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變頻器檢測設(shè)備的制作方法

文檔序號(hào):6066898閱讀:183來源:國知局
變頻器檢測設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開一種變頻檢測設(shè)備,包括支架、輸送帶、測試平臺(tái)、機(jī)械手臂及返板機(jī)構(gòu),所述測試平臺(tái)左右橫向固置于所述支架上,所述測試平臺(tái)包括底座、測試升降底板、升降氣缸及測試插頭,所述升降氣缸固定于所述底座上,且所述升降氣缸的輸出端與所述測試升降底板的底部相接,所述測試插頭左右滑動(dòng)連接于所述底座上對(duì)應(yīng)所述測試升降底板的左側(cè),所述機(jī)械手臂帶動(dòng)所述測試插頭移動(dòng),所述輸送帶前后置于所述支架上對(duì)應(yīng)所述測試升降底板的左右兩外側(cè),所述返板機(jī)構(gòu)設(shè)于所述測試平臺(tái)的前方本實(shí)用新型變頻檢測設(shè)備結(jié)合通用治具實(shí)現(xiàn)對(duì)變頻產(chǎn)品的自動(dòng)檢測,大大提高檢測效率及檢測質(zhì)量。
【專利說明】變頻器檢測設(shè)備

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及機(jī)械領(lǐng)域,尤其涉及一種變頻檢測設(shè)備。

【背景技術(shù)】
[0002]變頻器產(chǎn)品推出市場前,需要經(jīng)過各項(xiàng)測試。現(xiàn)時(shí)變頻器產(chǎn)品測試程序繁冗復(fù)雜,效率低下。
[0003]針對(duì)上述問題,亟待一種自動(dòng)化程度高的變頻檢測設(shè)備,從而提高檢測效率及檢測質(zhì)量。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本實(shí)用新型的目的在于提供一種自動(dòng)化程度高的變頻檢測設(shè)備,從而提高檢測效率及檢測質(zhì)量。
[0005]為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型的技術(shù)方案為:提供一種變頻檢測設(shè)備,包括支架、輸送帶、測試平臺(tái)、機(jī)械手臂及返板機(jī)構(gòu),所述測試平臺(tái)左右橫向固置于所述支架上,所述測試平臺(tái)包括底座、測試升降底板、升降氣缸及測試插頭,所述升降氣缸固定于所述底座上,且所述升降氣缸的輸出端與所述測試升降底板的底部相接,所述測試插頭左右滑動(dòng)連接于所述底座上對(duì)應(yīng)所述測試升降底板的左側(cè),所述機(jī)械手臂帶動(dòng)所述測試插頭移動(dòng),所述輸送帶前后置于所述支架上對(duì)應(yīng)所述測試升降底板的左右兩外側(cè),所述返板機(jī)構(gòu)設(shè)于所述測試平臺(tái)的前方。
[0006]所述測試平臺(tái)還包括高度限位板,所述高度限位板固設(shè)于所述底座上對(duì)應(yīng)所述測試升降底板的右側(cè)。
[0007]所述測試平臺(tái)還包括支撐塊、滑塊座、兩滑塊、兩滑軌、電機(jī)座及驅(qū)動(dòng)電機(jī),所述滑塊座固接于所述底座的左端,兩所述滑塊分別左右向固接于所述滑塊座的前后兩端,所述滑塊分別滑動(dòng)連接于對(duì)應(yīng)的所述滑軌上,所述測試插頭固定于所述支撐塊上,所述支撐塊固接于所述滑塊的右端,所述電機(jī)座固接于所述滑塊座上對(duì)應(yīng)所述滑軌的左側(cè),所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)固定于所述電機(jī)座上,且所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)的輸出端與所述支撐塊相接。
[0008]所述測試升降底板的左右兩端分別向上凸設(shè)有定位凸邊。
[0009]所述測試平臺(tái)還包括兩治具走向定位塊,所述治具走向定位塊固接于所述底座上對(duì)應(yīng)所述測試插頭與所述測試升降底板之間。
[0010]與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型變頻檢測設(shè)備結(jié)合通用治具實(shí)現(xiàn)對(duì)變頻產(chǎn)品的自動(dòng)檢測,大大提高檢測效率及檢測質(zhì)量。
[0011]通過以下的描述并結(jié)合附圖,本實(shí)用新型將變得更加清晰,這些附圖用于解釋本實(shí)用新型的實(shí)施例。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]圖1為本實(shí)用新型變頻檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0013]圖2為本實(shí)用新型變頻檢測設(shè)備的局部結(jié)構(gòu)圖。
[0014]圖3為圖2的分解圖。
[0015]圖4為本實(shí)用新型變頻檢測設(shè)備的測試平臺(tái)的結(jié)構(gòu)圖。

【具體實(shí)施方式】
[0016]參考圖1至圖4,本實(shí)用新型變頻檢測設(shè)備100包括支架10、輸送帶30、測試平臺(tái)40、機(jī)械手臂50及返板機(jī)構(gòu)60。
[0017]所述測試平臺(tái)40左右橫向固置于所述支架10上。所述測試平臺(tái)40包括底座41、測試升降底板42、升降氣缸43、測試插頭44及高度限位板45。所述升降氣缸43固定于所述底座41上,且所述升降氣缸43的輸出端與所述測試升降底板42的底部相接。所述測試插頭44左右滑動(dòng)連接于所述底座41上對(duì)應(yīng)所述測試升降底板42的左側(cè)。所述高度限位板45固設(shè)于所述底座41上對(duì)應(yīng)所述測試升降底板42的右側(cè)。所述機(jī)械手臂50帶動(dòng)所述測試插頭44移動(dòng)。所述輸送帶30前后置于所述支架10上對(duì)應(yīng)所述測試升降底板42的左右兩外側(cè)。所述返板機(jī)構(gòu)60設(shè)于所述測試平臺(tái)40的前方。
[0018]較佳者,所述測試平臺(tái)40還包括支撐塊46、滑塊座47、兩滑塊48、兩滑軌49、電機(jī)座491、驅(qū)動(dòng)電機(jī)492及兩治具走向定位塊493。所述滑塊座47固接于所述底座41的左端,兩所述滑塊48分別左右向固接于所述滑塊座47的前后兩端,所述滑塊48分別滑動(dòng)連接于對(duì)應(yīng)的所述滑軌49上,所述測試插頭44固定于所述支撐塊46上,所述支撐塊46固接于所述滑塊48的右端。所述電機(jī)座491固接于所述滑塊座47上對(duì)應(yīng)所述滑軌49的左側(cè)。所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)492固定于所述電機(jī)座491上,且所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)492的輸出端與所述支撐塊46相接。所述測試升降底板42的左右兩端分別向上凸設(shè)有定位凸邊421。所述治具走向定位塊493固接于所述底座41上對(duì)應(yīng)所述測試插頭44與所述測試升降底板42之間。
[0019]本實(shí)用新型變頻檢測設(shè)備100使用時(shí),先通過機(jī)械手臂50調(diào)整測試插頭44的位置,所述通用治具20置于所述輸送帶30的輸入端,所述通用治具20的中部設(shè)有產(chǎn)品放置臺(tái)21,產(chǎn)品放置臺(tái)21上放置變頻測試產(chǎn)品200,所述通用治具20的右端及左側(cè)壁分別設(shè)有產(chǎn)品對(duì)接端口(圖未示)及航空頭連接器23,產(chǎn)品放置臺(tái)21上放置有與產(chǎn)品對(duì)接端口對(duì)接的變頻測試產(chǎn)品200,通用治具20隨輸送帶30輸送至測試升降底板42上,升降氣缸43啟動(dòng)使測試升降底板42上升,讓航空頭連接器23與測試插頭44對(duì)接,然后進(jìn)行一系列的測試檢驗(yàn),檢測后,通用治具20隨輸送帶30輸送至返板機(jī)構(gòu)60存放。
[0020]本實(shí)用新型變頻檢測設(shè)備結(jié)合通用治具實(shí)現(xiàn)對(duì)變頻產(chǎn)品的自動(dòng)檢測,大大提高檢測效率及檢測質(zhì)量。
[0021]以上結(jié)合最佳實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行描述,但本實(shí)用新型并不局限于以上揭示的實(shí)施例,而應(yīng)當(dāng)涵蓋各種根據(jù)本實(shí)施例的本質(zhì)進(jìn)行的修改、等效組合。
【權(quán)利要求】
1.一種變頻檢測設(shè)備,其特征在于:包括支架、輸送帶、測試平臺(tái)、機(jī)械手臂及返板機(jī)構(gòu),所述測試平臺(tái)左右橫向固置于所述支架上,所述測試平臺(tái)包括底座、測試升降底板、升降氣缸及測試插頭,所述升降氣缸固定于所述底座上,且所述升降氣缸的輸出端與所述測試升降底板的底部相接,所述測試插頭左右滑動(dòng)連接于所述底座上對(duì)應(yīng)所述測試升降底板的左側(cè),所述機(jī)械手臂帶動(dòng)所述測試插頭移動(dòng),所述輸送帶前后置于所述支架上對(duì)應(yīng)所述測試升降底板的左右兩外側(cè),所述返板機(jī)構(gòu)設(shè)于所述測試平臺(tái)的前方。
2.如權(quán)利要求1所述的變頻檢測設(shè)備,其特征在于:所述測試平臺(tái)還包括高度限位板,所述高度限位板固設(shè)于所述底座上對(duì)應(yīng)所述測試升降底板的右側(cè)。
3.如權(quán)利要求1所述的變頻檢測設(shè)備,其特征在于:所述測試平臺(tái)還包括支撐塊、滑塊座、兩滑塊、兩滑軌、電機(jī)座及驅(qū)動(dòng)電機(jī),所述滑塊座固接于所述底座的左端,兩所述滑塊分別左右向固接于所述滑塊座的前后兩端,所述滑塊分別滑動(dòng)連接于對(duì)應(yīng)的所述滑軌上,所述測試插頭固定于所述支撐塊上,所述支撐塊固接于所述滑塊的右端,所述電機(jī)座固接于所述滑塊座上對(duì)應(yīng)所述滑軌的左側(cè),所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)固定于所述電機(jī)座上,且所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)的輸出端與所述支撐塊相接。
4.如權(quán)利要求1所述的變頻檢測設(shè)備,其特征在于:所述測試升降底板的左右兩端分別向上凸設(shè)有定位凸邊。
5.如權(quán)利要求1所述的變頻檢測設(shè)備,其特征在于:所述測試平臺(tái)還包括兩治具走向定位塊,所述治具走向定位塊固接于所述底座上對(duì)應(yīng)所述測試插頭與所述測試升降底板之間。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK204142852SQ201420469897
【公開日】2015年2月4日 申請(qǐng)日期:2014年8月19日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月19日
【發(fā)明者】李垂猛, 李亮 申請(qǐng)人:東莞市冠佳電子設(shè)備有限公司
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