測試裝置制造方法
【專利摘要】一種測試裝置，包括：測試板、定位銷、探針托座、探針、連接器托座、連接器、彈性件及壓塊，其中，測試板與測試電路相連接；定位銷垂直固定在測試板上，用于定位探針托座及作為連接器托座下行的導(dǎo)軌；探針垂直固定在探針托座上；彈性件設(shè)置在探針托座和連接器托座之間；連接器設(shè)置在連接器托座中，與一待測電子裝置連接；壓塊設(shè)置在連接器托座上方，用于確保連接器與連接器托座之間穩(wěn)定連接。下壓壓塊，連接器托座順著定位銷下行，探針伸入連接器托座中與連接器上的導(dǎo)電針腳接觸進(jìn)行測試，彈性件提供探針與連接器之間的彈性接觸。本發(fā)明測試裝置用無彈性探針替代現(xiàn)有的內(nèi)置彈簧的彈性探針，有效提高了探針的使用壽命，降低了成本。
【專利說明】測試裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測試裝置，尤其涉及一種使用無彈性探針的測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有測試裝置中，通過金屬探針來測試線路板的開路或短路，現(xiàn)有的探針通常通過探針內(nèi)置的彈簧使得探針的探頭端可以彈性伸縮。然而，當(dāng)被測產(chǎn)品是接觸面積小、間距小等小面積或小體積的裝置的話，需要使用比較細(xì)的金屬探針。金屬探針越細(xì)價格越高，但其使用壽命會因越細(xì)而更短，另外裝載金屬探針的底座的加工精準(zhǔn)度公差得非常的精確，才能保證讓金屬探針的上下行程能確保垂直作動，但事實上因治具加工精度、產(chǎn)品公差以及治具的組裝公差常導(dǎo)致測試治具的整體效果不好，造成如彈力不夠、接觸不良、壓傷產(chǎn)品、探針彎曲、探針斷掉等問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]有鑒于此，本發(fā)明提供一種測試裝置，通過外置彈性件替代現(xiàn)有探針內(nèi)部彈性件的功能，能有效地解決上述問題。
[0004]一種測試裝置，包括:測試板、定位銷、探針托座、探針、連接器托座、連接器、彈性件及壓塊，其中，測試板與測試電路相連接；定位銷垂直固定在測試板上，用于定位探針托座及作為連接器托座下行的導(dǎo) 軌；探針垂直固定在探針托座上；彈性件設(shè)置在探針托座和連接器托座之間；連接器設(shè)置在連接器托中，與一待測電子裝置連接；壓塊設(shè)置在連接器托座上方，用于確保連接器與連接器托座之間穩(wěn)定連接；下壓壓塊，連接器托座順著定位銷下行，探針伸入連接器托座中與連接器上的導(dǎo)電針腳接觸進(jìn)行測試，彈性件提供探針與連接器之間的彈性接觸。
[0005]本發(fā)明測試裝置通過使用外置彈性件替代現(xiàn)有探針中內(nèi)部彈性件的功能，使用無彈性探針替代現(xiàn)有的彈性探針，由于無彈性探針的剛性強(qiáng)度高于現(xiàn)有的彈性探針，使用壽命大大提高，提高了測試效率，有效降低了探針的消耗，節(jié)省了成本。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0006]圖1為本發(fā)明一實施例測試裝置的分解視圖。
[0007]圖2為圖1中所示測試裝置中探針的立體視圖。
[0008]圖3為圖1所示測試裝置測試一相機(jī)模組的示意圖。
[0009]主要元件符號說明
【權(quán)利要求】
1.一種測試裝置，其特征在于，包括: 測試板，測試板與一測試電路電連接； 探針托座，探針托座固定在該測試板上，探針托座用于固定探針； 探針，固定在探針托座上，每個探針與測試板上的一測試點(diǎn)電連接； 連接器托座，用于容置一連接器，所述連接器托座包括供探針穿過的探針孔； 連接器，設(shè)置于連接器托座中，與一待測電子裝置連接，用于提供探針與待測電子裝置之間的連接； 彈性件，連接于探針托座和連接器托座之間，用于為連接器托座下行提供彈性緩沖并對連接器托座施加推力以將該連接器托座復(fù)位；以及 壓塊，用于推動連接器托座向探針托座移動以使連接器的導(dǎo)電針腳與探針相接觸。
2.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，還包括定位銷，定位銷固定在測試板上，所述連接器托座能沿著定位銷向上下滑動。
3.如權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于，包括四個定位銷。
4.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述探針托座中間位置有一探針固定塊，所述探針固定在該探針固定塊上。
5.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述探針通過拉伸、擠壓、蝕刻等制程一體制成，無彈性、不可伸縮。
6.如權(quán)利要求5所述的測試裝置，其特征在于，所述探針由銅合金材料制成。
7.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，連接器托座中間設(shè)置有連接器容置槽，槽底設(shè)置有用于所述探針穿過的通孔。
8.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，包括四個彈性件。
9.如權(quán)利要求8所述的測試裝置，其特征在于，所述彈性件為螺旋彈簧。
【文檔編號】G01R1/073GK103969539SQ201310036182
【公開日】2014年8月6日 申請日期:2013年1月30日 優(yōu)先權(quán)日:2013年1月30日
【發(fā)明者】陳信文 申請人:鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司