具有ECC硬件的控制單元和存儲(chǔ)器通過(guò)雙向的數(shù)據(jù)總線107彼此相連接。用104、105和106表示了第一裝置，這些第一裝置執(zhí)行檢驗(yàn)信息與附加信息的比較，因此這些第一裝置在很大程度上相當(dāng)于ECC硬件。用108示出了電荷檢驗(yàn)裝置，通過(guò)這些電荷檢驗(yàn)裝置可以激活極限讀取，因此可以檢驗(yàn)存儲(chǔ)單元的電荷狀態(tài)。110展示了中斷裝置，這些中斷裝置110在識(shí)別出差錯(cuò)時(shí)觸發(fā)差錯(cuò)反應(yīng)、尤其就是中斷(Interrupt)。用111表征了處理器中的中斷處理單元。為了說(shuō)明本發(fā)明的各個(gè)特征，單獨(dú)地示出了所有裝置。但是這些裝置也可以位于一個(gè)模塊中，即集成地存在，也就是存在于處理器中或存儲(chǔ)器單元102本身中，但是也可以存在于處理器或存儲(chǔ)器單元102之外，并且僅僅與處理器和存儲(chǔ)器相連接。此外可以例如通過(guò)顯示裝置來(lái)顯示差錯(cuò)，該顯示裝置通過(guò)連接尤其與處理器保持連接。
在讀取尤其是存儲(chǔ)器陣列103的存儲(chǔ)單元的作為數(shù)據(jù)的信息時(shí)，通過(guò)快速的雙向連接104以完整的ECC檢驗(yàn)數(shù)據(jù)寬度連同附加信息(即例如64比特?cái)?shù)據(jù)+8比特附加信息)從存儲(chǔ)器中裝載ECC單元106的暫存器105，并且通過(guò)ECC硬件(在這里為106)對(duì)ECC檢驗(yàn)數(shù)據(jù)寬度的數(shù)據(jù)實(shí)施差錯(cuò)檢驗(yàn)和校正功能。如果ECC查明了差錯(cuò)，則觸發(fā)CPU、即中斷處理單元111或整個(gè)處理器101上的中斷。
為了說(shuō)明本方法，再次詳細(xì)示出了圖2中的存儲(chǔ)器。其中包含存儲(chǔ)單元200和201。存儲(chǔ)單元200在此包含有作為代碼、即作為二進(jìn)制信息的、例如總是逐8比特地作為字節(jié)B1、B2、B3、B5等等的控制指令和/或數(shù)據(jù)。其間在該特殊的實(shí)例中在存儲(chǔ)單元201中存放了所述的附加信息Z1、Z2、Z3等等。如果現(xiàn)在激活存儲(chǔ)單元、例如B1，則通過(guò)連接線路104讀出完整字寬的數(shù)據(jù)字，在我們的實(shí)例中為32比特，即4字節(jié)。如果附加信息和數(shù)據(jù)或代碼位于相同的存儲(chǔ)器中，則以該方式例如用32比特、即用4個(gè)8比特在32比特連接線路的情況下以一次唯一的傳送從存儲(chǔ)單元B1、B2、B3和附加信息存儲(chǔ)單元Z1中讀出信息。所述的ECC硬件106隨后可以在整個(gè)ECC檢驗(yàn)寬度上的一次唯一的存取中在ECC暫存器105中執(zhí)行差錯(cuò)校驗(yàn)和可能的校正。在此，可以借助不同的方法來(lái)形成和分析附加信息，這里例如為Z1，這按照相應(yīng)的方法以相應(yīng)的ECC硬件106為前提。在此，除了循環(huán)冗余檢驗(yàn)CRC之外，可以設(shè)想、可以實(shí)現(xiàn)并根據(jù)本發(fā)明預(yù)定任何另外的與此有關(guān)的方法、諸如Hemming碼、Berger碼、累加、尤其是奇偶校驗(yàn)位形成等等。按照所選擇的方法，附加信息可以包括一個(gè)或多個(gè)存儲(chǔ)單元。同樣，附加信息不必像這里那樣總是跟隨各自的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元，而是可以同樣存放在存儲(chǔ)器陣列103的分開(kāi)的存儲(chǔ)區(qū)中，但是同樣可以存放在分開(kāi)的存儲(chǔ)器中。重要的只是，直接分配具有要檢驗(yàn)的數(shù)據(jù)和相應(yīng)附加信息的相應(yīng)存儲(chǔ)單元。于是不同于在該實(shí)例中也可以通過(guò)分開(kāi)的線路除了正常的字寬之外將附加信息輸送給ECC硬件，在該實(shí)例中附加信息被包含在由存儲(chǔ)器陣列傳輸?shù)淖謱挶旧碇?。在此重要的是，在處理器中在接收每個(gè)單個(gè)存儲(chǔ)單元的意義上不需要完整的校驗(yàn)和計(jì)算，而是可以在ECC硬件中通過(guò)一次唯一的存取來(lái)實(shí)現(xiàn)完整的測(cè)試，而不必將所有要測(cè)試的數(shù)據(jù)傳輸?shù)教幚砥魃?。在此?2比特的字寬是任意選擇的。當(dāng)然也可以采用像8、16、24比特那樣的任何另外的字寬，或者甚至使用獨(dú)有地選擇的另外的字寬。如果例如采用64比特ECC檢驗(yàn)寬度，則同時(shí)讀取64比特?cái)?shù)據(jù)和ECC的8比特，并且一旦處理器也僅請(qǐng)求其中的一部分，就執(zhí)行ECC檢驗(yàn)。因此處理器讀取存儲(chǔ)區(qū)的例如16或32比特的請(qǐng)求足以評(píng)價(jià)64比特組的正確性。處理器本身可以無(wú)需其它比較就忽視所提供的數(shù)據(jù)。這出于此原因是可能的，如果讀取了錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)，則會(huì)由ECC單元觸發(fā)中斷。因此也可以在一個(gè)步驟中檢驗(yàn)256比特信息存儲(chǔ)器、即數(shù)據(jù)、和32比特ECC信息。
所述方法的優(yōu)點(diǎn)是明顯的由于在處理器中不必像在現(xiàn)有技術(shù)中那樣分開(kāi)計(jì)算校驗(yàn)和，對(duì)存儲(chǔ)器的讀取訪問(wèn)可以直接彼此相繼地跟隨，這對(duì)于剛才所述的實(shí)例來(lái)說(shuō)將意味著，一方面利用CRC方法會(huì)需要以下時(shí)間3個(gè)節(jié)拍，以便讀取32比特，然后將32比特相加成校驗(yàn)和，這又需要3個(gè)節(jié)拍，并且將整個(gè)乘以2，以便評(píng)價(jià)64比特。這會(huì)有以下后果，即需要(3+6)×2＝12節(jié)拍作為用于計(jì)算校驗(yàn)和的時(shí)間最小值。對(duì)于圖3中再次詳細(xì)示出的本發(fā)明方法來(lái)說(shuō)，只會(huì)需要開(kāi)始的三個(gè)節(jié)拍，剛好用于讀取32比特。因此在所說(shuō)明的實(shí)例中產(chǎn)生至少75％的縮短。
因此，與基于由實(shí)施單元來(lái)評(píng)價(jià)每個(gè)存儲(chǔ)位置或每個(gè)存儲(chǔ)單元的信息的方法相反，得出將ECC用于迅速檢驗(yàn)整個(gè)存儲(chǔ)內(nèi)容的用途。
現(xiàn)在再次在由附圖3a和3b組成的圖3中詳細(xì)示出本方法本身。為此在圖3a的方框300中示出了本方法的開(kāi)始。在方框301中實(shí)現(xiàn)初始化，這意味著，例如設(shè)置起始地址和結(jié)束地址，并且確定上面談及的增量。在此，預(yù)定ECC硬件的ECC檢驗(yàn)寬度的最佳增量，因?yàn)榭偸茄b載一個(gè)完整的ECC檢驗(yàn)寬度，并且由ECC來(lái)評(píng)價(jià)，但是這在任何情況下是傳輸給處理器的讀取字寬的多倍。
在方框302中可選擇地接通極限讀取、即電荷閾值法。為此不用正常的位線負(fù)荷、而是用提高了的負(fù)荷來(lái)讀出存儲(chǔ)單元、尤其是所選出的存儲(chǔ)單元，或者測(cè)量單元電流。如果單元的電荷還是足夠的，則正確地讀出信息。如果單元的電荷不是足夠的，則讀出錯(cuò)誤的信息，這自動(dòng)地由ECC單元察覺(jué)到并發(fā)送信號(hào)?，F(xiàn)在正好可以在方框302中執(zhí)行該可選擇的附加方法、即極限讀取的可能的接通或接入。
現(xiàn)在在方框303中將地址設(shè)置成等于起始地址。在方框304中現(xiàn)在進(jìn)行查詢，所讀取的地址是否小于或等于所設(shè)置的結(jié)束地址。如果情況如此，則在方框305中請(qǐng)求存儲(chǔ)器的該地址的內(nèi)容?，F(xiàn)在并行地在ECC單元中可選擇地利用激活的極限讀取來(lái)實(shí)現(xiàn)從存儲(chǔ)器中請(qǐng)求整個(gè)ECC檢驗(yàn)寬度的數(shù)據(jù)，這具有以下優(yōu)點(diǎn)，同樣可以識(shí)別出來(lái)來(lái)出現(xiàn)的差錯(cuò)。
在有差錯(cuò)的情況下，ECC單元中斷處理器上的檢驗(yàn)程序，并且借助中斷單元來(lái)激活從根據(jù)圖3b的方框308開(kāi)始的中斷業(yè)務(wù)程序。在方框309中可以顯示、報(bào)告或校正差錯(cuò)。在此，于是可以再次(在這里未示出)進(jìn)行區(qū)分，該差錯(cuò)是已經(jīng)存在，還是將在未來(lái)出現(xiàn)。依賴于此可以實(shí)現(xiàn)不同的差錯(cuò)反應(yīng)。在當(dāng)前的電荷狀態(tài)達(dá)到或低于在極限讀取中可預(yù)定的電荷閾值時(shí)，例如作為校正而刷新相應(yīng)的存儲(chǔ)單元或字線的所有存儲(chǔ)單元或整個(gè)存儲(chǔ)器的所有存儲(chǔ)單元的電荷狀態(tài)。于是可以例如通過(guò)顯示單元來(lái)實(shí)現(xiàn)該差錯(cuò)的顯示。但是同樣也可以在差錯(cuò)存儲(chǔ)器中存放并且稍后讀出所識(shí)別出的差錯(cuò)。作為對(duì)這種差錯(cuò)的反應(yīng)，可以一次性地實(shí)現(xiàn)差錯(cuò)的校正，或者也可以按照將差錯(cuò)如何臨界地分級(jí)來(lái)實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)換到緊急運(yùn)行狀態(tài)、或者實(shí)現(xiàn)差錯(cuò)的顯示和啟動(dòng)過(guò)程的中斷。也就是說(shuō)，可以將不同的優(yōu)先等級(jí)分配給差錯(cuò)；要么通過(guò)表格來(lái)預(yù)定，要么取決于通過(guò)哪些和多少種差錯(cuò)識(shí)別機(jī)制、即通過(guò)ECC檢驗(yàn)和極限讀取、僅通過(guò)ECC檢驗(yàn)或僅通過(guò)極限讀取識(shí)別出了差錯(cuò)。
在結(jié)束了差錯(cuò)處理之后，在方框310中結(jié)束中斷業(yè)務(wù)程序，并且在方框306中繼續(xù)執(zhí)行所中斷的程序，在該方框306中于是用地址加增量來(lái)重新占用當(dāng)前的地址?，F(xiàn)在在不進(jìn)一步處理所提供的數(shù)據(jù)的情況下在方框304中實(shí)現(xiàn)返回。在那里利用現(xiàn)在提高了增量的地址來(lái)檢驗(yàn)，該地址是否小于或等于結(jié)束地址。如果情況還總是如此，則停留在剛才所述的方框305、306和304的環(huán)路中；否則，如果達(dá)到了結(jié)束地址，則在方框307中結(jié)束本方法。
因此按照所述方法一方面通過(guò)所展示的設(shè)備來(lái)監(jiān)控電子控制，在所述方法中包含有裝置，這些裝置在持續(xù)地存取指令之外還通過(guò)以下方式檢驗(yàn)至少一個(gè)存儲(chǔ)器的所有數(shù)據(jù)，即處理器對(duì)于每個(gè)ECC檢驗(yàn)寬度請(qǐng)求恰好一個(gè)存儲(chǔ)單元，并且這些裝置因此將每個(gè)ECC檢驗(yàn)寬度的完整的數(shù)據(jù)連同附加信息裝載到ECC暫存器中，其中在BCC單元中包含有檢驗(yàn)裝置，這些檢驗(yàn)裝置從每個(gè)ECC檢驗(yàn)寬度的數(shù)據(jù)中形成檢驗(yàn)信息，并且將檢驗(yàn)信息與所存儲(chǔ)的附加信息進(jìn)行比較，正如這例如在裝置106中所執(zhí)行的那樣。同樣針對(duì)極限讀取包含有檢驗(yàn)裝置108，這些檢驗(yàn)裝置108在相應(yīng)字線的所選出的存儲(chǔ)單元中確定當(dāng)前的電荷狀態(tài)，或者讀出具有已改變的閾值的數(shù)據(jù)。作為差錯(cuò)反應(yīng)可能性，包含有中斷裝置，這些中斷裝置在檢驗(yàn)信息和附加信息不相同時(shí)和/或在當(dāng)前的電荷狀態(tài)達(dá)到或低于可預(yù)定的電荷閾值時(shí)觸發(fā)中斷，正如這里用110所示出的那樣。
因此通過(guò)本發(fā)明方法和本發(fā)明設(shè)備可以在用于控制工作流程的電子控制中、尤其是在汽車(chē)中、但是也可以在其它設(shè)備或設(shè)施中，在啟動(dòng)之前在短時(shí)間內(nèi)執(zhí)行整個(gè)存儲(chǔ)區(qū)、即所有存儲(chǔ)單元的檢驗(yàn)，使得一方面尤其總是在啟動(dòng)之前可以周期性地檢驗(yàn)，而另一方面可以檢驗(yàn)所有存儲(chǔ)單元，并且因此在不損失舒適性的情況下引起安全性提高。
權(quán)利要求
1.用于監(jiān)控電子控制的方法，其中在至少一個(gè)存儲(chǔ)器中存放有作為代碼的控制指令和/或數(shù)據(jù)，其中在持續(xù)地存取指令時(shí)通過(guò)字線從所述至少一個(gè)存儲(chǔ)器向具有一定字寬的控制單元、尤其是向用于控制工作流程的處理器傳輸所述代碼，其中所述字寬包括所述存儲(chǔ)器的多個(gè)存儲(chǔ)單元的代碼，以及為字寬的所述代碼分別形成附加信息，并且將所述附加信息存放在所述存儲(chǔ)器中，其特征在于，除了持續(xù)地存取指令之外通過(guò)以下方式來(lái)檢驗(yàn)所述至少一個(gè)存儲(chǔ)器的整個(gè)代碼，即對(duì)于每個(gè)字寬選出恰好一個(gè)存儲(chǔ)單元，并且因此激活完整的字線，其中由所述完整的字線的代碼形成檢驗(yàn)信息，并且將所述檢驗(yàn)信息與所存儲(chǔ)的附加信息進(jìn)行比較。
2.按權(quán)利要求1的方法，其特征在于，由ECC單元執(zhí)行所述檢驗(yàn)，并且所述字寬相當(dāng)于ECC檢驗(yàn)字寬，因此所述ECC檢驗(yàn)字寬包括所述存儲(chǔ)器的多個(gè)存儲(chǔ)單元的代碼。
3.按權(quán)利要求2的方法，其特征在于，所述ECC檢驗(yàn)字寬相當(dāng)于所述控制單元的讀取字寬的多倍。
4.按權(quán)利要求2的方法，其特征在于，按照所述控制單元對(duì)所述存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)單元的內(nèi)容的請(qǐng)求，自動(dòng)地以完整的ECC檢驗(yàn)字寬連同附加信息來(lái)填充所述ECC單元，并且由所述完整的ECC檢驗(yàn)字寬的代碼形成所述檢驗(yàn)信息，并且與所述附加信息進(jìn)行比較。
5.按權(quán)利要求1的方法，其特征在于，在所選出的存儲(chǔ)單元中附加地確定當(dāng)前的電荷狀態(tài)，并且將該電荷狀態(tài)與可預(yù)定的電荷閾值進(jìn)行比較。
6.按權(quán)利要求2的方法，其特征在于，在所選出的存儲(chǔ)單元中附加地讀出具有可預(yù)定的電荷閾值的代碼，并且通過(guò)與所述電荷閾值的比較由所述ECC單元來(lái)檢驗(yàn)所述代碼的正確性。
7.按權(quán)利要求1的方法，其特征在于，通過(guò)從第一存儲(chǔ)單元的起始地址出發(fā)重復(fù)設(shè)置增量來(lái)實(shí)現(xiàn)相應(yīng)字寬的存儲(chǔ)單元的選擇，其中每隔所述增量的距離選出每個(gè)存儲(chǔ)單元。
8.按權(quán)利要求2和7的方法，其特征在于，以所述起始地址開(kāi)始重復(fù)地累加根據(jù)所述ECC檢驗(yàn)字寬預(yù)定的增量，并且選出相應(yīng)的存儲(chǔ)單元。
9.按權(quán)利要求1的方法，其特征在于，在所述檢驗(yàn)信息和相應(yīng)的附加信息不相同時(shí)觸發(fā)中斷，并且可以顯示差錯(cuò)。
10.按權(quán)利要求1的方法，其特征在于，在所述檢驗(yàn)信息和相應(yīng)的附加信息不相同時(shí)識(shí)別出差錯(cuò)，并且根據(jù)所述附加信息進(jìn)行校正。
11.按權(quán)利要求5的方法，其特征在于，在所述當(dāng)前的電荷狀態(tài)達(dá)到或低于所述可預(yù)定的電荷閾值時(shí)，執(zhí)行相應(yīng)存儲(chǔ)單元或所述相應(yīng)字寬的所有存儲(chǔ)單元或所述存儲(chǔ)器的所有存儲(chǔ)單元的電荷狀態(tài)的刷新。
12.按權(quán)利要求5的方法，其特征在于，在所述當(dāng)前的電荷狀態(tài)達(dá)到或低于所述可預(yù)定的電荷閾值時(shí)識(shí)別出未來(lái)的差錯(cuò)，并且可以顯示該未來(lái)的差錯(cuò)。
13.用于監(jiān)控電子控制的設(shè)備，其中在至少一個(gè)存儲(chǔ)器中存放有作為代碼的控制指令和/或數(shù)據(jù)，其中在持續(xù)地存取指令時(shí)通過(guò)字線從所述至少一個(gè)存儲(chǔ)器向具有一定字寬的控制單元、尤其是向用于控制工作流程的處理器傳輸所述代碼，其中所述字寬包括所述存儲(chǔ)器的多個(gè)存儲(chǔ)單元的代碼，以及為字寬的所述代碼分別形成附加信息，并且將所述附加信息存放在所述存儲(chǔ)器中，其特征在于，包含有裝置，這些裝置除了持續(xù)地存取指令之外還通過(guò)以下方式來(lái)檢驗(yàn)所述至少一個(gè)存儲(chǔ)器的整個(gè)代碼，即對(duì)于每個(gè)字寬選出恰好一個(gè)存儲(chǔ)單元，并且這些裝置因此激活完整的字線，其中包含有檢驗(yàn)裝置，這些檢驗(yàn)裝置從所述完整的字線的代碼中形成檢驗(yàn)信息，并且將所述檢驗(yàn)信息與所存儲(chǔ)的附加信息進(jìn)行比較。
14.按權(quán)利要求13的設(shè)備，其特征在于，所述設(shè)備包括作為裝置的ECC單元。
15.按權(quán)利要求13的設(shè)備，其特征在于，此外包含有電荷檢驗(yàn)裝置，這些電荷檢驗(yàn)裝置在相應(yīng)字寬的所選出的存儲(chǔ)單元中確定當(dāng)前的電荷狀態(tài)，并且將該電荷狀態(tài)與可預(yù)定的電荷閾值進(jìn)行比較。
16.按權(quán)利要求13或14的設(shè)備，其特征在于，包含有中斷裝置，這些中斷裝置在所述檢驗(yàn)信息和所述附加信息不相同時(shí)和/或在所述當(dāng)前的電荷狀態(tài)達(dá)到或低于所述可預(yù)定的電荷閾值時(shí)觸發(fā)中斷。
17.按權(quán)利要求13或14的設(shè)備，其特征在于，包含有顯示裝置，這些顯示裝置在所述檢驗(yàn)信息和所述附加信息不相同時(shí)和/或在所述當(dāng)前的電荷狀態(tài)達(dá)到或低于所述可預(yù)定的電荷閾值時(shí)顯示差錯(cuò)。
全文摘要
用于監(jiān)控電子控制的方法和設(shè)備，其中設(shè)法將至少一個(gè)存儲(chǔ)器的完整的數(shù)據(jù)相繼讀入可由存儲(chǔ)器很迅速填充的ECC單元中并且在那里自動(dòng)地進(jìn)行檢驗(yàn)，而不必費(fèi)時(shí)地向處理器傳輸完整的數(shù)據(jù)，其中ECC檢驗(yàn)寬度包括存儲(chǔ)器的多個(gè)存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)，并且可被構(gòu)成為處理器的讀取字寬的多倍，其中為ECC檢驗(yàn)寬度的數(shù)據(jù)分別形成附加信息，并且可以將其存放在存儲(chǔ)器中，以及因此除了持續(xù)地存取指令之外還可以通過(guò)以下方式來(lái)檢驗(yàn)至少一個(gè)存儲(chǔ)器的整個(gè)代碼/數(shù)據(jù)區(qū)，即對(duì)于處理器對(duì)一個(gè)唯一的存儲(chǔ)單元的內(nèi)容的每個(gè)請(qǐng)求，從存儲(chǔ)器中以完整的ECC檢驗(yàn)寬度連同附加信息來(lái)填充ECC單元，其中從完整的ECC檢驗(yàn)寬度的數(shù)據(jù)中形成檢驗(yàn)信息，并且自動(dòng)地在ECC單元中將檢驗(yàn)信息與所存儲(chǔ)的附加信息進(jìn)行比較。
文檔編號(hào)G06F11/10GK1748202SQ200480003788
公開(kāi)日2006年3月15日 申請(qǐng)日期2004年2月9日 優(yōu)先權(quán)日2003年2月7日
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