技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供了一種含釓羥基磷灰石納米顆粒的檢測方法，包括：準(zhǔn)備待測樣品，待測樣品中含有含釓羥基磷灰石納米顆粒和/或帶有熒光標(biāo)記的含釓羥基磷灰石納米顆粒；用激光照射待測樣品，并采集反射光；以及根據(jù)采集到的反射光形成圖像或光譜曲線。本方法可對(duì)含釓羥基磷灰石納米顆粒進(jìn)行連續(xù)的、長時(shí)間的實(shí)時(shí)追蹤和定位成像。

技術(shù)研發(fā)人員：袁蘭;黃健;袁帥軍
受保護(hù)的技術(shù)使用者：北京大學(xué)
文檔號(hào)碼：201510177019
技術(shù)研發(fā)日：2015.04.15
技術(shù)公布日：2016.11.23