專利名稱：一種真空兩段式測(cè)試結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種直接應(yīng)用于PCB (Printed Circuit Board,印制電路板)測(cè)試行業(yè)的測(cè)試結(jié)構(gòu)，特別是涉及一種真空兩段式測(cè)試結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)：
現(xiàn)在應(yīng)用于PCB測(cè)試行業(yè)的測(cè)試結(jié)構(gòu)采用在線測(cè)試治具跟上電測(cè)試治具這兩臺(tái)治具，或者采用一臺(tái)治具測(cè)試，但一臺(tái)治具測(cè)試在測(cè)試下一步時(shí)要把不需要的探針拔除才能取得與兩臺(tái)治具相同的效果，這樣就要花費(fèi)很多時(shí)間且對(duì)治具的探針損害很大，如果使用兩臺(tái)治具則會(huì)增加測(cè)試成本和空間。·
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種真空兩段式測(cè)試結(jié)構(gòu)，其降低制造成本和減小空間，且對(duì)探針沒(méi)有任何影響，還能快速的轉(zhuǎn)換測(cè)試。本實(shí)用新型是通過(guò)下述技術(shù)方案來(lái)解決上述技術(shù)問(wèn)題的一種真空兩段式測(cè)試結(jié)構(gòu)，其特征在于，其包括上針板、下針板、電磁鐵、上模掛鉤、下模鉤座、長(zhǎng)針、短針、驅(qū)動(dòng)板，上針板、下針板分別位于一個(gè)印制電路板的上下兩側(cè)，長(zhǎng)針的長(zhǎng)度大于短針的長(zhǎng)度，電磁鐵位于一個(gè)下針板的一端，上模掛鉤與下模鉤座連接，下模鉤座與電磁鐵電連接，長(zhǎng)針、短針位于印制電路板的下方且與下針板垂直，上模掛鉤、上針板都固定在驅(qū)動(dòng)板的下方。優(yōu)選地，所述印制電路板由一個(gè)上載板和一個(gè)下載板夾住，上載板位于上針板的下方。本實(shí)用新型的積極進(jìn)步效果在于本實(shí)用新型降低制造成本和減小空間(即可以省去一臺(tái)治具的成本及空間)，且兩次測(cè)試都不需要進(jìn)行拔針，對(duì)探針沒(méi)有任何影響，還能快速的轉(zhuǎn)換測(cè)試，即縮短測(cè)試時(shí)間和提高測(cè)試效率。

圖I為本實(shí)用新型真空兩段式測(cè)試結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖給出本實(shí)用新型較佳實(shí)施例，以詳細(xì)說(shuō)明本實(shí)用新型的技術(shù)方案。如圖I所示，本實(shí)用新型真空兩段式測(cè)試結(jié)構(gòu)包括上針板I、下針板3、電磁鐵6、上模掛鉤7、下模鉤座8、長(zhǎng)針9、短針10、驅(qū)動(dòng)板11，上針板I、下針板3分別位于一個(gè)印制電路板(PCB) 5的上下兩側(cè)，長(zhǎng)針9的長(zhǎng)度大于短針10的長(zhǎng)度，電磁鐵6位于一個(gè)下針板3的一端，上模掛鉤7與下模鉤座8連接，下模鉤座8與電磁鐵6電連接，長(zhǎng)針9、短針10位于印制電路板5的下方且與下針板3垂直，上模掛鉤7、上針板I都固定在驅(qū)動(dòng)板11的下方。印制電路板5由一個(gè)上載板2和一個(gè)下載板4夾住,上載板2位于上針板I的下方。長(zhǎng)針、短針可以由鈹銅鍍金制成。[0010]本實(shí)用新型根據(jù)長(zhǎng)針跟短針測(cè)試?yán)碚摚谝淮卧诰€測(cè)試時(shí)就把長(zhǎng)針跟短針一起接觸PCB，這樣可以把所有網(wǎng)絡(luò)能測(cè)試到。第二次上電測(cè)試時(shí)上針板升至一定距離時(shí)，電磁鐵通電卡住上針板使上針板不能完全升完，具體來(lái)說(shuō)電磁鐵驅(qū)動(dòng)上模掛鉤使其與下模鉤座固定不動(dòng)，這樣就只能把長(zhǎng)針接觸到PCB，不需要測(cè)試的東西就不會(huì)通上電，從而就不需要拔掉短針。本實(shí)用新型只采用一臺(tái)治具進(jìn)行測(cè)試，降低制造成本和減小空間(即可以省去一臺(tái)治具的成本及空間)，且兩次測(cè)試都不需要進(jìn)行拔針，對(duì)探針沒(méi)有任何影響，還能快速的轉(zhuǎn)換測(cè)試，即縮短測(cè)試時(shí)間和提高測(cè)試效率。 本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行各種改型和改變。因此，本實(shí)用新型覆蓋了落入所附的權(quán)利要求書(shū)及其等同物的范圍內(nèi)的各種改型和改變。
權(quán)利要求1.一種真空兩段式測(cè)試結(jié)構(gòu)，其特征在于，其包括上針板、下針板、電磁鐵、上模掛鉤、下模鉤座、長(zhǎng)針、短針、驅(qū)動(dòng)板，上針板、下針板分別位于一個(gè)印制電路板的上下兩側(cè)，長(zhǎng)針的長(zhǎng)度大于短針的長(zhǎng)度，電磁鐵位于一個(gè)下針板的一端，上模掛鉤與下模鉤座連接，下模鉤 座與電磁鐵電連接，長(zhǎng)針、短針位于印制電路板的下方且與下針板垂直，上模掛鉤、上針板都固定在驅(qū)動(dòng)板的下方。
2.如權(quán)利要求I所述的真空兩段式測(cè)試結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述印制電路板由一個(gè)上載板和一個(gè)下載板夾住，上載板位于上針板的下方。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種真空兩段式測(cè)試結(jié)構(gòu)，其包括上針板、下針板、電磁鐵、上模掛鉤、下模鉤座、長(zhǎng)針、短針、驅(qū)動(dòng)板，上針板、下針板分別位于一個(gè)印制電路板的上下兩側(cè)，長(zhǎng)針的長(zhǎng)度大于短針的長(zhǎng)度，電磁鐵位于一個(gè)下針板的一端，上模掛鉤與下模鉤座連接，下模鉤座與電磁鐵電連接，長(zhǎng)針、短針位于印制電路板的下方且與下針板垂直，上模掛鉤、上針板都固定在驅(qū)動(dòng)板的下方。本實(shí)用新型降低制造成本和減小空間，且對(duì)探針沒(méi)有任何影響，還能快速的轉(zhuǎn)換測(cè)試。
文檔編號(hào)G01R1/067GK202794252SQ20122048644
公開(kāi)日2013年3月13日 申請(qǐng)日期2012年9月21日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月21日
發(fā)明者張艷 申請(qǐng)人:張艷