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一種用于定位電路板Mark點(diǎn)的雙光源識(shí)別裝置的制作方法

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一種用于定位電路板Mark點(diǎn)的雙光源識(shí)別裝置的制作方法

本實(shí)用新型涉及電路板的Mark點(diǎn)定位領(lǐng)域,特別涉及一種用于定位電路板Mark點(diǎn)的雙光源識(shí)別裝置。



背景技術(shù):

電路板在自動(dòng)化SMT生產(chǎn)線加工檢測(cè)過(guò)程中,都需要定位操作,目前一般通過(guò)設(shè)置在電路板上的Mark點(diǎn)(標(biāo)識(shí)點(diǎn))進(jìn)行定位。市面上電路板種類繁多,Mark點(diǎn)一般與電路板上的焊盤同材質(zhì),而焊盤表面一般有裸銅、鍍金、鍍鎳、鍍錫、焊錫涂層等,其中,鍍金、鍍鎳、鍍錫Mark點(diǎn)表面類似鏡面,裸銅Mark點(diǎn)表面平整可漫發(fā)射,焊錫涂層Mark點(diǎn)表面為不規(guī)則凸凹面。

目前識(shí)別定位Mark點(diǎn)的方法一般是通過(guò)光源照亮電路上的Mark點(diǎn)區(qū)域,相機(jī)拍攝該區(qū)域圖像,照片上Mark點(diǎn)與周邊區(qū)域?qū)Ρ榷让黠@的情況下,電腦能夠準(zhǔn)確運(yùn)算并識(shí)別。由于Mark點(diǎn)材質(zhì)不同導(dǎo)致其表面形狀有差異,這就需要不同的光源對(duì)Mark點(diǎn)區(qū)域進(jìn)行照射,目前的Mark點(diǎn)識(shí)別裝置通常采用一種光源,針對(duì)不同特性的Mark點(diǎn)需要更換對(duì)應(yīng)能識(shí)別的裝置,影響生產(chǎn)效率。

針對(duì)上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明人通過(guò)深入研究,研發(fā)出一種用于定位電路板Mark點(diǎn)的雙光源識(shí)別裝置,本案由此產(chǎn)生。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本實(shí)用新型的目的在于提供一種高效、識(shí)別精準(zhǔn)的用于定位電路板Mark點(diǎn)的雙光源識(shí)別裝置。

為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案:

一種用于定位電路板Mark點(diǎn)的雙光源識(shí)別裝置,包括安裝座、固定在安裝座側(cè)邊的相機(jī)以及與所述相機(jī)配合使用的同軸光源和圓頂光源;所述相機(jī)的鏡頭朝下;所述同軸光源設(shè)于相機(jī)下方;所述圓頂光源位于同軸光源下方。

優(yōu)選地,所述安裝座側(cè)邊還固定一上下開(kāi)口的連接組件;所述相機(jī)固定在連接組件上方;所述同軸光源裝于連接組件內(nèi)部;所述圓頂光源固定在連接組件下方。

采用上述方案后,本實(shí)用新型將同軸光源和圓頂光源兩種光源組合,針對(duì)不同表面材質(zhì)的Mark點(diǎn)均能準(zhǔn)確識(shí)別,有效提高了生產(chǎn)效率。

附圖說(shuō)明

圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2是本實(shí)用新型的主視圖。

具體實(shí)施方式

如圖1至圖2所示,本實(shí)用新型揭示了一種用于定位電路板Mark點(diǎn)的雙光源識(shí)別裝置,包括安裝座1、固定在安裝座1側(cè)邊的相機(jī)2以及與所述相機(jī)2配合使用的同軸光源3和圓頂光源4;所述相機(jī)2的鏡頭朝下;所述同軸光源3設(shè)于相機(jī)2下方;所述圓頂光源4位于同軸光源3下方。

作為實(shí)施例的優(yōu)選方式,所述安裝座1側(cè)邊還固定一上下開(kāi)口的連接組件5;所述相機(jī)2固定在連接組件5上方;所述同軸光源3裝于連接組件5內(nèi)部;所述圓頂光源4固定在連接組件5下方。

本實(shí)用新型在工作時(shí),同時(shí)開(kāi)啟同軸光源3和圓頂光源4。當(dāng)Mark點(diǎn)表面是鏡面反射時(shí),同軸光源3的光路穿過(guò)圓頂光源4的取像孔并垂直照射Mark點(diǎn)表面和Mark點(diǎn)周邊基板,其中,照射到Mark點(diǎn)表面的光被垂直反射到相機(jī),而照射到Mark點(diǎn)周邊基板的光不反射,因此在電腦讀取的圖像上,Mark點(diǎn)區(qū)域亮而周邊區(qū)域暗,對(duì)比度明顯,電腦能準(zhǔn)確識(shí)別該類Mark點(diǎn)。

當(dāng)Mark點(diǎn)表面為平整可漫發(fā)射或不規(guī)則凸凹面時(shí),圓頂光源4的光路自半球狀表面發(fā)出,從上而下照射到Mark點(diǎn)表面和Mark點(diǎn)周邊基板,Mark點(diǎn)的金屬表面反射大量光,而Mark點(diǎn)周邊基板反射少量光,因此在電腦讀取的圖像上,Mark點(diǎn)區(qū)域亮而周邊區(qū)域暗,對(duì)比度明顯,電腦能準(zhǔn)確識(shí)別該類Mark點(diǎn)。

本實(shí)用新型將同軸光源3和圓頂光源4兩種光源組合,針對(duì)不同表面材質(zhì)的Mark點(diǎn)無(wú)需更換識(shí)別裝置,均能做到準(zhǔn)確識(shí)別,有效提高了生產(chǎn)效率。

以上所述,僅為本實(shí)用新型較佳實(shí)施例而已,故不能依此限定本實(shí)用新型實(shí)施的范圍,即依本實(shí)用新型專利范圍及說(shuō)明書內(nèi)容所作的等效變化與修飾,皆應(yīng)仍屬本實(shí)用新型涵蓋的范圍內(nèi)。

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