技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種電路板及檢測方法，用于解決電子設(shè)備中因設(shè)置用于測量插入損耗的測試線所導(dǎo)致的電路板的利用率較低的技術(shù)問題。該電路板包括：第一區(qū)域，設(shè)置有至少一個(gè)元器件及用于將所述至少一個(gè)元器件進(jìn)行相互連接的電路；第二區(qū)域，設(shè)置有測試線，所述測試線包括第一端和第二端，所述第一端用于與連接器相連，所述第二端為開放端；其中，當(dāng)所述測試線的第一端通過所述連接器與測試設(shè)備相連時(shí)，通過所述測試設(shè)備測試所述電路板的插入損耗和/或所述測試線的阻抗。

技術(shù)研發(fā)人員：林朝煌;程曉光
受保護(hù)的技術(shù)使用者：聯(lián)想（北京）有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.03.27
技術(shù)公布日：2017.07.14