本發(fā)明涉及電路板檢測領(lǐng)域，尤其涉及一種電路板測試方法、裝置及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

pcb板(printedcircuitboard，印刷電路板)是電子工業(yè)的重要部件之一，其可以提供集成電路等各種電子元器件固定、裝配的機械支撐，實現(xiàn)集成電路等各種電子元器件之間的布線和電氣連接或電絕緣，提供所要求的電氣特性(如特性阻抗等)，并為自動焊錫提供阻焊圖形和為元件插裝、檢查、維修提供識別字符和圖形等。

如申請?zhí)枮?01610137314.5的專利申請中所公開的電路板檢測裝置，具有固定的x向?qū)к壓涂梢詘向?qū)к壣线\動的y向?qū)к?，測試探頭設(shè)置在y向?qū)к壣?，并可沿y向?qū)к夁\動。為了保證對被測電路板的全覆蓋，其x向?qū)к壓蛓向?qū)к壍拈L度不能小于被測電路板的邊長。其結(jié)構(gòu)復雜，并且只有一個測試探頭，不具備多點同時測試能力。按照現(xiàn)有技術(shù)的設(shè)計思路，即使設(shè)置有多個測試探頭，各測試探頭之間也難以做到各測試探頭之間不相互干擾。因此，有必要進行進一步研究。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題就在于：針對現(xiàn)有技術(shù)存在的技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種結(jié)構(gòu)簡單、操作方便、自動化程度高的電路板測試方法、裝置及系統(tǒng)。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提出的技術(shù)方案為：一種電路板測試方法，包括如下步驟：

s1.構(gòu)建電路板坐標系和測試部件坐標系；

s2.在電路板坐標系中確定待測點，并確定所述待測點在測試部件坐標系中的測試坐標；

s3.根據(jù)所述待測點在各測試部件坐標系中的坐標確定執(zhí)行測試動作的測試部件；

s4.根據(jù)所述待測點在所述測試部件中的測試坐標計算確定測試部件的動作參數(shù)，所述動作參數(shù)包括所述測試部件的旋轉(zhuǎn)角度；

s5.所述測試部件執(zhí)行所述動作參數(shù)，對所述待測點進行測試。

作為本發(fā)明的進一步改進，步驟s3包括為順序執(zhí)行的待測點確定執(zhí)行測試動作的測試部件和為同步執(zhí)行的待測點確定執(zhí)行測試動作的測試部件；

所述為順序執(zhí)行的待測點確定執(zhí)行測試動作的測試部件的判定依據(jù)包括：

a.分析各測試部件的測試范圍對所述待測點的覆蓋情況，選擇覆蓋所述待測點的測試部件；

b.分析各測試部件執(zhí)行所述待測點測試的執(zhí)行成本，選擇所述執(zhí)行成本最低的測試部件；

所述為同步執(zhí)行的待測點確定執(zhí)行測試動作的測試部件的判定依據(jù)包括：

a1.根據(jù)各測試部件的測試范圍對所述同步執(zhí)行的待測點的覆蓋情況分配測試部件；

b1.當有多個測試部件均覆蓋所述同步執(zhí)行的待測點時，根據(jù)同步執(zhí)行的待測點在測試部件的測試部件坐標系中的坐標值分配測試部件。

作為本發(fā)明的進一步改進，所述執(zhí)行成本根據(jù)所述待測點的角度所確定，所述角度越大，執(zhí)行成本越高；

所述角度為所述待測點與所述測試部件坐標系原點連接線與所述測試部件坐標系x軸之間的夾角；

或者：

所述角度為所述測試部件的前一待測點與所述測試部件坐標系原點的連接線與所述待測點與所述測試部件坐標系原點的連接線之間的夾角。

作為本發(fā)明的進一步改進，所述b1中根據(jù)同步執(zhí)行的待測點在測試部件的測試部件坐標系中的坐標值分配測試部件包括：選定一個未分配待測點的測試部件為基準測試部件，評估同步執(zhí)行的待測點中各點在所述基準測試部件的測試部件坐標系中的坐標值，將坐標值最小的點分配給基準測試部件，重復上述過程，完成對同步執(zhí)行的待測點的分配；

所述坐標值根據(jù)待測點的y軸坐標所確定，當y軸坐標相同時，根據(jù)x軸坐標所確定。

作為本發(fā)明的進一步改進，步驟s4的具體步驟包括：

s4.1a.根據(jù)所述待測點在測試部件中的測試坐標，計算確定所述待測點與原點之間的目標距離，計算確定所述待測點與原點的連線與測試部件坐標系x軸之間的目標角度；

s4.2a.根據(jù)所述測試部件的當前旋轉(zhuǎn)角度和所述目標角度計算所述測試部件的旋轉(zhuǎn)角度；根據(jù)所述測試部件的當前步長和所述目標距離計算所述測試部件的驅(qū)動步長；

或者：

s4.1b.根據(jù)所述待測點在測試部件中的測試坐標計算確定所述測試部件的第一目標角度和第二目標角度；

s4.2b.根據(jù)所述測試部件當前的第一角度和所述第一目標角度計算第一旋轉(zhuǎn)角度；根據(jù)所述測試部件當前的第二角度和所述第二目標角度計算第二旋轉(zhuǎn)角度。

一種電路板測試裝置，包括底座、測試執(zhí)行組件和控制器；

所述底座上設(shè)置有電路板安裝區(qū)和電路板固定裝置；

所述測試執(zhí)行組件安裝在所述底座上，并可繞安裝點在水平面上轉(zhuǎn)動；

所述測試執(zhí)行組件包括立柱、測試臂和測試探頭；所述立柱垂直安裝在所述底座上，所述測試臂安裝在所述立柱上，所述測試探頭安裝在所述測試臂上；

所述控制器與所述測試執(zhí)行組件連接，用于控制所述測試執(zhí)行組件進行測試。

作為本發(fā)明的進一步改進，所述測試探頭可以在所述控制器的控制下在測試臂上移動。

作為本發(fā)明的進一步改進，所述測試臂包括第一旋轉(zhuǎn)臂和第二旋轉(zhuǎn)臂；所述第一旋轉(zhuǎn)臂的一端安裝在所述立柱上，并可繞其安裝點在水平面上可控轉(zhuǎn)動；所述第二旋轉(zhuǎn)臂的一端安裝在所述第一旋轉(zhuǎn)臂的另一端，所述第二旋轉(zhuǎn)臂可繞其安裝點在水平面上可控轉(zhuǎn)動；所述測試探頭固定安裝在所述第二旋轉(zhuǎn)臂的另一端。

作為本發(fā)明的進一步改進，所述測試執(zhí)行組件為1個，安裝在所述底座的中軸線區(qū)域。

作為本發(fā)明的進一步改進，所述測試執(zhí)行組件為2個，安裝在所述底座的中軸線區(qū)域，且分別位于所述電路板安裝區(qū)的兩側(cè)；

或者：安裝在所述底座的對角區(qū)域。

一種電路板測試系統(tǒng)，包括如上所述的電路板測試裝置和測試計算機；所述測試計算機與所述電路板測試裝置的控制器連接，用于向控制器改善測試指令，并接收測試信號。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的優(yōu)點在于：

1、本發(fā)明的電路板測試方法算法簡單，自動化程度高，可快速控制測試部件定位待測點，對待測點進行測試；根據(jù)待測點對執(zhí)行測試的測試部件進行任務分配，可有效防止各測試部件之間相互干擾。

2、本發(fā)明的電路板測試裝置及系統(tǒng)采用可旋轉(zhuǎn)的測試執(zhí)行組件，結(jié)構(gòu)簡單、成本低、測試執(zhí)行組件覆蓋面積大，容易防止各測試執(zhí)行組件之間的相互干擾。

附圖說明

圖1為本發(fā)明具體實施例測試方法流程示意圖。

圖2為本發(fā)明具體實施例計算旋轉(zhuǎn)臂轉(zhuǎn)動角度示意圖。

圖3為本發(fā)明具體實施例分配測試部件示意圖。

圖4為本發(fā)明具體實施例測試裝置結(jié)構(gòu)示意圖。

圖5為本發(fā)明具體實施例測試裝置結(jié)構(gòu)示意圖。

圖6為本發(fā)明具體實施例測試臂示意圖。

圖7為本發(fā)明具體實施例測試臂示意圖及不同使用狀態(tài)示意圖。

圖8為本發(fā)明具體實施例測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。

圖例說明：1、底座；2、測試執(zhí)行組件；21、立柱；22、測試臂；221、第一旋轉(zhuǎn)臂；222、第二旋轉(zhuǎn)臂；23、測試探頭；3、控制器。

具體實施方式

以下結(jié)合說明書附圖和具體優(yōu)選的實施例對本發(fā)明作進一步描述，但并不因此而限制本發(fā)明的保護范圍。

實施例一：

如圖1所示，本實施例的電路板測試方法，步驟為：s1.構(gòu)建電路板坐標系和測試部件坐標系；s2.在電路板坐標系中確定待測點，并確定待測點在測試部件坐標系中的測試坐標；s3.根據(jù)待測點在各測試部件坐標系中的坐標確定執(zhí)行測試動作的測試部件；s4.根據(jù)待測點在測試部件中的測試坐標計算確定測試部件的動作參數(shù)，動作參數(shù)包括測試部件的旋轉(zhuǎn)角度；s5.測試部件執(zhí)行動作參數(shù)，對待測點進行測試。

在電路板測試中，測試計算機中存儲有被測電路板的原理圖，以一個正四邊形的被測電路板為例，通常的，以被測電路板原理圖的一個角為坐標原點，以該角的一條側(cè)邊為x軸，另一側(cè)邊為y軸構(gòu)建電路板坐標系。如圖4中所示，電路板坐標系為xoy坐標系，對于被測電路板上的任意一個待測點，都可以確定其在電路板坐標系中的坐標。

同時，構(gòu)建測試部件坐標系，在本實施例中，以測試部件的安裝點o1為坐標原點，以與電路板一側(cè)邊平行的方向為x軸，構(gòu)建測試部件坐標系。如圖4中所示，由于只設(shè)置有一個測試部件，圖4中只需要確定與該測試部件對應的測試部件坐標系：x1o1y1坐標系。對于被測電路板上的任意一個待測點，同時還可以確定其在測試部件坐標系中的坐標。當然，如果設(shè)置有多個測試部件時，需要針對每個測試部件分別構(gòu)建測試部件坐標系。對于被測電路板上的任意一個待測點，其在電路板坐標系與測試部件坐標系中的坐標可根據(jù)兩坐標系之間的關(guān)系自由轉(zhuǎn)換。

在本實施例中，根據(jù)測試任務在原理圖中確定待測點，得到待測點在電路板坐標系中的坐標，并根據(jù)電路板坐標系與測試部件坐標系之間的轉(zhuǎn)換關(guān)系計算確定待測點在測試部件坐標系中的測試坐標。

在本實施例中，當僅有一個測試部件時，對于任意待測點的測試工作，毫無疑義地都由該測試部件執(zhí)行。當有一個以上測試部件時，則需要將測試工作分配至具體的測試部件執(zhí)行，以防止各測試部件之間發(fā)生碰撞。本實施例中，步驟s3包括為順序執(zhí)行的待測點確定執(zhí)行測試動作的測試部件和為同步執(zhí)行的待測點確定執(zhí)行測試動作的測試部件；為順序執(zhí)行的待測點確定執(zhí)行測試動作的測試部件的判定依據(jù)包括：a.分析各測試部件的測試范圍對待測點的覆蓋情況，選擇覆蓋待測點的測試部件；b.分析各測試部件執(zhí)行待測點測試的執(zhí)行成本，選擇執(zhí)行成本最低的測試部件。執(zhí)行成本根據(jù)待測點的角度所確定，角度越大，執(zhí)行成本越高；角度為待測點與測試部件坐標系原點連接線與測試部件坐標系x軸之間的夾角；或者：角度為測試部件的前一待測點與測試部件坐標系原點的連接線與待測點與測試部件坐標系原點的連接線之間的夾角。

本實施例中，順序執(zhí)行的待測點是指在同一時間，只對一個待測點進行測試，各待測點按照測試的時間順序進行測試。本實施例以具有兩個測試部件時確定待測點的測試部件為例進行說明，如圖3所示，第一個測試部件的測試坐標系如圖中x1o1y1所定義，其測試覆蓋范圍以是o1為圓心的扇面，第二個測試部件的測試坐標系如圖中x2o2y2所定義，其測試覆蓋范圍是以o2為圓心的扇面。待測點的執(zhí)行順序為b、c、a。對于其中的待測點b，只處于第一測試部件的測試范圍內(nèi)，毫無疑義的可以確定，待測點b的測試工作只能分配給第一測試部件。同理，對于待測點c的測試工作毫無疑義的分配給第二測試部件。但是對于待測點a，同時處于第一測試部件和第二測試部件的測試覆蓋范圍，需要進一步的進行任務分配。在本實施例中，進一步分析比較第一測試部件執(zhí)行對待測點a的測試成本與第二測試部件對待測點a的測試成本，選擇待測點a的測試工作分配至測試成本較小的測試部件。在本實施例中，執(zhí)行成本根據(jù)待測點的角度所確定，角度越大，執(zhí)行成本越高。角度為待測點與測試部件坐標系原點連接線與測試部件坐標系x軸之間的夾角。對于待測點a，第一執(zhí)行部件的執(zhí)行成本由∠ao1x1的大小所確定，第二執(zhí)行部件的執(zhí)行成本由∠ao2x2的大小所確定，很明顯，∠ao1x1小于∠ao2x2，因此，將待測點a的測試工作分配給第一測試部件。

當然，還可以通過其它方式來評估各測試部件的執(zhí)行成本。本實施例給出另一種角度確定方法。如圖3所示，待測點的執(zhí)行順序為b、c、a。點b為第一測試部件的前一待測點，即由第一測試部件已完成測試的上一個待測點，點c為第二測試部件的前一待測點，即由第二測試部件已完成測試的上一個待測點，點a是當前需要分配測試部件的待測點。以∠ao1b的大小來評估第一測試部件對待測點a進行測試的執(zhí)行成本，以∠ao2c的大小來評估第二測試部件對待測點a進行測試的執(zhí)行成本，由于∠ao1b小于∠ao2c，因此，將待測點a的測試工作分配給第一測試部件。

在本實施例中，為同步執(zhí)行的待測點確定執(zhí)行測試動作的測試部件的判定依據(jù)包括：a1.根據(jù)各測試部件的測試范圍對同步執(zhí)行的待測點的覆蓋情況分配測試部件；b1.當有多個測試部件均覆蓋同步執(zhí)行的待測點時，根據(jù)同步執(zhí)行的待測點在測試部件的測試部件坐標系中的坐標值分配測試部件。b1中根據(jù)同步執(zhí)行的待測點在測試部件的測試部件坐標系中的坐標值分配測試部件包括：選定一個未分配待測點的測試部件為基準測試部件，評估同步執(zhí)行的待測點中各點在基準測試部件的測試部件坐標系中的坐標值，將坐標值最小的點分配給基準測試部件，重復上述過程，完成對同步執(zhí)行的待測點的分配，坐標值根據(jù)待測點的y軸坐標所確定，當y軸坐標相同時，根據(jù)x軸坐標所確定。同步執(zhí)行的待測點是指在同一時刻，需要對兩個或兩個以上的待測點進行測量，由于一個測試部件在同一時刻只能對一個待測點進行測試，因此需要為同步執(zhí)行的待測點中的各點分別分配測試部件。如圖3中需要同時對b點和c點進行測試，或者同時對b點和a點進行測試，或者同時對a點和d點進行測試。在本實施例中，以具有兩個測試部件時確定待測點的測試部件為例進行說明。如圖3所示，第一個測試部件的測試坐標系如圖中x1o1y1所定義，其測試覆蓋范圍以是o1為圓心的扇面，第二個測試部件的測試坐標系如圖中x2o2y2所定義，其測試覆蓋范圍是以o2為圓心的扇面。同步執(zhí)行的待測點數(shù)也為2個。根據(jù)同步執(zhí)行的待測點的分布，分幾種情況：當同步執(zhí)行的待測點分別位于不同測試部件的覆蓋范圍時，如圖3中b點和c點，分別位于不同測試部件的覆蓋范圍，毫無疑問，將b點分配給第一個測試部件，將c點分配給第二個測試部件。第二種情況，當同步執(zhí)行的待測點部件的位于不同測試部件的覆蓋范圍，如圖3中的b點和a點，均位于第一個測試部件的測試范圍，但只有a點位于第二個測試部件的測試范圍，同樣，毫無疑問，將b點分配給第一個測試部件，將a點分配給第二個測試部件。第三種情況：如圖3的a點和d點，兩點均落入第一個測試部件和第二個測試部件的測試范圍，因此，不能僅通過測試部件的測試范圍對待測點進行分配。在本實施例中，由于一個測試部件在同一時刻只能對一個測試點進行測試，因此，只能將待測點分配給未分配待測點的測試部件。設(shè)第一測試部件和第二測試部件均未分配待測點，從中選擇一個測試部件為基準測試部件，如選第一測試部件為基準測試部件，當然，確定基準測試部件的方式可以有多種，比如隨機確定，或者對測試部件進行排序，按照順序所確定。選定好基準測試部件后，確定要分配的待測點在基準測試部件的測試部件坐標系中的坐標，設(shè)a點的坐標為(xa，ya)，d點的坐標為(xd，yd)，以y軸坐標確定待測點的坐標值，y軸坐標越小，坐標值越小，當y軸坐標相同時，根據(jù)x軸坐標確定待測點的坐標值，x軸坐標越小，坐標值越小。將坐標值最小的待測點分配給基準測試部件。在本實施例中，當ya<yd時，將a點分配給第一測試部件，否則將d點分配給第一測試部件；當ya＝y(tǒng)d時，如果xa<xd，將a點分配給第一測試部件，否則將d點分配給第一測試部件。在分配完a點后，則轉(zhuǎn)化為單個待測點的分配，將d點分配給第二測試部件即可。當有3個或3個以上同步執(zhí)行的待測點，同樣也具有3個或3個以上的測試部件時，參照上述方法，先在測試部件中確定一個基準測試部件，并將其中一個待測點分配給該基準測試部件，再在其余待測點和其余測試部件的基礎(chǔ)上執(zhí)行上述分配過程，直到完成對所有待測點的分配。

在本實施例中，在分配好待測點a的測試部件后，需要進一步計算測試部件的動作參數(shù)，并由測試部件執(zhí)行該動作參數(shù)，以完成對待測點a的測試。在本實施例中，根據(jù)測試部件類型的不同，有兩種不同的計算方法。第一種為：s4.1a.根據(jù)待測點在測試部件中的測試坐標，計算確定待測點與原點之間的目標距離，計算確定待測點與原點的連線與測試部件坐標系x軸之間的目標角度；s4.2a.根據(jù)測試部件的當前旋轉(zhuǎn)角度和目標角度計算測試部件的旋轉(zhuǎn)角度；根據(jù)測試部件的當前步長和目標距離計算測試部件的驅(qū)動步長。該類型的測試部件如圖6所示，測試部件只有一條測試臂，測試探頭可以在測試臂上移動。因此，只需要計算∠ao1x1的大小，和o1a長度。如果第一測試部件復位到初始狀態(tài)，即測試臂旋轉(zhuǎn)角度回到0度，測試探頭在測試臂上的位置回復到原點位置，則直接根據(jù)∠ao1x1驅(qū)動第一測試部件的旋轉(zhuǎn)角度，根據(jù)o1a長度驅(qū)動測試探頭的位移即可使得第一測試部件定位到待測點a，完成對待測點a的測試。如果第一測試部件處于前一待測點b的位置，可以確定第一測試部件當前的旋轉(zhuǎn)角度為∠bo1x1，測試探頭的位移為o1b，因此，通過簡單的計算即可得到第一測試部件需要旋轉(zhuǎn)的角度∠ao1b和測試探頭需要驅(qū)動的位移o1a-o1b。

第二種為：s4.1b.根據(jù)待測點在測試部件中的測試坐標計算確定測試部件的第一目標角度和第二目標角度；s4.2b.根據(jù)測試部件當前的第一角度和第一目標角度計算第一旋轉(zhuǎn)角度；根據(jù)測試部件當前的第二角度和第二目標角度計算第二旋轉(zhuǎn)角度。如圖7所示，測試部件有測試臂包括具有固定長度的第一旋轉(zhuǎn)臂和第二旋轉(zhuǎn)臂，第一旋轉(zhuǎn)臂和第二旋轉(zhuǎn)臂均可分別繞其原點獨立旋轉(zhuǎn)，測試探頭固定安裝在第二旋轉(zhuǎn)臂的前端，測試部件通過旋轉(zhuǎn)第一旋轉(zhuǎn)臂和第二旋轉(zhuǎn)臂來使測試探頭定位到其所覆蓋測試范圍內(nèi)的任意待測點。如圖2所示，測試部件坐標系為xoy，a為待測點，在測試部件坐標系中的坐標為(x，y)，第一旋轉(zhuǎn)臂的長度為r1，即ob的長度，第一旋轉(zhuǎn)臂繞o點轉(zhuǎn)動；第二旋轉(zhuǎn)臂的長度為r2，即ba的長度，第二旋轉(zhuǎn)臂可繞b點轉(zhuǎn)動。c點為待測點a在坐標系xoy中x軸上的垂點。通過平面幾何關(guān)系，可以很容易確定∠aoc的大小，線段oa的長度，同時，由于r1和r2為已知量，由平面幾何關(guān)系也可以很容易計算得到∠aob和∠oba的大小，并計算得到∠boc的大小，∠boc即第一旋轉(zhuǎn)臂的第一目標角度，∠oba即第二旋轉(zhuǎn)臂的第一目標角度。再根據(jù)第一旋轉(zhuǎn)臂在當前狀態(tài)的角度，即第一角度，即可方便的計算得到第一測試部件定位到待測點a第一旋轉(zhuǎn)臂還需要轉(zhuǎn)動的第一旋轉(zhuǎn)角度；根據(jù)第二旋轉(zhuǎn)臂在當前狀態(tài)的角度，即第二角度，即可方便的計算得到第一測試部件定位到待測點a第二旋轉(zhuǎn)臂還需要轉(zhuǎn)動的第一旋轉(zhuǎn)角度。

在本實施例中，計算角度的公式如下式所示：

∠oba＝arccos(((r1²+r2²-(x²+y²))/2×r1×r2)

上式中，x，y為待測點a的坐標值，r1為第一旋轉(zhuǎn)臂的長度，r2為第二旋轉(zhuǎn)臂的長度。

在本實施例中，通過上述方法，即可方便計算得到測試部件的動作參數(shù)，通過動作參數(shù)即可控制測試部件定位到電路板上的任意待測點。再控制測試探頭移動探針與待測點a接觸，采集測試信號，即可完成對待測點a的測試。

實施例二：

如圖4所示，本實施例的電路板測試裝置，包括底座1、測試執(zhí)行組件2和控制器3；底座1上設(shè)置有電路板安裝區(qū)和電路板固定裝置；測試執(zhí)行組件2安裝在底座1上，并可繞安裝點在水平面上轉(zhuǎn)動；測試執(zhí)行組件2包括立柱21、測試臂22和測試探頭23；立柱21垂直安裝在底座1上，測試臂22安裝在立柱21上，測試探頭23安裝在測試臂22上；控制器3與測試執(zhí)行組件2連接，用于控制測試執(zhí)行組件2進行測試。

在本實施例中，如圖6所示，測試臂22的一端安裝在立柱21上，并且可以在控制器3的控制下繞立柱21旋轉(zhuǎn)，安裝點即為測試臂22的轉(zhuǎn)動圓心。測試臂22上設(shè)置有導軌，測試探頭23安裝在測試臂22上，并且測試探頭23可以在控制器3的控制下在測試臂22上移動。通過測試臂22的轉(zhuǎn)動，以及測試探頭23在測試臂22上的移動，則可以對以轉(zhuǎn)動圓心為圓心，以測試臂22的長度為半徑的圓面積所覆蓋區(qū)域進行測試。

在本實施例中，通過測試臂22的旋轉(zhuǎn)和測試探頭23的移動，可以準確的定位到待測點。定位到待測點后，在控制器3的控制下測試探頭23向下移動探針，使探針與待測點接觸，采集測試信號，從而完成對待測點的測試。

在本實施例中，測試執(zhí)行組件2為1個，安裝在底座1的中軸線區(qū)域；優(yōu)選在中軸線上。如圖4中，o1點測試執(zhí)行組件2的安裝點，也即測試臂22的轉(zhuǎn)動圓心，o1y1為中軸線。采用這種安裝方式，測試臂22的長度只需要達到oo1的長度，即可實現(xiàn)對整個電路板的全覆蓋測試。

實施例三：

本實施例與實施例二基本相同，不同之處在于：測試執(zhí)行組件2的結(jié)構(gòu)如圖7所示，包括立柱21、測試臂22和測試探頭23。其中，測試臂22包括第一旋轉(zhuǎn)臂221和第二旋轉(zhuǎn)臂222；第一旋轉(zhuǎn)臂221的一端安裝在立柱21上，并可在控制器3的控制下繞其安裝點在水平面上可控轉(zhuǎn)動；第二旋轉(zhuǎn)臂222的一端安裝在第一旋轉(zhuǎn)臂221的另一端，第二旋轉(zhuǎn)臂222可在控制器3的控制下繞其安裝點在水平面上可控轉(zhuǎn)動；測試探頭23固定安裝在第二旋轉(zhuǎn)臂222的另一端。如圖7所示，分別示意了測試臂22在初始狀態(tài)(復位狀態(tài))、使用狀態(tài)一(不完全伸展)和使用狀態(tài)二(完全伸展)時的側(cè)視圖和俯視圖。測試臂22通過采用兩段式結(jié)構(gòu)，可以縮短測試臂22的長度，同時又能保證測試臂22具有較大的測試范圍。

實施例四：

本實施例與實施例三基本相同，不同之處在于測試執(zhí)行組件2為2個，安裝在底座1的對角區(qū)域，如圖5所示。當然，測試執(zhí)行組件2也可以安裝在底座1的中軸線區(qū)域，且分別位于電路板安裝區(qū)的兩側(cè)。

實施例五：

本實施例的電路板測試系統(tǒng)，如圖8所示，包括如上的電路板測試裝置和測試計算機；測試計算機與電路板測試裝置的控制器連接，用于向控制器改善測試指令，并接收測試信號。在本實施例中，電路板測試裝置可以是上述任意一種電路板測試裝置。

上述只是本發(fā)明的較佳實施例，并非對本發(fā)明作任何形式上的限制。雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上，然而并非用以限定本發(fā)明。因此，凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所做的任何簡單修改、等同變化及修飾，均應落在本發(fā)明技術(shù)方案保護的范圍內(nèi)。