本實(shí)用新型涉及射頻信號(hào)測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種微波器件測(cè)試臺(tái)。

背景技術(shù)：

對(duì)微波器件進(jìn)行微波參數(shù)測(cè)試是對(duì)器件的性能進(jìn)行確認(rèn)和評(píng)估的必不可少的重要環(huán)節(jié)。對(duì)微波器件進(jìn)行微波參數(shù)測(cè)試，需要將器件固定于專用的測(cè)試夾具上。在現(xiàn)有的微波器件參數(shù)測(cè)試的常用方法中，目前國(guó)內(nèi)一般的做法是，采用螺釘直接將微波器件固定在測(cè)試夾具上，直接螺釘緊固安裝對(duì)于少量和可靠性要求低的方法被業(yè)界通用。利用該方法可以實(shí)現(xiàn)對(duì)于微波器件微波參數(shù)測(cè)試的的測(cè)試，對(duì)于微波器件的生產(chǎn)測(cè)試、試驗(yàn)測(cè)試等領(lǐng)域具有牢固、簡(jiǎn)捷、接觸良好的作用。但該方法安裝螺釘占用時(shí)間長(zhǎng)，易劃傷器件表面，并直接劃傷器件底座，留下傷痕，引入測(cè)試損傷，多次安裝測(cè)試后，管底座上留下凹痕，損傷器件，影響外觀和交付。同時(shí)，對(duì)于不同的器件需要擰下螺釘更換不同的器件，并且每次更換器件都要反復(fù)松緊多個(gè)螺釘，浪費(fèi)了大量的時(shí)間，這大大降低了檢測(cè)效率。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的在于：傳統(tǒng)微波器件檢測(cè)裝置效率低，操作復(fù)雜的方式，提供一種微波器件測(cè)試臺(tái)。

本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案如下：

一種微波器件測(cè)試臺(tái)，包括：底座，底座上設(shè)置有定位板，定位板上方設(shè)有針板，針板貫穿設(shè)置有與針板內(nèi)嵌入的電路轉(zhuǎn)接板連接的ICT探針，電路轉(zhuǎn)接板通過(guò)低頻連接器連接電源、控制設(shè)備、程控外用表，電路轉(zhuǎn)接板還通過(guò)射頻連接器連接示波器；底座上垂直設(shè)有滑桿，所述針板套于滑桿上。

進(jìn)一步的，所述底座上垂直設(shè)有背板，針板上設(shè)置有推拉桿，推拉桿上套有定位環(huán)，所述定位環(huán)固定與背板上。

進(jìn)一步的，所述推拉桿上端鉸接有轉(zhuǎn)動(dòng)把手。

進(jìn)一步的，所述底座兩側(cè)還設(shè)置有把手。

本實(shí)用新型工作是將被測(cè)器件放在定位板上，定位板可以根據(jù)不同器件的外形進(jìn)行更換保持被測(cè)器件測(cè)試的穩(wěn)定性。通過(guò)轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)把手，使推拉桿在定位環(huán)內(nèi)向下移動(dòng)，進(jìn)而使針板沿著滑桿向下移動(dòng)，使得ICT探針與被測(cè)器件的測(cè)試部位接觸；電源通過(guò)低頻連接器、電路轉(zhuǎn)接板、ICT探針使被測(cè)器件保持工作，被測(cè)器件的工作信號(hào)又通過(guò)ICT探針、電路轉(zhuǎn)接板分別通過(guò)低頻連接器傳送至程控萬(wàn)用表和通過(guò)射頻連接器傳送至示波器，實(shí)現(xiàn)兩 路信號(hào)的測(cè)量。測(cè)試完畢后再方向轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)把手使針板離開(kāi)被測(cè)器件。

綜上所述，由于采用了上述技術(shù)方案，本實(shí)用新型的有益效果是：

1.可以快速裝夾、精確對(duì)位、連接可靠，可同時(shí)測(cè)量低頻、射頻電參數(shù)。

2.大大縮短測(cè)試時(shí)間，提高測(cè)試調(diào)試效率，減少測(cè)試誤差，必要時(shí)可通過(guò)連接計(jì)算機(jī)控制實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)試。

附圖說(shuō)明

圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例的正視圖。

圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例的側(cè)視圖。

圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例的俯視圖。

1為底座，2為定位板，3為針板，4為ICT探針，5為滑桿，6為推拉桿，7為定位環(huán)，8為背板，9為轉(zhuǎn)動(dòng)把手，10為把手。

具體實(shí)施方式

本說(shuō)明書(shū)中公開(kāi)的所有特征，除了互相排斥的特征和/或步驟以外，均可以以任何方式組合。

下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作詳細(xì)說(shuō)明。

圖1、圖2、圖3為本實(shí)用新型采用四通路測(cè)試時(shí)的夾具測(cè)試臺(tái)的實(shí)施例的各側(cè)視圖。

一種微波器件測(cè)試臺(tái)，包括：底座1，底座1上設(shè)置有定位板2，定位板2上方設(shè)有針板3，針板3貫穿設(shè)置有與針板3內(nèi)嵌入的電路轉(zhuǎn)接板連接的ICT探針4，電路轉(zhuǎn)接板通過(guò)低頻連接器連接電源、控制設(shè)備、程控外用表，電路轉(zhuǎn)接板還通過(guò)射頻連接器連接示波器；底座1上垂直設(shè)有滑桿5，所述針板3套于滑桿5上。所述底座上垂直設(shè)有背板8，針板3上設(shè)置有推拉桿6，推拉桿6上套有定位環(huán)7，所述定位環(huán)7固定與背板8上。所述推拉桿6上端鉸接有轉(zhuǎn)動(dòng)把手9。所述底座兩側(cè)還設(shè)置有把手10。

實(shí)施例中針板使用3mm透明亞克力板，ICT探針型號(hào)為T(mén)EX039，電路轉(zhuǎn)接板通過(guò)50歐姆柔性同軸電纜連接到射頻連接器。