1.一種IC卡觸點(diǎn)壓力測(cè)試方法，其特征在于，包括如下步驟，在測(cè)試卡片上根據(jù)IC卡的構(gòu)造設(shè)置第一接觸區(qū)，所述接觸區(qū)為待測(cè)設(shè)備觸點(diǎn)劃過的區(qū)域，所述接觸區(qū)對(duì)應(yīng)IC卡4列觸點(diǎn)，包括4個(gè)縱向的子接觸區(qū)；
在一個(gè)或多個(gè)子接觸區(qū)設(shè)置接觸部，其余部分鏤空成為鏤空部；所述接觸部為接觸區(qū)的邊緣向內(nèi)側(cè)伸展的突出形狀；
用測(cè)試卡片勻速劃過待測(cè)設(shè)備，測(cè)量測(cè)試卡片在運(yùn)動(dòng)過程中受到的摩擦力，根據(jù)摩擦力換算測(cè)試卡片劃過待測(cè)設(shè)備時(shí)觸點(diǎn)的壓力。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC卡觸點(diǎn)壓力測(cè)試方法，其特征在于，還包括步驟，不同子接觸區(qū)的接觸部與觸點(diǎn)接觸或脫離接觸的時(shí)間不同。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC卡觸點(diǎn)壓力測(cè)試方法，其特征在于，還包括步驟，在第一接觸區(qū)的任意兩個(gè)子接觸區(qū)設(shè)置接觸部，第一接觸區(qū)的其余兩個(gè)子接觸區(qū)不設(shè)置接觸部。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的IC卡觸點(diǎn)壓力測(cè)試方法，其特征在于，還包括步驟，在測(cè)試卡片上設(shè)置第二接觸區(qū)，所述第二接觸區(qū)在測(cè)試卡片上的位置與第一接觸區(qū)中心對(duì)稱；
在與第一接觸區(qū)未設(shè)置接觸部的子接觸區(qū)對(duì)應(yīng)的第二接觸區(qū)的子接觸區(qū)中設(shè)置接觸部，其余的第二接觸區(qū)的子接觸區(qū)不設(shè)置接觸部。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC卡觸點(diǎn)壓力測(cè)試方法，其特征在于，所述用測(cè)試卡片劃過待測(cè)設(shè)備具體包括步驟，用測(cè)試卡片插入待測(cè)設(shè)備或?qū)y(cè)試卡片拔出待測(cè)設(shè)備。
6.一種IC卡觸點(diǎn)壓力測(cè)試裝置，其特征在于，包括測(cè)試卡片、測(cè)力計(jì)、待測(cè)設(shè)備，所述測(cè)試卡片與測(cè)力計(jì)連接，所述測(cè)試卡片包括第一接觸區(qū)，所述接觸區(qū)為待測(cè)設(shè)備觸點(diǎn)劃過的區(qū)域，所述第一接觸區(qū)包括4個(gè)縱向的子接觸區(qū)，其中一個(gè)或多個(gè)子接觸區(qū)設(shè)置有接觸部，所述接觸部為接觸區(qū)邊緣向內(nèi)側(cè)伸展的突出形狀，用于對(duì)待測(cè)設(shè)備中的觸點(diǎn)進(jìn)行接觸。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的IC卡觸點(diǎn)壓力測(cè)試裝置，其特征在于，不同子接觸區(qū)的接觸部或鏤空部與測(cè)試卡片前端的距離不同，且任意兩個(gè)子接觸區(qū)中設(shè)置的接觸部的前端與測(cè)試卡片前端的距離差不等于兩排IC卡觸點(diǎn)的間距。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的IC卡觸點(diǎn)壓力測(cè)試裝置，其特征在于，所述第一接觸區(qū)的其中兩個(gè)子接觸區(qū)設(shè)置有接觸部，其余兩個(gè)子接觸區(qū)部不設(shè)置接觸部。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的IC卡觸點(diǎn)壓力測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試卡片還包括第二接觸區(qū)，所述第二接觸區(qū)在測(cè)試卡片上的位置與第一接觸區(qū)中心對(duì)稱；
第一接觸區(qū)未設(shè)置接觸部的子接觸區(qū)對(duì)應(yīng)的第二接觸區(qū)的子接觸區(qū)中還設(shè)置接觸部，其余的第二接觸區(qū)的子接觸區(qū)不設(shè)置接觸部。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的IC卡觸點(diǎn)壓力測(cè)試裝置，其特征在于，所述第一接觸區(qū)的第一子接觸區(qū)及第一接觸區(qū)的第三子接觸區(qū)設(shè)置有接觸部，第一接觸區(qū)的第二子接觸區(qū)及第一接觸區(qū)的第四子接觸區(qū)不設(shè)置接觸部；所述第二接觸區(qū)的第二子接觸區(qū)及第二接觸區(qū)的第四子接觸區(qū)設(shè)置有接觸部；第二接觸區(qū)的第一子接觸區(qū)及第二接觸區(qū)的第三子接觸區(qū)不設(shè)置接觸部。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的IC卡觸點(diǎn)壓力測(cè)試裝置，其特征在于，所述第一接觸區(qū)的第一子接觸區(qū)及第一接觸區(qū)的第二子接觸區(qū)設(shè)置有接觸部，第一接觸區(qū)的第三子接觸區(qū)及第一接觸區(qū)的第四子接觸區(qū)不設(shè)置接觸部；所述第二接觸區(qū)的第三子接觸區(qū)及第二接觸區(qū)的第四子接觸區(qū)設(shè)置有接觸部；第二接觸區(qū)的第一子接觸區(qū)及第二接觸區(qū)的第二子接觸區(qū)不設(shè)置接觸部。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的IC卡觸點(diǎn)壓力測(cè)試裝置，其特征在于，所述第一接觸區(qū)的第一子接觸區(qū)及第一接觸區(qū)的第四子接觸區(qū)設(shè)置有接觸部，第一接觸區(qū)的第二子接觸區(qū)及第一接觸區(qū)的第三子接觸區(qū)不設(shè)置接觸部；所述第二接觸區(qū)的第二子接觸區(qū)及第二接觸區(qū)的第三子接觸區(qū)設(shè)置有接觸部；第二接觸區(qū)的第一子接觸區(qū)及第二接觸區(qū)的第四子接觸區(qū)不設(shè)置接觸部。
13.一種IC卡觸點(diǎn)壓力測(cè)試卡片，其特征在于，所述測(cè)試卡片包括第一接觸區(qū)，所述接觸區(qū)為待測(cè)設(shè)備觸點(diǎn)劃過的區(qū)域，所述第一接觸區(qū)包括4個(gè)縱向的子接觸區(qū)，其中一個(gè)或多個(gè)子接觸區(qū)設(shè)置有接觸部，所述接觸部為接觸區(qū)邊緣向內(nèi)側(cè)伸展的突出形狀。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的IC卡觸點(diǎn)壓力測(cè)試卡片，其特征在于，不同子接觸區(qū)的接觸部或鏤空部與測(cè)試卡片前端的距離不同，且任意兩個(gè)子接觸區(qū)中設(shè)置的接觸部的前端與測(cè)試卡片前端的距離差不等于兩排IC卡觸點(diǎn)的間距。
15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的一種IC卡觸點(diǎn)壓力測(cè)試卡片，其特征在于，所述第一接觸區(qū)的其中兩個(gè)子接觸區(qū)設(shè)置有接觸部，其余兩個(gè)子接觸區(qū)部不設(shè)置接觸部。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的IC卡觸點(diǎn)壓力測(cè)試卡片，其特征在于，所述測(cè)試卡片還包括第二接觸區(qū)，所述第二接觸區(qū)在測(cè)試卡片上的位置與第一接觸區(qū)中心對(duì)稱；
第一接觸區(qū)未設(shè)置接觸部的子接觸區(qū)對(duì)應(yīng)的第二接觸區(qū)的子接觸區(qū)中還設(shè)置接觸部，其余的第二接觸區(qū)的子接觸區(qū)不設(shè)置接觸部。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的IC卡觸點(diǎn)壓力測(cè)試卡片，其特征在于，所述第一接觸區(qū)的第一子接觸區(qū)及第一接觸區(qū)的第三子接觸區(qū)設(shè)置有接觸部，第一接觸區(qū)的第二子接觸區(qū)及第一接觸區(qū)的第四子接觸區(qū)不設(shè)置接觸部；所述第二接觸區(qū)的第二子接觸區(qū)及第二接觸區(qū)的第四子接觸區(qū)設(shè)置有接觸部；第二接觸區(qū)的第一子接觸區(qū)及第二接觸區(qū)的第三子接觸區(qū)不設(shè)置接觸部。
18.根據(jù)權(quán)利要求16所述的IC卡觸點(diǎn)壓力測(cè)試卡片，其特征在于，所述第一接觸區(qū)的第一子接觸區(qū)及第一接觸區(qū)的第二子接觸區(qū)設(shè)置有接觸部，第一接觸區(qū)的第三子接觸區(qū)及第一接觸區(qū)的第四子接觸區(qū)不設(shè)置接觸部；所述第二接觸區(qū)的第三子接觸區(qū)及第二接觸區(qū)的第四子接觸區(qū)設(shè)置有接觸部；第二接觸區(qū)的第一子接觸區(qū)及第二接觸區(qū)的第二子接觸區(qū)不設(shè)置接觸部。
19.根據(jù)權(quán)利要求16所述的IC卡觸點(diǎn)壓力測(cè)試卡片，其特征在于，所述第一接觸區(qū)的第一子接觸區(qū)及第一接觸區(qū)的第四子接觸區(qū)設(shè)置有接觸部，第一接觸區(qū)的第二子接觸區(qū)及第一接觸區(qū)的第三子接觸區(qū)不設(shè)置接觸部；所述第二接觸區(qū)的第二子接觸區(qū)及第二接觸區(qū)的第三子接觸區(qū)設(shè)置有接觸部；第二接觸區(qū)的第一子接觸區(qū)及第二接觸區(qū)的第四子接觸區(qū)不設(shè)置接觸部。