專利名稱：檢測靜態(tài)隨機存儲器的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種檢測靜態(tài)隨機存儲器的方法，特別是涉及一種以測試相關(guān)的地址單元數(shù)據(jù)，來重復檢測電子線路是否有開路或短路情形，從而得知靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)電子線路是否出故障的方法。
所謂靜態(tài)隨機存儲器(Static Random Access Memory，以下簡稱SRAM)是一種廣泛用于個人數(shù)字助理(Personal Digital Assistant，簡稱PDA)、個人電腦(Personal Computer，簡稱PC)等電子產(chǎn)品的存儲裝置。由于靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)中存儲數(shù)據(jù)，對與其配合的相關(guān)電子產(chǎn)品極為重要，所以，一般相關(guān)領(lǐng)域?qū)o態(tài)隨機存儲器(SRAM)讀寫是否正確要求非常嚴格，用靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)檢測，已成為與之配合的相關(guān)電子產(chǎn)品在出貨前的重要程序。
一般而言導致靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)讀寫錯誤的原因在于，靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)焊接不好，導致靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)信號線(主要是地址線和數(shù)據(jù)線)短路、開路(斷路)，其中，短路是指接通了本來不應該相聯(lián)的信號線，開路是指原本應該接通的信號線未能接通?，F(xiàn)有的檢測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)方法，在檢測時，主要是按地址單元逐一寫入、讀出測試數(shù)據(jù)，再通過讀出數(shù)據(jù)與寫入數(shù)據(jù)比較確定測試結(jié)果后，由結(jié)果判定靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)是否讀出、寫入正確，然而上述檢測方法卻有以下幾個重大缺點1．無法檢測出靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)因地址線短路，所引發(fā)的讀、寫錯誤。
2．無法可靠地檢測出地址線開路和數(shù)據(jù)線的故障。
3．無法明確指示靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)故障原因，不利于排除故障。
用上述檢測方法測試32K字節(jié)靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)為例，32KB靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)共有地址線15根(記為A0-A14)，若地址線A0與地線短路，測試時，無論將A0設為0(即為低電位電路)或1(即為高電位電路)，實際上該A0皆為0，即對所有地址為XXXXXXXXXXXXXX1進行操作時，者會落到地址為XXXXXXXXXXXXXX0的單元，因此可知，雖寫入的地址單元已經(jīng)錯誤，但通過上述的測試方法，所得到的寫入、讀出的結(jié)果仍然正確，由此而知，上述現(xiàn)有的檢測方法顯然對同類地址線短路問題無能為力。
鑒于上述現(xiàn)有的應用軟件在安裝時所存在的一些缺陷，本發(fā)明提供一種檢測靜態(tài)隨機存儲器的方法。
本發(fā)明的目的在于提供一種檢測靜態(tài)隨機存儲器的方法，其主要是在測試時，針對電子線路開路的不確定性和短路不良的特性下，全面地逐一檢測相關(guān)靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)數(shù)據(jù)，能可靠地檢測出靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的數(shù)據(jù)線、地址線開路、短路是否有故障。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種檢測靜態(tài)隨機存儲器的方法，其是一種可根據(jù)檢測結(jié)果，得知靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)發(fā)生不故障的方法。
本發(fā)明的目的是這樣實現(xiàn)的，即提供一種檢測靜態(tài)隨機存儲器的方法，其主要是針對靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的信號線(主要是地址線和數(shù)據(jù)線)開路和短路所作的全面性的檢測方法，其步驟包括(1)先檢測待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)中除地址線、數(shù)據(jù)線外的其他信號線，其包括電源線、地線、選通線、讀信號、寫信號，因如該各信號線有故障，則無法測試地址線和數(shù)據(jù)線，也無法繼續(xù)進行測試；(2)如待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)中經(jīng)檢測后，除地址線、數(shù)據(jù)線外的其他信號線，并未有故障的情形時，則以重復測試特定地址單元數(shù)據(jù)的檢測方法，并以最大限度，來檢測該待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的數(shù)據(jù)線是否有開、短路的情形；(3)如果經(jīng)檢測后，該待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的數(shù)據(jù)線開、短路未有故障的情形時，則繼續(xù)針對其短路狀況，采用同時測試相關(guān)地址單元數(shù)據(jù)的檢測方法，以判定地址線是否有短路的情形；(4)最后，如果經(jīng)檢測后，該待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的地址線也未有短路的情形時，即針對其開路狀況，采用重復測試特定地址單元的檢測方法，以最大限度繼續(xù)檢測出其地址線是否有開路的情形；通過上述步驟的執(zhí)行，能可靠地檢測出靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的次品，且將故障狀況確切具體顯示出來，進而提高了靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)檢測時的除錯效率。
下面結(jié)合附圖，詳細說明本發(fā)明的實施例，其中

圖1為本發(fā)明檢測數(shù)據(jù)線是否有短路的流程圖；圖2為本發(fā)明檢測數(shù)據(jù)線是否有開路的流程圖；圖3為本發(fā)明檢測地址線是否有短路的流程圖；圖4為本發(fā)明檢測地址線是否有開路的流程圖。
本發(fā)明為一種檢測靜態(tài)隨機存儲器的方法，其是一種針對電子線路開路的不確定性及短路的特性，重復測試檢測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)所有電子線路，如此，即可檢測出靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)電子線路(主要是地址線和數(shù)據(jù)線)是否有故障，且可根據(jù)檢測結(jié)果的指示，得知靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)發(fā)生故障的原因的方法。
請參照圖1所示，先檢測待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)中除地址線、數(shù)據(jù)線外的其他信號線(包括電源線、地線、選通線、讀信號、寫信號)，因如各信號線有故障的情形發(fā)生，則無法測試地址線和數(shù)據(jù)線，也無法繼續(xù)進行測試。
再者，當待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)中經(jīng)檢測后，除地址線、數(shù)據(jù)線外的其他信號線，并未有故障的情形時，則以重復測試特定地址單元數(shù)據(jù)的檢測方法，并以最大限度，來檢測該待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的數(shù)據(jù)線是否有開、短路的情形。
如果經(jīng)檢測后，該待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的數(shù)據(jù)線開、短路未有故障發(fā)生時，則繼續(xù)針對其短路狀況，采用同時測試相關(guān)地址單元數(shù)據(jù)的檢測方法，以判定地址線是否有短路的情形。
最后，如果經(jīng)檢測后，該待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的地址線也未有短路的情形時，即針對其開路狀況，采用重復測試特定地址單元的檢測方法，以最大限度繼續(xù)檢測出其地址線是否有開路的情形。
如此，不但可得知發(fā)生故障的原因，且故障的靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)可被確實檢測出來，進而提高檢測正確的比率，且只要任一線路被檢測出有故障時，即不再繼續(xù)進行下一步測試，進而可大大地節(jié)省測試時間。
再者，當檢測模塊在進行檢測待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的數(shù)據(jù)線及地址線是否有開、短路時，先將所設定變量表與地址線及數(shù)據(jù)線相對應數(shù)值(如附表1至表4所示)，及有關(guān)地址、數(shù)據(jù)線發(fā)生開、短路時的對照表(如附表5至表8所示)等數(shù)據(jù)，預先儲存在檢測模塊中，再依序進行相關(guān)測試。
首先，請參照圖1所示，當檢測模塊在檢測待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的數(shù)據(jù)線是否有短路時，其步驟包含(1)首先，將待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)中所有的數(shù)據(jù)清除后，并予以歸零，再由原先儲存于檢測模塊中所預設的數(shù)據(jù)庫中任取一變量(a)，在本實施例為1(如表3所示)，再任取一地址，設定為指定的地址，于本實施例為數(shù)值0001的地址(該數(shù)值以十六進制表示為0000000000000001，如表1所示)。
(2)再將與該變量(a)相對應的數(shù)據(jù)數(shù)值(D(a))，由表3查得)寫入該指定的地址中，再由該文件指定地址讀出數(shù)據(jù)(D(xx))，并由該指定地址讀出數(shù)據(jù)后，將讀出的數(shù)據(jù)(D(xx))與原先寫入的數(shù)值(D(a))加以比較，其比較方法是將讀出數(shù)據(jù)(8比特數(shù)據(jù))與原先寫入值(8比特數(shù)據(jù))進行異或運算，而得另一8比特的數(shù)據(jù)(D(ss))，其式子如下D(a)=D(1)=01(00000001)D(xx)=01(00000001)D(ss)=00(00000000)如果該數(shù)據(jù)(D(ss))不為00，表示兩者不同，即表示數(shù)據(jù)線有短路的情形，將結(jié)果與表5加以對照，即可知那些數(shù)據(jù)線發(fā)生短路，并將其顯示出來，同時，停止繼續(xù)測試的動作。
(3)如結(jié)果(D(ss))為00，表示D(a)所表示的數(shù)據(jù)線沒有短路的情形，則繼續(xù)判斷所取的變量是否小于設定值，于本實施例為8，如果這樣，則將該變量值加1(a=a+1)，并回到第(2)步驟，并重復執(zhí)行第(2)至第(3)的步驟，直到該變量值等于設定值，才繼續(xù)進行有關(guān)數(shù)據(jù)線開路的測試。
再者，請參照圖2所示，當本發(fā)明完成數(shù)據(jù)線短路的檢測，而要進行數(shù)據(jù)線開路的測試時，其步驟包括有(1)首先，將待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)中所有的數(shù)據(jù)清除后，并予以歸零，再設定待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)中其中一地址為指定地址(于本實施例為0001)。
(2)再任取一數(shù)據(jù)(D(xx))，將表示該數(shù)據(jù)的數(shù)值(于本實施例為D(55)，以01010101表示，如表2所示)寫入指定地址中，并由該地址讀出數(shù)據(jù)(D(yy))，將讀出的數(shù)據(jù)與原先寫入的數(shù)值加以比較后；以異或的方式比較，得一數(shù)值(D(pp))；再判斷是否已達到所設定的循環(huán)次數(shù)，在本實施例設定的循環(huán)為1000次，如未到設定的次數(shù)，即再判斷比較的結(jié)果(D(pp))是否等于00，如不等于00，則將結(jié)果與表6加以對照，即可得知那些數(shù)據(jù)線發(fā)生開路，并將其顯示出來，同時，停止測試的動作。
(3)如判斷比較的結(jié)果(D(pp))，等于00時，則將原先設定的循環(huán)次數(shù)減1(loop=loop-1)，再取另一個數(shù)據(jù)值與原先所取的數(shù)據(jù)值為互補交錯，于本實施例為D(aa)(該D(aa)為10101010，在二進制碼為D(55)的補碼)，同時取代原先所取的數(shù)據(jù)后，再將表示該數(shù)據(jù)的數(shù)值(D(aa))寫入指定地址中，并由該地址讀出數(shù)據(jù)(D(yy))，將讀出的數(shù)據(jù)與原先寫入的數(shù)值以異或的方式比較，得一數(shù)值(D(pp))；再判斷是否已達到所設定的循環(huán)次數(shù)，于本實施例設定的循環(huán)為1000次，如未到設定的次數(shù)，即再判斷比較的結(jié)果(D(pp))是否等于00，如不等于00，則將結(jié)果(D(pp))與表6加以對照，即可得知那些數(shù)據(jù)線發(fā)生開路，并將其顯示出來，同時，停止繼續(xù)測試的動作。
(4)如判斷比較的結(jié)果，(D(pp))等于00時，則將原先設定的循環(huán)次數(shù)減1(loop=loop-1)，并重復第(2)(3)的步驟，直到設定的循環(huán)執(zhí)行完畢后，再繼續(xù)進行地址線短路的測試。
請參照圖3所示，當本發(fā)明完成數(shù)據(jù)線開路的檢測，而要進行地址線短路的測試時，其步驟包括有(1)首先，將待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)中所有的數(shù)據(jù)清除后，并予以歸零，再由原先儲存于檢測模塊中所預設定的數(shù)據(jù)庫中(如表4)任取一變量(a)，于本實施例為從1開始。
(2)再任取一數(shù)據(jù)值，并將該數(shù)值(于本實施例為D(55)，由表2查得，)寫入地址變量中((A(a))，如表4所示)。
(3)再由數(shù)據(jù)庫(如表4)中另取一變量(b)，在本實施例為從1開始，再由所取兩地址變量(A(a)、A(b))所對應的地址數(shù)值(由表4查得)進行或運算后，得到一地址(Add(xxxx)，如表1所示)。
(4)再由該地址讀出數(shù)據(jù)(D(yy))后，判斷所讀出的數(shù)據(jù)是否等于00，如等于00，表示地址線尚未發(fā)生短路現(xiàn)象，則繼續(xù)判斷第(3)步驟所取的變量(b)是否為設定值，于本實施例為15，如不是，則將該變量值加1(b=b+1)，并重復第(3)步驟，直至該變量(b)的數(shù)值等于設定值為止。
(5)當?shù)?3)步驟所取的變量(b)至設定值時，則繼續(xù)判斷第(1)步驟所取的變量(a)是否為設定值，在本實施例為15，如不是，則將D(00)寫入該變量相對應的地址中，再將該變量值加1(a=a+1)并重復第(2)(3)步驟，直至該變量(a)至設定值后，即繼續(xù)進行地址線開路的檢測。
(6)如判斷由該地址所讀出的數(shù)據(jù)(D(yy)不等于00，則再判斷表示該地址的數(shù)值是否等于所取變量(a)相對應的地址數(shù)值(可由表1、4查得)，如等于，則回到第(4)步驟，如不等于，則將地址(Add(xxxx))與地址變量(A(a))采用異或比較，并將所得的結(jié)果(A(ssss))，與表7加以對照，再將對照的結(jié)果顯示出來，即可得知那些地址發(fā)生短路，同時，停止測試動作。
此外，請參照圖4所示，當本發(fā)明完成地址線短路的檢測，而要進行地址線開路的測試時，其步驟包括有(1)首先，將待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)中所有的數(shù)據(jù)清除后，并予以歸零，再由原先儲存于檢測模塊中所預設的數(shù)據(jù)庫(如表4)中的任取一變量(a)，在本實施例為從1開始。
(2)再任取一數(shù)據(jù)(D(xx))，并將表示該數(shù)據(jù)的數(shù)值(于本實施例為(D(55))寫入該地址變量(A(a))相對應的地址中，并由該地址中讀出數(shù)據(jù)(D(yy))，將讀出的數(shù)據(jù)(D(yy))與原先寫入的數(shù)值(D(xx))加以比較，若讀出的數(shù)據(jù)(D(xx))不等于原先寫入的數(shù)值(D(yy))，此時地址變量(A(a))的地址值代入表8所示的地址中(A(pppp))，即可得知那些地址線發(fā)生開路，并將其顯示出來，同時，停止繼續(xù)測試的動作。
(3)如判斷比較的結(jié)果，D(xx)等于D(yy)，則將原先設定的循環(huán)次數(shù)減1(loop=loop-1)，再取另一個數(shù)據(jù)，該數(shù)據(jù)的數(shù)值與原先所取的數(shù)據(jù)的數(shù)值為互補交錯，于本實施例為D(aa)，同時取代原先所取的數(shù)值后，再重復第(2)步驟的動作，直至到達所設定的循環(huán)次數(shù)，在本實施例中設定的循環(huán)為1000次。
(4)再判斷所取的變量是否已達到設定值，如不是，則將D(00)寫入地址變量中，再將該變量加1(a=a+1)，同時，重復第(2)(3)步驟，直至變量為設定值，即結(jié)束測試。
如此，執(zhí)行上述測試，即能可靠地檢測出靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的次品，且將故障狀況確切具體顯示出來，進而提高了靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)檢測時的除錯效率。
綜上所述，本發(fā)明的檢測靜態(tài)隨機存儲器的方法，不但可改進現(xiàn)有技術(shù)的各種缺點，且在使用上能增進功效，適合實用。
a a a a a a a a a a a a a a a aAdd 15 14 13 1211 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0(xxxx)=0000 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0=0001 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1=0002 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0=0003 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1=0004 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0∶ ∶=0008 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0∶ ∶=0010 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0∶ ∶=0020 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0∶ ∶=0040 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0∶ ∶=0080 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0∶ ∶=0100 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0∶ ∶=0200 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0∶ ∶=0400 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0∶ ∶=0800 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0∶ ∶=1000 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0∶ ∶=2000 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0∶ ∶=4000 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0∶ ∶=FFFF 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1表1(16進制)
d7 d6 d5 d4d3 d2 d1 d0D (xx) ／ 00 0 0 0 0 0 0 0 0(yy)= 01 0 0 0 0 0 0 0 102 0 0 0 0 0 0 1 003 0 0 0 0 0 0 1 104 0 0 0 0 0 1 0 0∶08 0 0 0 0 1 0 0 0∶10 0 0 0 1 0 0 0 0∶20 0 0 1 0 0 0 0 0∶40 0 1 0 0 0 0 0 0∶55 0 1 0 1 0 1 0 1∶80 1 0 0 0 0 0 0 0∶AA 1 0 1 0 1 0 1 0∶FF 1 1 1 1 1 1 1 1表2
D(a) d7 d6 d5 d4 d3 d2 d1 D00= 000 0 0 0 0 0 0 01= 010 0 0 0 0 0 0 12= 020 0 0 0 0 0 1 03= 040 0 0 0 0 1 0 04= 080 0 0 0 1 0 0 05= 100 0 0 1 0 0 0 06= 200 0 1 0 0 0 0 07= 400 1 0 0 0 0 0 08= 801 0 0 0 0 0 0 0表3
a a a a a a a a a a a a a a a aA(a)(b)15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 00=0000 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 01=0001 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 12=0002 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 03=0004 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 04=0008 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 05=0010 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 06=0020 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 07=0040 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 08=0080 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 09=0100 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 010=0200 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 011=0400 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 012=0800 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 013=1000 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 014=2000 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 015=4000 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0表4
d7 d6 d5 d4 d3 d2 d1 d0D(ss)= 000 0 0 0 0 0 0 0 OK010 0 0 0 0 0 0 1d0&d1 or d0&d7 短路020 0 0 0 0 0 1 0d1&d0 or d1&d2 短路040 0 0 0 0 1 0 0d2&d1 or d2&d3 短路080 0 0 0 1 0 0 0d3&d2 or d3&d4 短路100 0 0 1 0 0 0 0d4&d3 or d4&d5 短路200 0 1 0 0 0 0 0d5&d4 or d5&d6 短路400 1 0 0 0 0 0 0d6&d5 or d6&d7 短路801 0 0 0 0 0 0 0d7&d6 or d7&d0 短路∶ ∶∶ ∶∶ ∶∶ ∶表5
d7 d6d5 d4 d3d2 d1d0D(pp)= 000 0 0 0 0 0 0 0OK010 0 0 0 0 0 0 1 d0 開路020 0 0 0 0 0 1 0 d1 開路040 0 0 0 0 1 0 0 d2 開路080 0 0 0 1 0 0 0 d3 開路100 0 0 1 0 0 0 0 d4 開路200 0 1 0 0 0 0 0 d5 開路400 1 0 0 0 0 0 0 d6 開路801 0 0 0 0 0 0 0 d7 開路∶ ∶ ∶ ∶∶ ∶ ∶ ∶表6Add(ssss)= 0000 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 OK0001 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 a0&a1ora0&a14短路0002 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 a1&a0ora1&a2 短路0004 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 a2&a1ora2&a3 短路0008 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 a3&a2ora3&a4 短路0010 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 a4&a3ora4&a5 短路0020 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 a5&a4ora5&a6 短路0040 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 a6&a5ora6&a7 短路0080 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 a7&a6ora7&a8 短路0100 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 a8&a7ora8&a9 短路0200 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 a9&a8ora9&a10 短路0400 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 a10&a9ora10&a11短路0800 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0a11&a10ora11&a12短路1000 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0a12&a11ora12&a13短路2000 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0a13&a12ora13&a14短路4000 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0a14&a13ora14&a0 短路∶ ∶ ∶ ∶ ∶ ∶∶ ∶ ∶ ∶ ∶ ∶表7Add(pppp)=0000 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0OK0001 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 a0 開路0002 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 a1 開路0004 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 a2 開路0008 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 a3 開路0010 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 a4 開路0020 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 a5 開路0040 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 a6 開路0080 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 a7 開路0100 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 a8 開路0200 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 a9 開路0400 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 a10開路0800 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 a11開路1000 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 a12開路2000 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 a13開路4000 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 a14開路∶ ∶ ∶ ∶ ∶ ∶∶ ∶ ∶ ∶ ∶ ∶表8
權(quán)利要求
1．一種檢測靜態(tài)隨機存儲器的方法，其主要是針對靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的信號線(主要是地址線和數(shù)據(jù)線)開路和短路所作的全面性的檢測方法，其步驟包括(1)先檢測待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)中除地址線、數(shù)據(jù)線外的其他信號線，其包括電源線、地線、選通線、讀信號、寫信號；(2)如果待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)中經(jīng)檢測后，除地址線、數(shù)據(jù)線外的其他信號線，并未有故障時，則以重復測試特定地址單元數(shù)據(jù)的檢測方法，并以最大限度，來檢測該待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的數(shù)據(jù)線是否有開、短路的情形；(3)如果經(jīng)檢測后，該待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的數(shù)據(jù)線開、短路未有故障的情形時，則繼續(xù)針對其短路狀況，采用同時測試相關(guān)地址單元數(shù)據(jù)的檢測方法，以判定地址線是否有短路的情形；(4)最后，如果經(jīng)檢測后，該待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的地址線也未有短路的情形時，即針對其開路狀況，采用重復測試特定地址單元的檢測方法，以最大限度繼續(xù)檢測出其地址線是否有開路的情形。
2．如權(quán)利要求1所述的檢測靜態(tài)隨機存儲器的方法，其檢測數(shù)據(jù)線短路的步驟包括(1)首先，將待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)中所有的數(shù)據(jù)清除后，并予以歸零，再由原先儲存于檢測模塊中所預設的數(shù)據(jù)庫中任取一變量，再任取一地址設定為指定的地址；(2)再將與該變量相對應的數(shù)據(jù)數(shù)值寫入該指定的地址中，再由該指定地址讀出數(shù)據(jù)，并由該指定地址讀出數(shù)據(jù)后，將讀出的數(shù)據(jù)與原先寫入的數(shù)值加以比較，其比較方法是將讀出數(shù)據(jù)與原先寫入值來進行異或比較，若結(jié)果不為00，表示數(shù)據(jù)線有短路現(xiàn)象，即停止繼續(xù)測試的動作；(3)如結(jié)果為00，表示數(shù)據(jù)線未發(fā)現(xiàn)短路現(xiàn)象，則繼續(xù)判斷所取的變量是否小于設定值，如是，則將該變量值加1，并回到第(2)步驟，并重復執(zhí)行第(2)至第(3)步驟，直到變量值等于設定值，才繼續(xù)進行有關(guān)數(shù)據(jù)線開路的測試。
3．如權(quán)利要求1所述的檢測靜態(tài)隨機存儲器的方法，其檢測數(shù)據(jù)線開路的步驟包括(1)首先，將待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)中所有的數(shù)據(jù)清除后，并予以歸零，再設定待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)中其中一地址為指定地址；(2)再任取一數(shù)據(jù)，將表示該數(shù)據(jù)的數(shù)值寫入指定地址中，并由該地址讀出數(shù)據(jù)，將讀出的數(shù)據(jù)與原先寫入的數(shù)值加以比較后；以異或的方式比較，再判斷是否已達到所設定的循環(huán)次數(shù)，如未到設定的次數(shù)，即再判斷比較的結(jié)果是否等于00，如不等于00，即將其結(jié)果顯示出來，同時，停止測試動作；(3)如判斷比較的結(jié)果，等于00時，則將原先設定的循環(huán)次數(shù)減1，再取另一個數(shù)據(jù)值與原先所取數(shù)據(jù)值為互補交錯，取代原先所取的數(shù)據(jù)值后，再將表示該數(shù)據(jù)的數(shù)值寫入指定地址中，并由該地址讀出數(shù)據(jù)，將讀出的數(shù)據(jù)與原先寫入的數(shù)值以異或的方式比較，再判斷是否已達到所設定的循環(huán)次數(shù)，如未到設定的次數(shù)，即再判斷比較的結(jié)果是否等于00，如不等于00，則將結(jié)果顯示出來，同時，停止測試的動作；(4)如判斷比較的結(jié)果，等于00時，則將原先設定的循環(huán)次數(shù)減1，并重復第(2)(3)的步驟，直到設定的循環(huán)執(zhí)行完畢后，再繼續(xù)下一個測試動作。
4．如權(quán)利要求1所述的檢測靜態(tài)隨機存儲器的方法，其檢測地址線短路的方法包括(1)首先，將待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)中所有的數(shù)據(jù)清除后，并予以歸零，再由原先儲存于檢測模塊中所預設定的數(shù)據(jù)庫中任取一變量(a)；(2)再任取一數(shù)據(jù)，并將表示該數(shù)據(jù)的數(shù)值寫入第(1)步驟所取的變量中所對應地址中；(3)再由數(shù)據(jù)庫中另取一變量(b)，并由所取得的兩變量所對應的數(shù)值進行或運算后，得到一地址；(4)再由該地址讀出數(shù)據(jù)后，判斷所讀出的數(shù)據(jù)是否等于00，如等于00，表示地址線尚未發(fā)生短路現(xiàn)象，則繼續(xù)判斷第(3)步驟所取的變量(b)是否為設定值，如不是，則將該變量值(b)加1，并重復第(3)步驟，直至該變量(b)的數(shù)值等于設定值為止；(5)當?shù)?3)步驟所取的變量(b)至設定值時，則繼續(xù)判斷第(1)步驟所取的變量(a)是否為設定值，如不是，則將該變量值(a)加1，同時將D(00)寫入該變量相對應的地址中，并重復第(2)(3)步驟，直至該變量(a)至設定值后，即繼續(xù)進行下一個檢測動作；(6)如判斷由該地址所讀出的數(shù)據(jù)不等于00，則再判斷表示該地址的數(shù)值是否等于所取變量(a)相對應的地址數(shù)值，如等于，則回到第(4)步驟，如不等于，則將該地址與變量相對的地址采取異或比較，并將所得的結(jié)果顯示出來，即可得知那些地址發(fā)生短路，同時，停止測試動作。
5．如權(quán)利要求1所述的檢測靜態(tài)隨機存儲器的方法，其檢測地址線開路的方法包括(1)首先，將待測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)中所有的數(shù)據(jù)清除后，并予以歸零，再由原先儲存于檢測模塊中所預設的數(shù)據(jù)庫中的任取一變量；(2)再任取一數(shù)據(jù)，并將表示該數(shù)據(jù)的數(shù)值寫入該變量相對應的地址中，并由該地址中讀出數(shù)據(jù)，將讀出的數(shù)據(jù)與原先寫入的數(shù)值加以比較，若不相等，即可得知那些地址線發(fā)生開路，并將其顯示出來，同時，停止繼續(xù)測試動作；(3)如判斷比較的結(jié)果相等時，則將原先設定的循環(huán)次數(shù)減1，再取另一個數(shù)據(jù)，該數(shù)據(jù)線的數(shù)值與原先所取的數(shù)據(jù)數(shù)值為互補交錯，同時取代原先所取的數(shù)值后，再重復第(2)步驟動作，直至到達所設定的循環(huán)次數(shù)；(4)再判斷所取的變量是否已到設定值，如不是，則將D(00)寫入變量中，再將該變量加1，同時，重復第(2)(3)步驟，直至變量為設定值，即結(jié)束測試。
全文摘要
一種檢測靜態(tài)隨機存儲器的方法,其主要針對靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)電子線路開路的不確定性及短路的不良特性,以測試相關(guān)聯(lián)的地址單元數(shù)據(jù)的方法,來檢測靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的電子線路(主要是地址線和數(shù)據(jù)線)是否有開路或短路的情形,且根據(jù)檢測結(jié)果的指示,可得知該靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)發(fā)生故障的原因。
文檔編號G01R31/28GK1294304SQ99123158
公開日2001年5月9日 申請日期1999年10月25日 優(yōu)先權(quán)日1999年10月25日
發(fā)明者陳淮琰, 文涇濤 申請人:英業(yè)達集團(西安)電子技術(shù)有限公司