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一種漏電流檢測(cè)方法及裝置與流程

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一種漏電流檢測(cè)方法及裝置與流程

本發(fā)明實(shí)施例涉及電氣檢測(cè)技術(shù),尤其涉及一種漏電流檢測(cè)方法及裝置。



背景技術(shù):

目前,許多設(shè)備需要進(jìn)行漏電流檢測(cè),例如時(shí)鐘鎖等。

時(shí)鐘鎖保持時(shí)鐘功能的裝置中涉及ma級(jí)電池,為了減少時(shí)鐘鎖漏電流過(guò)大,需定期對(duì)時(shí)鐘鎖進(jìn)行漏電流檢測(cè)。目前的漏電流檢測(cè)一般是通過(guò)ua級(jí)漏電流測(cè)試儀和ua級(jí)萬(wàn)用表對(duì)每個(gè)時(shí)鐘鎖進(jìn)行逐一檢測(cè)。上述漏電流檢測(cè)方法的測(cè)試設(shè)備成本高,耗費(fèi)時(shí)間長(zhǎng),效率低。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明提供一種漏電流檢測(cè)方法及裝置,以實(shí)現(xiàn)快速進(jìn)行漏電流檢測(cè),提高了檢測(cè)效率。

第一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種漏電流檢測(cè)方法,該方法包括:

對(duì)至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備的漏電流分別進(jìn)行差分放大,得到和所述至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備各自對(duì)應(yīng)的第一電流;

將所述第一電流轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào),并將所述電壓信號(hào)存儲(chǔ)至儲(chǔ)能電容;

通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc采集所述儲(chǔ)能電容的電壓值,將所述電壓值與采樣電阻的比值確定為采樣電流;

將所述采樣電流與預(yù)設(shè)電流值進(jìn)行比對(duì),依據(jù)比對(duì)情況分別顯示和所述至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備相對(duì)應(yīng)的漏電流檢測(cè)結(jié)果。

進(jìn)一步的,所述將所述第一電流轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào),并將所述電壓信號(hào)存儲(chǔ)至儲(chǔ)能電容包括:

當(dāng)主控制器mcu處于休眠狀態(tài)時(shí),將所述第一電流轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào),并將所述電壓信號(hào)存儲(chǔ)至儲(chǔ)能電容;

相應(yīng)的,所述通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc采集所述儲(chǔ)能電容的電壓值,將所述電壓值與采樣電阻的比值確定為采樣電流包括:

當(dāng)所述主控制器mcu處于喚醒狀態(tài)時(shí),通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc采集所述儲(chǔ)能電容的電壓值,將所述電壓值與采樣電阻的比值確定為采樣電流。

進(jìn)一步的,所述通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc采集所述儲(chǔ)能電容的電壓值,將所述電壓值與采樣電阻的比值確定為采樣電流包括:

獲取mcu存儲(chǔ)單元的偏置電壓值,通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc采集所述儲(chǔ)能電容的電壓值,將所述電壓值和所述偏置電壓值的差值作為采樣電壓,將所述采樣電壓與采樣電阻的比值確定為采樣電流,所述偏置電壓值由對(duì)所述至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備的漏電流分別進(jìn)行差分放大時(shí)的偏置電流、偏置電阻和增益參數(shù)確定。

進(jìn)一步的,通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc采集所述儲(chǔ)能電容的電壓值,將所述電壓值與采樣電阻的比值確定為采樣電流包括:

獲取mcu的參考源通道數(shù)值,將參考源恒定電壓與所述參考源通道數(shù)值的比值作為所述mcu的供電電壓;

獲取采樣通道的模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc的轉(zhuǎn)換值,將所述mcu的供電電壓與所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc的轉(zhuǎn)換值的積確定為采樣電壓;

將所述采樣電壓與采樣電阻的比值確定為采樣電流。

進(jìn)一步的,依據(jù)比對(duì)情況分別顯示和所述至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備相對(duì)應(yīng)的檢測(cè)結(jié)果包括:

依據(jù)比對(duì)情況,通過(guò)led燈顯示和所述至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備相對(duì)應(yīng)的漏電流檢測(cè)結(jié)果,其中,若所述采樣電流大于預(yù)設(shè)電流值,則第一led燈點(diǎn)亮,若所述采樣電流小于或等于所述預(yù)設(shè)電流值,則第二led燈點(diǎn)亮。

第二方面,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種漏電流檢測(cè)裝置,該裝置包括:

差分放大器,用于對(duì)至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備的漏電流分別進(jìn)行差分放大,得到和所述至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備各自對(duì)應(yīng)的第一電流;

儲(chǔ)能電容,用于存儲(chǔ)所述第一電流轉(zhuǎn)換的電壓信號(hào);

模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc,用于采集所述儲(chǔ)能電容的電壓值;

主控制器mcu,用于將所述電壓值與采樣電阻的比值確定為采樣電流,將所述采樣電流與預(yù)設(shè)電流值進(jìn)行比對(duì),依據(jù)比對(duì)情況分別顯示和所述至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備相對(duì)應(yīng)的漏電流檢測(cè)結(jié)果。

進(jìn)一步的,所述裝置還包括:

計(jì)數(shù)器,用于確定主控制器mcu的休眠時(shí)間;

所述儲(chǔ)能電容具體用于:

當(dāng)主控制器mcu處于休眠狀態(tài)時(shí),將所述第一電流轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào),并將所述電壓信號(hào)存儲(chǔ)至儲(chǔ)能電容;

相應(yīng)的,所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc具體用于:

當(dāng)所述主控制器mcu處于喚醒狀態(tài)時(shí),通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc采集所述儲(chǔ)能電容的電壓值,將所述電壓值與采樣電阻的比值確定為采樣電流。

進(jìn)一步的,所述主控制器mcu包括:

存儲(chǔ)單元,用于存儲(chǔ)所述mcu的偏置電壓值;

相應(yīng)的,所述主控制器mcu具體用于:

通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc采集所述儲(chǔ)能電容的電壓值,將所述電壓值和所述偏置電壓值的差值作為采樣電壓,將所述采樣電壓與采樣電阻的比值確定為采樣電流,所述偏置電壓值由對(duì)所述至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備的漏電流分別進(jìn)行差分放大時(shí)的偏置電流、偏置電阻和增益參數(shù)確定。

進(jìn)一步的,所述主控制器mcu具體用于:

獲取主控制器mcu的參考源通道數(shù)值,將參考源恒定電壓與所述參考源通道數(shù)值的比值作為所述主控制器mcu的供電電壓;獲取采樣通道的模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc的轉(zhuǎn)換值,將所述主控制器mcu的供電電壓與所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc的轉(zhuǎn)換值的積確定為采樣電壓;將所述采樣電壓與采樣電阻的比值確定為采樣電流。

進(jìn)一步的,所述裝置還包括:

led燈,用于依據(jù)比對(duì)情況,顯示和所述至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備相對(duì)應(yīng)的漏電流檢測(cè)結(jié)果,其中,若所述采樣電流大于預(yù)設(shè)電流值,則第一led燈點(diǎn)亮,若所述采樣電流小于或等于所述預(yù)設(shè)電流值,則第二led燈點(diǎn)亮。

本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)將至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備的漏電流進(jìn)行差分放大,以電壓形式存儲(chǔ)于儲(chǔ)能電容中,通過(guò)模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器adc采集儲(chǔ)能電容,確定采樣電流,通過(guò)與預(yù)設(shè)電流值的比對(duì),確定待檢測(cè)設(shè)備的漏電流情況,代替了現(xiàn)有技術(shù)中通過(guò)ua級(jí)漏電流測(cè)試儀和ua級(jí)萬(wàn)用表通過(guò)檢測(cè)人員手動(dòng)對(duì)待檢測(cè)設(shè)備逐一檢測(cè)的方法,解決了同時(shí)對(duì)多個(gè)待檢測(cè)設(shè)備自動(dòng)進(jìn)行漏電流檢測(cè)的問(wèn)題,提高了漏電流檢測(cè)的效率。

附圖說(shuō)明

圖1a是本發(fā)明實(shí)施例一提供的漏電流檢測(cè)方法的流程圖;

圖1b是本發(fā)明實(shí)施例一提供的漏電流檢測(cè)示意圖;

圖2是本發(fā)明實(shí)施例二提供的漏電流檢測(cè)方法的流程圖;

圖3是本發(fā)明實(shí)施例三提供的漏電流檢測(cè)方法的流程圖;

圖4是本發(fā)明實(shí)施例四提供的漏電流檢測(cè)方法的流程圖;

圖5是本發(fā)明實(shí)施例五提供的漏電流檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明??梢岳斫獾氖?,此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用于解釋本發(fā)明,而非對(duì)本發(fā)明的限定。另外還需要說(shuō)明的是,為了便于描述,附圖中僅示出了與本發(fā)明相關(guān)的部分而非全部結(jié)構(gòu)。

實(shí)施例一

圖1a為本發(fā)明實(shí)施例一提供的漏電流檢測(cè)方法的流程圖,本實(shí)施例可適用于同時(shí)檢測(cè)至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備的漏電流的情況,該方法可以由本發(fā)明實(shí)施例提供的漏電流檢測(cè)裝置來(lái)執(zhí)行,具體包括如下步驟:

s110、對(duì)至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備的漏電流分別進(jìn)行差分放大,得到和至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備各自對(duì)應(yīng)的第一電流。

其中,漏電流包括半導(dǎo)體漏電流、電源漏電流、電容漏電流和濾波器漏電流。其中,半導(dǎo)體漏電流指的是pn結(jié)在截止時(shí)流過(guò)的很微小的電流;電源漏電流指的是開(kāi)關(guān)電源中的emi(electro-magneticinterference,電磁干擾)濾波器電路使得在開(kāi)關(guān)電源在接上市電后對(duì)地有一個(gè)微小的電流;電容漏電流指的是由于電容介質(zhì)并不是絕對(duì)不導(dǎo)電,當(dāng)電容加上直流電壓時(shí),電容會(huì)有極小漏電流產(chǎn)生。濾波器漏電流指的是在額定交流電壓下濾波器外殼到交流進(jìn)線任意端的電流。

漏電流一般十分微小,電流等級(jí)一般為ua級(jí),將漏電流進(jìn)行差分放大,便于對(duì)漏電流的檢測(cè),其中,對(duì)漏電流的差分放大可通過(guò)差分放大器實(shí)現(xiàn)。

需要說(shuō)明的是,本實(shí)施例中,可同時(shí)對(duì)至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行漏電流檢測(cè),示例性的,當(dāng)待檢測(cè)設(shè)備是時(shí)鐘鎖時(shí),可同時(shí)對(duì)30塊時(shí)鐘鎖進(jìn)行漏電流檢測(cè),提高了漏電流檢測(cè)效率。

s120、將第一電流轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào),并將電壓信號(hào)存儲(chǔ)至儲(chǔ)能電容。

其中,儲(chǔ)能電容具有良好的脈沖電容充放電性能和傳統(tǒng)電容器多不具備的大容量?jī)?chǔ)能性能。

本實(shí)施例中,將電流信號(hào)轉(zhuǎn)換為電壓信息,便于將漏電流以電壓的形式存儲(chǔ)在儲(chǔ)能電容中,并通過(guò)測(cè)量?jī)?chǔ)能電容的電壓的方式獲取漏電流對(duì)應(yīng)的電壓值,進(jìn)一步獲取漏電流的電流值。

s130、通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc采集儲(chǔ)能電容的電壓值,將電壓值與采樣電阻的比值確定為采樣電流。

其中,adc(analog-to-digitalconverter,模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)指的是把經(jīng)過(guò)與標(biāo)準(zhǔn)量比較處理后的模擬量轉(zhuǎn)換成以二進(jìn)制數(shù)值表示的離散信號(hào)的轉(zhuǎn)換器。

通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc可讀取儲(chǔ)能電容兩端的電壓值,根據(jù)電壓與電容之間的關(guān)系,通過(guò)電壓值與采樣電阻的比值可確定采樣電流。

本實(shí)施例中,將無(wú)法直接獲取的電流值通過(guò)經(jīng)過(guò)儲(chǔ)能電容存儲(chǔ)后,由模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc讀取并通過(guò)計(jì)算得到采樣電流,實(shí)現(xiàn)了對(duì)漏電流的檢測(cè),替代了傳統(tǒng)漏電流檢測(cè)裝置,例如ua級(jí)漏電流測(cè)試儀和ua級(jí)萬(wàn)用表等,降低了測(cè)試這邊的成本。

s140、將采樣電流與預(yù)設(shè)電流值進(jìn)行比對(duì),依據(jù)比對(duì)情況分別顯示和至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備相對(duì)應(yīng)的漏電流檢測(cè)結(jié)果。

其中,預(yù)設(shè)電流值指的是漏電流最大閾值對(duì)應(yīng)的電流閾值,將采樣電流與預(yù)設(shè)電流值進(jìn)行比對(duì),可確定待檢測(cè)設(shè)備的漏電流是否大于最大閾值。

本實(shí)施例中,可同時(shí)將至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備的漏電流檢測(cè)結(jié)果分別顯示,通過(guò)顯示結(jié)果清晰直觀地獲取漏電流檢測(cè)結(jié)果,提高了漏電流檢測(cè)效率。

需要說(shuō)明的是,本實(shí)施例提供的漏電流檢測(cè)方法確保了漏電流檢測(cè)的精確度,可實(shí)現(xiàn)與ua級(jí)漏電流測(cè)試儀和ua級(jí)萬(wàn)用表相同的測(cè)試等級(jí)。

本實(shí)施例的技術(shù)方案,通過(guò)將至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備的漏電流進(jìn)行差分放大,以電壓形式存儲(chǔ)于儲(chǔ)能電容中,通過(guò)模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器adc采集儲(chǔ)能電容,確定采樣電流,通過(guò)與預(yù)設(shè)電流值的比對(duì),確定待檢測(cè)設(shè)備的漏電流情況,代替了現(xiàn)有技術(shù)中通過(guò)ua級(jí)漏電流測(cè)試儀和ua級(jí)萬(wàn)用表通過(guò)檢測(cè)人員手動(dòng)對(duì)待檢測(cè)設(shè)備逐一檢測(cè)的方法,解決了同時(shí)對(duì)多個(gè)待檢測(cè)設(shè)備自動(dòng)進(jìn)行漏電流檢測(cè)的問(wèn)題,提高了漏電流檢測(cè)的效率。

在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上,在步驟s140還可以是:

依據(jù)比對(duì)情況,通過(guò)led燈顯示和至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備相對(duì)應(yīng)的漏電流檢測(cè)結(jié)果,其中,若采樣電流大于預(yù)設(shè)電流值,則第一led燈點(diǎn)亮,若采樣電流小于或等于預(yù)設(shè)電流值,則第二led燈點(diǎn)亮。

本實(shí)施例中,可同時(shí)對(duì)多個(gè)待檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行漏電流檢測(cè),每一個(gè)檢測(cè)電路板均連接有兩個(gè)led(lightemittingdiode,發(fā)光二極管)燈,根據(jù)待檢測(cè)設(shè)備的漏電流檢測(cè)結(jié)果,顯示不同的led燈。示例性的,其中第一led燈可以是紅色led燈,第二led燈可以是藍(lán)色led燈,當(dāng)采樣電流大于預(yù)設(shè)電流值時(shí),紅色led燈點(diǎn)亮,當(dāng)采樣電流小于或等于預(yù)設(shè)電流值時(shí),藍(lán)色led燈點(diǎn)亮。

本實(shí)施例中,通過(guò)在每一個(gè)檢測(cè)電路板上連接不同顏色的兩個(gè)led燈,顯示漏電流檢測(cè)結(jié)果,可清晰直觀地獲取漏電流檢測(cè)結(jié)果,提高了漏電流檢測(cè)效率。

可選的,通過(guò)至少兩個(gè)探針?lè)謩e對(duì)至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行漏電流檢測(cè)。

示例性的,如圖1b所示,圖1b是本發(fā)明實(shí)施例一提供的漏電流檢測(cè)示意圖。本實(shí)施例中,在對(duì)待檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行漏電流檢測(cè)時(shí)通過(guò)工裝開(kāi)關(guān)臂按壓待檢測(cè)設(shè)備,使得探針與待檢測(cè)設(shè)備接觸,進(jìn)行漏電流檢測(cè)。代替了現(xiàn)有技術(shù)中通過(guò)表筆或者測(cè)試夾具進(jìn)行漏電流檢測(cè),使用方便快捷,提高了漏電流檢測(cè)效率。

實(shí)施例二

圖2是本發(fā)明實(shí)施例二提供的漏電流檢測(cè)方法的流程圖,在上述實(shí)施例一的基礎(chǔ)上,將第一電流轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào),并將電壓信號(hào)存儲(chǔ)至儲(chǔ)能進(jìn)一步優(yōu)化為:當(dāng)主控制器mcu處于休眠狀態(tài)時(shí),將第一電流轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào),并將電壓信號(hào)存儲(chǔ)至儲(chǔ)能電容;將通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc采集儲(chǔ)能電容的電壓值,將電壓值與采樣電阻的比值確定為采樣電流優(yōu)化為:當(dāng)主控制器mcu處于喚醒狀態(tài)時(shí),通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc采集儲(chǔ)能電容的電壓值,將電壓值與采樣電阻的比值確定為采樣電流。相應(yīng)的,該方法具體包括:

s210、對(duì)至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備的漏電流分別進(jìn)行差分放大,得到和至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備各自對(duì)應(yīng)的第一電流。

s220、當(dāng)主控制器mcu處于休眠狀態(tài)時(shí),將第一電流轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào),并將電壓信號(hào)存儲(chǔ)至儲(chǔ)能電容。

其中,mcu(mastercontrolunit,主控制器)是集成了內(nèi)處理器、存儲(chǔ)器、計(jì)數(shù)器以及i/o端口為一體的集成芯片,在硬件電路的基礎(chǔ)上,可將要處理的數(shù)據(jù)、計(jì)算方法、步驟或者操作指令等編制成程序,存放于mcu內(nèi)部或者外部存儲(chǔ)器中,mcu可在運(yùn)行時(shí)自動(dòng)連續(xù)地從存儲(chǔ)器中取出并執(zhí)行。

本實(shí)施例中,當(dāng)開(kāi)始進(jìn)行漏電流檢測(cè)上電時(shí),mcu進(jìn)入休眠模式,在mcu處于休眠狀態(tài)時(shí),將待檢測(cè)設(shè)備的漏電流差分放大后得到的第一電流轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào),并存儲(chǔ)于儲(chǔ)能電容中。

s230、當(dāng)主控制器mcu處于喚醒狀態(tài)時(shí),通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc采集儲(chǔ)能電容的電壓值,將電壓值與采樣電阻的比值確定為采樣電流。

示例性的,mcu的休眠時(shí)間可以是300ms,mcu的休眠時(shí)間可以通過(guò)計(jì)數(shù)器確定,當(dāng)?shù)竭_(dá)300ms時(shí),向mcu發(fā)送喚醒信息,mcu根據(jù)喚醒信息從休眠模式轉(zhuǎn)換為喚醒模式。

在mcu進(jìn)入喚醒模式后,通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc讀取儲(chǔ)能電容的電壓值,并通過(guò)計(jì)算確定采樣電流。

s240、將采樣電流與預(yù)設(shè)電流值進(jìn)行比對(duì),依據(jù)比對(duì)情況分別顯示和至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備相對(duì)應(yīng)的漏電流檢測(cè)結(jié)果。

本實(shí)施例的技術(shù)方案,通過(guò)在mcu的休眠模式下進(jìn)行漏電流電壓信號(hào)的存儲(chǔ),在mcu的喚醒模式下讀取春能夠電容的電壓值并計(jì)算采樣電流,避免了mcu內(nèi)模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc運(yùn)算帶來(lái)的電流損耗以及多個(gè)待檢測(cè)設(shè)備之間電流的影響,提高了漏電樓的檢測(cè)精度。

實(shí)施例三

圖3是本發(fā)明實(shí)施例三提供的漏電流檢測(cè)方法的流程圖,在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上,將通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc采集儲(chǔ)能電容的電壓值,將電壓值與采樣電阻的比值確定為采樣電流進(jìn)一步優(yōu)化為:獲取mcu存儲(chǔ)單元的偏置電壓值,通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc采集儲(chǔ)能電容的電壓值,將電壓值和偏置電壓值的差值作為采樣電壓,將采樣電壓與采樣電阻的比值確定為采樣電流,偏置電壓值由對(duì)至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備的漏電流分別進(jìn)行差分放大時(shí)的偏置電流、偏置電阻和增益參數(shù)確定。相應(yīng)的該方法具體包括:

s310、對(duì)至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備的漏電流分別進(jìn)行差分放大,得到和至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備各自對(duì)應(yīng)的第一電流。

s320、將第一電流轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào),并將電壓信號(hào)存儲(chǔ)至儲(chǔ)能電容。

s330、獲取mcu存儲(chǔ)單元的偏置電壓值,偏置電壓值由對(duì)至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備的漏電流分別進(jìn)行差分放大時(shí)的偏置電流、偏置電阻和增益參數(shù)確定。

本實(shí)施例中,在對(duì)待檢測(cè)設(shè)備的漏電流進(jìn)行差分放大時(shí),運(yùn)放自身可可產(chǎn)生偏置電流。將每一個(gè)待檢測(cè)設(shè)備漏電流分別進(jìn)行差分放大時(shí)產(chǎn)生的偏置電流轉(zhuǎn)換為與第一電流同等級(jí)的偏置電壓信號(hào),并存儲(chǔ)。示例性的,可將偏置電壓信號(hào)經(jīng)過(guò)折算后存儲(chǔ)至mcu存儲(chǔ)單元e2prom(electricallyerasableprogrammableread-onlymemory,帶電可擦寫可編程只讀存儲(chǔ)器)中。

示例性的,偏置電壓值可通過(guò)偏置電流、偏置電阻和增益參數(shù)的乘積確定,其中,增益參數(shù)可以是差分放大器的放大倍數(shù)。

s340、通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc采集儲(chǔ)能電容的電壓值,將電壓值和偏置電壓值的差值作為采樣電壓,將采樣電壓與采樣電阻的比值確定為采樣電流。

本實(shí)施例中,將模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc讀取的電壓值與偏置電壓值的差值作為采樣電壓,并根據(jù)該采樣電壓計(jì)算采樣電流,可去除運(yùn)放自身產(chǎn)生的偏置電流對(duì)漏電流檢測(cè)的影響,提供漏電流檢測(cè)的精度。

s350、將采樣電流與預(yù)設(shè)電流值進(jìn)行比對(duì),依據(jù)比對(duì)情況分別顯示和至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備相對(duì)應(yīng)的漏電流檢測(cè)結(jié)果。

本實(shí)施例的技術(shù)方案,通過(guò)將模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc讀取的電壓值與偏置電壓值的差值作為采樣電壓,并根據(jù)該采樣電壓計(jì)算采樣電流,可去除運(yùn)放自身產(chǎn)生的偏置電流對(duì)漏電流檢測(cè)的影響,提供漏電流檢測(cè)的精度。

實(shí)施例四

圖4是本發(fā)明實(shí)施例四提供的漏電流檢測(cè)方法的流程圖,在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上,通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc采集儲(chǔ)能電容的電壓值,并確定采樣電流的方法,相應(yīng)的,該方法具體包括:

s410、對(duì)至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備的漏電流分別進(jìn)行差分放大,得到和至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備各自對(duì)應(yīng)的第一電流。

s420、將第一電流轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào),并將電壓信號(hào)存儲(chǔ)至儲(chǔ)能電容。

s430、獲取mcu的參考源通道數(shù)值,將參考源恒定電壓與參考源通道數(shù)值的比值作為mcu的供電電壓。

本實(shí)施例中,mcu內(nèi)部自身參考源電壓恒定不變,將參考源恒定電壓與參考源通道數(shù)值做比可獲得mcu的供電電壓。其中,mcu內(nèi)部自身參考源指的是基準(zhǔn)源,為模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc提供mcu的標(biāo)準(zhǔn)供電電壓。

s440、獲取采樣通道的模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc的轉(zhuǎn)換值,將mcu的供電電壓與模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc的轉(zhuǎn)換值的積確定為采樣電壓。

本實(shí)施例中,根據(jù)mcu的供電電壓與采樣通道的adc轉(zhuǎn)換值,可得到采樣通道的精確電壓值。

s450、將采樣電壓與采樣電阻的比值確定為采樣電流。

s460、將采樣電流與預(yù)設(shè)電流值進(jìn)行比對(duì),依據(jù)比對(duì)情況分別顯示和至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備相對(duì)應(yīng)的漏電流檢測(cè)結(jié)果。

本實(shí)施例的技術(shù)方案,通過(guò)采樣通道的模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc轉(zhuǎn)換值與mcu的供電電壓確定采樣電壓,避免了在漏電流檢測(cè)過(guò)程中測(cè)試設(shè)備因自身電源波動(dòng)導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果出現(xiàn)偏差的情況,提高了漏電流檢測(cè)的精確度。

實(shí)施例五

圖5是本發(fā)明實(shí)施例五提供的漏電流檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖,該裝置適用于執(zhí)行本發(fā)明實(shí)施例提供的漏電流檢測(cè)方法,該裝置具體可以包括:

差分放大器510,用于對(duì)至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備的漏電流分別進(jìn)行差分放大,得到和至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備各自對(duì)應(yīng)的第一電流;

儲(chǔ)能電容520,用于存儲(chǔ)第一電流轉(zhuǎn)換的電壓信號(hào);

模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc530,用于采集儲(chǔ)能電容的電壓值;

主控制器mcu540,用于將電壓值與采樣電阻的比值確定為采樣電流,將采樣電流與預(yù)設(shè)電流值進(jìn)行比對(duì),依據(jù)比對(duì)情況分別顯示和至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備相對(duì)應(yīng)的漏電流檢測(cè)結(jié)果。

優(yōu)選的,裝置還包括:

計(jì)數(shù)器550,用于確定主控制器mcu540的休眠時(shí)間;

儲(chǔ)能電容520具體用于:

當(dāng)主控制器mcu540處于休眠狀態(tài)時(shí),將第一電流轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào),并將電壓信號(hào)存儲(chǔ)至儲(chǔ)能電容520;

相應(yīng)的,模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc530具體用于:

當(dāng)主控制器mcu540處于喚醒狀態(tài)時(shí),采集儲(chǔ)能電容的電壓值,將電壓值與采樣電阻的比值確定為采樣電流。

優(yōu)選的,主控制器mcu540包括:

存儲(chǔ)單元541,用于存儲(chǔ)mcu540的偏置電壓值;

相應(yīng)的,主控制器mcu540具體用于:

通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc530采集儲(chǔ)能電容的電壓值,將電壓值和偏置電壓值的差值作為采樣電壓,將采樣電壓與采樣電阻的比值確定為采樣電流,偏置電壓值由對(duì)至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備的漏電流分別進(jìn)行差分放大時(shí)的偏置電流、偏置電阻和增益參數(shù)確定。

優(yōu)選的,主控制器mcu540具體用于:

獲取主控制器mcu的參考源通道數(shù)值,將參考源恒定電壓與參考源通道數(shù)值的比值作為主控制器mcu的供電電壓;獲取采樣通道的模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc的轉(zhuǎn)換值,將主控制器mcu的供電電壓與模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc的轉(zhuǎn)換值的積確定為采樣電壓;將采樣電壓與采樣電阻的比值確定為采樣電流。

優(yōu)選的,裝置還包括:

led燈560,用于依據(jù)比對(duì)情況,顯示和至少兩個(gè)待檢測(cè)設(shè)備相對(duì)應(yīng)的漏電流檢測(cè)結(jié)果,其中,若采樣電流大于預(yù)設(shè)電流值,則第一led燈點(diǎn)亮,若采樣電流小于或等于預(yù)設(shè)電流值,則第二led燈點(diǎn)亮。

本發(fā)明實(shí)施例提供的漏電流檢測(cè)裝置可執(zhí)行本發(fā)明任意實(shí)施例所提供的漏電流檢測(cè)方法,具備執(zhí)行方法相應(yīng)的功能模塊和有益效果。

注意,上述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例及所運(yùn)用技術(shù)原理。本領(lǐng)域技術(shù)人員會(huì)理解,本發(fā)明不限于這里所述的特定實(shí)施例,對(duì)本領(lǐng)域技術(shù)人員來(lái)說(shuō)能夠進(jìn)行各種明顯的變化、重新調(diào)整和替代而不會(huì)脫離本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此,雖然通過(guò)以上實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了較為詳細(xì)的說(shuō)明,但是本發(fā)明不僅僅限于以上實(shí)施例,在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的情況下,還可以包括更多其他等效實(shí)施例,而本發(fā)明的范圍由所附的權(quán)利要求范圍決定。

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