技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種基于π相位調(diào)制的時頻二維相敏和頻光譜界面檢測方法，所述檢測方法包括以下步驟：在紅外光脈沖光路中添加延時波片與相位調(diào)制器，對可見光脈沖做延時處理與π相位調(diào)制；可見光脈沖與紅外光脈沖在空間與時間上相匹配，同時同地照射在樣品界面上，并用CCD型光譜儀采集激發(fā)出來的二維和頻光譜圖；對二維和頻光譜圖進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，利用反演算法得到樣品界面的分子響應(yīng)函數(shù)的幅值、頻率和相位信息。本發(fā)明可以同時準(zhǔn)確地得到界面分子響應(yīng)函數(shù)的幅值、頻率和相位信息，是一種高效準(zhǔn)確的界面分子信息采集方法。

技術(shù)研發(fā)人員：李奇峰;馬翔云;王洋;王慧捷;杜建賓
受保護(hù)的技術(shù)使用者：天津大學(xué)
文檔號碼：201710100315
技術(shù)研發(fā)日：2017.02.23
技術(shù)公布日：2017.06.23