本發(fā)明涉及供電安全領(lǐng)域，特別涉及一種電芯模組的檢測(cè)方法、裝置及測(cè)試設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、在電芯制造技術(shù)領(lǐng)域，電芯模組的生產(chǎn)是一個(gè)至關(guān)重要的環(huán)節(jié)，其質(zhì)量直接影響到電芯整體的性能和安全性。在電芯模組的生產(chǎn)過(guò)程中，需要對(duì)每一個(gè)電芯單體進(jìn)行精確的采集和檢測(cè)，以確保所有電芯單體的質(zhì)量和性能達(dá)標(biāo)。目前的電芯模組檢測(cè)方式主要依賴人工操作，檢測(cè)人員通常使用高精度的萬(wàn)用表，逐一測(cè)量每串電芯模組的電壓，以判斷各個(gè)電芯單體之間的壓差是否在合格范圍內(nèi)。這種手動(dòng)測(cè)量的方法只能判斷電芯采集線路是否有斷線問(wèn)題，對(duì)于電芯模組中的虛焊等情況，無(wú)法準(zhǔn)確檢測(cè)出來(lái)。虛焊可能導(dǎo)致電芯模組在使用中出現(xiàn)性能不穩(wěn)定或安全隱患，最終可能使存在質(zhì)量問(wèn)題的電芯模組流入市場(chǎng)，從而影響電芯的整體性能和安全性。此外，現(xiàn)有的檢測(cè)方法無(wú)法實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，導(dǎo)致生產(chǎn)效率低下、檢測(cè)成本增加，進(jìn)而影響整體的生產(chǎn)效益。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的是提供一種電芯模組的檢測(cè)方法、裝置及測(cè)試設(shè)備，通過(guò)多次檢測(cè)電壓分析，不僅能夠檢測(cè)電芯模組是否存在斷線問(wèn)題，還能夠判斷是否存在虛焊的問(wèn)題，從而大幅提高了檢測(cè)的精度和可靠性；此外該過(guò)程通過(guò)處理器控制，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，消除了傳統(tǒng)手動(dòng)檢測(cè)中的局限性，提高了生產(chǎn)效率，降低了檢測(cè)成本。

2、一方面，本技術(shù)提供了一種電芯模組的檢測(cè)方法，應(yīng)用于測(cè)試設(shè)備中的處理器，所述測(cè)試設(shè)備還包括兩個(gè)開(kāi)關(guān)組，每個(gè)所述開(kāi)關(guān)組包括n個(gè)開(kāi)關(guān)，所述電芯模組包括n個(gè)串聯(lián)的電芯單體，第一開(kāi)關(guān)組中的第i開(kāi)關(guān)的第一端與第i電芯單體的第一輸出端連接，第二開(kāi)關(guān)組中的第i開(kāi)關(guān)的第一端與所述第i電芯單體的第二輸出端連接，所述第一開(kāi)關(guān)組中的n個(gè)所述開(kāi)關(guān)的第二端連接并作為第一公共端，所述第二開(kāi)關(guān)組中的n個(gè)所述開(kāi)關(guān)的第二端連接并作為第二公共端，1≤i≤n，n＞1，且i和n均為整數(shù)；所述電芯模組的檢測(cè)方法包括：

3、根據(jù)檢測(cè)需求確定開(kāi)關(guān)調(diào)整策略，根據(jù)所述開(kāi)關(guān)調(diào)整策略多次調(diào)整全部所述開(kāi)關(guān)的狀態(tài)；

4、在每次所述開(kāi)關(guān)的狀態(tài)調(diào)整完成后，獲取所述第一公共端和所述第二公共端之間的檢測(cè)電壓，并作為當(dāng)前開(kāi)關(guān)狀態(tài)對(duì)應(yīng)的一個(gè)所述電芯單體的輸出電壓或m個(gè)所述電芯單體串聯(lián)后的輸出電壓，1＜m≤n，且m為整數(shù)；

5、根據(jù)多次調(diào)整所述開(kāi)關(guān)的狀態(tài)獲取到的所述檢測(cè)電壓確定所述電芯模組的檢測(cè)結(jié)果。

6、可選的，根據(jù)所述開(kāi)關(guān)調(diào)整策略多次調(diào)整全部所述開(kāi)關(guān)的狀態(tài)，包括：

7、控制所述第一開(kāi)關(guān)組中的第一開(kāi)關(guān)閉合、及所述第二開(kāi)關(guān)組中第n開(kāi)關(guān)閉合，除所述第一開(kāi)關(guān)組中的第一開(kāi)關(guān)及所述第二開(kāi)關(guān)組中第n開(kāi)關(guān)之外的其它開(kāi)關(guān)均斷開(kāi)；

8、控制所述第一開(kāi)關(guān)組中的第i開(kāi)關(guān)和所述第二開(kāi)關(guān)組中的第i開(kāi)關(guān)閉合，除兩個(gè)所述第i開(kāi)關(guān)之外的其它開(kāi)關(guān)均斷開(kāi)，i按照時(shí)間順序從1逐步增大至n；

9、在每次所述開(kāi)關(guān)的狀態(tài)調(diào)整完成后，獲取所述第一公共端和所述第二公共端之間的檢測(cè)電壓，并作為當(dāng)前開(kāi)關(guān)狀態(tài)對(duì)應(yīng)的一個(gè)所述電芯單體的輸出電壓或m個(gè)所述電芯單體串聯(lián)后的輸出電壓，包括：

10、控制所述第一開(kāi)關(guān)組中的第一開(kāi)關(guān)閉合、及所述第二開(kāi)關(guān)組中第n開(kāi)關(guān)閉合后，獲取所述第一公共端和所述第二公共端之間的檢測(cè)電壓，并作為n個(gè)所述電芯單體串聯(lián)后的總電壓；

11、控制所述第一開(kāi)關(guān)組中的第i開(kāi)關(guān)和所述第二開(kāi)關(guān)組中的第i開(kāi)關(guān)閉合后，獲取所述第一公共端和所述第二公共端之間的檢測(cè)電壓，并作為所述第i電芯單體的單體電壓；

12、根據(jù)多次調(diào)整所述開(kāi)關(guān)的狀態(tài)獲取到的所述檢測(cè)電壓確定所述電芯模組的檢測(cè)結(jié)果，包括：

13、根據(jù)所述總電壓和每個(gè)所述電芯單體的單體電壓確定所述電芯模組的檢測(cè)結(jié)果。

14、可選的，根據(jù)所述總電壓和每個(gè)所述電芯單體的單體電壓確定所述電芯模組的檢測(cè)結(jié)果，包括：

15、將所述總電壓與預(yù)設(shè)總電壓范圍進(jìn)行比較，并根據(jù)所述總電壓的比較結(jié)果確定所述電芯模組中是否存在異常；

16、若所述電芯模組中存在異常，則將每個(gè)所述電芯單體的單體電壓與預(yù)設(shè)單體電壓范圍進(jìn)行比較，并根據(jù)每個(gè)所述電芯單體的單體電壓的比較結(jié)果確定所述電芯模組的異常位置。

17、可選的，根據(jù)所述總電壓的比較結(jié)果確定所述電芯模組中是否存在異常，包括：

18、若所述總電壓在預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)持續(xù)小于所述預(yù)設(shè)總電壓范圍中的最小值，則判定至少兩個(gè)所述電芯單體之間存在斷接，和/或，至少存在一個(gè)異常的電芯單體；

19、若所述總電壓在所述預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)未持續(xù)小于所述預(yù)設(shè)總電壓范圍中的最小值，且所述總電壓存在波動(dòng)，則計(jì)算所述總電壓波動(dòng)過(guò)程中最大電壓值和最小電壓值的第一差值，并判斷所述第一差值是否在預(yù)設(shè)波動(dòng)電壓范圍內(nèi)；

20、若所述第一差值不在所述預(yù)設(shè)波動(dòng)電壓范圍內(nèi)，則判定至少兩個(gè)所述電芯單體之間存在虛焊。

21、可選的，所述電芯模組還包括n+1個(gè)保險(xiǎn)絲，第i保險(xiǎn)絲的第一端與所述第i電芯單體的第一輸出端連接，第n+1保險(xiǎn)絲的第一端與第n個(gè)所述電芯單體的第二輸出端連接，所述第i保險(xiǎn)絲的第二端與所述第一開(kāi)關(guān)組中的第i開(kāi)關(guān)的第一端連接，所述第二開(kāi)關(guān)組中的第i開(kāi)關(guān)與第i+1保險(xiǎn)絲的第二端連接；

22、根據(jù)所述總電壓的比較結(jié)果確定所述電芯模組中是否存在異常，包括：

23、若所述總電壓在預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)持續(xù)小于所述預(yù)設(shè)總電壓范圍中的最小值，則判定至少兩個(gè)所述電芯單體之間存在斷接，和/或，至少存在一個(gè)異常的電芯單體，和/或，第一保險(xiǎn)絲斷開(kāi)，和/或，所述第n+1保險(xiǎn)絲斷開(kāi)；

24、若所述總電壓在所述預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)未持續(xù)小于所述預(yù)設(shè)總電壓范圍中的最小值，且所述總電壓存在波動(dòng)，則計(jì)算所述總電壓波動(dòng)過(guò)程中最大電壓值和最小電壓值的第一差值，并判斷所述第一差值是否在預(yù)設(shè)波動(dòng)電壓范圍內(nèi)；

25、若所述第一差值不在所述預(yù)設(shè)波動(dòng)電壓范圍內(nèi)，則判定至少兩個(gè)所述電芯單體之間存在虛焊，和/或，所述第一保險(xiǎn)絲虛斷，和/或，所述第n+1保險(xiǎn)絲虛斷。

26、可選的，所述測(cè)試裝置還包括設(shè)置于所述第一公共端和所述第二公共端之間的分壓通路；i=n時(shí)，獲取所述第一公共端和所述第二公共端之間的檢測(cè)電壓，并作為所述第i電芯單體的單體電壓之后，還包括：

27、控制所述開(kāi)關(guān)組中的全部開(kāi)關(guān)斷開(kāi)，控制所述分壓通路導(dǎo)通，并再次控制所述第一開(kāi)關(guān)組中的第i開(kāi)關(guān)和所述第二開(kāi)關(guān)組中的第i開(kāi)關(guān)閉合，除兩個(gè)所述第i開(kāi)關(guān)之外的其它開(kāi)關(guān)均斷開(kāi)，i按照時(shí)間順序從1逐步增大至n；

28、控制所述第一開(kāi)關(guān)組中的第i開(kāi)關(guān)和所述第二開(kāi)關(guān)組中的第i開(kāi)關(guān)同時(shí)閉合后，獲取所述分壓通路上的第i分壓值；

29、根據(jù)所述第i分壓值和所述第i單體電壓，確定所述第i電芯單體是否存在虛焊，和/或，所述第i保險(xiǎn)絲及所述第i+1保險(xiǎn)絲是否存在虛斷。

30、可選的，所述分壓通路包括第一分壓開(kāi)關(guān)和第二分壓開(kāi)關(guān)和第一電阻，所述第一電阻設(shè)置于所述第一分壓開(kāi)關(guān)的第一端和所述第二分壓開(kāi)關(guān)的第一端之間，所述第一分壓開(kāi)關(guān)的第二端與所述第一公共端連接，所述第二分壓開(kāi)關(guān)的第二端與所述第二公共端連接；

31、控制所述分壓通路導(dǎo)通，包括：

32、控制所述第一分壓開(kāi)關(guān)和所述第二分壓開(kāi)關(guān)閉合。

33、可選的，所述測(cè)試設(shè)備還包括第一總開(kāi)關(guān)和第二總開(kāi)關(guān)，所述第一總開(kāi)關(guān)的第一端與第一電芯單體的第一輸出端連接，所述第一總開(kāi)關(guān)的第二端與所述第一公共端連接，所述第二總開(kāi)關(guān)的第一端與第n電芯單體的第二輸出端連接，所述第二總開(kāi)關(guān)的第二端與所述第二公共端連接；

34、根據(jù)檢測(cè)需求確定開(kāi)關(guān)調(diào)整策略，根據(jù)所述開(kāi)關(guān)調(diào)整策略多次調(diào)整全部所述開(kāi)關(guān)的狀態(tài)之前，所述電芯模組的檢測(cè)方法還包括：

35、控制所述第一總開(kāi)關(guān)閉合、所述第二總開(kāi)關(guān)斷開(kāi)以及所述開(kāi)關(guān)組中的全部開(kāi)關(guān)斷開(kāi)，獲取所述第一公共端和所述第二公共端之間的檢測(cè)電壓，以確定所述第二開(kāi)關(guān)組中是否存在粘連的開(kāi)關(guān)；

36、控制所述第二總開(kāi)關(guān)閉合、所述第一總開(kāi)關(guān)斷開(kāi)以及所述開(kāi)關(guān)組中的全部開(kāi)關(guān)斷開(kāi)，獲取所述第一公共端和所述第二公共端之間的檢測(cè)電壓，以確定所述第一個(gè)開(kāi)關(guān)組中是否存在粘連的開(kāi)關(guān)；

37、若所述第一個(gè)開(kāi)關(guān)組和所述第二個(gè)開(kāi)關(guān)組中均不存在粘連的開(kāi)關(guān)，則進(jìn)入根據(jù)檢測(cè)需求確定開(kāi)關(guān)調(diào)整策略，根據(jù)所述開(kāi)關(guān)調(diào)整策略多次調(diào)整全部所述開(kāi)關(guān)的狀態(tài)的步驟。

38、另一方面，本技術(shù)提供了一種電芯模組檢測(cè)裝置，包括：

39、存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)程序；

40、處理器，用于在執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述所述的電芯模組的檢測(cè)方法的步驟。

41、另一方面，本技術(shù)提供了一種測(cè)試設(shè)備，包括電源、處理器和兩個(gè)開(kāi)關(guān)組；

42、所述電源分別與所述處理器的電源端及兩個(gè)所述開(kāi)關(guān)組的電源端連接；

43、每個(gè)所述開(kāi)關(guān)組包括n個(gè)開(kāi)關(guān)，第一開(kāi)關(guān)組中的第i開(kāi)關(guān)的第一端與所述電芯模組中的第i電芯單體的第一輸出端連接，第二開(kāi)關(guān)組中的第i開(kāi)關(guān)的第一端與所述第i電芯單體的第二輸出端連接，所述第一開(kāi)關(guān)組中的n個(gè)所述開(kāi)關(guān)的第二端連接并作為第一公共端，所述第二開(kāi)關(guān)組中的n個(gè)所述開(kāi)關(guān)的第二端連接并作為第二公共端，所述電芯模組包括n個(gè)串聯(lián)的電芯單體，1≤i≤n，n＞1，且i和n均為整數(shù)；

44、所述處理器，用于在執(zhí)行計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-8任一項(xiàng)所述的電芯模組的檢測(cè)方法的步驟。

45、本發(fā)明提供了一種電芯模組的檢測(cè)方法、裝置及測(cè)試設(shè)備。該方法通過(guò)在測(cè)試設(shè)備中設(shè)置兩個(gè)開(kāi)關(guān)組，每個(gè)開(kāi)關(guān)組包含n個(gè)開(kāi)關(guān)，這些開(kāi)關(guān)與電芯模組中的n個(gè)串聯(lián)電芯單體的輸出端相連接，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)電芯單體的檢測(cè)，通過(guò)依次調(diào)整各個(gè)開(kāi)關(guān)的狀態(tài)，并在每次調(diào)整后獲取第一公共端和第二公共端之間的檢測(cè)電壓，能夠準(zhǔn)確地獲取每個(gè)電芯單體或多個(gè)電芯單體串聯(lián)后的輸出電壓。通過(guò)多次檢測(cè)電壓分析，不僅能夠檢測(cè)電芯模組是否存在斷線問(wèn)題，還能夠判斷是否存在虛焊的問(wèn)題，從而大幅提高了檢測(cè)的精度和可靠性；此外該過(guò)程通過(guò)處理器控制，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，消除了傳統(tǒng)手動(dòng)檢測(cè)中的局限性，提高了生產(chǎn)效率，降低了檢測(cè)成本。