1.一種微波器件測試臺，其特征在于，包括：底座(1)，底座(1)上設(shè)置有定位板(2)，定位板(2)上方設(shè)有針板(3)，針板(3)貫穿設(shè)置有與針板(3)內(nèi)嵌入的電路轉(zhuǎn)接板連接的ICT探針(4)，電路轉(zhuǎn)接板通過低頻連接器連接電源、控制設(shè)備、程控外用表，電路轉(zhuǎn)接板還通過射頻連接器連接示波器；底座(1)上垂直設(shè)有滑桿(5)，所述針板(3)套于滑桿(5)上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種微波器件測試臺，其特征在于，所述底座上垂直設(shè)有背板(8)，針板(3)上設(shè)置有推拉桿(6)，推拉桿(6)上套有定位環(huán)(7)，所述定位環(huán)(7)固定與背板(8)上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種微波器件測試臺，其特征在于，所述推拉桿(6)上端鉸接有轉(zhuǎn)動把手(9)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種微波器件測試臺，其特征在于，所述底座兩側(cè)還設(shè)置有把手(10)。