本發(fā)明涉及尺寸測量領(lǐng)域，具體涉及一種用于影像測量儀的工作平臺的新型玻璃基板。

背景技術(shù)：

尺寸測量在生產(chǎn)中經(jīng)常遇見，隨著技術(shù)的進步，非接觸式的影像測量方法逐漸被使用，如圖1所示，一些影像測量儀具有圖像采集單元23、上光源24、下光源25和工作平臺，工作平臺具有臺階部22，玻璃基板21放置在臺階部上，被測零件放置在玻璃基板上，通過采集圖像，檢測被測零件的邊緣，從而測出被測零件的尺寸。為了提高放置被測零件的效率，現(xiàn)有的玻璃基板上有定位孔，從而將被測零件利用定位孔進行定位，從而提高了被測零件放置效率，從而提高了測量效率。但是現(xiàn)有的玻璃基板只能定位特定的被測零件，面對不同的被測零件需要制造不同的玻璃基板，成本較高。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

發(fā)明目的：本發(fā)明旨在克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提高一種用于影像測量儀的工作平臺的新型玻璃基板。

技術(shù)方案：一種用于影像測量儀的工作平臺的玻璃基板，包括透明的基板本體，所述基板本體表面具有截面呈圓形的盲孔，所述盲孔內(nèi)具有截面呈圓形的第一柱體，所述第一柱體沿其長度方向具有截面呈矩形的第一通孔，所述第一通孔內(nèi)具有截面呈矩形的第二柱體，所述第二柱體沿其長度方向具有截面呈圓形的第二通孔，所述第二通孔內(nèi)具有截面呈圓形的第三柱體；所述盲孔的深度、第一通孔的深度、第二通孔的深度、第一柱體的高度、第二柱體的高度和第三柱體的高度均相等；所述第一柱體的截面直徑等于盲孔的截面直徑；所述第二柱體的截面和第一通孔的截面形狀尺寸相同；所述第三柱體的截面直徑和第二通孔的截面直徑相等。

進一步地，所述第二柱體的截面呈正方形，所述第一通孔的截面呈正方形，所述第二柱體的截面邊長等于第一通孔的截面邊長。

進一步地，所述玻璃基板包括兩個盲孔、兩個第一通孔、兩個第二通孔、兩個第一柱體、兩個第二柱體和兩個第三柱體。

進一步地，所述第一柱體的頂面、第二柱體的頂面、第三柱體的頂面與所述基板本體上表面平齊。

進一步地，所述第一、二、三柱體均為透明的玻璃柱。

進一步地，兩個盲孔的軸線之間的距離大于5cm。

有益效果：本發(fā)明的玻璃基板，可以實現(xiàn)對被測零件的定位，并且能夠提供一種矩形孔和兩個圓形孔，能夠?qū)Σ煌谋粶y零件實現(xiàn)定位，通用性強。

附圖說明

圖1為現(xiàn)有的影像測量儀的測量原理圖；

圖2為玻璃基板示意圖；

圖3為玻璃基板未插入第一、二、三柱體示意圖。

圖4為第一柱體示意圖；

圖5為第二柱體示意圖。

具體實施方式

附圖標(biāo)記：1基板本體；2.1第一柱體；2.2第二柱體；2.3第三柱體；3.1盲孔；3.2第一通孔；3.2第二通孔。

一種用于影像測量儀的工作平臺的玻璃基板，包括透明的基板本體1，所述基板本體1表面具有截面呈圓形的盲孔3.1，所述盲孔3.1內(nèi)具有截面呈圓形的第一柱體2.1，所述第一柱體2.1沿其長度方向具有截面呈矩形的第一通孔3.2，所述第一通孔3.2內(nèi)具有截面呈矩形的第二柱體2.2，所述第二柱體2.2沿其長度方向具有截面呈圓形的第二通孔3.2，所述第二通孔3.2內(nèi)具有截面呈圓形的第三柱體2.3；所述盲孔3.1的深度、第一通孔3.2的深度、第二通孔3.3的深度、第一柱體2.1的高度、第二柱體2.2的高度和第三柱體2.3的高度均相等；所述第一柱體2.1的截面直徑等于盲孔3.1的截面直徑；所述第二柱體2.2的截面和第一通孔3.2的截面形狀尺寸相同；所述第三柱體2.3的截面直徑和第二通孔3.3的截面直徑相等。所述第二柱體的截面呈正方形，所述第一通孔的截面呈正方形，所述第二柱體的截面邊長等于第一通孔的截面邊長。所述玻璃基板包括兩個盲孔、兩個第一通孔、兩個第二通孔、兩個第一柱體、兩個第二柱體和兩個第三柱體。所述第一柱體的頂面、第二柱體的頂面、第三柱體的頂面與所述基板本體上表面平齊。

本發(fā)明的玻璃基板，可以實現(xiàn)對被測零件的定位，并且能夠提供一種矩形孔和兩個圓形孔，能夠?qū)Σ煌谋粶y零件實現(xiàn)定位，通用性強。例如定位第一零件時，將第一、二、三柱體拔掉，利用盲孔進行定位；定位第二零件時，將第二、三柱體拔掉，利用第一通孔定位；定位第三零件時，將第三柱體拔掉，利用第二通孔定位；當(dāng)測量無需定位的零件時，將第一、二、三柱體都插入，被測零件放置在基板本體上表面。

盡管本發(fā)明就優(yōu)選實施方式進行了示意和描述，但本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，只要不超出本發(fā)明的權(quán)利要求所限定的范圍，可以對本發(fā)明進行各種變化和修改。