一種快速測試非晶磁環(huán)的設備及其測試方法
【專利摘要】一種快速測試非晶磁環(huán)的設備及其測試方法，涉及磁環(huán)測試設備及方法【技術(shù)領(lǐng)域】，其設備結(jié)構(gòu)包括多臺單頻率的電感測試儀器，還包括上模和下模，上模設有多個導電探針，下模設有導電片，每臺單頻率的電感測試儀器均包括兩根測試線，其中一根測試線與一個導電探針連接，另一根測試線與跟導電探針位置對應的一個導電片連接，本發(fā)明在測試多種頻率下的非晶磁環(huán)的電感時，無需購買昂貴的測試儀器，利用老式的現(xiàn)有的測試儀器就可實現(xiàn)，可大大降低成本；由于多個導電片并排設置，測試完一個頻率的電感后可馬上推送到另一個測試工位測試第二個頻率的電感，還可同時測試另外其它非晶磁環(huán)在其它頻率下的電感，與現(xiàn)有技術(shù)相比，可大大提高測試效率。
【專利說明】一種快速測試非晶磁環(huán)的設備及其測試方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及磁環(huán)測試設備【技術(shù)領(lǐng)域】，特別是涉及一種快速測試非晶磁環(huán)的設備及其測試方法。

【背景技術(shù)】
[0002]非晶磁環(huán)，是用非晶材料加工的磁性元件，可作為各種形式的高頻(20KHz-100KHz)開關(guān)電源中的大中小功率的主變壓器、控制變壓器、濾波電感、儲能電感、電抗器、磁放大器、飽和電抗器鐵芯、EMC濾波器共模電感和差模電感鐵芯、ISDN微型隔離變壓器鐵芯；同時廣泛應用于各種類型不同精度的互感器鐵芯。
[0003]非晶磁環(huán)在不同的使用環(huán)境下，有只對一個頻率的電感要求的，也有多個不同頻率的電感要求，因此，在使用之前，通常需要按照不同的頻率要求測試其電感，比如對于某款非晶磁環(huán)，有頻率lKHz，1KHz和10KHz的電感要求，這時候就需要利用儀器來測試這三個頻率下的電感。
[0004]老式的測試儀器一般只能測試一個頻率的電感(稱為單頻率的電感測試儀器)，當需要測試多個不同頻率的電感時，就需要經(jīng)過多次測試才能完成，在生產(chǎn)線上，一般是一個工人負責測試一個頻率的電感，測試完合格的非晶磁環(huán)流到下一個工人，依次進行流水式的測試，這樣就需要多個工人，導致用工成本高；而如果只用一個工人來進行多次的測試，則一般是該工人將一定數(shù)量的非晶磁環(huán)全部先進行第一次測試，測試完的先擱置起來，等全部測量完了再進行第二次測試，這樣就占用了庫存的空間，提高了庫存成本。
[0005]現(xiàn)有市場上出現(xiàn)了可實現(xiàn)同時測試多個頻率下的電感的新式測試儀器，但一般價格都很昂貴，對于生產(chǎn)商來說，一般早就配備了老式的測試儀器，出于成本的考慮，一般不會再去購置新式測試儀器，因此，如何利用老式的測試儀器同時又能提高測試效率、降低用工成本以及減少庫存成本就成了生產(chǎn)商亟需解決的問題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明的目的在于避免現(xiàn)有技術(shù)中的不足之處而提供一種快速測試非晶磁環(huán)的設備及其測試方法，該快速測試非晶磁環(huán)的設備及其測試方法可在利用老式的測試儀器的同時提高測試效率、降低用工成本以及減少庫存成本。
[0007]本發(fā)明的目的通過以下技術(shù)方案實現(xiàn):
提供一種快速測試非晶磁環(huán)的設備，包括多臺單頻率的電感測試儀器，本發(fā)明中，包括上模和下模，所述上模設有多個導電探針，下模設有與所述導電探針數(shù)量相同且位置對應的導電片，每臺所述單頻率的電感測試儀器均包括兩根測試線，其中一根測試線與一個導電探針連接，另一根測試線與跟所述導電探針位置對應的一個導電片連接；
所述多個導電片并排設置。
[0008]其中，一個所述導電探針和與其位置對應的導電片組成一個測試工位，所述測試工位包括初始測試工位和末次測試工位； 所述下模延伸有備用位，所述備用位位于所述末次測試工位的遠離所述初始測試工位的一側(cè)，所述備用位放置待測的非晶磁環(huán)。
[0009]其中，還包括推動裝置，所述推動裝置位于所述待測的非晶磁環(huán)的遠離所述末次測試工位的一側(cè)，所述推動裝置的推動力方向是從所述初始測試工位到所述末次測試工位，所述推動裝置在所述上模復位時推動所述待測的非晶磁環(huán)移動一個測試工位。
[0010]其中，所述下模包括出料位，所述出料位位于所述末次測試工位的一側(cè)。
[0011]其中，所述出料位向地面方向傾斜設置。
[0012]其中，所述下模設有一根直線導軌，所述直線導軌位于每個導電片的下方，所述直線導軌沿所述下模的長度方向設置，位于直線導軌的導電片貼設于直線導軌。
[0013]其中，還包括絕緣套環(huán)，所述絕緣套環(huán)設有可帶動所述絕緣套環(huán)在所述直線導軌上滑動的滑動部。
[0014]其中，所述滑動部設為位于絕緣套環(huán)周緣且對稱設置的兩個滑動腳。
[0015]其中，所述導電片設有與所述導電探針位置相對應的凹槽。
[0016]一種利用以上所述的快速測試非晶磁環(huán)的設備快速測試多個非晶磁環(huán)在多種不同頻率下的電感的方法，包括如下步驟:
第一，將每一個非晶磁環(huán)按照相同的順序依次放置在每一個導電片上；
第二，所述上模下降至每一根導電探針與其位置相對應的導電片接觸，使得所述單頻率的電感測試儀器的兩根測試線形成一個測試回路，所述一個測試回路的電流穿過一個非晶磁環(huán)，利用電磁感應完成在該單頻率的電感測試儀器提供的頻率下對非晶磁環(huán)的電感測試。
[0017]本發(fā)明的有益效果:
第一，本發(fā)明的快速測試非晶磁環(huán)的設備，在測試多個頻率下的非晶磁環(huán)的電感時，無需購買昂貴的測試儀器，利用老式的現(xiàn)有的測試儀器就可實現(xiàn)，可大大降低成本；
第二，由于多個導電片并排設置，即多個測試工位并排設置，測試完一個頻率的電感后可馬上推送到另一個測試工位測試第二個頻率的電感，還可同時測試另外兩個非晶磁環(huán)在其它頻率下的電感，與現(xiàn)有技術(shù)相比，可大大提高測試效率；
第三，由于只需要一個工人就可實現(xiàn)測試，與現(xiàn)有技術(shù)需多個工人相比，大大降低了用工成本；
第四，由于一個非晶磁環(huán)可在短時間內(nèi)測試完多個頻率下的電感，測完即可送到下一道工序使用，不需要庫存，與現(xiàn)有技術(shù)的多個非晶磁環(huán)統(tǒng)一測試一種頻率的電感后先擱置，再統(tǒng)一測試另一種頻率的電感相比,可減少庫存成本。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0018]利用附圖對發(fā)明作進一步說明，但附圖中的實施例不構(gòu)成對本發(fā)明的任何限制，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)以下附圖獲得其它的附圖。
[0019]圖1是本發(fā)明的一種快速測試非晶磁環(huán)的設備的第一個狀態(tài)示意圖。
[0020]圖2是本發(fā)明的一種快速測試非晶磁環(huán)的設備的第二個狀態(tài)示意圖。
[0021]圖3是本發(fā)明的一種快速測試非晶磁環(huán)的設備的測試時的狀態(tài)示意圖。
[0022]圖4是本發(fā)明的一種快速測試非晶磁環(huán)的設備的絕緣套環(huán)與直線導軌的配合示意圖。
[0023]圖5是本發(fā)明的一種快速測試非晶磁環(huán)的設備的非晶磁環(huán)套于絕緣磁環(huán)的示意圖。
[0024]圖中包括有:
1——IKHz的電感測試儀器；
2——1KHz的電感測試儀器；
3——10KHz的電感測試儀器；
4——上模、41——導電探針；
5——下模、51——導電片、511——凹槽、52——初始測試工位、53——備用位、54——出料位、55——直線導軌；
6-絕緣套環(huán)、61-滑動腳；
7——推動裝置；
8——第一個待測品(隱藏絕緣套環(huán))；
9——第二個待測品(隱藏絕緣套環(huán))；
10—第三個待測品(隱藏絕緣套環(huán))；
11——第四個待測品(隱藏絕緣套環(huán));
12—第五個待測品(隱藏絕緣套環(huán))；
13——非晶磁環(huán)。

【具體實施方式】
[0025]結(jié)合以下實施例對本發(fā)明作進一步描述。
[0026]本實施例的一種快速測試非晶磁環(huán)的設備，如圖1至圖3所示，包括多臺單頻率的電感測試儀器，本實施例中，還包括上模4和下模5，所述上模4設有多個導電探針41，下模5設有與所述導電探針41數(shù)量相同且位置對應的導電片51，每臺單頻率的電感測試儀器均包括兩根測試線，其中一根測試線與一個導電探針41連接，另一根測試線與跟所述導電探針41位置對應的一個導電片51連接；
所述多個導電片51并排設置。
[0027]具體的，一個所述導電探針41和與其位置對應的導電片51組成一個測試工位，所述測試工位包括初始測試工位52和末次測試工位；
如圖1所示，所述下模5延伸有備用位53，所述備用位53位于所述末次測試工位的遠離所述初始測試工位52的一側(cè)，所述備用位53放置待測的非晶磁環(huán)13，可提前放好待測的非晶磁環(huán)13，提聞測試效率。
[0028]具體的，如圖2和圖3所示，還包括推動裝置7，所述推動裝置7位于所述待測的非晶磁環(huán)13的遠離所述末次測試工位的一側(cè)，所述推動裝置7的推動力方向是從所述初始測試工位52到所述末次測試工位，所述推動裝置7在所述上模4復位時推動所述待測的非晶磁環(huán)13移動一個測試工位，具體的，推動裝置7可以是氣缸，利用氣缸推動非晶磁環(huán)13的方式可實現(xiàn)將待測的非晶磁環(huán)13推進測試工位，同時將測試完的非晶磁環(huán)13送出。
[0029]具體的,如圖1所示，所述下模5包括出料位54,所述出料位54位于所述末次測試工位的一側(cè)，所述出料位54向地面方向傾斜設置，方便測試完的非晶磁環(huán)13的送出。
[0030]具體的，如圖1至圖5所示，所述下模5設有一根直線導軌55，所述直線導軌55位于每個導電片51的下方，所述直線導軌55沿所述下模5的長度方向設置，位于直線導軌55的導電片51貼設于直線導軌55。
[0031]具體的,如圖4和圖5所示,還包括絕緣套環(huán)6,所述絕緣套環(huán)6設有可帶動所述絕緣套環(huán)6在所述導軌上滑動的滑動部。絕緣套環(huán)6用于承載非晶磁環(huán)13，帶滑動部的絕緣套環(huán)6可帶動非晶磁環(huán)13在直線導軌55上滑動，可提高非晶磁環(huán)13的輸送效率。
[0032]具體的，所述滑動部設為位于絕緣套環(huán)6周緣且對稱設置的兩個滑動腳61，此種設計簡單，成本低。
[0033]具體的，如圖1至圖3所示，所述導電片51設有與所述導電探針41位置相對應的凹槽511，導電探針41下降到下模5時，與導電片51的凹槽511接觸，可增大接觸面積，使得導電片51和導電探針41的接觸更加良好。
[0034]本實施例中，列舉一個非晶磁環(huán)13需要測試三個頻率下的電感，三個頻率分別是lKHz, 1KHz和ΙΟΟΚΗζ，當下模5的備用位53可放置兩個非晶磁環(huán)13，則需先選用頻率為IKHz的電感測試儀器1，1KHz的電感測試儀器2和10KHz的電感測試儀器3，在上模4設置三根導電探針41，在下模5設置三個導電片51，每臺單頻率的電感測試儀器均設有兩根測試線，其中一根與一個導電探針41連接，另一根與該導電探針41位置對應的導電片51連接，頻率為IKHz的單頻率的電感測試儀器接于初始測試工位52的導電探針41和導電片51，頻率為1KHz的單頻率的電感測試儀器接于中間測試工位的導電探針41和導電片51，頻率為10KHz的單頻率的電感測試儀器接于末次測試工位的導電探針41和導電片51 ；
將待測試的非晶磁環(huán)13都裝上絕緣套環(huán)6，非晶磁環(huán)13位于絕緣套環(huán)6的中間，以下將帶絕緣套環(huán)6的非晶磁環(huán)13稱為待測品。
[0035]一種利用以上的快速測試非晶磁環(huán)的設備快速測試多個非晶磁環(huán)在三種不同頻率下的電感的方法，具體如下:
測試非晶磁環(huán)13時，先將頻率為IKHz的電感測試儀器1，1KHz的電感測試儀器2和10KHz的電感測試儀器3通電，調(diào)試好，將第一個待測品8放在初始測試工位52的導電片51上，待測品的絕緣套環(huán)6的滑動腳61置于直線導軌55，第二個待測品9和第三個待測品10按照相同的方法排列于備用位53，將氣缸調(diào)整至第三個待測品10的一側(cè)，腳壓腳踩開關(guān)，上模4下降至導電探針41與導電片51接觸，使得導電探針41位于待測品的中間，此時導電探針41、導電片51和單頻率的電感測試儀器形成一個測試回路，流經(jīng)該測試回路的電流穿過第一個待測品8產(chǎn)生電磁感應，就可以測試在IKHz頻率下第一個待測品8的電感。
[0036]測試完第一個待測品8在IKHz頻率下的電感后，上模4復位，氣缸推動第三個待測品10移動一個測試工位后復位，使得第二個待測品9位于初始測試工位52，而第一個待測品8則被移至中間測試工位，當上模4下降到探針接觸導電片51時，可同時測試第一個待測品8在1KHz頻率下的電感和測試第二個待測品9在IKHz頻率下的電感。
[0037]在上模4下降的同時，補充第四個待測品11到備用位53。
[0038]接著上模4再次復位，氣缸推動第四個待測品11移動一個測試工位后復位，使得第三個待測品10被移至初始測試位，而第二個待測品9被移至中間測試工位，第一個待測品8被移至末次測試工位，當上模4下降到探針接觸導電片51時，可同時測試第一個待測品8在10KHz頻率下的電感、測試第二個待測品9在1KHz頻率下的電感和測試第三個待測品10在IKHz頻率下的電感。
[0039]在上模4下降的同時，補充第五個待測品12到備用位53，如此循環(huán)繼續(xù)測試。
[0040]本實施例的有益效果如下:
第一，本實施例的快速測試非晶磁環(huán)13的設備，在測試三個頻率下的非晶磁環(huán)13的電感時，無需購買昂貴的測試儀器，利用老式的現(xiàn)有的單頻率的電感測試儀器就可實現(xiàn)，可大大降低成本；
第二，由于多個導電片51并排設置，即多個測試工位并排設置，測試完一個頻率的電感后可馬上推送到另一個測試工位測試第二個頻率的電感，還可同時測試另外兩個非晶磁環(huán)13在其它頻率下的電感，與現(xiàn)有技術(shù)相比，可至少提高20%的測試效率；
第三，由于只需要一個工人就可實現(xiàn)測試，與現(xiàn)有技術(shù)需三個工人相比，大大降低了用工成本；
第四，由于一個非晶磁環(huán)13可在短時間內(nèi)測試完多個頻率下的電感，測完即可送到下一道工序使用，不需要庫存，與現(xiàn)有技術(shù)的多個非晶磁環(huán)13統(tǒng)一測試一種頻率的電感后先擱置，再統(tǒng)一測試另一種頻率的電感相比，可減少庫存成本。
[0041]最后應當說明的是，以上實施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對本發(fā)明保護范圍的限制，盡管參照較佳實施例對本發(fā)明作了詳細地說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應當理解，可以對本發(fā)明的技術(shù)方案進行修改或者等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的實質(zhì)和范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種快速測試非晶磁環(huán)的設備，包括多臺單頻率的電感測試儀器，其特征在于: 包括上模和下模，所述上模設有多個導電探針，下模設有與所述導電探針數(shù)量相同且位置對應的導電片，每臺所述單頻率的電感測試儀器均包括兩根測試線，其中一根測試線與一個導電探針連接，另一根測試線與跟所述導電探針位置對應的一個導電片連接； 所述多個導電片并排設置。
2.如權(quán)利要求1所述的一種快速測試非晶磁環(huán)的設備，其特征在于:一個所述導電探針和與其位置對應的導電片組成一個測試工位，所述測試工位包括初始測試工位和末次測試工位； 所述下模延伸有備用位，所述備用位位于所述末次測試工位的遠離所述初始測試工位的一側(cè)，所述備用位放置待測的非晶磁環(huán)。
3.如權(quán)利要求2所述的一種快速測試非晶磁環(huán)的設備，其特征在于:還包括推動裝置，所述推動裝置位于所述待測的非晶磁環(huán)的遠離所述末次測試工位的一側(cè)，所述推動裝置的推動力方向是從所述初始測試工位到所述末次測試工位，所述推動裝置在所述上模復位時推動所述待測的非晶磁環(huán)移動一個測試工位。
4.如權(quán)利要求2所述的一種快速測試非晶磁環(huán)的設備，其特征在于:所述下模包括出料位，所述出料位位于所述末次測試工位的一側(cè)。
5.如權(quán)利要求4所述的一種快速測試非晶磁環(huán)的設備，其特征在于:所述出料位向地面方向傾斜設置。
6.如權(quán)利要求1所述的一種快速測試非晶磁環(huán)的設備，其特征在于:所述下模設有一根直線導軌，所述直線導軌位于每個導電片的下方，所述直線導軌沿所述下模的長度方向設置，位于直線導軌的導電片貼設于直線導軌。
7.如權(quán)利要求6所述的一種快速測試非晶磁環(huán)的設備，其特征在于:還包括絕緣套環(huán)，所述絕緣套環(huán)設有可帶動所述絕緣套環(huán)在所述直線導軌上滑動的滑動部。
8.如權(quán)利要求7所述的一種快速測試非晶磁環(huán)的設備，其特征在于:所述滑動部設為位于絕緣套環(huán)周緣且對稱設置的兩個滑動腳。
9.如權(quán)利要求1所述的一種快速測試非晶磁環(huán)的設備，其特征在于:所述導電片設有與所述導電探針位置相對應的凹槽。
10.一種利用權(quán)利要求1至9任意一項所述的快速測試非晶磁環(huán)的設備快速測試多個非晶磁環(huán)在多種不同頻率下的電感的方法，其特征在于:包括如下步驟: 第一，將每一個非晶磁環(huán)按照相同的順序依次放置在每一個導電片上； 第二，所述上模下降至每一根導電探針與其位置相對應的導電片接觸，使得所述單頻率的電感測試儀器的兩根測試線形成一個測試回路，所述一個測試回路的電流穿過一個非晶磁環(huán)，利用電磁感應完成在該單頻率的電感測試儀器提供的頻率下對非晶磁環(huán)的電感測試。
【文檔編號】G01R27/26GK104198822SQ201410432986
【公開日】2014年12月10日 申請日期:2014年8月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月28日
【發(fā)明者】周冬行, 李正中 申請人:東莞市大忠電子有限公司