本實(shí)用新型涉及一種指紋芯片測(cè)試插座。

背景技術(shù)：

隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，指紋芯片已經(jīng)廣泛應(yīng)用在手機(jī)和電腦等電子產(chǎn)品。在完成指紋芯片大批量生產(chǎn)后，需要對(duì)指紋芯片的合格性進(jìn)行檢測(cè)，以此來(lái)挑選出不合格的指紋芯片，從而保留合格的指紋芯片。然而，由于指紋芯片屬于高精密產(chǎn)品，因此，在對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)的時(shí)候，需要將測(cè)試探針準(zhǔn)確對(duì)準(zhǔn)指紋芯片上的引腳來(lái)進(jìn)行測(cè)試。但是，因?yàn)閭鹘y(tǒng)的指紋芯片的引腳排布位置如圖1所示，引腳有四排，每排的引腳都是在直線上排布，所以傳統(tǒng)的測(cè)試插座上的測(cè)試探針也是如此排布，但是對(duì)于一些最新的指紋芯片，其引腳并不是在一直線上排布，而是在一直線上交錯(cuò)排布的，因此，傳統(tǒng)的測(cè)試插座無(wú)法對(duì)這類指紋芯片進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)試。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的是提供一種指紋芯片測(cè)試插座，其能夠?qū)σ_在一直線上交錯(cuò)排布的指紋芯片進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)試。

本實(shí)用新型提供一種，插座主體的頂面開(kāi)設(shè)有凹槽，凹槽內(nèi)設(shè)置有用于對(duì)待測(cè)芯片進(jìn)行周向定位的定位塊，插座主體設(shè)置有探針安裝孔，探針安裝孔正對(duì)位于定位塊中的待測(cè)芯片，探針安裝孔在直線方向上交錯(cuò)排布，在插座主體的底面設(shè)置有插座底板，測(cè)試探針一端連接插座底板，另一端從探針安裝孔中穿出。

其中，定位塊設(shè)有用于容置待測(cè)芯片的容置腔，容置腔與探針安裝孔正對(duì)。

其中，還包括用于使待測(cè)芯片的引腳抵緊測(cè)試探針的下壓裝置。

其中，還包括蓋在插座主體上的測(cè)試蓋，下壓裝置安裝于測(cè)試蓋。

其中，測(cè)試蓋的一側(cè)與插座主體的一側(cè)轉(zhuǎn)動(dòng)連接，測(cè)試蓋的另一次設(shè)置有與插座主體配合的卡扣。

其中，所述下壓裝置包括旋轉(zhuǎn)把手和絲桿，絲桿一端連接旋轉(zhuǎn)把手，另一端貫穿測(cè)試蓋

其中，插座底板通過(guò)固定件固定在插座主體。

有益效果：本實(shí)用新型一種指紋芯片測(cè)試插座，插座主體設(shè)置有探針安裝孔，探針安裝孔在直線方向上交錯(cuò)排布，測(cè)試探針從探針安裝孔中穿出，因此，測(cè)試探針可以精確地對(duì)準(zhǔn)指紋芯片在直線上交錯(cuò)排布的引腳，從而進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)試。

附圖說(shuō)明

利用附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明，但附圖中的實(shí)施例不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的任何限制，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)以下附圖獲得其它的附圖。

圖1是現(xiàn)有的指紋芯片的引腳排布圖。

圖2是本實(shí)用新型一種指紋芯片測(cè)試插座的插座主體和插座底板的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3是本實(shí)用新型一種指紋芯片測(cè)試插座的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖4是本實(shí)用新型一種指紋芯片測(cè)試插座的探針安裝孔的排布圖。

在圖2和圖3中包括：1——插座主體，2——凹槽，3——定位塊，4——探針安裝孔，5——測(cè)試探針，6——插座底板，7——測(cè)試蓋，8——卡扣，9——旋轉(zhuǎn)把手，10——絲桿，11——固定件。

具體實(shí)施方式

結(jié)合以下實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步描述。

本實(shí)施例一種指紋芯片測(cè)試插座的結(jié)構(gòu)示意圖如圖3所示，插座主體1的頂面左側(cè)轉(zhuǎn)動(dòng)連接測(cè)試蓋7，測(cè)試蓋7與插座主體1的頂面相匹配，測(cè)試蓋7設(shè)置有與插座主體1配合的卡扣8，好處是在插座主體1與測(cè)試蓋7閉合狀態(tài)時(shí)，測(cè)試蓋7能夠緊扣插座主體1。絲桿10一端連接旋轉(zhuǎn)把手9，另一端貫穿測(cè)試蓋7，在測(cè)試時(shí)，旋轉(zhuǎn)旋轉(zhuǎn)把手以推動(dòng)絲桿下壓從而使待測(cè)芯片抵緊插座主體1。

如圖2所示，插座主體1的頂面開(kāi)設(shè)有凹槽2，凹槽2內(nèi)設(shè)置有用于對(duì)待測(cè)芯片進(jìn)行周向定位的定位塊3，定位塊3設(shè)有用于容置待測(cè)芯片的容置腔。插座主體1設(shè)置有探針安裝孔4，容置腔與探針安裝孔4正對(duì)，在圖4中右側(cè)的探針安裝孔4在直線方向上交錯(cuò)排布，在插座主體1的底面設(shè)置有插座底板6，測(cè)試探針5一端連接插座底板，另一端從探針安裝孔4中穿出，因此，測(cè)試探針5可以精確地對(duì)準(zhǔn)指紋芯片在直線上交錯(cuò)排布的引腳，從而進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)試。插座底板6通過(guò)固定件11固定在插座主體1。

工作過(guò)程：把待測(cè)芯片放置至定位塊中的容置腔中，閉合插座主體1與測(cè)試蓋7并用卡扣8卡緊插座主體1，旋轉(zhuǎn)旋轉(zhuǎn)把手9以推動(dòng)絲桿10下壓從而使待測(cè)芯片抵緊測(cè)試探針5以防止待測(cè)芯片和測(cè)試探針接觸不良，從而使待測(cè)芯片的每個(gè)引腳都對(duì)準(zhǔn)測(cè)試探針5以提高測(cè)試精度。

最后應(yīng)當(dāng)說(shuō)明的是，以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對(duì)本發(fā)明保護(hù)范圍的限制，盡管參照較佳實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作了詳細(xì)地說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的實(shí)質(zhì)和范圍。