本實用新型涉及武器裝備模擬測試技術領域，具體來說，涉及一種導彈發(fā)控裝置電路板檢測診斷設備。

背景技術：

某型導彈發(fā)控裝置電路板檢測診斷設備用于檢測某型導彈發(fā)控電子箱的微機板、條件合成板和檢測板，把故障定位到相應元器件，并給出故障檢修提示。因此，要求該系統測量準確，實時性強，小巧輕便，便于攜帶。同時，作為電子設備還要具有相當的安全性和可靠性。

某型導彈發(fā)控裝置電路板檢測診斷設備設計的技術思想歸納為以下幾點：

(1)模塊化、智能化、標準化、快速化的設計思想

依據現代電子信息技術的發(fā)展特點，結合我國對裝備保障和維修的要求，通用型的電路檢測平臺應該達到模塊化、智能化、標準化、快速化四項要求。模塊化的設計使得系統各個部分功能更加明確，便于系統進行維護和功能擴展；智能化的設計使系統自動的、實時的完成各項任務；標準化設計使系統符合通用技術規(guī)范的要求，并且具有兼容性；快速化的設計使得系統裝備可以在比較惡劣的環(huán)境中進行快速測試。

(2)可靠性、可維修性思想

系統作為復雜電子裝備必須在設計階段高度重視可靠性和可維修性的設計。可靠性的設計要從抗電磁干擾、軟件可靠性、元件布局和線纜布置等方面考慮?？删S修性是電路設計、機箱設計和安裝布局要考慮的重點問題，主要包括維修可達性、器件可更換性等內容。

(3)技術先進

盡量采用先進、成熟的軟、硬件技術，先進的電路設計技術與軟件技術相結合，優(yōu)化總體技術方案設計。

(4)良好的安全性和使用性

充分考慮部隊的實際使用需求，系統設計時在技術上要保證具有良好的可操作性和使用方便，同時必須保證使用過程中系統本身以及使用人員的安全性。

技術實現要素：

本實用新型所要解決的技術問題在于提供一種小巧輕便，便于攜帶的導彈發(fā)控裝置電路板檢測診斷設備。

本實用新型的技術方案可以通過以下技術措施來實現：一種導彈發(fā)控裝置電路板檢測診斷設備,包括主體設備和輔助上位機，所述主體設備包括機箱和設置于所述機箱內的內嵌ARM微處理器；所述內嵌ARM微處理器連接有數據采集卡、電源模塊、調理電路板和通信端口，所述調理電路板連接電路檢測平臺；所述內嵌ARM微處理器通過所述通信端口連接所述輔助上位機；所述機箱外部面板上嵌套設置功能拓展部件，所述功能拓展部件包括LCD液晶屏、鍵盤、LED顯示燈、打印機中的一種或多種，所述功能拓展部件連接所述內嵌ARM微處理器。

由上，所有測試項目可由主體設備獨立完成，從而實現整體系統的模塊化。同時也擴展了通信端口，可實現與輔助上位機的通信。這一方案解決了上一方案不便于攜帶，使用不靈活的缺點。

優(yōu)選地，所述電路檢測平臺設置有標準檢測接口，所述標準檢測接口連接被測電路板。

優(yōu)選地，所述電源模塊采用可輸出單路或者多路電壓信號的封裝開關電源。

由上，在占用相同電路板空間的情況下，這種電源模塊有提供電流大、效率高和外圍電路簡單的優(yōu)點。

優(yōu)選地，所述電源模塊包括運算放大器和三端穩(wěn)壓器。

優(yōu)選地，所述內嵌ARM微處理器采用LPC2210微處理器，所述LPC2210微處理器擴展連接有FLASH存儲器和SARM芯片。

由上，某型導彈發(fā)控裝置板級檢測平臺應用于軍事環(huán)境，這就要求系統具有良好的穩(wěn)定性，可靠性，安全性。同時，也必須考慮到性價比的問題，如果造價較高，則難于在部隊中進行推廣使用，所以，采用ARM系列微處理器LPC2210進行系統設計，所述FLASH存儲器采用SST39VF160，所述SARM芯片采用IS61LVB25616AL。

優(yōu)選地，所述鍵盤的按鍵控制采用脈沖觸發(fā)式。

由上，在軟件程序中還設置了相應的按鍵判斷及防止按鍵抖動程序。

優(yōu)選地，所述LCD液晶屏采用圖形點陣液晶顯示器。

由上，為了更直觀的顯示系統檢測結果及提示信息，同時考慮性價比，采用圖形點陣液晶顯示器。LCD160128液晶顯示器主要由行驅動器/列驅動器及格160×128全點陣液晶顯示器組成?？赏瓿蓤D形顯示，也可以顯示10×8個(16×16點陣)漢字。

優(yōu)選地，所述通信端口為USB接口、串口、網絡端口中的任一種或多種。

本實用新型的有益效果為：系統穩(wěn)定性，可靠性和安全性高；機箱外部嵌套功能拓展部件，所有測試項目均可由主體設備獨立完成，有效提高了系統的整體性，使之便于攜帶和靈活使用；同時擴展了通信端口，可實現與輔助上位機的通信。

附圖說明

利用附圖對本實用新型作進一步說明，但附圖中的實施例不構成對本實用新型的任何限制。

圖1是本實用新型一種導彈發(fā)控裝置電路板檢測診斷設備的結構示意圖；

圖2是本實用新型一種導彈發(fā)控裝置電路板檢測診斷設備的電源模塊的電路圖。

附圖標注：

1，主體設備；2，輔助上位機；3，內嵌ARM微處理器；4，數據采集卡；5，電源模塊；6，調理電路板；7，通信端口；8，功能拓展部件；9，電路檢測平臺；10，FLASH存儲器；11，SARM芯片；12，實時時鐘。

具體實施方式

為使本實用新型更加容易理解，下面將進一步闡述本實用新型的具體實施例。

如圖1所示，一種導彈發(fā)控裝置電路板檢測診斷設備,包括主體設備1和輔助上位機2，所述主體設備1包括機箱和設置于所述機箱內的內嵌ARM微處理器3；所述內嵌ARM微處理器3連接有數據采集卡4、電源模塊5、調理電路板6和通信端口7，所述調理電路板6連接電路檢測平臺9；所述內嵌ARM微處理器3通過所述通信端口7連接所述輔助上位機2；所述機箱外部面板上嵌套設置功能拓展部件8，所述功能拓展部件8包括LCD液晶屏、鍵盤、LED顯示燈、打印機，所述功能拓展部件8連接所述內嵌ARM微處理器3。

所述電路檢測平臺9設置有標準檢測接口，所述標準檢測接口連接被測電路板。

所述電源模塊5采用可輸出單路或者多路電壓信號的封裝開關電源。

所述電源模塊5包括運算放大器和三端穩(wěn)壓器。

所述內嵌ARM微處理器3采用LPC2210微處理器，所述LPC2210微處理器擴展連接有FLASH存儲器10和SARM芯片11。

所述鍵盤的按鍵控制采用脈沖觸發(fā)式。

所述LCD液晶屏采用圖形點陣液晶顯示器。

所述通信端口7為USB接口、串口、網絡端口中的任一種或多種。

所述內嵌ARM微處理器3還連接有實時時鐘12。

某型導彈發(fā)射制導裝置發(fā)控電子箱的三個檢測部分(檢測電路板、條件合成電路板、微機電路板)的各種檢測項目都需要通過一整套系統完成。硬件系統內嵌ARM微處理器3控制著LCD液晶屏等外部面板上的設備。數據采集卡4完成數據采集的功能。調理電路板6主要用于信號的隔離、匹配等功能。電路檢測平臺9完成被檢測電路板的測試，電源模塊5產生被測電路和信號調理電路所需要的電源，并且電壓在一定范圍內可調，滿足被測電路的需要。

在電源模塊5設計過程中，根據待測發(fā)控電路板和電路板檢測診斷設備電路的需求，同時兼顧電源電壓的可調性，采用電源模塊5和可控型電源電路綜合實現。電源模塊5采用一種封裝好了的開關電源，一塊電源模塊5可以輸出單路或者多路電壓信號。在占用相同電路板空間的情況下，使用電源模塊5有提供電流大、效率高和外圍電路簡單的特點。如圖2所示，在本系統中采用運算放大器和三端穩(wěn)壓器組成的可控型電源模塊5。AO0為D/A轉換(AD7237)的輸出(輸出電壓在-5V到+5V之間)，DO7為LPC2210給出的控制信號。利用三端穩(wěn)壓器(LM7818CT)的特性，通過LPC2210控制AD7237的輸出電壓，或者調節(jié)電阻R23、R35改變放大器的增益，即可控制電源電壓在一定的范圍內。對于系統的上電控制，采用NPN型三極管Q1驅動電磁繼電器K1實現。

為了定位板級故障更細，提供更恰當的檢修建議，同時解決LCD液晶顯示的顯示容量小的問題，我們設計了輔助上位機2軟件。輔助上位機2軟件可通過通信端口7與LPC2210主控板進行通信，在硬件系統中通過帶并行總線的USB接口器件PD IUSBD12實現數據通信。

基于LPC2210的8路10位ADC轉換器的參考電壓為3.3V，而被測板要求電壓大多為±15V，為了便于分壓電路設計和獲取高的轉換精度，我們在LPC2210外圍擴展了D/A及A/D模塊。

D/A轉換電路主芯片包括AD7237芯片和LM258芯片。AD7237是一種完全的雙路12位電壓輸出轉換器，帶有輸出放大器和內置參考電壓源，具有高速、低功耗特性。AD7237的工作電壓為±12V～±15V，具有(8+4)位數據鎖存結構。在本測試系統中，A路(CH1)高八位的地址為0x82001002，低八位的地址為0x82001000；B路(CH1)高八位的地址為0x82002006，低八位的地址為0x82002004；啟動轉換地址為0x82002000。

A/D轉換電路主芯片包括AD1674芯片和AD7501芯片。AD1674是一種12位帶并行微機接口的逐次逼近型模數轉換芯片，內部自帶采樣保持器、10V基準電壓源、時鐘源以及可和微處理器總線直接接口的暫存/三態(tài)輸出緩沖器。AD1674采用雙電源供電，模擬信號電壓為±12V～±15V，數字信號電壓為+5V，具有高低溫穩(wěn)定性能好、功耗低等特點。在本測試系統中，讀取高八位數據地址0x82003004，讀取低八位數據地址0x82003006，啟動轉換地址為0x82003000，模擬信號輸入范圍為-10V～+10V(由管腳REF IN、REF OUT、BI POF、20VIN的連接決定)。微處理器LPC2210通過P0.7口監(jiān)控轉換狀態(tài)輸出，若檢測到高電平說明轉換正在進行，檢測到低電平說明轉換結束。由于待測模擬電壓量較多，系統設計了一片AD7501。AD7501是一種八選一的多路模擬開關，高電平選通(EN端口)，主系統通過P0.4、P0.5、P0.6實現對八路模擬量信號的選擇，通過LM258構成的電壓跟隨器緩存，依次送入A/D轉換電路中。

通過對某型導彈發(fā)控電子箱進行分析，這些電路板電路按信號特征可分為：數字量電路(無CPU)；模擬量電路(無CPU)；CPU電路。由此可見，內嵌ARM微處理器3的數據采集卡4電路和待測電路板之間傳輸的信號包括數字量(TTL電平)、模擬量和串口數據。

TTL電平的生成和檢測系統擴展了三片82C55，通過片選信號ECS5、ECS6、ESC7實現了16路單輸入信號DI0～DI 15(用于檢測電路板反饋數據)、16路單輸入信號DO0～DO15(用于送出控制指令)、16路輸入輸出信號DIO0～DIO15(用于控制指令送出和反饋數據檢測)。通過LPC2210的P0.8端口控制82C55芯片復位。

由于LPC2210的GPIO口電平為3.3V，而調理電路板6信號電平為5V，因此我們在處理器和調理電路板6之間也設計了一片總線收發(fā)器74LVC4245，實現3.3V和5V系統之間的邏輯電平轉換。

模擬量的生成和檢測系統中，微處理器LPC2210通過外圍擴展D/A模塊輸出模擬信號(幅值電壓在+5V和-5V之間)，而后通過信號處理電路進行信號處理。

A/D輸出信號經由同相放大器進行放大，終端輸出電壓(正輸出)為數據采集卡4通過AIN1端口適時監(jiān)控此時的輸出電壓。而后再經過反相放大器進行反相放大，輸出電壓(負輸出)為數據采集卡4通過AIN2端口適時監(jiān)控此時的輸出電壓。通過分壓電路產生幅值電壓在+15V和-15V之間的任何模擬量電壓，還可實現兩路電壓(一正一反)同時輸出。

此系統所檢測的模擬量信號主要包括兩種：電源電壓和運放輸出模擬量信號。電源電壓通過電壓跟隨器和相關的分壓電路分壓后，進入微處理器LPC2210外圍擴展A/D模塊進行檢測。運放輸出模擬量信號的檢測是通過電路和軟件掃描實現的。待測模擬量信號首先通過分壓電路進行分壓，而后通過比較器LM311H(或者光耦器件TIL113)處理后，直接送入微處理器LPC2210外圍擴展端口進行檢測。

在串口數據處理系統中，基于被測板–微機板電路為典型單片機電路結構，而且單片機及存儲ROM芯片都裝有管腳插座，我們采用更換單片機或存儲ROM芯片(內置自編測試程序)，并通過串口電平轉換電路MAX232與微處理器LPC2210進行串口通信的方式實施檢測，并通過相應的協議程序進行故障診斷及定位。通過將微處理器LPC2210端口P0.1功能設置為UART0的串行輸入RxD，實現與被測單片機的通信。

最后所應當說明的是，以上實施例僅用以說明本實用新型的技術方案而非對本實用新型保護范圍的限制，盡管參照較佳實施例對本實用新型作了詳細說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本實用新型的技術方案進行修改或者等同替換，而不脫離本實用新型技術方案的實質和范圍。