技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及老化測試設(shè)備。根據(jù)本發(fā)明公開如下技術(shù)，即，通過用一個(gè)驅(qū)動(dòng)源使測試板向測試基板一側(cè)進(jìn)退，從而使測試板的兩端同步進(jìn)退，可以防止測試板上的連接器受損。

技術(shù)研發(fā)人員：金進(jìn)熙;白珉昇
受保護(hù)的技術(shù)使用者：韓商聯(lián)測股份有限公司
文檔號碼：201310061404
技術(shù)研發(fā)日：2013.02.27
技術(shù)公布日：2016.12.28