1.一種真圓度量測(cè)方法，其特征在于包括：
承載并轉(zhuǎn)動(dòng)一待測(cè)物于一轉(zhuǎn)盤(pán)上；
驅(qū)動(dòng)二量測(cè)單元的二量測(cè)平面而分別抵接于所述待測(cè)物的相對(duì)兩側(cè)，其中所述二量測(cè)單元設(shè)置于所述轉(zhuǎn)盤(pán)的相對(duì)兩側(cè)，且所述二量測(cè)平面彼此平行且垂直所述轉(zhuǎn)盤(pán)的頂面；
在轉(zhuǎn)動(dòng)所述轉(zhuǎn)盤(pán)一圈時(shí)，間隔的量測(cè)所述二量測(cè)平面的最短直線距離而產(chǎn)生一變化信息；以及
在所述轉(zhuǎn)盤(pán)轉(zhuǎn)動(dòng)一圈后，經(jīng)由一處理單元接收所述變化信息而產(chǎn)生一量測(cè)信息。
2.如權(quán)利要求1所述的真圓度量測(cè)方法，其特征在于：所述量測(cè)信息為所述待測(cè)物的平均直徑、所述待測(cè)物的平均半徑、所述待測(cè)物的轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)的半徑變化量以及所述待測(cè)物轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)的軸心偏移量。
3.如權(quán)利要求1所述的真圓度量測(cè)方法，其特征在于：所述待測(cè)物為一圓球體或一圓柱體。
4.如權(quán)利要求1所述的真圓度量測(cè)方法，其特征在于：每一所述量測(cè)單元具有一彈性件，連接對(duì)應(yīng)的所述量測(cè)平面，用以彈性地抵推所述量測(cè)平面。
5.如權(quán)利要求1所述的真圓度量測(cè)方法，其特征在于：每一所述量測(cè)單元包含一測(cè)量件，用以量測(cè)對(duì)應(yīng)的所述量測(cè)平面在間隔地轉(zhuǎn)動(dòng)所述角度時(shí)一位移的位移變化，所述位移平行所述待測(cè)物接觸所述二量測(cè)平面的相對(duì)兩端點(diǎn)的連線。
6.一種真圓度量測(cè)裝置，包括：
一轉(zhuǎn)盤(pán)，用以承載并轉(zhuǎn)動(dòng)一待測(cè)物；
二量測(cè)單元，設(shè)置于所述轉(zhuǎn)盤(pán)的相對(duì)兩側(cè)，每一所述量測(cè)單元具有一量測(cè)平面，所述二量測(cè)平面彼此平行且垂直所述轉(zhuǎn)盤(pán)的頂面，用以分別抵接于所述待測(cè)物的相對(duì)兩側(cè)，其中當(dāng)所述轉(zhuǎn)盤(pán)轉(zhuǎn)動(dòng)一圈時(shí)，所述二量測(cè)單元間隔的量測(cè)所述二量測(cè)平面的最短直線距離而產(chǎn)生一變化信息；以及
一處理單元，電性連接所述量測(cè)單元，用以在所述轉(zhuǎn)盤(pán)轉(zhuǎn)動(dòng)一圈后，接收所述變化信息而產(chǎn)生一量測(cè)信息。
7.如權(quán)利要求6所述的真圓度量測(cè)裝置，其特征在于：所述量測(cè)信息為所述待測(cè)物的平均直徑、所述待測(cè)物的平均半徑、所述待測(cè)物的轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)的半徑變化量以及所述待測(cè)物轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)的軸心偏移量。
8.如權(quán)利要求6所述的真圓度量測(cè)裝置，其特征在于：所述待測(cè)物為一圓球體或一圓柱體。
9.如權(quán)利要求6所述的真圓度量測(cè)裝置，其特征在于：每一所述量測(cè)單元具有一彈性件，連接對(duì)應(yīng)的所述量測(cè)平面，用以彈性地抵推所述量測(cè)平面。
10.如權(quán)利要求6所述的真圓度量測(cè)裝置，其特征在于：每一所述量測(cè)單元包含一測(cè)量件，用以量測(cè)對(duì)應(yīng)的所述量測(cè)平面在間隔地轉(zhuǎn)動(dòng)所述角度時(shí)一位移的位移變化，所述位移平行所述待測(cè)物接觸所述二量測(cè)平面的相對(duì)兩端點(diǎn)的連線。