本發(fā)明涉及一種檢查包裝設(shè)備，尤其涉及檢查包裝設(shè)備的具體結(jié)構(gòu)。

背景技術(shù)：

現(xiàn)有技術(shù)的檢查包裝設(shè)備檢測(cè)不夠充分，檢測(cè)效率低，實(shí)在有必要設(shè)計(jì)一種改進(jìn)的檢查包裝設(shè)備。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于：提供一種檢查包裝設(shè)備，其符合人機(jī)工程學(xué)要求。

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明的技術(shù)方案是：

一種檢查包裝設(shè)備，其包括機(jī)架、端子長(zhǎng)短檢測(cè)件、o型圈檢測(cè)件、電阻測(cè)試件、以及激光打標(biāo)件，其中所述機(jī)架包括第一平臺(tái)、平行于第一平臺(tái)的第二平臺(tái)、連接在第一平臺(tái)和第二平臺(tái)之間的若干連接桿以及自第二平臺(tái)向下延伸出的若干支撐腳，所述端子長(zhǎng)短檢測(cè)件、o型圈檢測(cè)件以及激光打標(biāo)件在第一平臺(tái)上，所述端子長(zhǎng)短檢測(cè)件用于檢測(cè)端子的長(zhǎng)度，所述o型圈檢測(cè)件用于檢測(cè)o型圈的密封狀態(tài)，所述電阻測(cè)試件用于檢測(cè)端子的電阻大小，所述激光打標(biāo)件用于產(chǎn)品激光打標(biāo)。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明有益效果如下：所述端子長(zhǎng)短檢測(cè)件用于檢測(cè)端子的長(zhǎng)度，所述o型圈檢測(cè)件用于檢測(cè)o型圈的密封狀態(tài)，所述電阻測(cè)試件用于檢測(cè)端子的電阻大小，所述激光打標(biāo)件用于產(chǎn)品激光打標(biāo)，從而所述檢查包裝設(shè)備的檢測(cè)充分，檢測(cè)效率高。

本發(fā)明進(jìn)一步的改進(jìn)如下：

進(jìn)一步地，所述o型圈檢測(cè)件設(shè)置在端子長(zhǎng)短檢測(cè)件的前方。

進(jìn)一步地，所述電阻測(cè)試件位于端子長(zhǎng)短檢測(cè)件的右方。

進(jìn)一步地，所述激光打標(biāo)件位于電阻測(cè)試件的右方。

進(jìn)一步地，所述檢查包裝設(shè)備還包括重量檢測(cè)機(jī)、滑動(dòng)導(dǎo)軌以及箱體，所述重量檢測(cè)機(jī)、滑動(dòng)導(dǎo)軌以及箱體設(shè)置在第一平臺(tái)上。

進(jìn)一步地，所述檢查包裝設(shè)備還包括設(shè)置在第二平臺(tái)上方的不良品箱。

進(jìn)一步地，所述檢查包裝設(shè)備還包括設(shè)置在第一平臺(tái)上的遮罩殼。

進(jìn)一步地，所述檢查包裝設(shè)備還包括設(shè)置在遮罩殼上的觸摸屏。

進(jìn)一步地，所述檢查包裝設(shè)備還包括設(shè)置在遮罩殼上的觸摸按鈕。

進(jìn)一步地，所述檢查包裝設(shè)備還包括設(shè)置在遮罩殼上的警示燈。

附圖說(shuō)明

圖1是本發(fā)明檢查包裝設(shè)備的立體圖。

圖2是本發(fā)明檢查包裝設(shè)備去掉遮罩殼后的立體圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步說(shuō)明。

如圖1至圖2所示，為符合本發(fā)明的一種檢查包裝設(shè)備100，其包括機(jī)架11、端子長(zhǎng)短檢測(cè)件12、o型圈檢測(cè)件13、電阻測(cè)試件14、以及激光打標(biāo)件15。

所述機(jī)架11包括第一平臺(tái)16、平行于第一平臺(tái)16的第二平臺(tái)17、連接在第一平臺(tái)16和第二平臺(tái)17之間的若干連接桿18以及自第二平臺(tái)17向下延伸出的若干支撐腳19。所述端子長(zhǎng)短檢測(cè)件12、o型圈檢測(cè)件13以及激光打標(biāo)件15在第一平臺(tái)16上，所述端子長(zhǎng)短檢測(cè)件12用于檢測(cè)端子的長(zhǎng)度，所述o型圈檢測(cè)件13用于檢測(cè)o型圈的密封狀態(tài)，所述電阻測(cè)試件14用于檢測(cè)端子的電阻大小，所述激光打標(biāo)件15用于產(chǎn)品激光打標(biāo)。

所述o型圈檢測(cè)件13設(shè)置在端子長(zhǎng)短檢測(cè)件12的前方。所述電阻測(cè)試件14位于端子長(zhǎng)短檢測(cè)件12的右方。所述激光打標(biāo)件15位于電阻測(cè)試件14的右方。所述檢查包裝設(shè)備100還包括重量檢測(cè)機(jī)21、滑動(dòng)導(dǎo)軌22以及箱體23，所述重量檢測(cè)機(jī)21、滑動(dòng)導(dǎo)軌22以及箱體23設(shè)置在第一平臺(tái)16上。

所述檢查包裝設(shè)備100還包括設(shè)置在第二平臺(tái)17上方的不良品箱24。所述檢查包裝設(shè)備100還包括設(shè)置在第一平臺(tái)16上的遮罩殼25。所述檢查包裝設(shè)備100還包括設(shè)置在遮罩殼25上的觸摸屏26。所述檢查包裝設(shè)備100還包括設(shè)置在遮罩殼25上的觸摸按鈕27。所述檢查包裝設(shè)備100還包括設(shè)置在遮罩殼25上的警示燈28。

檢查包裝設(shè)備100工作流程如下：

1，工站選用，4分度轉(zhuǎn)盤(pán)結(jié)構(gòu)，人工上下料，自動(dòng)測(cè)試、打標(biāo)。

2，人工把o-ring安裝在housing上

3，人工把產(chǎn)品放置到轉(zhuǎn)盤(pán)上、按下啟動(dòng)按鈕。

4，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行端子長(zhǎng)短及o型圈檢測(cè)。

5，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行耐壓測(cè)試及電阻測(cè)試。

6，對(duì)產(chǎn)品激光打標(biāo)，由于打標(biāo)位置在圓弧面上，治具需伺服帶動(dòng)旋轉(zhuǎn)。

7，產(chǎn)品有兩種規(guī)格，需換型

8，電阻測(cè)試規(guī)格參照對(duì)照表25度的電阻

9，耐壓測(cè)試在連接頭端子和鋁殼之間施加5正負(fù)3秒的200v直流電壓，電阻值大于40兆歐或電流小于5微安

10，配置工控機(jī)，顯示器。

11，光柵保護(hù)，雙手觸摸按鈕啟動(dòng)，配置帶檢測(cè)廢品箱，工位節(jié)拍小于18秒。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明有益效果如下：所述端子長(zhǎng)短檢測(cè)件用于檢測(cè)端子的長(zhǎng)度，所述o型圈檢測(cè)件用于檢測(cè)o型圈的密封狀態(tài)，所述電阻測(cè)試件用于檢測(cè)端子的電阻大小，所述激光打標(biāo)件用于產(chǎn)品激光打標(biāo)，從而所述檢查包裝設(shè)備的檢測(cè)充分，檢測(cè)效率高。

本發(fā)明不局限于上述具體的實(shí)施方式，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員從上述構(gòu)思出發(fā)，不經(jīng)過(guò)創(chuàng)造性的勞動(dòng)，所作出的種種變換，均落在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。

技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開(kāi)了一種檢查包裝設(shè)備，其包括機(jī)架、端子長(zhǎng)短檢測(cè)件、O型圈檢測(cè)件、電阻測(cè)試件、以及激光打標(biāo)件，其中所述機(jī)架包括第一平臺(tái)、平行于第一平臺(tái)的第二平臺(tái)、連接在第一平臺(tái)和第二平臺(tái)之間的若干連接桿以及自第二平臺(tái)向下延伸出的若干支撐腳，所述端子長(zhǎng)短檢測(cè)件、O型圈檢測(cè)件以及激光打標(biāo)件在第一平臺(tái)上，所述端子長(zhǎng)短檢測(cè)件用于檢測(cè)端子的長(zhǎng)度，所述O型圈檢測(cè)件用于檢測(cè)O型圈的密封狀態(tài)，所述電阻測(cè)試件用于檢測(cè)端子的電阻大小，所述激光打標(biāo)件用于產(chǎn)品激光打標(biāo)，從而所述檢查包裝設(shè)備的檢測(cè)充分，檢測(cè)效率高。

技術(shù)研發(fā)人員：陳奎;劉新偉
受保護(hù)的技術(shù)使用者：蘇州司巴克自動(dòng)化設(shè)備股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.04.14
技術(shù)公布日：2017.07.28