本發(fā)明涉及一種測(cè)定方法及其設(shè)備,特別是一種整精米率批量測(cè)定方法及其設(shè)備。
背景技術(shù):
隨著計(jì)算機(jī)視覺技術(shù)的發(fā)展,其在農(nóng)業(yè)領(lǐng)域上已得到廣泛的應(yīng)用(mccarthyandhancocketal.,2010;sakamotoandgitelsonetal.,2012;leeandlee,2013),在大米品質(zhì)的研究上也越來越多,包括米粒幾何特征(emadzadehandrazavietal.,2010;mebatsionandpaliwaletal.,2012;bornhorstandkostlanetal.,2013)、裂紋分析(lanandfangetal.,2002;shimizuandhaqueetal.,2008;linandchenetal.,2012)、堊白分析(yoshiokaandiwataetal.,2007;sunandliuetal.,2014)、透明度分析(fangandhuetal.,2015)等。
對(duì)于利用計(jì)算機(jī)視覺技術(shù)進(jìn)行大米整精米率檢測(cè)的研究也有一定的進(jìn)展,yadav,b.k.等人(yadavandjindal,2001)通過提取二維圖像中整精米和破碎米的長(zhǎng)度、周長(zhǎng)、投影面積等特征參數(shù),建立整精米率的定量估算模型,最小rmse為1.1%。;vandalen(vandalen,2004)利用平臺(tái)掃描和圖像分析技術(shù)檢測(cè)整精米和破碎米,結(jié)果表明,該方法在保證精度的同時(shí)比人工檢測(cè)縮短了大量時(shí)間。
然而缺少對(duì)整精米檢測(cè)方法系統(tǒng)的描述,如批量化設(shè)備的構(gòu)建、高效整精米檢測(cè)方法的描述。這些現(xiàn)有技術(shù)仍然處于理論研究階段,很多都是在理想情況下進(jìn)行精米率計(jì)算,而實(shí)際生產(chǎn)或測(cè)量過程中,無法將米粒排列整齊或者平鋪均勻,因此需要一種能夠?qū)嶋H運(yùn)用的整精米率批量測(cè)定方法。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種整精米率批量測(cè)定方法及其設(shè)備,它能夠在生產(chǎn)中快速準(zhǔn)確地獲取整精米率。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:
一種整精米率批量測(cè)定方法,其特征在于包含以下步驟:
步驟一:圖像獲取,將米粒通過振動(dòng)器均勻散落在傳送帶上,相機(jī)在正上方拍照獲取米粒初始圖像;
步驟二:圖像預(yù)處理,將米粒從背景中提取出來,并進(jìn)行去噪和平滑處理;
步驟三:分離粘連米粒,利用凹點(diǎn)檢測(cè)和凹點(diǎn)匹配分離粘連米粒;
步驟四:識(shí)別整精米,利用最小外接矩形法計(jì)算粒長(zhǎng),從而識(shí)別整精米;
步驟五:計(jì)算整精米率:利用整精米率公式hry=s_hr/s_total×100%計(jì)算整精米率。
進(jìn)一步地,所述步驟一中傳送帶采用黑色皮帶。
進(jìn)一步地,所述步驟一中相機(jī)垂直放置在傳送帶正上方30cm處,傳送帶勻速轉(zhuǎn)動(dòng),每隔5s拍攝一次。
進(jìn)一步地,所述步驟二具體為,通過自適應(yīng)閾值分割法將米粒從黑色背景中提取出來,對(duì)圖像中所有連通區(qū)域進(jìn)行標(biāo)記,噪聲的連通區(qū)域像素?cái)?shù)遠(yuǎn)小于米粒像素?cái)?shù),設(shè)置合適的閾值將噪聲點(diǎn)去除,最后,采用3*3像素模板對(duì)圖像進(jìn)行中值濾波實(shí)現(xiàn)米粒邊緣的平滑處理。
進(jìn)一步地,所述步驟三中凸點(diǎn)檢測(cè)具體為,設(shè)置合適的模板,選取坐標(biāo)值最小的米粒邊緣像素點(diǎn),以該點(diǎn)為中心延邊緣順時(shí)針行走,計(jì)算每個(gè)模板中米粒像素?cái)?shù)的占有率,ecmp值計(jì)算公式:
其中pf是米粒像素?cái)?shù),sm為模板尺寸。
進(jìn)一步地,所述步驟三中凸點(diǎn)匹配具體為,設(shè)置協(xié)同約束條件,達(dá)到多凹點(diǎn)的正確匹配:
1)以一個(gè)任意凹點(diǎn)a作為匹配的基本點(diǎn)bp,并設(shè)該bp為坐標(biāo)原點(diǎn)建立坐標(biāo)系,找到米粒邊緣與ecmp所用模板的交點(diǎn)m(a1,b1)、n(a2,b2),連接直線ma、na,匹配點(diǎn)mp需在ma與na所構(gòu)成的虛線區(qū)域內(nèi),f(x)代表虛線區(qū)域的范圍,公式表示為:
2)若在虛線區(qū)域內(nèi)有2個(gè)及以上mp,則距離bp最近的mp為真mp;
3)若虛線區(qū)域內(nèi)無一個(gè)mp,換下一個(gè)凹點(diǎn)重復(fù)1)、2)兩步驟,直至所有凹點(diǎn)匹配結(jié)束;
4)在所有凹點(diǎn)匹配完成后,將相匹配的點(diǎn)兩兩連線,利用自適應(yīng)閾值分割法實(shí)現(xiàn)米粒的最終分割。
進(jìn)一步地,所述步驟四具體為,將目標(biāo)米粒的輪廓按一定角度旋轉(zhuǎn)直至90度,在每旋轉(zhuǎn)一定角度的過程中,用水平放置的mer來和目標(biāo)輪廓進(jìn)行擬合,在旋轉(zhuǎn)了某個(gè)角度后,外接矩形的面積達(dá)到了最小,此時(shí)mer的長(zhǎng)度就為目標(biāo)米粒的長(zhǎng)度,然后通過圖像與米粒的縮放比例計(jì)算米粒的實(shí)際長(zhǎng)度。
進(jìn)一步地,所述步驟四圖像旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)計(jì)算公式為,
若圖像繞著原點(diǎn)(0,0)旋轉(zhuǎn),(x0,y0)為旋轉(zhuǎn)前的坐標(biāo),(x1,y1)為旋轉(zhuǎn)后的坐標(biāo),旋轉(zhuǎn)的公式為
若繞著點(diǎn)(a,b)旋轉(zhuǎn),先把坐標(biāo)平移到點(diǎn)(a,b),然后再旋轉(zhuǎn),最后再平移到新的原點(diǎn)坐標(biāo),點(diǎn)(c,d)是旋轉(zhuǎn)之后的中心:
一種整精米率批量測(cè)定設(shè)備,其特征在于:包含輸送帶、振動(dòng)器、料盤、相機(jī)和計(jì)算機(jī),料盤設(shè)置在輸送帶一端,振動(dòng)器設(shè)置在料盤上,相機(jī)垂直固定在輸送帶上方,相機(jī)與計(jì)算機(jī)連接,計(jì)算機(jī)內(nèi)設(shè)置有一種整精米率批量測(cè)定方法的軟件系統(tǒng)。
本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有以下優(yōu)點(diǎn)和效果:本發(fā)明提供了一種能夠在生產(chǎn)中實(shí)際應(yīng)用的整精米率批量測(cè)定方法,通過振動(dòng)器配合輸送帶,并用相機(jī)采集圖像進(jìn)行處理,本發(fā)明解決了米粒雜亂無章情況下的整精米率的測(cè)量,并實(shí)現(xiàn)了連續(xù)批量測(cè)量,提高了測(cè)量效率,并且測(cè)量精度高。
附圖說明
圖1是本發(fā)明的整精米率批量測(cè)定設(shè)備的示意圖。
圖2是本發(fā)明的凹點(diǎn)匹配的示意圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖并通過實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明,以下實(shí)施例是對(duì)本發(fā)明的解釋而本發(fā)明并不局限于以下實(shí)施例。
如圖所示,本發(fā)明的一種整精米率批量測(cè)定設(shè)備,包含輸送帶1、振動(dòng)器、料盤2、相機(jī)3和計(jì)算機(jī)4,料盤設(shè)置在輸送帶一端,振動(dòng)器設(shè)置在料盤上,相機(jī)垂直固定在輸送帶上方,相機(jī)與計(jì)算機(jī)連接。
一種整精米率批量測(cè)定方法,包含以下步驟:
步驟一:圖像獲取,將米粒通過振動(dòng)器均勻散落在傳送帶上,相機(jī)在正上方拍照獲取米粒初始圖像;
試驗(yàn)選擇兩個(gè)具有代表性的品種,分別為連粳7號(hào)(粳稻)和揚(yáng)兩優(yōu)6號(hào)(秈稻)。
本研究將帶有黑色背景的傳送帶(長(zhǎng):30cm,寬:25cm;電壓:220v;速度:60mm/s)作為實(shí)驗(yàn)利用的流動(dòng)載物臺(tái),待測(cè)米粒通過振動(dòng)器(電壓:220v,頻率:20hz)均勻落在傳送帶上,相機(jī)(nex-5r;sony,japan)垂直放置在傳送帶正上方30cm處,傳送帶勻速轉(zhuǎn)動(dòng),每隔5s拍攝一次。
步驟二:圖像預(yù)處理,在matlab軟件中利用im=imread(‘圖片路徑’)函數(shù)讀取待檢測(cè)圖像。將米粒從背景中提取出來,并進(jìn)行去噪和平滑處理;
試驗(yàn)所用的傳送帶是黑色皮帶,通過自適應(yīng)閾值分割法(ohtsu,1979)將米粒從黑色背景中提取出來。本研究通過對(duì)圖像中所有連通區(qū)域進(jìn)行標(biāo)記,噪聲的連通區(qū)域像素?cái)?shù)遠(yuǎn)小于米粒像素?cái)?shù),設(shè)置合適的閾值可將噪聲點(diǎn)去除。最后,采用3*3像素模板對(duì)圖像進(jìn)行中值濾波(koandyong,1991),實(shí)現(xiàn)米粒邊緣的平滑處理。
步驟三:分離粘連米粒,在matlab軟件中利用im=imread(‘圖片路徑’)函數(shù)讀取待檢測(cè)圖像。利用凹點(diǎn)檢測(cè)和凹點(diǎn)匹配分離粘連米粒;
凹點(diǎn)檢測(cè)
本研究提出一種邊緣中心模板比例法(ecmp,edgecentermodeproportionmethod),即設(shè)置合適的模板,選取坐標(biāo)值最小的米粒邊緣像素點(diǎn),以該點(diǎn)為中心延邊緣順時(shí)針行走,計(jì)算每個(gè)模板中米粒像素?cái)?shù)的占有率。ecmp值可以代表米粒邊緣的凹凸性,該值越大表示邊緣越凹,值越小表示邊緣越凸。ecmp值計(jì)算公式:
pf:pixelsofforeground.sm:sizeofmode.
凹點(diǎn)匹配
本研究在ecmp凹點(diǎn)檢測(cè)方法的基礎(chǔ)上通過設(shè)置協(xié)同約束條件,可以達(dá)到多凹點(diǎn)的正確匹配:
1.以一個(gè)任意凹點(diǎn)a作為匹配的基本點(diǎn)(bp,thebasicpoint),并設(shè)該bp為坐標(biāo)原點(diǎn)建立坐標(biāo)系,如圖(1)所示,找到米粒邊緣與ecmp所用模板的交點(diǎn)m(a1,b1)、n(a2,b2),連接直線ma、na,匹配點(diǎn)(mp,thematchpoint)需在ma與na所構(gòu)成的虛線區(qū)域內(nèi)。f(x)代表虛線區(qū)域的范圍,公式表示為:
2.若在虛線區(qū)域內(nèi)有2個(gè)及以上mp,則距離bp最近的mp為真mp;
3.若虛線區(qū)域內(nèi)無一個(gè)mp,換下一個(gè)凹點(diǎn)重復(fù)1、2規(guī)則,直至所有凹點(diǎn)匹配結(jié)束。
4、在所有凹點(diǎn)匹配完成后,將相匹配的點(diǎn)兩兩連線,利用自適應(yīng)閾值分割法(ohtsu,1979)實(shí)現(xiàn)米粒的最終分割。
步驟四:識(shí)別整精米,在matlab軟件中利用im=imread(‘圖片路徑’)函數(shù)讀取待檢測(cè)圖像。利用最小外接矩形法計(jì)算粒長(zhǎng),從而識(shí)別整精米;
利用最小外接矩形法(mer)(yingandwangetal.,2002)計(jì)算分割好的米粒長(zhǎng)度,它的基本思想是將目標(biāo)的輪廓按一定角度(如3度)旋轉(zhuǎn)90度,在每旋轉(zhuǎn)一定角度的過程中,用水平放置的mer來和目標(biāo)輪廓進(jìn)行擬合。在旋轉(zhuǎn)了某個(gè)角度后,外接矩形的面積達(dá)到了最小,此時(shí)mer的長(zhǎng)度就為目標(biāo)米粒的長(zhǎng)度,然后通過圖像與米粒的縮放比例計(jì)算米粒的實(shí)際長(zhǎng)度。
對(duì)于圖像的旋轉(zhuǎn),先分析圖像繞著原點(diǎn)(0,0)旋轉(zhuǎn)的情況,(x0,y0)為旋轉(zhuǎn)前的坐標(biāo),(x1,y1)為旋轉(zhuǎn)后的坐標(biāo)。旋轉(zhuǎn)的公式如下:
如果是繞著點(diǎn)(a,b)旋轉(zhuǎn),那么就先把坐標(biāo)平移到點(diǎn)(a,b),然后再旋轉(zhuǎn),最后再平移到新的原點(diǎn)坐標(biāo),點(diǎn)(c,d)是旋轉(zhuǎn)之后的中心:
步驟五:計(jì)算整精米率:利用整精米率公式hry=s_hr/s_total×100%計(jì)算整精米率。
在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中,整精米與凈稻谷試樣的質(zhì)量比值為整精米率,同一品種的水稻米粒密度和厚度差異不大,由m=ρv、v=sh可知,通過米粒的面積可以估測(cè)米粒的質(zhì)量。在二值圖像中,前景米粒像素為1,背景像素為0,所有前景米粒連通的像素和代表凈稻谷試樣的面積,所有長(zhǎng)度超過整精米平均長(zhǎng)度四分之三及以上的米粒連通像素?cái)?shù)代表整精米面積。整精米率計(jì)算公式:
hry=s_hr/s_total×100%
s_hr為整精米連通像素?cái)?shù)之和,s_total為所有米粒連通像素?cái)?shù)總和。
本說明書中所描述的以上內(nèi)容僅僅是對(duì)本發(fā)明所作的舉例說明。本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)所描述的具體實(shí)施例做各種修改或補(bǔ)充或采用類似的方式替代,只要不偏離本發(fā)明說明書的內(nèi)容或者超越本權(quán)利要求書所定義的范圍,均應(yīng)屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。