專利名稱：一種鑄件檢驗裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及ー種用于檢驗鑄件是否存在錯箱缺陷的裝置。
背景技術：
通常檢驗鑄件是否錯箱采用破壞性檢驗，檢驗數量有限，而且檢驗成本較高。破壞性檢驗不能檢測更多的鑄件，導致錯箱鑄件進入機加過程，出現ー側孔正ー側孔偏形式的料廢，造成了生產成本的上升。
發(fā)明內容本實用新型的發(fā)明目的在于克服現有技術的上述不足而提供一種在不破壞鑄件 的情況下對鑄件是否錯箱進行檢驗的鑄件檢驗裝置，其可用來檢測新開模具質量，加大對鑄件錯箱的檢查カ度，操作方便，成本較低。本實用新型的技術方案在于底座上設有支架、用于放置待檢驗鑄件的工作臺；所述支架上對應于工作臺上待檢驗鑄件的兩側分別設有左側光源、右側光源；左側光源與右側光源相對設置；所述左側光源發(fā)射的光線與右側光源發(fā)射的光線處于同一直線；所述左側光源發(fā)射的光線平行于工作臺所在平面；所述右側光源發(fā)射的光線平行于工作臺所在平面。所述工作臺經液壓缸和立柱裝于底座以實現工作臺的升降。所述工作臺上設有導向板；所述左側光源發(fā)射的光線垂直于導向板所在平面；所述右側光源發(fā)射的光線垂直于導向板所在平面。將兩個共線光源面對面擺放，當兩光源之間放置一垂直于光線的鑄件時，兩光源將在鑄件兩側各形成ー個光斑，通過觀察兩光斑在同一特征上的相對位置，即可檢驗鑄件是否存在錯箱的缺陷，同時也保持了鑄件的完整性。使用本實用新型檢驗鑄件錯箱缺陷方便經濟。

圖I是本實用新型的結構示意圖。圖2是本實用新型的右側結構示意圖。圖中，I、支架，2、左側光源，3、右側光源，4、工作臺，5、導向板，6、光斑，7、底座，8、
立柱，9、液壓缸，10、待檢驗鑄件。
具體實施方式
圖I、圖2中，將兩個共線光源固定在支架I上面對面擺放?？烧{節(jié)升降的工作臺4經液壓缸9和立柱8裝于底座7，工作臺4與支架I平行。將待檢驗鑄件10放在工作臺4上，選取待檢驗鑄件10的參考面貼緊工作臺4上的導向板5，保證待檢驗面與光線基本垂直。打開光源，左側光源2、右側光源3將在鑄件兩側各形成一個光斑6,移動待檢驗鑄件10和工作臺4，使左側光源2的光斑處于待檢驗鑄件10某凸臺中心，觀察右側光源3的光斑與凸臺中心的位置，評估偏移距離L，L趨近于零說明不存在錯箱缺陷，L越大說明錯箱越嚴重。本實用新型既可以檢驗鑄件是否存在錯箱的缺陷，同時保持了鑄件的完整性。檢驗時至少測兩個位置才能得出準確結果，増大 檢測位置數可使結果更準確。首次使用時兩光源光線應調整至共線，且與工作臺平行，與導向板5垂直，以后可定期調整，不必每次進行。
權利要求1.ー種鑄件檢驗裝置，其特征在干底座上設有支架、用于放置待檢驗鑄件的工作臺；所述支架上對應于工作臺上待檢驗鑄件的兩側分別設有左側光源、右側光源；左側光源與右側光源相對設置；所述左側光源發(fā)射的光線與右側光源發(fā)射的光線處于同一直線；所述左側光源發(fā)射的光線平行于工作臺所在平面；所述右側光源發(fā)射的光線平行于工作臺所在平面。
2.根據權利要求I所述的鑄件檢驗裝置，其特征在于所述工作臺經液壓缸和立柱裝于底座。
3.根據權利要求I所述的鑄件檢驗裝置，其特征在于所述工作臺上設有導向板；所述左側光源發(fā)射的光線垂直于導向板所在平面；所述右側光源發(fā)射的光線垂直于導向板所在平面。
專利摘要一種鑄件檢驗裝置，底座上設有支架、用于放置待檢驗鑄件的可升降工作臺；所述支架上對應于工作臺上待檢驗鑄件的兩側分別設有左側光源、右側光源；左側光源與右側光源相對設置；所述左側光源發(fā)射的光線與右側光源發(fā)射的光線處于同一直線；所述左側光源發(fā)射的光線平行于工作臺所在平面且與導向板垂直；所述右側光源發(fā)射的光線平行于工作臺所在平面且與導向板垂直。將兩個共線光源面對面擺放，當兩光源之間放置一垂直于光線的鑄件時，兩光源將在鑄件兩側各形成一個光斑，通過觀察兩光斑在同一特征上的相對位置，即可檢驗鑄件是否存在錯箱的缺陷，同時也保持了鑄件的完整性。本實用新型用于檢驗鑄件錯箱缺陷方便經濟。
文檔編號G01N21/88GK202649129SQ20122031816
公開日2013年1月2日 申請日期2012年7月3日 優(yōu)先權日2012年7月3日
發(fā)明者劉兵勇 申請人:新興重工湖北三六一一機械有限公司