技術(shù)特征：

1.一種基于π相位調(diào)制的時(shí)頻二維相敏和頻光譜界面檢測(cè)方法，其特征在于，所述檢測(cè)方法包括以下步驟：

在紅外光脈沖光路中添加延時(shí)波片與相位調(diào)制器，對(duì)可見(jiàn)光脈沖做延時(shí)處理與π相位調(diào)制；

可見(jiàn)光脈沖與紅外光脈沖在空間與時(shí)間上相匹配，同時(shí)同地照射在樣品界面上，并用CCD型光譜儀采集激發(fā)出來(lái)的二維和頻光譜圖；

對(duì)二維和頻光譜圖進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，利用反演算法得到樣品界面的分子響應(yīng)函數(shù)的幅值、頻率和相位信息。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于π相位調(diào)制的時(shí)頻二維相敏和頻光譜界面檢測(cè)方法，其特征在于，所述對(duì)二維和頻光譜圖進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，利用反演算法得到樣品界面的分子響應(yīng)函數(shù)的幅值、頻率和相位信息的步驟具體為：

1)輸入已知量；

即有可見(jiàn)光脈沖函數(shù)Vis(t)、紅外光脈沖函數(shù)IR(t)和二維和頻光譜譜圖I，接著對(duì)二維光譜圖I在空間方向上求和，得到界面的一階極化率預(yù)測(cè)值P1′(t)；

2)利用時(shí)頻二維和頻光譜的正向算法，通過(guò)P1′(t)和Vis(t)得到模擬的二維和頻光譜圖I′(ω,τ)；即：

$I^{\′}(\mathrm{\ω},\mathrm{\τ})=|{\∫}_{-\mathrm{\∞}}^{+\mathrm{\∞}}dtVis(t-\mathrm{\τ})P{1}^{\′}\left(t\right)e^{-i\mathrm{\ω}t}{|}^2$

其中，ω是光譜I′(ω,τ)中的頻率，τ是光譜I′(ω,τ)中的時(shí)間延遲，i是虛數(shù)單位；Vis(t-τ)為為有著時(shí)間延遲的可見(jiàn)光脈沖函數(shù)；dt為積分的單位

3)令dI＝I′-I，對(duì)矩陣dI求和得到d；I′為模擬的二維和頻光譜；

設(shè)定閾值m，如果d小于m，則可以認(rèn)為模擬的二維和頻光譜與真實(shí)光譜非常接近，即此時(shí)輸入的模擬一階極化率就是真實(shí)的一階極化率；

如果d大于m，則認(rèn)為模擬的二維和頻光譜與真實(shí)光譜相差較遠(yuǎn)，就根據(jù)dI對(duì)模擬的二維和頻光譜進(jìn)行修正，得到一個(gè)新的一階極化率預(yù)測(cè)值，并重復(fù)步驟2)，其中修正方法如下：

P1′(t)＝P1′(t)*f(dI)

其中，dI是光譜差異矩陣，f是對(duì)差異處理函數(shù)；

直到模擬的二維和頻光譜與真實(shí)光譜非常接近，輸出此時(shí)的一階極化率，并由此求出界面的分子響應(yīng)函數(shù)；最后通過(guò)對(duì)分子響應(yīng)函數(shù)作高斯擬合等方法提取幅值、頻率和相位信息。