技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種用于幾何地確定工件的特征的方法和設(shè)備，其包括圖像處理傳感器和光學(xué)分光器，圖像處理傳感器具有第一光束路徑，所述第一光束路徑包括面對待測量工件的至少一個前光學(xué)單元，光學(xué)分光器被安裝在前光學(xué)單元的背向工件的一側(cè)。所述光學(xué)分光器將第二光束路徑連接至圖像處理光束路徑，形成公共光束路徑，并且所述第二光束路徑與第二光學(xué)傳感器相關(guān)聯(lián)，圖像處理傳感器和第二傳感器被設(shè)計成直接測量工件的表面。前光學(xué)單元被形成為非球面鏡和/或具有縱向彩色瑕疵。

技術(shù)研發(fā)人員：拉爾夫·克里斯多佛;英格瑪·施密特;沃爾克·韋格納;馬蒂亞斯·安德拉斯;烏爾里?！ぶZ伊舍費爾-魯貝;安德烈亞斯·艾特邁爾;穆罕默德·德米萊爾;薩賓·林茨-迪特里希;本杰明·霍普
受保護(hù)的技術(shù)使用者：沃思測量技術(shù)股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2015.12.11
技術(shù)公布日：2017.09.26