專利名稱：一種火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及火花直讀光譜儀，具體涉及一種火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置。
背景技術(shù)：
在直讀光譜檢測(cè)中，通常采用火花直讀光譜儀對(duì)金屬試樣中化學(xué)元素的含量進(jìn)行精確的定量分析。金屬試樣的端面被加工成光潔表面后，其面積大于時(shí),可直接在直讀光譜儀器上對(duì)試樣的化學(xué)成分進(jìn)行精確的定量分析。但對(duì)光潔面直徑小于O20mm的試樣，儀器就不能進(jìn)行化學(xué)成分檢測(cè)分析，必須要用儀器配置的小試樣輔助裝置，才能對(duì)小于O20mm的試樣進(jìn)行化學(xué)成份分析?，F(xiàn)有的小試樣輔助裝置，例如瑞士生產(chǎn)的ARL 3460型火花直讀光譜儀所配置的小試樣輔助裝置，參見圖1，該小試樣輔助裝置由密封蓋1-1、裝置本體1-2、旋轉(zhuǎn)手柄1-3和三爪1-4組成；裝置本體1-2具有臺(tái)階腔體1-5，該臺(tái)階腔體1-5橫向形狀為圓形、縱向截面為臺(tái)階柱體，由上部1-51和下部1-52組成，上部1-51的直徑大于下部1-52的直徑；裝置本體1-2還具有工作平面1-6 ;密封蓋1-1的形狀尺寸與上部1-51的形狀尺寸相適配；旋轉(zhuǎn)手柄1-3套裝于裝置本體1-2外沿上；三爪1-4連接于裝置本體1-2的臺(tái)階腔體1-5中。該小試樣輔助裝置工作原理如下把達(dá)到加工要求的棒狀小試樣放入裝置本體1-2的臺(tái)階腔體1-5中，旋轉(zhuǎn)旋轉(zhuǎn)手柄1-3，使三爪1-4夾緊棒狀小試樣，并使小試樣的端面與裝置本體1-2的工作平面1-6成一個(gè)平面，之后再把密封蓋1-1放入腔體1-5的上部1-51，使臺(tái)階腔體1-5成為一個(gè)密閉的空間。檢測(cè)時(shí)，工作平面1-6上的圓孔對(duì)準(zhǔn)儀器工作臺(tái)面上的激發(fā)孔洞，由于儀器發(fā)射腔中有加壓的惰性氣體，所以臺(tái)階腔體1-5內(nèi)也充滿了加壓的惰性氣體，并從不密閉的地方溢出，這就保證了外界的空氣不會(huì)進(jìn)入儀器的發(fā)射腔內(nèi)，也就保證了不會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生干擾。但是，該小試樣輔助裝置由于臺(tái)階腔體1-5橫向形狀為圓形、縱向截面為臺(tái)階柱體，當(dāng)它與儀器的發(fā)射腔成為一個(gè)共同的腔體時(shí)，無形中增大了儀器發(fā)射腔的容積。這樣就對(duì)儀器的工作曲線有所改變，所以在作發(fā)射光譜分析時(shí)，準(zhǔn)確度就不高，只能檢測(cè)03，06, 09的柱狀小試樣，不能檢測(cè)塊狀小試樣，適用范圍較小，并且只能進(jìn)行半定量的檢測(cè)，不能對(duì)試樣的化學(xué)成份進(jìn)行精確的定量分析，且該小試樣輔助裝置結(jié)構(gòu)復(fù)雜、組成的零件較多，不易加工制造。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種精度較高、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置包括裝置本體、其上設(shè)有腔體，并具有工作平面；其特征在于；該小試樣的輔助裝置還包括與所述裝置本體)相連接的縮孔環(huán)，所述縮孔環(huán)的厚度為Imm以下，其上設(shè)有測(cè)試孔和檢測(cè)面，所述腔體與測(cè)試孔相互貫通，腔體的尺寸大于測(cè)試孔的尺寸；所述裝置本體的安裝面與所述縮孔環(huán)的檢測(cè)面為同一平面。
所述腔體的橫向形狀為兩端為圓弧的條形，縱向截面為直柱體；
所述測(cè)試孔的直徑約為8mm ；
所述縮孔環(huán)的外徑與儀器工作面上的測(cè)試孔洞的直徑相適配；最好是所述縮孔環(huán)的外徑小于儀器工作面上的測(cè)試孔洞的直徑；
所述裝置本體為圓柱體；
所述縮孔環(huán)為圓柱體；
所述裝置本體的外徑大于所述縮孔環(huán)的外徑；
當(dāng)進(jìn)行小試樣檢測(cè)分析時(shí)，把縮孔環(huán)鑲嵌在儀器工作面的測(cè)試孔洞內(nèi)，裝置本體的安裝面與儀器的工作面無間隙地緊密貼合，這樣就保證了縮孔環(huán)的檢測(cè)面也與儀器的工作面為同一平面。由于測(cè)試孔的直徑約為8_，這時(shí)儀器工作面上的測(cè)試孔洞就也相應(yīng)縮小到約8_。用被加工成光潔面的小試樣放入裝置本體的腔體內(nèi)并蓋住縮孔環(huán)上的測(cè)試孔；由于所述縮孔環(huán)的外徑小于儀器工作面上的測(cè)試孔洞的直徑，因而，縮孔環(huán)與儀器的測(cè)試孔洞之間形成間隙。同時(shí)小試樣與縮孔環(huán)上的測(cè)試孔也形成間隙；由于儀器的發(fā)射腔內(nèi)有加壓的(0. 3Mpa)惰性氣體，它會(huì)從縮孔環(huán)與儀器的測(cè)試孔洞之間形成的間隙和小試樣與縮孔環(huán)上的測(cè)試孔之間的間隙中溢出，保證了外界的空氣不能進(jìn)入儀器測(cè)試腔內(nèi)，檢測(cè)數(shù)據(jù)的精密度和準(zhǔn)確度就得到了保證。同時(shí)，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的小試樣輔助裝置不需要現(xiàn)有小試樣輔助裝置中的旋轉(zhuǎn)手柄，三爪等。因而減少了零件、簡(jiǎn)化了結(jié)構(gòu)。


圖1為現(xiàn)有火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置的剖面示意圖 圖2為本發(fā)明火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置的立體圖
圖3是本發(fā)明火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置的剖視圖
圖中，密封蓋1-1、裝置本體1-2、旋轉(zhuǎn)手柄1-3、三爪1-4、臺(tái)階腔體1-5，上部1-51、下部1-52、工作平面1-6 ;裝置本體3-1、縮孔環(huán)3-2、測(cè)試孔3-3、腔體3_4安裝面A、檢測(cè)面B
具體實(shí)施例方式下面，結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明
參見圖2和圖3所示，本發(fā)明的火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置包括裝置本體3-1，其上設(shè)有腔體3-4，并具有安裝面A ;該小試樣輔助裝置還包括與所述裝置本體3-1相連接的縮孔環(huán)3-2，所述縮孔環(huán)3-2的厚度必須為Imm以下。如果縮孔環(huán)3_2的厚度的厚度大于Imm,將遮擋發(fā)射腔中光電倍增管對(duì)光譜的采集，會(huì)影響分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。所述縮孔環(huán)3-2上設(shè)有測(cè)試孔3-3和檢測(cè)面B ;所述裝置本體3-1上的腔體3-4與縮孔環(huán)上的測(cè)試孔3-3之間相互貫通；腔體3-4的尺寸大于測(cè)試孔3-3的尺寸。這樣，當(dāng)放入腔體3-4的分析小試樣的端面也比測(cè)試孔3-3的尺寸大時(shí)，該小試樣才能完全蓋住測(cè)試孔3-3，使外界物質(zhì)不能進(jìn)入儀器的發(fā)射腔里，以影響分析結(jié)果；所述裝置本體3-1的安裝面A與所述縮孔環(huán)3-2的檢測(cè)面B為同一平面，以保證縮孔環(huán)3-2放入儀器的測(cè)試孔后，測(cè)試孔3-3與儀器的工作面也為同一個(gè)平面。所述腔體3-4的橫向形狀為兩端為圓弧的條形，縱向截面為直柱體。該腔體3-4用于被測(cè)小試樣放入的一個(gè)空間。小試樣放入其中，才能蓋住縮孔環(huán)3-2上的測(cè)試孔3-3。所述腔體3-4的橫向形狀為兩端為圓弧的條形，加工比較容易，而其它形狀的加工要稍難一些。所述測(cè)試孔3-3的直徑約為8mm。如果測(cè)試孔3_3的直徑太小于8mm，測(cè)試孔3-3的邊沿就會(huì)被激發(fā)，會(huì)嚴(yán)重的影響分析的準(zhǔn)確性。如果測(cè)試孔3-3的直徑太大于8mm，就有一些小試樣不能在小試樣裝置上進(jìn)行理化檢測(cè)分析。例如，測(cè)試孔3-3的直徑為12mm，那么8mm至12mm的被測(cè)小試樣就不能在小試樣裝置上進(jìn)行理化分析。所述縮孔環(huán)3_2的外徑與儀器工作面上的測(cè)試孔洞的直徑相適配，最好是所述縮孔環(huán)3-2的外徑小于儀器工作面上的測(cè)試孔洞的直徑；縮孔環(huán)3-2的外徑與儀器工作面上的測(cè)試孔洞的直徑相適配，主要是便于縮孔環(huán)3-2的取放，如果縮孔環(huán)3-2的外徑太小，當(dāng)它放入測(cè)試孔洞后，會(huì)產(chǎn)生很大的間隙，不利于發(fā)射腔的密閉。如果縮孔環(huán)3-2的外徑太大，就會(huì)產(chǎn)生緊配合，雖然間隙很小，但是取放縮孔環(huán)3-2就不方便了。所述裝置本體3-1為圓柱體，矩形等，這樣的形狀便于加工制造和拿取使用；所述縮孔環(huán)3-2為圓柱體；所述裝置本體3-1的外徑大于所述縮孔環(huán)3-2的外徑?？s孔環(huán)3-2與裝置本體3-1是連接成一體的，當(dāng)裝置本體3-1沉入激發(fā)孔洞時(shí)，由于裝置本體3-1的外徑大于縮孔環(huán)3-2的外徑，也就是大于儀器的工作臺(tái)面上的激發(fā)孔洞，所以裝置本體3-1是擱置在儀器的工作臺(tái)面上的，這樣就保證了縮孔環(huán)3-2不會(huì)掉入激發(fā)腔內(nèi)，并保證了縮孔環(huán)3-2的B面與工作臺(tái)面成為同一個(gè)平面。
權(quán)利要求
1.一種火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置，包括裝置本體(3-1)，其上設(shè)有腔體(3-4)，并具有安裝面(A)，其特征在于；其還包括與所述裝置本體(3-1)相連接的縮孔環(huán)(3-2)，所述縮孔環(huán)(3-2)的厚度為Imm以下，其上設(shè)有測(cè)試孔(3-3)和檢測(cè)面(B)，所述腔體(3-4)與測(cè)試孔(3-3)相互貫通，腔體(3-4)的尺寸大于測(cè)試孔(3-3)的尺寸；所述裝置本體(3-1)的安裝面(A)與所述縮孔環(huán)(3-2)的檢測(cè)面(B)為同一平面。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置，其特征在于；所述腔體(3-4)的橫向形狀為兩端為圓弧的條形，縱向截面為直柱體。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置，其特征在于；所述測(cè)試孔(3-3)的直徑約為8mm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置，其特征在于；所述縮孔環(huán)(3-2)的外徑與所述火花直讀光譜儀工作面上的測(cè)試孔洞的直徑相適配。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置，其特征在于；所述裝置本體(3-1)為圓柱體。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置，其特征在于；所述縮孔環(huán)(3-2)為圓柱體。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置，其特征在于；所述裝置本體(3-1)的外徑大于所述縮孔環(huán)(3-2)的外徑。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置，包括裝置本體(3-1)，其上設(shè)有腔體(3-4)，并具有安裝面(A)；其特征在于；該小試樣的輔助裝置還包括與所述裝置本體(3-1)相連接的縮孔環(huán)(3-2)，所述縮孔環(huán)(3-2)的厚度為1mm以下，其上設(shè)有測(cè)試孔(3-3)和檢測(cè)面(B)，所述腔體(3-4)與測(cè)試孔(3-3)相互貫通，腔體(3-4)的尺寸大于測(cè)試孔(3-3)的尺寸；所述裝置本體(3-1)的安裝面(A)與所述縮孔環(huán)(3-2)的檢測(cè)面(B)為同一平面。本發(fā)明具有適用范圍較大且精度較高、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)G01N21/67GK102998299SQ20121054333
公開日2013年3月27日 申請(qǐng)日期2012年12月16日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月16日
發(fā)明者譚世榆, 蔣啟翠, 李世碧, 鄧瓊 申請(qǐng)人:重慶望江工業(yè)有限公司