技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)涉及確定表面缺陷的方法和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。該方法包括以下步驟：從第一多行標(biāo)稱點(diǎn)確定標(biāo)稱參考點(diǎn)的標(biāo)稱參考行(SR)，其中標(biāo)稱參考點(diǎn)是相對(duì)于主方向橫向地延伸的多行標(biāo)稱點(diǎn)的標(biāo)稱點(diǎn)中的一個(gè)點(diǎn)的相應(yīng)高度坐標(biāo)值的平均值；形成第一近似函數(shù)(L1)，其作為標(biāo)稱參考行的標(biāo)稱參考點(diǎn)的發(fā)展的近似；通過表面測(cè)量裝置在內(nèi)襯部件的副本的實(shí)際表面處確定實(shí)際點(diǎn)的第二數(shù)據(jù)集；確定實(shí)際參考點(diǎn)的實(shí)際參考行，實(shí)際參考點(diǎn)沿著多行實(shí)際點(diǎn)延伸，其中實(shí)際參考點(diǎn)分別包括多行實(shí)際點(diǎn)的實(shí)際點(diǎn)序列的各個(gè)實(shí)際點(diǎn)的高度坐標(biāo)值的平均值；形成第二近似函數(shù)，其作為實(shí)際參考行的實(shí)際參考點(diǎn)的發(fā)展的近似；比較第一近似函數(shù)和第二近似函數(shù)并確定表面缺陷。

技術(shù)研發(fā)人員：雷恩·澤姆里奇;弗萊德海姆·卡斯特爾
受保護(hù)的技術(shù)使用者：佛吉亞內(nèi)飾系統(tǒng)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2016.12.30
技術(shù)公布日：2017.07.07