本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種電路板及檢測(cè)方法。

背景技術(shù)：

pcb(printedcircuitboard，印制電路板)是電子設(shè)備中重要的電子部件，其可以作為電子元器件支撐體，也是是電子元器件連接的載體。目前，在pcb出廠之前通常需要對(duì)pcb的性能進(jìn)行測(cè)試，主要的做法即通過在pcb中嵌入傳輸線來跟蹤并檢測(cè)輸入pcb的信號(hào)的插入損耗，插入損耗越大，對(duì)傳輸信號(hào)的影響也就越大，傳輸效果越差。

目前，pcb中設(shè)置用專門用于設(shè)置檢測(cè)線路的獨(dú)立區(qū)域，該區(qū)域通常與pcb中用于設(shè)置其它元器件的區(qū)域隔離。而在實(shí)際應(yīng)用中，使用雙端檢測(cè)方法檢測(cè)pcb的插入損耗，為了提高測(cè)量的準(zhǔn)確度通常需要對(duì)傳輸線路進(jìn)行長時(shí)的跟蹤測(cè)試，這樣會(huì)使得用于跟蹤檢測(cè)的線路較長，在pcb的布線區(qū)域的面積較大，從而縮減了pcb用于布置其它電子元器件的資源空間，導(dǎo)致pcb的利用率較低。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明實(shí)施例提供一種電路板及檢測(cè)方法，用于解決電子設(shè)備中因設(shè)置用于測(cè)量插入損耗的測(cè)試線所導(dǎo)致的pcb的利用率較低的技術(shù)問題。

第一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種電路板，包括：

第一區(qū)域，設(shè)置有至少一個(gè)元器件及用于將所述至少一個(gè)元器件進(jìn)行相互連接的電路；

第二區(qū)域，設(shè)置有測(cè)試線，所述測(cè)試線包括第一端和第二端，所述第一端用于與連接器相連，所述第二端為開放端；

其中，當(dāng)所述測(cè)試線的第一端通過所述連接器與測(cè)試設(shè)備相連時(shí)，通過所述測(cè)試設(shè)備測(cè)試所述電路板的插入損耗和/或所述測(cè)試線的阻抗。

可選的，若所述測(cè)試設(shè)備為用于測(cè)試插入損耗的設(shè)備，當(dāng)所述測(cè)試設(shè)備與所述第一端連接時(shí)，向所述測(cè)試線發(fā)送的測(cè)試信號(hào)時(shí)，所述測(cè)試信號(hào)沿所述測(cè)試線傳輸，并在所述第二端發(fā)生反射返回所述第一端，所述測(cè)試設(shè)備根據(jù)傳輸過程中所述測(cè)試信號(hào)的傳輸特征信息確定所述電路板的插入損耗。

可選的，所述測(cè)試信號(hào)的頻率范圍為(0，15ghz]。

可選的，所述連接器通過導(dǎo)線與測(cè)試設(shè)備相連，所述導(dǎo)線的寬度與所述測(cè)試線的阻抗相關(guān)。

可選的，所述導(dǎo)線的阻抗與所述測(cè)試線的阻抗相匹配。

可選的，所述測(cè)試線的阻抗為50歐姆。

可選的，所述測(cè)試線的長度小于等于13cm。

可選的，所述第一區(qū)域的面積大于所述第二區(qū)域的面積。

第二方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種檢測(cè)方法，包括：

通過連接器將電路板的測(cè)試線的第一端與測(cè)試設(shè)備連接；其中，所述測(cè)試線包括所述第一端及與所述第一端相對(duì)的第二端，所述第二端為開放端；

通過所述測(cè)試設(shè)備向所述測(cè)試線的第一端發(fā)送測(cè)試信號(hào)，確定述測(cè)試信號(hào)在所述測(cè)試線中傳輸時(shí)的傳輸特征信息；其中，所述測(cè)試信號(hào)沿所述測(cè)試線傳輸，并在所述第二端發(fā)生反射返回所述第一端；

根據(jù)所述傳輸特征信息計(jì)算所述電路板的插入損耗和/或阻抗。

本發(fā)明實(shí)施例中，電路板包括第一區(qū)域和第二區(qū)域，第一區(qū)域設(shè)置有至少一個(gè)元器件及用于將至少一個(gè)元器件進(jìn)行相互連接的電路，第二區(qū)域設(shè)置有測(cè)試線，該測(cè)試線包括第一端和第二端，其中，第一端用于與連接器相連，第二端為開放端，當(dāng)?shù)谝粶y(cè)試設(shè)備通過連接器與測(cè)試線的第一端相連時(shí)，第一測(cè)試設(shè)備發(fā)送的測(cè)試信號(hào)沿所測(cè)試線傳輸，并在第二端發(fā)生反射返回第一端，第一測(cè)試設(shè)備根據(jù)檢測(cè)的測(cè)試線中測(cè)試信號(hào)的損耗即可確定電路板的插入損耗，故本發(fā)明實(shí)施例通過采用單端測(cè)試方式測(cè)試電路板的插入損耗，從而降低電路板中布置的測(cè)試線的長度，減少測(cè)試線在電路板中占用的面積，提高電路板的資源利用率。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實(shí)施例中電路板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明實(shí)施例中電路板的測(cè)試線的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本發(fā)明實(shí)施例中測(cè)試線上發(fā)射信號(hào)的示意圖；

圖4為本發(fā)明實(shí)施例中測(cè)試電路板的插入損耗的示意圖；

圖5為本發(fā)明實(shí)施例中檢測(cè)方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

另外，本文中術(shù)語“和/或”，僅僅是一種描述關(guān)聯(lián)對(duì)象的關(guān)聯(lián)關(guān)系，表示可以存在三種關(guān)系，例如，a和/或b，可以表示：單獨(dú)存在a，同時(shí)存在a和b，單獨(dú)存在b這三種情況。另外，本文中字符“/”，一般表示前后關(guān)聯(lián)對(duì)象是一種“或”的關(guān)系。

下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明優(yōu)選的實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)說明。

如圖1所示，本發(fā)明實(shí)施例提供一種電路板，該電路板包括第一區(qū)域和第二區(qū)域，第一區(qū)域中設(shè)置有至少一個(gè)元器件及用于將所述至少一個(gè)元器件進(jìn)行相互連接的線路，第二區(qū)域設(shè)置有預(yù)設(shè)長度的測(cè)試線，該測(cè)試線包括第一端和第二端(圖1中未示出)，第一端可以用于與連接器相連，第二端為開放端。

本發(fā)明實(shí)施例中，電路板可以是pcb，pcb是重要的電子部件，是電子元器件的支撐體，也是電子元器件電氣連接的載體。

在實(shí)際應(yīng)用中，在電路板出廠前，通常會(huì)對(duì)電路板進(jìn)行測(cè)量，以保證其正常的性能。通常來說，電路板上會(huì)設(shè)置有一個(gè)與實(shí)際線路所處的區(qū)域分離的測(cè)試區(qū)域，該測(cè)試區(qū)域中設(shè)置有工測(cè)試的傳輸線，即本發(fā)明實(shí)施例中所稱的測(cè)試線。但由于同類印制板的一致性，測(cè)試區(qū)域的傳輸線的特性與電路板中電子元器件之間的傳輸線具有相同的電路特性。

本發(fā)明實(shí)施例中，電路板的第一區(qū)域可以是電路板中用于設(shè)置實(shí)際電子元器件的區(qū)域，第二區(qū)域可以是用于對(duì)電路板的傳輸線的阻抗和插入損耗進(jìn)行監(jiān)控的區(qū)域，以確保線路在實(shí)際電路中能夠滿足設(shè)計(jì)要求。通常來說，第一區(qū)域的面積大于等于第一區(qū)域的面積。

可選的，電路板的第一區(qū)域和第二區(qū)域可以是分離的，例如在電路板上設(shè)置完成電子元器件和路線后，可在空余區(qū)域設(shè)置傳輸線作為測(cè)試區(qū)域。或者，第一區(qū)域和第二區(qū)域可以是作為一個(gè)整體的區(qū)域，例如測(cè)試線可以是設(shè)置在實(shí)際電路所在的電路板區(qū)域，而無需一定劃分出設(shè)置測(cè)試線的區(qū)域，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以根據(jù)實(shí)際需求進(jìn)行設(shè)置，本發(fā)明實(shí)施例對(duì)此不作具體限制。

在實(shí)際應(yīng)用中，第一區(qū)域的電子元器件可以包括電阻、電容器、電位器、電子管、機(jī)電元件、連接器、半導(dǎo)體分立器件、集成電路等等，各電子元器件之間可以存在的傳輸線。

本發(fā)明實(shí)施例中，第二區(qū)域中的測(cè)試線可以是傳輸線，電路板內(nèi)的傳輸線有微帶線和帶狀線兩種基本的拓?fù)漕愋?，?dāng)電路板在外層布線時(shí)，它的結(jié)構(gòu)呈非對(duì)稱性，稱此類布線為微帶線拓?fù)?，微帶線包括單微帶線和埋入式結(jié)構(gòu)形式。當(dāng)電路板在內(nèi)層布線時(shí)，常被稱為帶狀線，帶狀線包括單、雙、對(duì)稱或非對(duì)稱等結(jié)構(gòu)形式。

在實(shí)際應(yīng)用中，電路板中用到的傳輸線是由埋入或者附著在具有一個(gè)或多個(gè)參考平面的絕緣材料上的導(dǎo)電跡線構(gòu)成的，導(dǎo)電跡線一般使用銅材料，當(dāng)然也可以根據(jù)需求使用其它材料，本發(fā)明實(shí)施例對(duì)此不作具體限制。

理想的傳輸線的電阻應(yīng)該為零，但實(shí)際傳輸線總是有一些非零的電阻，如小的串聯(lián)電阻，其會(huì)引起傳輸信號(hào)的衰減和畸變。信號(hào)衰減意味著當(dāng)不同頻率的信號(hào)傳輸時(shí)，其衰減程度不同。所以，當(dāng)邊沿快速變化的信號(hào)經(jīng)過一段長傳輸線之后，輸出信號(hào)的上升邊將邊長，這種由傳輸線損耗引起的上升便退化將會(huì)影響信號(hào)的位錯(cuò)誤率和傳輸質(zhì)量。

在實(shí)際應(yīng)用中，電路板傳輸線信號(hào)損耗來源為材料的導(dǎo)體損耗和介質(zhì)損耗，同樣也受到銅箔電阻、銅箔粗造度、輻射損耗、阻抗、串?dāng)_等因素影響。電路板的損耗通常用插入損耗和回波損耗來表征。本發(fā)明實(shí)施例中主要以測(cè)試電路板的插入損耗為例進(jìn)行說明。

本發(fā)明實(shí)施例中，電路板中的測(cè)試線包括第一端和第二端，如圖2所示，其中，測(cè)試線的第二端可為開放端，第一端可以與連接器連接，圖2所示測(cè)試線，其第一端與連接器相連，在實(shí)際生產(chǎn)中，出廠的電路板本身通常未配置有連接器。該連接器可以是用于連接兩個(gè)有源器件的器件，從而傳輸電流或信號(hào)等。例如，可以使用sma系列視頻同軸連接器，它適用于頻率范圍直至26.5ghz的微波領(lǐng)域的應(yīng)用，應(yīng)用范圍如電信通訊、網(wǎng)絡(luò)、無線通訊以及檢測(cè)和測(cè)量儀器，它具有頻帶寬、性能優(yōu)、高可靠、壽命長的特點(diǎn)。

本發(fā)明實(shí)施例中，可將測(cè)試設(shè)備通過連接器與測(cè)試線的第一端相連，進(jìn)而測(cè)試設(shè)備可以向測(cè)試線發(fā)出相應(yīng)頻率的測(cè)試信號(hào)，測(cè)試信號(hào)將沿測(cè)試線傳輸，并在開放的第二端發(fā)生反射返回第一端，測(cè)試信號(hào)的傳輸路徑如圖2中虛線及箭頭方向所示，進(jìn)而，通過測(cè)試設(shè)備通過分析可以確定傳輸線的傳輸特性，進(jìn)而根據(jù)測(cè)試得到的測(cè)試信號(hào)的傳輸特征信息可確定電路板的插入損耗及阻抗，實(shí)現(xiàn)將對(duì)電路板的插入損耗和阻抗測(cè)試融合在一個(gè)測(cè)試線路中，效率較高，同時(shí)采用單端的測(cè)試方式，布線區(qū)域較少，減少了在電路板中的占用區(qū)域。

可選的，根據(jù)測(cè)試需求的不同，測(cè)試線通過連接器連接的測(cè)試設(shè)備可能不同。通常來說，在需要測(cè)試電路板的阻抗特性時(shí)，測(cè)試設(shè)備可以是時(shí)域反射波形(timedomainreflection，tdr)測(cè)試儀器，而在需要測(cè)試電路板的插入損耗時(shí)，測(cè)試設(shè)備可以是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(vectornetworkanalyzer，vna)，vna可以在高達(dá)幾十ghz的頻率范圍內(nèi)通過正弦波掃頻的方式精確測(cè)量傳輸通道對(duì)不同頻率的反射和傳輸特性，所以在進(jìn)行高速傳輸通道分析時(shí)主要會(huì)用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀去進(jìn)行測(cè)量，有助于提高準(zhǔn)確性。

在實(shí)際用于中，被測(cè)系統(tǒng)對(duì)于不同頻率正弦波的反射和傳輸特性可以用s參數(shù)(s-parameter)表示，s參數(shù)描述的是被測(cè)件對(duì)于不同頻率的正弦波的傳輸和反射的特性。如果我們能夠得到傳輸通道對(duì)于不同頻率的正弦波的反射和傳輸特性，理論上我們就可以預(yù)測(cè)真實(shí)的數(shù)字信號(hào)經(jīng)過這個(gè)傳輸通道后的影響，因?yàn)檎鎸?shí)的數(shù)字信號(hào)在頻域上看可以認(rèn)為是由很多不同頻率的正弦波組成的。

對(duì)于一個(gè)單端的傳輸線來說，其包含4個(gè)s參數(shù)：s11、s22、s21、s12。s11和s22分別反映的是1端口和2端口對(duì)于不同頻率正弦波的反射特性，s21反映的是從1端口到2端口的不同頻率正弦波的傳輸特征信息，s12反映的是從2端口到1端口的不同頻率正弦波的傳輸特性。

本發(fā)明實(shí)施例中，測(cè)試設(shè)備與測(cè)試線的第一端連接時(shí)，發(fā)送的測(cè)試信號(hào)可以是具有一定頻率的正弦波，例如測(cè)試信號(hào)可以是頻率處于(0，15ghz]的正弦波信號(hào)。

在測(cè)試過程中，可由測(cè)試設(shè)備vna與測(cè)試線連續(xù)并發(fā)送正弦波信號(hào)，正弦波信號(hào)由第一端進(jìn)入測(cè)試線并沿測(cè)試線傳輸，當(dāng)傳輸至開放的第二端時(shí)發(fā)送反射返回第一端，則測(cè)試設(shè)備通過對(duì)測(cè)試信號(hào)在傳輸過程中的傳輸特性信息，如傳輸通道對(duì)不同頻率的測(cè)試信號(hào)的反射信息和傳輸信息等的分析，可以計(jì)算電路板中傳輸線對(duì)信號(hào)的損耗，即插入損耗。

在計(jì)算電路板的插入損耗時(shí)，由于測(cè)試用的傳輸線路的開口端引起測(cè)試信號(hào)的反射，該測(cè)試信號(hào)在傳輸線路中將有一輪循環(huán)的損失，所以，真正的插入損耗將是測(cè)試的損耗的一半。

在實(shí)際應(yīng)用中，通過對(duì)s參數(shù)做傅里葉逆變換可以得到tdr波形，通過時(shí)域反射波形可以反映出被測(cè)傳輸線上的阻抗變化情況。

因此，用vna對(duì)數(shù)字信號(hào)的傳輸通道進(jìn)行測(cè)量，一方面利用射頻微波的分析方法，可以在幾十ghz的頻率范圍內(nèi)得到非常精確的傳輸通道的特性；另一方面，通過對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行一些簡單的時(shí)域變換，我們就可以分析出通道上的阻抗變化、對(duì)真實(shí)信號(hào)傳輸?shù)挠绊懙龋瑥亩鴰椭鷶?shù)字工程師在前期階段就可以判斷出背板、電纜、連接器、pcb等的好壞，而不必等到最后信號(hào)出問題時(shí)再去匆忙應(yīng)對(duì)。

本發(fā)明實(shí)施例中，通過在測(cè)試區(qū)設(shè)置單端的傳輸線，從而實(shí)現(xiàn)采用用單端檢測(cè)方法檢測(cè)電路板的插入損耗和阻抗，即將現(xiàn)有分別用于進(jìn)行插入損耗和阻抗檢測(cè)的兩條線路融合為一條線路，提高了測(cè)試效率。

本發(fā)明實(shí)施例中，采用單端檢測(cè)方法需要的測(cè)試線的長度相對(duì)于雙端檢測(cè)方法所使用的測(cè)試線的長度更短。一般來說，采用單端檢測(cè)方法所需的測(cè)試線路長度可以是雙端檢測(cè)方法所需的測(cè)試線路的長度的一半，從而可以降低布線所占用的測(cè)試區(qū)域，提高電路板的利用率。

可選的，電路板中設(shè)置的測(cè)試線的長度可以是小于等于13cm，約5英寸，以保證對(duì)測(cè)試信號(hào)能夠在測(cè)試線中進(jìn)行較長傳輸，有助于提高測(cè)量的精準(zhǔn)度。以及，通過線路的結(jié)合，采用單端檢測(cè)方式，利用同一測(cè)試線即可檢測(cè)電路板的插入損耗和阻抗，不需要分別設(shè)置用于測(cè)試阻抗的測(cè)試線及用于測(cè)試插入損耗的測(cè)試線。從而大大減少電路板中測(cè)試線所占用的區(qū)域，實(shí)現(xiàn)在提高測(cè)試效率的同時(shí)也降低了電路板的成本。

在實(shí)際應(yīng)用中，連接器與測(cè)試設(shè)備之間可以通過導(dǎo)線進(jìn)行連接，如電纜等，該導(dǎo)線的寬度可以與測(cè)試線的阻抗相關(guān)，測(cè)試線的阻抗可以是任意值。該導(dǎo)線的阻抗可以與測(cè)試線的阻抗相匹配，那么，在測(cè)試信號(hào)經(jīng)開放的第二端反射返回時(shí)，測(cè)試信號(hào)到達(dá)第一端時(shí)，由于阻抗匹配，測(cè)試信號(hào)將終止于電纜處。本發(fā)明實(shí)施例中，電路板中使用的測(cè)試線的阻抗可以是50歐姆，以便較好地適用于vna。

由于測(cè)試線的第二端開放，入射的測(cè)試信號(hào)(如正弦波信號(hào))從連接器(源)將沿著測(cè)試線達(dá)到達(dá)開放端，并反射回源端，所以會(huì)來回反復(fù)的振蕩，如圖3所示，其為反射的測(cè)試信號(hào)的示意圖，曲線1為反射的測(cè)試信號(hào)，曲線2為平滑后的信號(hào)對(duì)應(yīng)的阻抗。

需要說明的是，在實(shí)際計(jì)算傳輸線阻抗時(shí),傳輸線阻抗計(jì)算精度與線寬、線條距離參考平面的高度(介質(zhì)厚度)和介電常數(shù)，以及回路長度、印制線厚度、側(cè)壁形狀、阻焊層覆蓋范圍、同一個(gè)部件中混合使用的不同介質(zhì)等因素有關(guān)，精確的計(jì)算與仿真實(shí)際上是十分困難的。

由于制造過程中制造公差的影響,印制板材料會(huì)有不同的厚度和介電常數(shù),另外由于刻蝕的線寬可能與設(shè)計(jì)要求值也有所差異等，要獲得精確傳輸線阻抗往往也不是很容易的。通過仿真測(cè)試可知，若分別采用單端檢測(cè)方法與雙端檢測(cè)方法測(cè)量電路板的插入損耗，若測(cè)試設(shè)備輸入的測(cè)試信號(hào)的頻率處于(0，15ghz]，如圖4所示，兩種檢測(cè)方法的檢測(cè)結(jié)果基本一致，故本發(fā)明實(shí)施例中，通過對(duì)阻抗和插入損耗的測(cè)試線的融合，采用單端檢測(cè)方法進(jìn)行插入損耗的檢測(cè)也具有較高的準(zhǔn)確性，可靠性較高。

如圖5所示，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種檢測(cè)方法，用于檢測(cè)上述電路板的插入損耗，該方法可以描述如下。

s11：通過連接器將電路板的測(cè)試線的第一端與測(cè)試設(shè)備連接；其中，測(cè)試線包括第一端及與第一端相對(duì)的第二端，第二端為開放端；

s12：通過測(cè)試設(shè)備向測(cè)試線的第一端發(fā)送測(cè)試信號(hào)，確定述測(cè)試信號(hào)在測(cè)試線中傳輸時(shí)的傳輸特征信息；其中，測(cè)試信號(hào)沿測(cè)試線傳輸，并在第二端發(fā)生反射返回第一端；

s13：根據(jù)傳輸特征信息計(jì)算電路板的插入損耗和/或阻抗。

本發(fā)明實(shí)施例中，該電路板中設(shè)置有單端開口的測(cè)試線，通過將測(cè)試線的一端與相應(yīng)測(cè)試設(shè)備的連接，來對(duì)電路板的插入損耗及阻抗進(jìn)行檢測(cè)，減少測(cè)試線的布線區(qū)域，電路板的結(jié)構(gòu)請(qǐng)參見圖1-2及相應(yīng)的描述，此處不再贅述。

在實(shí)際應(yīng)用中，測(cè)試線可以是電路板中設(shè)置在測(cè)試區(qū)域的線路，其與電路板中其它區(qū)域的傳輸線具有相應(yīng)的特性。測(cè)試線包括用于與連接器連接的第一端及為開放的第二端，該連接器可以是sma系列視頻同軸連接器等，本發(fā)明實(shí)施例對(duì)此不作具體限制。

在測(cè)試過程中，測(cè)試人員可將測(cè)試設(shè)備通過連接器與測(cè)試線的第一端連接，該測(cè)試設(shè)備可以是用于測(cè)試電路板的插入損耗的設(shè)備，如vna，或者也可以是用于檢測(cè)傳輸線的設(shè)備，如tdr測(cè)試儀器。當(dāng)然，在實(shí)際應(yīng)用中，在由vna檢測(cè)電路板的插入阻抗時(shí)，基于獲取的s參數(shù)確定相應(yīng)的tdr波形，此時(shí)，也可分析獲得電路板傳輸線的阻抗情況。本發(fā)明實(shí)施例中以測(cè)試插入損耗的測(cè)試設(shè)備為vna為例進(jìn)行說明。

在電路板的測(cè)試線連接測(cè)設(shè)備vna后，測(cè)試設(shè)備vna向測(cè)試線發(fā)送正弦波信號(hào)，正弦波信號(hào)從第一端開始沿測(cè)試線進(jìn)行傳輸，傳輸達(dá)到第二端時(shí)，開放的第二端對(duì)測(cè)試信號(hào)進(jìn)行反射，測(cè)試信號(hào)返回第一端，由于阻抗匹配，反射的測(cè)試信號(hào)將在連接器處終止。其中，設(shè)置的測(cè)試線路的阻抗可以是50歐姆，或者也可以是75歐姆等等，測(cè)試線可以與測(cè)試設(shè)備與連接器之間的導(dǎo)線的阻抗匹配。

測(cè)試設(shè)備通過記錄測(cè)試信號(hào)傳輸過程中傳輸特征信息，即可分析確定電路板的插入損耗。由于測(cè)試用的傳輸線路的開口端引起測(cè)試信號(hào)的反射，該測(cè)試信號(hào)在傳輸線路中將有一輪循環(huán)的損失，所以，確定的電路板插入損耗將是測(cè)試的損耗的一半。

相應(yīng)的，在測(cè)試測(cè)試線的阻抗時(shí)，可以采用tdr測(cè)試儀器通過第一端與電路板進(jìn)行連接，從而測(cè)試測(cè)試線的阻抗。

本發(fā)明實(shí)施例中，可將測(cè)試設(shè)備通過連接器與測(cè)試線的第一端相連，進(jìn)而測(cè)試設(shè)備可以向測(cè)試線發(fā)出相應(yīng)頻率的測(cè)試信號(hào)，測(cè)試信號(hào)將沿測(cè)試線傳輸，并在開放的第二端發(fā)生反射返回第一端，進(jìn)而，通過測(cè)試設(shè)備通過分析可以確定傳輸線的傳輸特性，進(jìn)而根據(jù)測(cè)試得到的測(cè)試信號(hào)的傳輸特征信息可確定電路板的插入損耗及阻抗，實(shí)現(xiàn)將對(duì)電路板的插入損耗和阻抗測(cè)試融合在一個(gè)測(cè)試線路中，效率較高，同時(shí)采用單端的測(cè)試方式，布線區(qū)域較少，減少了在電路板中的占用區(qū)域。

前述圖1-4對(duì)應(yīng)實(shí)施例中的各種變化方式和具體實(shí)例同樣適用于本實(shí)施例的檢測(cè)方法，通過前述對(duì)電路板的詳細(xì)描述，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以清楚的知道本實(shí)施例中檢測(cè)方法的實(shí)施方法，所以為了說明書的簡潔，在此不再詳述。

本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員應(yīng)明白，本發(fā)明的實(shí)施例可提供為方法、系統(tǒng)、或計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。因此，本發(fā)明可采用完全硬件實(shí)施例、完全軟件實(shí)施例、或結(jié)合軟件和硬件方面的實(shí)施例的形式。而且，本發(fā)明可采用在一個(gè)或多個(gè)其中包含有計(jì)算機(jī)可用程序代碼的計(jì)算機(jī)可用存儲(chǔ)介質(zhì)(包括但不限于磁盤存儲(chǔ)器、cd-rom、光學(xué)存儲(chǔ)器等)上實(shí)施的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品的形式。

本發(fā)明是參照根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的方法、設(shè)備(系統(tǒng))、和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品的流程圖和/或方框圖來描述的。應(yīng)理解可由計(jì)算機(jī)程序指令實(shí)現(xiàn)流程圖和/或方框圖中的每一流程和/或方框、以及流程圖和/或方框圖中的流程和/或方框的結(jié)合?？商峁┻@些計(jì)算機(jī)程序指令到通用計(jì)算機(jī)、專用計(jì)算機(jī)、嵌入式處理機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備的處理器以產(chǎn)生一個(gè)機(jī)器，使得通過計(jì)算機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備的處理器執(zhí)行的指令產(chǎn)生用于實(shí)現(xiàn)在流程圖一個(gè)流程或多個(gè)流程和/或方框圖一個(gè)方框或多個(gè)方框中指定的功能的裝置。

這些計(jì)算機(jī)程序指令也可存儲(chǔ)在能引導(dǎo)計(jì)算機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備以特定方式工作的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)器中，使得存儲(chǔ)在該計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)器中的指令產(chǎn)生包括指令裝置的制造品，該指令裝置實(shí)現(xiàn)在流程圖一個(gè)流程或多個(gè)流程和/或方框圖一個(gè)方框或多個(gè)方框中指定的功能。

這些計(jì)算機(jī)程序指令也可裝載到計(jì)算機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備上，使得在計(jì)算機(jī)或其他可編程設(shè)備上執(zhí)行一系列操作步驟以產(chǎn)生計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的處理，從而在計(jì)算機(jī)或其他可編程設(shè)備上執(zhí)行的指令提供用于實(shí)現(xiàn)在流程圖一個(gè)流程或多個(gè)流程和/或方框圖一個(gè)方框或多個(gè)方框中指定的功能的步驟。

具體來講，本申請(qǐng)實(shí)施例中的檢測(cè)方法對(duì)應(yīng)的計(jì)算機(jī)程序指令可以被存儲(chǔ)在光盤，硬盤，u盤等存儲(chǔ)介質(zhì)上，當(dāng)存儲(chǔ)介質(zhì)中的與檢測(cè)方法對(duì)應(yīng)的計(jì)算機(jī)程序指令被一電子設(shè)備讀取或被執(zhí)行時(shí)，包括如下步驟：

通過連接器將電路板的測(cè)試線的第一端與測(cè)試設(shè)備連接；其中，所述測(cè)試線包括所述第一端及與所述第一端相對(duì)的第二端，所述第二端為開放端；

通過所述測(cè)試設(shè)備向所述測(cè)試線的第一端發(fā)送測(cè)試信號(hào)，確定述測(cè)試信號(hào)在所述測(cè)試線中傳輸時(shí)的傳輸特征信息；其中，所述測(cè)試信號(hào)沿所述測(cè)試線傳輸，并在所述第二端發(fā)生反射返回所述第一端；

根據(jù)所述傳輸特征信息計(jì)算所述電路板的插入損耗和/或阻抗。

顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。