技術(shù)總結(jié)
一種在透射電子顯微鏡下快速精確測量小角晶界取向差的方法，其步驟為：采用透射電子顯微鏡雙傾桿傾轉(zhuǎn)樣品，使得坐標(biāo)系Ⅰ中晶粒Ⅰ的晶帶軸處在正帶軸位置，并采集晶粒Ⅰ此時的會聚束電子衍射花樣；保持透射電子顯微鏡的相機(jī)常數(shù)L和會聚束衍射條件的參數(shù)不變，采集坐標(biāo)系Ⅱ中晶粒Ⅱ的會聚束電子衍射花樣；使用軟件疊加所采集晶粒Ⅰ的菊池花樣和晶粒Ⅱ的菊池花樣；測量晶粒Ⅰ的菊池極與晶粒Ⅱ的菊池極的距離s，以及晶粒Ⅱ的菊池極相對晶粒Ⅰ的菊池極垂直于圖面的轉(zhuǎn)角γ；計(jì)算θ角，根據(jù)菊池線的幾何特性，θ＝arctan(s/L)＝s/L；采用公式(6)cosΘ＝(cosγ+cosγcosθ+cosθ?1)/2計(jì)算晶粒Ⅰ與晶粒Ⅱ的取向差。本發(fā)明不需要加裝硬件和軟件，可使用普通透射電子顯微鏡測量取向差。

技術(shù)研發(fā)人員：閆志剛;林耀軍
受保護(hù)的技術(shù)使用者：燕山大學(xué)
文檔號碼：201710146128
技術(shù)研發(fā)日：2017.03.13
技術(shù)公布日：2017.06.06