1.一種試驗裝置，其中，具有：
光半導體元件，其發(fā)出包含紫外光的光，所述紫外光是電氣化鐵路系統(tǒng)中的接觸導線和受電弓的滑板的離線部位所產(chǎn)生的電弧放電所含的紫外光，
發(fā)光控制部，其使所述光半導體元件持續(xù)發(fā)光規(guī)定時間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的試驗裝置，其中，
所述光半導體元件是紫外線發(fā)光二極管。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的試驗裝置，其中，
所述發(fā)光控制部具有：
振蕩器，其以規(guī)定的振蕩頻率振蕩，
計數(shù)器，其響應(yīng)所述振蕩器的振蕩輸出開始計數(shù)，當計數(shù)值達到規(guī)定的設(shè)定值時停止計數(shù)，
驅(qū)動電路，其基于所述計數(shù)器的計數(shù)結(jié)果驅(qū)動所述光半導體元件。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的試驗裝置，其中，
所述振蕩器具有由可變電阻和電容器構(gòu)成的時間常數(shù)電路，并以與時間常數(shù)對應(yīng)的頻率進行振蕩，所述時間常數(shù)由所述可變電阻的電阻值和所述電容器的容量值確定。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的試驗裝置，其中，
還具有：
光檢測部，其檢測由所述光半導體元件發(fā)出的光，
發(fā)光時間修正部，其基于所述光檢測部的檢測結(jié)果，修正所述光半導體元件的發(fā)光時間。
6.一種試驗方法，其中，包括發(fā)光控制步驟，該發(fā)光控制步驟使發(fā)出包含紫外光的光的光半導體元件持續(xù)發(fā)光規(guī)定時間，所述紫外光是電氣化鐵路系統(tǒng)中的接觸導線和受電弓的滑板的離線部位所產(chǎn)生的電弧放電所含的紫外光，
所述發(fā)光控制步驟具有：
振蕩器以規(guī)定的振蕩頻率振蕩的步驟，
計數(shù)器響應(yīng)所述振蕩器的振蕩輸出開始計數(shù)，當計數(shù)值達到規(guī)定的設(shè)定值時停止計數(shù)的步驟，
驅(qū)動電路基于所述計數(shù)器的計數(shù)結(jié)果驅(qū)動所述光半導體元件的步驟。