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用于測量研磨樣片的透光率的裝置制造方法

文檔序號(hào):6200297閱讀:150來源:國知局
用于測量研磨樣片的透光率的裝置制造方法
【專利摘要】一種用于測量研磨樣片的透光率的裝置,包括暗箱,光源發(fā)生器安裝在暗箱內(nèi)部的一側(cè),檢測平臺(tái)位于暗箱中部;在暗箱內(nèi)部的另一側(cè)設(shè)有與該光源發(fā)生器相對(duì)的測試端,在檢測平臺(tái)位于光源發(fā)生器方向的一側(cè)設(shè)有鋼板,所述鋼板的中心設(shè)有直徑為12毫米的圓孔。在測量研磨過的100毫米*100毫米鍍膜玻璃樣片時(shí),鍍膜玻璃樣片研磨的寬度為10毫米,放入本實(shí)用新型提供的裝置后使得光源經(jīng)過鋼板的12毫米的圓孔,能夠準(zhǔn)確的測量到研磨的位置,使得研磨試驗(yàn)測量的可見光透射比更加準(zhǔn)確并易于操作,減少因測量位置偏移造成的測量結(jié)果誤差,從而達(dá)到研磨試驗(yàn)實(shí)用、準(zhǔn)確和易于操作的效果。
【專利說明】用于測量研磨樣片的透光率的裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本實(shí)用新型涉及一種用于測量研磨樣片的透光率的裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前用于測量研磨樣片的透光率的裝置的檢測測量口直徑為40毫米,致使無法實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確檢測研磨樣片的透光率。鑒于此,有必要提供一種簡易實(shí)用、測量準(zhǔn)確和操作簡單的測量研磨樣片的透光率的裝置。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]為解決現(xiàn)有技術(shù)無法準(zhǔn)確測量研磨樣片的透光率的問題,本實(shí)用新型提供一種改進(jìn)的用于測量研磨樣片的透光率的裝置。由如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
[0004]一種用于測量研磨樣片的透光率的裝置,包括暗箱,光源發(fā)生器安裝在暗箱內(nèi)部的一側(cè),檢測平臺(tái)位于暗箱中部;在暗箱內(nèi)部的另一側(cè)設(shè)有與該光源發(fā)生器相對(duì)的測試端,在檢測平臺(tái)位于光源發(fā)生器方向的一側(cè)設(shè)有鋼板,所述鋼板的中心設(shè)有直徑為12毫米的圓孑L。
[0005]所述的用于測量研磨樣片的透光率的裝置,所述檢測平臺(tái)的測量口直徑為40毫米。
[0006]所述的用于測量研磨樣片的透光率的裝置,所述鋼板由彈簧夾固定在檢測平臺(tái)的一側(cè)。
[0007]在測量研磨過的100毫米*100毫米鍍膜玻璃樣片時(shí),鍍膜玻璃樣片研磨的寬度為10毫米,放入本實(shí)用新型提供的裝置后使得光源經(jīng)過鋼板的12毫米的圓孔,能夠準(zhǔn)確的測量到研磨的位置,使得研磨試驗(yàn)測量的可見光透射比更加準(zhǔn)確并易于操作,減少因測量位置偏移造成的測量結(jié)果誤差,從而達(dá)到研磨試驗(yàn)實(shí)用、準(zhǔn)確和易于操作的效果。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0009]附圖標(biāo)記說明:1光源發(fā)生器;2光束;3檢測平臺(tái);4測試端;5鋼板;6圓孔;7測
量口;8暗箱。
【具體實(shí)施方式】
[0010]如圖1所示,本實(shí)用新型一種用于測量研磨樣片的透光率的裝置,包括暗箱8,光源發(fā)生器I安裝在暗箱8內(nèi)部的一側(cè),檢測平臺(tái)3位于中部;在暗箱8內(nèi)部的另一側(cè)設(shè)有與該光源發(fā)生器I相對(duì)的測試端4,在檢測平臺(tái)3位于光源發(fā)生器I方向的一側(cè)設(shè)有鋼板5,鋼板5由彈簧夾固定在檢測平臺(tái)3的一側(cè)。所述鋼板5的中心設(shè)有直徑為12毫米的圓孔
6。所述檢測平臺(tái)3的測量口 7直徑為40毫米。
[0011]在測量研磨過的100毫米*100毫米鍍膜玻璃樣片時(shí),鍍膜玻璃樣片研磨的寬度為10毫米,放入本實(shí)用新型提供的裝置后使得光源經(jīng)過鋼板的12毫米的圓孔,能夠準(zhǔn)確的測量到研磨的位置,使得研磨試驗(yàn)測量的可見光透射比更加準(zhǔn)確并易于操作,減少因測量位置偏移造成的測量結(jié)果誤差,從而達(dá)到研磨試驗(yàn)實(shí)用、準(zhǔn)確和易于操作的效果。
【權(quán)利要求】
1.一種用于測量研磨樣片的透光率的裝置,其特征在于:包括暗箱,光源發(fā)生器安裝在暗箱內(nèi)部的一側(cè),檢測平臺(tái)位于暗箱中部;在暗箱內(nèi)部的另一側(cè)設(shè)有與該光源發(fā)生器相對(duì)的測試端,在檢測平臺(tái)位于光源發(fā)生器方向的一側(cè)設(shè)有鋼板,所述鋼板的中心設(shè)有直徑為12毫米的圓孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測量研磨樣片的透光率的裝置,其特征在于:所述檢測平臺(tái)的測量口直徑為40毫米。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測量研磨樣片的透光率的裝置,其特征在于:所述鋼板由彈簧夾固定在檢測平臺(tái)的一側(cè)。
【文檔編號(hào)】G01N21/59GK203479706SQ201320599595
【公開日】2014年3月12日 申請(qǐng)日期:2013年9月26日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月26日
【發(fā)明者】董清世, 張建強(qiáng), 祝宏順, 孫志夫 申請(qǐng)人:信義玻璃(天津)有限公司
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