本發(fā)明涉及一種設(shè)備輻射干擾的評估方法，特別是涉及一種設(shè)備修改后輻射干擾的評估方法，屬于電磁兼容技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)：

任何設(shè)備工作時不能干擾其他設(shè)備的正常工作，這就是“電磁兼容”（emc）。為了確保產(chǎn)品的電磁兼容，現(xiàn)有emc法規(guī)要求產(chǎn)品的電磁干擾（emi）低于法規(guī)規(guī)定才能銷售，而確認產(chǎn)品是否符合emc法規(guī)規(guī)定的主要手段是對產(chǎn)品做傳導干擾和輻射干擾測試，這些測試必需在屏蔽室內(nèi)進行，以排除環(huán)境干擾對測試的影響。屏蔽室測試增加了測試的復(fù)雜程度和費用，增加了產(chǎn)品成本。

長期以來人們探索著通過兩種途徑來降低產(chǎn)品emc測試的費用。一是將產(chǎn)品放在野外的開闊場所測試，但是隨著電子設(shè)備的廣泛應(yīng)用，很難找到“干凈的沒有電磁干擾”的開闊場所。另外一條途徑，是從產(chǎn)品的傳導干擾推導出輻射干擾，將兩項測試減少為一項，測試費用因此降低一半以下。然而，至今為止還沒有一種方法能夠從設(shè)備的傳導干擾精確計算出產(chǎn)品的輻射干擾，其結(jié)果能夠被emc法規(guī)認可。

另一方面，當屏蔽室的標準測試結(jié)果表明一個設(shè)備的emi超標時，設(shè)備制造商必須修改設(shè)備以降低emi。期間需要不斷地將修改后的設(shè)備送標準實驗室測試，以驗證修改的效果。雖然這種驗證修改效果的測試的主要目的是檢查本次修改后原來超標的emi是否降低，但是設(shè)備的輻射干擾驗證測試無可替代地要在屏蔽室內(nèi)進行，增加了產(chǎn)品的研發(fā)成本。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明提出一種設(shè)備輻射干擾的評估方法，與現(xiàn)有技術(shù)不同，這種方法允許在設(shè)備制造商的生產(chǎn)車間，而不是在昂貴的屏蔽室測試設(shè)備的傳導干擾，并且根據(jù)設(shè)備的傳導干擾評估設(shè)備的輻射干擾，從而降低測試成本。

本發(fā)明提出的一種設(shè)備輻射干擾的評估方法，其特征在于該方法包括如下步驟：

修改設(shè)備前，獲取設(shè)備的傳導干擾頻譜fc和輻射干擾頻譜fr，

找出輻射干擾頻譜中幅度較大值ai及其對應(yīng)的頻率fi，i=1，2，…n；

找出傳導干擾頻譜中對應(yīng)頻率fi的幅度值bi；

計算標定系數(shù)ci=ai/bi；

修改設(shè)備后，重新獲取設(shè)備的傳導干擾頻譜，并且根據(jù)以下公式評估設(shè)備修改后的輻射干擾：

f’r=b’ixci

其中

f’r為設(shè)備修改后的輻射干擾；

b’i為設(shè)備修改后的傳導干擾。

所述的一種設(shè)備輻射干擾的評估方法，其特征在于，所述獲知設(shè)備的傳導干擾頻譜和輻射干擾頻譜，包括從歷史測試記錄中獲取或者通過測試獲取。

所述的一種設(shè)備輻射干擾的評估方法，其特征在于，所述獲取設(shè)備的傳導干擾頻譜，包括在屏蔽環(huán)境中測試所述設(shè)備或者在非屏蔽環(huán)境中測試所述設(shè)備。

所述的一種設(shè)備輻射干擾的評估方法，其特征在于，所述設(shè)備的傳導干擾頻譜，可以由電壓測試儀器測量所述設(shè)備的電壓信號并通過數(shù)學變換獲得。

所述的一種設(shè)備輻射干擾的評估方法，其特征在于，所述設(shè)備的傳導干擾頻譜，可以由頻率測試儀器測量所述設(shè)備獲得。

有益效果

與在先技術(shù)相比，本發(fā)明的方法的有益效果包括：

對設(shè)備修改后的設(shè)備電磁兼容狀況驗證分析能夠在生產(chǎn)車間進行，加快產(chǎn)品的開發(fā)速度；

由傳導干擾評估輻射干擾，減少了昂貴的屏蔽室測試費用，從而降低設(shè)備電磁兼容成本。

熟知本領(lǐng)域技術(shù)的普通技術(shù)人員可通過閱讀說明書，進一步了解權(quán)利要求界定的

本技術(shù)：
專利發(fā)明的其它好處和目的。

附圖說明

圖1是本發(fā)明實施例1-2的步驟流程圖。

圖2是本發(fā)明實施例1-2被測試設(shè)備的輻射干擾頻譜圖。

圖3為為本發(fā)明實施例1-2的標定前的頻譜圖。

圖4為為本發(fā)明實施例1的標定后的頻譜圖。

具體實施方式

以下結(jié)合附圖和實施例，對本發(fā)明的具體實施方式作進一步詳細描述。

實施例1

實施例1中，被測試設(shè)備（eut）是一個數(shù)字電路，標準emc實驗室輻射干擾測試報告（圖2）表明該eut頻率為98.288000mhz的emi幅度為65.9dbu，頻率為131.074000mhz的emi幅度為57.2dbu，頻率為163.811500mhz的emi幅度為55.8dbu，超出了允許的幅度（50dbu）。我們希望通過修改電路，來降低這些超標的emi。根據(jù)本發(fā)明方法，采取以下步驟(圖1)：

獲取設(shè)備的輻射干擾頻譜fr。本實施例中，eut已經(jīng)在標準emc實驗室做過輻射干擾測試，并且測試后沒有做過修改，測試報告（圖2）包括的輻射干擾頻譜fr可以拿來使用；如果eut沒有歷史測試報告可用，則需要將eut送emc實驗室測試獲得測試報告。

獲取設(shè)備的傳導干擾頻譜fc。在生產(chǎn)車間，用一臺數(shù)字示波器在eut的直流電源端測試獲得一個電壓波形，然后對波形做傅里葉變換得到設(shè)備的傳導干擾頻譜fc（圖3）。顯然，fc中的干擾不僅包含了圖2輻射干擾，而且包含了一些沒有被發(fā)射到遠場（輻射干擾）的近場干擾（傳導干擾）以及環(huán)境干擾。由于我們的目的是監(jiān)測每次修改設(shè)備后特定的幾個頻率的emi是否下降，因此可以忽略除特定頻率之外的其他頻率的emi。

找出輻射干擾頻譜中幅度較大值ai及其對應(yīng)的頻率fi，i=1，2，…n。本實施例中，a1=65.9dbu,a2=57.2dbu,a3=55.8dbu;f1=98.288000mhz,f2=131.074000mhz,f3=163.811500mhz。

找出傳導干擾頻譜中對應(yīng)頻率fi的幅度值bi。本實施例中，b1=100.3dbu,b2=81.1dbu,b3=85.5dbu。

計算標定系數(shù)ci=ai/bi。本實施例中，c1=0.659，c2=0.705，c3=0.653。

考慮到本實施例中，f1頻率的干擾是主要干擾，我們僅僅對f1頻率的干擾計算標定系數(shù)c1并且用c1標定所有頻率的干擾，標定后的結(jié)果如圖3所示。顯然，標定后，頻率為f1的傳導干擾的幅度與輻射干擾的幅度趨向一致。經(jīng)驗表明，如果不對eut的屏蔽設(shè)計和布線做大的變動，修改eut后傳導干擾的幅度變化與輻射干擾的幅度變化基本上成正比。因此，通過本發(fā)明方法，可以在修改eut以后，用示波器在eut同樣的測試點上測試電壓波形并計算傳導干擾頻譜，并且評估輻射干擾的變化，給eut的修改帶來很大的便利。

實施例2

實施例2中，eut以及解決的問題與實施例1相同，所不同的是采用了頻率測試儀器（頻譜儀）在屏蔽室內(nèi)測試傳導干擾，并且對所有3個超標干擾都按照以下公式分別進行了標定：

f’r=b’ixci

其中

f’r為設(shè)備修改后的輻射干擾

b’i為設(shè)備修改后的傳導干擾。

以上實施例僅為說明本發(fā)明方法的原理及功能，并非限制本發(fā)明。因此熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員對上述實施例所做的不違背本發(fā)明精神的修改及變化，仍為本發(fā)明所涵蓋。本發(fā)明的權(quán)利范圍應(yīng)如本專利申請權(quán)利要求所列。

技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
一種設(shè)備輻射干擾的評估方法。該方法包括：修改設(shè)備前，獲取設(shè)備的傳導干擾頻譜Fc和輻射干擾頻譜Fr；找出輻射干擾頻譜中幅度較大值A(chǔ)i及其對應(yīng)的頻率fi，i=1，2，…N；找出傳導干擾頻譜中對應(yīng)頻率fi的幅度值Bi；計算標定系數(shù)Ci=Ai/Bi；修改設(shè)備后，重新獲取設(shè)備的傳導干擾頻譜，并且根據(jù)以下公式評估設(shè)備修改后的輻射干擾：F’r=B’i?X?Ci。本發(fā)明的方法的有益效果在于：對設(shè)備修改后的設(shè)備電磁兼容狀況驗證分析能夠在生產(chǎn)車間進行，加快產(chǎn)品的開發(fā)速度；由傳導干擾評估輻射干擾，減少了昂貴的屏蔽室測試費用，從而降低設(shè)備電磁兼容成本。

技術(shù)研發(fā)人員：吳偉;吳躍佳
受保護的技術(shù)使用者：吳偉
技術(shù)研發(fā)日：2017.03.06
技術(shù)公布日：2017.07.07