技術(shù)編號：12589680
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及IC設(shè)備制造領(lǐng)域，尤其涉及一種IC卡觸點壓力的測試方法。背景技術(shù)在生產(chǎn)IC刷卡設(shè)備時需要對設(shè)備的IC卡觸點壓力進行測試，避免壓力過大損傷磁卡，現(xiàn)有的測試方法需要采用專門測試卡片壓力的專用設(shè)備，該設(shè)備成本昂貴而且不易購買。由于IC卡座內(nèi)部空間比較小，市場上通用的壓力測試設(shè)備無法在該環(huán)境下進行壓力測試，需要將精密的壓力傳感器集成在IC卡上才可以進行該項測試。發(fā)明內(nèi)容為此，需要提供一種便捷的檢測IC卡刷卡設(shè)備觸點壓力的方法、裝置及卡片，為實現(xiàn)上述目的，發(fā)明人提供了一種IC卡觸點壓力測試方法，...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。