和卡合部64而呈現(xiàn)“凸”字形，該卡合部64的形狀與該滑槽42的第二階槽424的形狀相配合，并容置于該第二階槽424內(nèi)，該卡合部64的厚度略小于該第二階槽424的高度。該突起部62的形狀與該滑槽42的第一階槽422相配合并可凸伸出該滑槽42，該突起部62的外壁設(shè)置有與該支撐桿52的支撐固定孔54相配合的外螺紋。因此，使用者可以將該支撐桿52的支撐固定孔54螺合于該定位塊60的突起部62，直到該定位塊60的卡合部64抵靠于該滑槽42的第二階槽424的頂壁，該支撐機構(gòu)50即完成固定。
[0055]請參閱圖7，各定位機構(gòu)70與各支撐機構(gòu)50有相似的結(jié)構(gòu)，不同之處在于各定位機構(gòu)70的定位桿72的高度大于各支撐桿52的高度。上述各定位機構(gòu)70同樣包含有定位桿72和定位塊60,該定位桿72的底面中心具有一垂直底面的定位固定孔74,該定位固定孔74的內(nèi)壁具有內(nèi)螺紋。因此，該定位桿72的定位固定孔74可同樣螺合于該定位塊60的突起部62。
[0056]在此說明，該八組支撐機構(gòu)50分別配置于該轉(zhuǎn)盤40的各滑槽42中，而該四組定位機構(gòu)70分別配置于不相鄰的各滑槽42中。
[0057]上述各支撐機構(gòu)50與上述各定位機構(gòu)70除了可采用前述螺合方式定位于轉(zhuǎn)盤40的滑槽42之外，兩者也都可通過磁吸方式來定位于滑槽42。例如，該轉(zhuǎn)盤40為導(dǎo)磁材料，該定位塊60為磁性材料,使支撐機構(gòu)50與定位機構(gòu)70的定位塊60能夠先以磁力吸附且定位于滑槽60后，再將定位塊60與支撐桿52、定位桿72進行螺合，同樣都可以使支撐桿52、定位桿72定位于滑槽42，并可以進行移動。
[0058]值得一提的是，定位機構(gòu)70除了可以使用前述螺合與磁吸方式定位于滑槽42之夕卜，還可以利用磁吸方式直接定位于轉(zhuǎn)盤40的表面上，而不受限于滑槽42的設(shè)置位置。請參考圖8，定位機構(gòu)70所采用的磁吸機構(gòu)80包含有磁性材料82 (例如，磁鐵)及第二固定件84，而且該轉(zhuǎn)盤40是由導(dǎo)磁材料制成。因此，使用者可使用該第二固定件84將該磁性材料82螺合固定于定位桿72的底面，且第二固定件84靠近磁性材料82的一端不突出磁性材料82的底面。因此，該定位機構(gòu)70便能夠藉由該磁吸機構(gòu)80固定于該轉(zhuǎn)盤40的頂面，并能夠任意調(diào)整位置而不受限于滑槽42的位置。
[0059]根據(jù)電路板球面彎曲應(yīng)變測試的規(guī)范，在檢測時，上述各支撐機構(gòu)50至該轉(zhuǎn)盤40中心的距離必須相等，使用者除了能夠通過該滑槽42周緣的刻度件44進行精確定位之外，本發(fā)明也可在轉(zhuǎn)盤40中心的上方設(shè)置不同半徑的基準(zhǔn)圓盤90，如圖9所示。其中，基準(zhǔn)圓盤90與轉(zhuǎn)盤40為同心圓，以便于讓使用者可以選擇符合待測電路板尺寸規(guī)范的基準(zhǔn)圓盤90，再將各支撐機構(gòu)50抵靠且固定于該基準(zhǔn)圓盤90的周緣，即可完成調(diào)整各支撐機構(gòu)50的位置。
[0060]通過前述結(jié)構(gòu)，本電路板球面撓曲應(yīng)變測試治具I的操作方式如下:
[0061 ] 首先，如圖3及圖9所示，使用者根據(jù)待測電路板的尺寸大小與電路板球面彎曲應(yīng)變的測試規(guī)范，通過該刻度件44的刻度或選擇適當(dāng)?shù)幕鶞?zhǔn)圓盤90來移動各支撐機構(gòu)50至測試位置，再通過螺合或磁吸固定于該轉(zhuǎn)盤40的滑槽42。
[0062]其次，如圖1OA所示，根據(jù)測試設(shè)備的架設(shè)情況直接固定該電路板16的方向，當(dāng)發(fā)現(xiàn)電路板16的布線(未圖示)與支撐桿52的頂端發(fā)生干涉時，使用者則可以先卸除電路板16，然后轉(zhuǎn)動該轉(zhuǎn)盤40直至電路板16下方的布線與各支撐桿52無干涉情形，然后通過該固定機構(gòu)30固定該轉(zhuǎn)盤40的轉(zhuǎn)動。
[0063]最后，如圖1OB所示，再以相同方向放置電路板16，并調(diào)整各定位機構(gòu)70并緊靠于待測電路板16的周緣，螺合或磁吸固定于該轉(zhuǎn)盤40的滑槽42或轉(zhuǎn)盤40頂面，即完成檢測治具的設(shè)置。
[0064]除此之外，定位機構(gòu)70的磁力吸附固定方式還有另一實施方式，請參考圖11，上述各定位機構(gòu)92包含有定位桿922和磁性材料926，該定位桿922的底部具有凹部924，以供該磁性材料926容置其中，當(dāng)該轉(zhuǎn)盤40由導(dǎo)磁材料制成時，該定位機構(gòu)92可直接吸附于該轉(zhuǎn)盤40而能夠自由移動。
[0065]相較于常用技術(shù)，本發(fā)明的電路板球面撓曲應(yīng)變測試治具I可適用于更多不同尺寸與形狀的電路板，減少所需治具的組數(shù)與空間浪費，而該轉(zhuǎn)盤40具有360度轉(zhuǎn)動的特性，更能避免因上述各支撐機構(gòu)50對電路板布線的干涉，導(dǎo)致電路的破壞，確保電路板球面撓曲應(yīng)變測試與電性測試的正確性。
[0066]最后，必須再次說明的是，本發(fā)明在前述實施例中所揭露的構(gòu)成元件，僅為舉例說明，并非用來限制本發(fā)明的范圍，凡是其他容易想到的結(jié)構(gòu)變化，或與其他等效元件的替代變化，也應(yīng)被本發(fā)明的權(quán)利要求所涵蓋。
【主權(quán)項】
1.一種電路板球面撓曲應(yīng)變測試治具，其特征在于，包括: 承載平臺； 轉(zhuǎn)盤，其以能夠轉(zhuǎn)動的方式置放于所述承載平臺的頂面，所述轉(zhuǎn)盤的頂面具有自所述轉(zhuǎn)盤的中心呈等角度間隔而直線發(fā)散的多條滑槽；以及 多組支撐機構(gòu)，各所述支撐機構(gòu)以能夠滑動的方式設(shè)于所述滑槽。2.如權(quán)利要求1所述的電路板球面撓曲應(yīng)變測試治具，其特征在于， 各所述支撐機構(gòu)包含有能夠相連接的支撐桿和定位塊，所述定位塊以能夠滑動的方式設(shè)置于所述滑槽內(nèi)。3.如權(quán)利要求2所述的電路板球面撓曲應(yīng)變測試治具，其特征在于，所述轉(zhuǎn)盤為導(dǎo)磁材料，所述定位塊為磁性材料。4.如權(quán)利要求2所述的電路板球面撓曲應(yīng)變測試治具，其特征在于，所述支撐桿與所述定位塊為螺合連接。5.如權(quán)利要求4所述的電路板球面撓曲應(yīng)變測試治具，其特征在于， 各所述支撐桿的底面設(shè)有支撐固定孔， 各所述滑槽的橫截面形狀為倒T型， 各所述定位塊具有能夠容置于所述滑槽內(nèi)的卡合部和能夠凸伸出所述滑槽的突起部，且所述突起部設(shè)有外螺紋，以螺合于所述支撐固定孔。6.如權(quán)利要求4所述的電路板球面撓曲應(yīng)變測試治具，其特征在于，所述轉(zhuǎn)盤為導(dǎo)磁材料，所述定位塊為磁性材料。7.如權(quán)利要求1所述的電路板球面撓曲應(yīng)變測試治具，其特征在于， 還能夠根據(jù)待測電路板的尺寸設(shè)置適當(dāng)?shù)幕鶞?zhǔn)圓盤于所述轉(zhuǎn)盤的中心上方。8.如權(quán)利要求1所述的電路板球面撓曲應(yīng)變測試治具，其特征在于， 所述轉(zhuǎn)盤的頂面設(shè)有至少一個刻度件，所述刻度件依附于所述滑槽邊。9.如權(quán)利要求1?8中任一項所述的電路板球面撓曲應(yīng)變測試治具，其特征在于， 還包含有固定機構(gòu)，所述固定機構(gòu)設(shè)置于所述承載平臺，以固定所述轉(zhuǎn)盤的轉(zhuǎn)動。10.如權(quán)利要求1?8中任一項所述的電路板球面撓曲應(yīng)變測試治具，其特征在于， 還包含有多組定位機構(gòu)，所述多組定位機構(gòu)以能夠滑動的方式設(shè)于所述滑槽，各所述定位機構(gòu)包含有能夠相連接的定位桿和定位塊，其中，各所述定位桿的高度大于各所述支撐桿的高度。11.如權(quán)利要求1?8中任一項所述的電路板球面撓曲應(yīng)變測試治具，其特征在于， 還包含有多組定位機構(gòu)，其中，各所述定位機構(gòu)包含有定位桿和磁性材料，所述磁性材料設(shè)于所述定位桿的底面，其中，所述轉(zhuǎn)盤為導(dǎo)磁材料，使所述定位桿能夠定位于所述轉(zhuǎn)盤的頂面而不受限于所述滑槽的位置，且各所述定位桿的高度大于各所述支撐桿的高度。12.如權(quán)利要求11所述的電路板球面撓曲應(yīng)變測試治具，其特征在于，各所述定位機構(gòu)包含有第二固定件，以連接所述定位桿與所述磁性材料。
【專利摘要】一種電路板球面撓曲應(yīng)變測試治具，包含有承載平臺、轉(zhuǎn)盤及多組支撐機構(gòu)；其中，該轉(zhuǎn)盤以能夠轉(zhuǎn)動的方式置放于承載平臺的頂面，各支撐機構(gòu)至少具有一支撐桿，該支撐桿以能夠滑動的方式設(shè)置于該轉(zhuǎn)盤；相較于常用治具，本發(fā)明的測試治具能夠?qū)⒃撝螜C構(gòu)固定于該滑槽的任意位置，更容易適用在不同尺寸的電路板，而且該轉(zhuǎn)盤能夠360度轉(zhuǎn)動，能夠避免電路板布線與該支撐機構(gòu)的干涉，確保檢測的正確性。
【IPC分類】G01B21/32
【公開號】CN105509696
【申請?zhí)枴緾N201410495121
【發(fā)明人】謝承和, 葉志高
【申請人】環(huán)旭電子股份有限公司
【公開日】2016年4月20日
【申請日】2014年9月25日